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一種基于圖像處理的膠體金檢測(cè)方法及系統(tǒng)與流程

文檔序號(hào):12453957閱讀:879來源:國(guó)知局
一種基于圖像處理的膠體金檢測(cè)方法及系統(tǒng)與流程

本發(fā)明涉及膠體金免疫層析技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種基于圖像處理的膠體金檢測(cè)方法及其應(yīng)用該方法的系統(tǒng)。



背景技術(shù):

在食品安全現(xiàn)場(chǎng)及流通的快速檢測(cè)領(lǐng)域,膠體金免疫層析技術(shù)以其操作簡(jiǎn)單、判讀方便的優(yōu)點(diǎn),已經(jīng)廣泛應(yīng)用于組織、尿液、血液中的藥物殘留檢測(cè),例如:克倫特羅、萊克多巴胺、四環(huán)素等。其原理是將特異的抗體先固定于硝酸纖維素膜的某一區(qū)帶,當(dāng)該干燥的硝酸纖維素一端浸入樣品后,樣品將沿著該膜向前移動(dòng),當(dāng)移動(dòng)至固定有抗體的區(qū)域時(shí),樣品中相應(yīng)的抗原即與該抗體發(fā)生特異性結(jié)合,采用免疫膠體金標(biāo)記抗原抗體,使該區(qū)域顯色一定的顏色,從而實(shí)現(xiàn)特異性的免疫診斷。檢測(cè)結(jié)果是觀察反應(yīng)板的C線、T線的顏色深淺,T線/C線的顏色比值越小,則待測(cè)物質(zhì)濃度越高,目前,大多數(shù)僅靠肉眼目測(cè)進(jìn)行判讀,主觀性較大,致使其適用范圍受到較大限制。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明為解決上述問題,提供了一種基于圖像處理的膠體金檢測(cè)方法及系統(tǒng),兼容性好、適用范圍廣、檢測(cè)精度高。

為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:

一種基于圖像處理的膠體金檢測(cè)方法,其包括以下步驟:

(10)獲取膠體金檢測(cè)卡的檢測(cè)圖像,并對(duì)該檢測(cè)圖像的待識(shí)別區(qū)域進(jìn)行灰度處理,得到灰度圖像;

(20)計(jì)算所述灰度圖像的灰度積分曲線;

(30)查找所述灰度積分曲線的所有波谷點(diǎn),并計(jì)算各個(gè)波谷點(diǎn)的半峰寬、峰中心點(diǎn)、有效積分面積;

(40)查找有效積分面積最大的波谷點(diǎn),得到最大波谷點(diǎn);

(50)若所述最大波谷點(diǎn)的半峰寬在預(yù)設(shè)范圍之外,則判斷該最大波谷點(diǎn)為無效點(diǎn),并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為無效卡;若所述最大波谷點(diǎn)的半峰寬在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi),則判斷該最大波谷點(diǎn)為有效點(diǎn),并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為有效卡,然后執(zhí)行步驟(60);

(60)根據(jù)所述最大波谷點(diǎn)的峰中心點(diǎn)的位置進(jìn)行判斷該最大波谷點(diǎn)為C線位置或者T線位置;若判斷為C線位置,則向T線方向?qū)ふ移渌行Рü赛c(diǎn),若找到其他有效波谷點(diǎn)則將該波谷點(diǎn)認(rèn)定為T線位置,若找不到其他有效波谷點(diǎn)則認(rèn)定為無T線;若判斷為T線位置,則向C線方向?qū)ふ移渌行Рü赛c(diǎn),若找到其他有效波谷點(diǎn)則將該波谷點(diǎn)認(rèn)定為C線位置;若找不到其他有效波谷點(diǎn)則認(rèn)定為無C線,并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為無效卡。

優(yōu)選的,所述的步驟(10)中,還進(jìn)一步將所述檢測(cè)圖像拉伸或壓縮至反應(yīng)板的長(zhǎng)度,并根據(jù)所述反應(yīng)板的檢測(cè)區(qū)域?qū)λ鰴z測(cè)圖像進(jìn)行裁剪得到所述檢測(cè)圖像的待識(shí)別區(qū)域。

優(yōu)選的,對(duì)所述檢測(cè)圖像進(jìn)行裁剪得到所述檢測(cè)圖像的待識(shí)別區(qū)域,是指以所述反應(yīng)板為中心,保留橫向M*L、縱向M*L*0.3的像素區(qū)域作為所述待識(shí)別區(qū)域;其中,M為校準(zhǔn)系數(shù),L為所述反應(yīng)板的長(zhǎng)度;所述M的值的范圍為:0.75~0.95。

優(yōu)選的,所述的步驟(20)中計(jì)算所述灰度圖像的灰度積分曲線,進(jìn)一步包括:

(21)獲取所述灰度圖像的灰度值[X,Y,Z],其中,X為所述反應(yīng)板的長(zhǎng)邊的像素坐標(biāo),Y為所述反應(yīng)板的短邊的像素坐標(biāo),Z為坐標(biāo)位置(X,Y)處的灰度值;

(22)以X坐標(biāo)作為橫坐標(biāo),以Y坐標(biāo)為縱坐標(biāo),對(duì)Y坐標(biāo)進(jìn)行灰度積分求和,得到灰度積分曲線[X,Zsum];

(23)對(duì)所述灰度積分曲線進(jìn)行濾波處理。

優(yōu)選的,所述的步驟(30)中,所述半峰寬、峰中心點(diǎn)、有效積分面積的計(jì)算方法如下:

(31)計(jì)算峰中心點(diǎn):

以波谷點(diǎn)為中心,分別向兩側(cè)尋找拐點(diǎn),計(jì)算拐點(diǎn)與波谷點(diǎn)縱坐標(biāo)差值Z1、Z2,并根據(jù)該縱坐標(biāo)差值尋找橫坐標(biāo)差值X1、X2,取X1、X2的中心點(diǎn)即為峰中心點(diǎn);

(32)計(jì)算半峰寬:

以X1、X2做直線,波谷點(diǎn)到直線的距離即為峰高,并根據(jù)峰高計(jì)算半峰寬;

(33)計(jì)算有效積分面積:

計(jì)算X1、X2之間所有點(diǎn)的峰高的總和,即為波谷點(diǎn)的有效積分面積。

優(yōu)選的,所述的步驟(31)中進(jìn)行計(jì)算峰中心點(diǎn),還進(jìn)一步對(duì)所述縱坐標(biāo)差值Z1、Z2進(jìn)行校準(zhǔn),即,校準(zhǔn)后的縱坐標(biāo)差值為N*Z1、N*Z2,并根據(jù)校準(zhǔn)后的縱坐標(biāo)差值N*Z1、N*Z2進(jìn)行尋找橫坐標(biāo)差值X1、X2;其中,N為校準(zhǔn)系數(shù),且N的值的范圍為:0.75~0.95。

優(yōu)選的,還進(jìn)一步對(duì)所述半峰寬進(jìn)行校準(zhǔn),即,校準(zhǔn)后的半峰寬的預(yù)設(shè)范圍為P/V和P*V之間,所述半峰寬在P/V和P*V范圍之內(nèi)則判定所述最大波谷點(diǎn)為有效點(diǎn),所述半峰寬在P/V和P*V范圍之外則判定所述最大波谷點(diǎn)為無效點(diǎn);其中,P為半峰寬預(yù)設(shè)值,V為半峰寬變動(dòng)系數(shù);所述V的值的范圍為:1.1~1.8。

優(yōu)選的,還進(jìn)一步包括步驟(70),根據(jù)所述T線位置和所述C線位置進(jìn)行計(jì)算所述膠體金檢測(cè)卡中的檢測(cè)樣品的濃度值;具體包括以下步驟:

(71)根據(jù)所述灰度積分曲線中的所述T線位置計(jì)算該T線位置的灰度積分值,其中,認(rèn)定為無T線時(shí),則T線的灰度積分值以零計(jì);

(72)根據(jù)所述灰度積分曲線中的所述C線位置計(jì)算該C線位置的灰度積分值;

(73)計(jì)算所述T線位置與所述C線位置的灰度積分值的比值R;

(74)將所述比值R與標(biāo)準(zhǔn)比值Rs進(jìn)行比對(duì),得到待測(cè)樣品濃度值。

優(yōu)選的,所述的步驟(74),是通過測(cè)定一定范圍內(nèi)的系列濃度的標(biāo)準(zhǔn)樣品的標(biāo)準(zhǔn)比值Rs,每一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)比值Rs對(duì)應(yīng)一個(gè)唯一的標(biāo)準(zhǔn)樣品濃度值,從而得到標(biāo)準(zhǔn)曲線或者標(biāo)準(zhǔn)比對(duì)表;然后根據(jù)所述比值R進(jìn)行查找對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)比值Rs,并將該標(biāo)準(zhǔn)比值Rs對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)樣品濃度值作為所述待測(cè)樣品濃度值。

相應(yīng)的,本發(fā)明還提供一種基于圖像處理的膠體金檢測(cè)系統(tǒng),其包括:

圖像預(yù)處理模塊,其獲取膠體金檢測(cè)卡的檢測(cè)圖像,并對(duì)該檢測(cè)圖像的待識(shí)別區(qū)域進(jìn)行灰度處理,得到灰度圖像;

曲線處理模塊,用于計(jì)算所述灰度圖像的灰度積分曲線;并查找所述灰度積分曲線的所有波谷點(diǎn),并計(jì)算各個(gè)波谷點(diǎn)的半峰寬、峰中心點(diǎn)、有效積分面積;以及查找有效積分面積最大的波谷點(diǎn),得到最大波谷點(diǎn);

有效性判斷模塊,若所述最大波谷點(diǎn)的半峰寬在預(yù)設(shè)范圍之外,則判斷該最大波谷點(diǎn)為無效點(diǎn),并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為無效卡;若所述最大波谷點(diǎn)的半峰寬在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi),則判斷該最大波谷點(diǎn)為有效點(diǎn),并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為有效卡;

CT線定位模塊,其根據(jù)所述最大波谷點(diǎn)的峰中心點(diǎn)的位置進(jìn)行判斷該最大波谷點(diǎn)為C線位置或者T線位置;若判斷為C線位置,則向T線方向?qū)ふ移渌行Рü赛c(diǎn),若找到其他有效波谷點(diǎn)則將該波谷點(diǎn)認(rèn)定為T線位置,若找不到其他有效波谷點(diǎn)則認(rèn)定為無T線;若判斷為T線位置,則向C線方向?qū)ふ移渌行Рü赛c(diǎn),若找到其他有效波谷點(diǎn)則將該波谷點(diǎn)認(rèn)定為C線位置;若找不到其他有效波谷點(diǎn)則認(rèn)定為無C線,并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為無效卡。

優(yōu)選的,所述曲線處理模塊進(jìn)一步包括曲線生成單元和曲線計(jì)算單元,其中:

所述曲線生成單元通過獲取所述灰度圖像的灰度值[X,Y,Z],X為反應(yīng)板的長(zhǎng)邊的像素坐標(biāo),Y為反應(yīng)板的短邊的像素坐標(biāo),Z為坐標(biāo)位置(X,Y)處的灰度值;以X坐標(biāo)作為橫坐標(biāo),以Y坐標(biāo)為縱坐標(biāo),對(duì)Y坐標(biāo)進(jìn)行灰度積分求和,得到灰度積分曲線[X,Zsum];并進(jìn)一步對(duì)所述灰度積分曲線進(jìn)行濾波處理;

所述曲線計(jì)算單元進(jìn)行計(jì)算所述波谷點(diǎn)的半峰寬、峰中心點(diǎn)、有效積分面積,具體的:

計(jì)算峰中心點(diǎn):是通過以波谷點(diǎn)為中心,分別向兩側(cè)尋找拐點(diǎn),計(jì)算拐點(diǎn)與波谷點(diǎn)縱坐標(biāo)差值Z1、Z2,并根據(jù)該縱坐標(biāo)差值尋找橫坐標(biāo)差值X1、X2,取X1、X2的中心點(diǎn)即為峰中心點(diǎn);

計(jì)算半峰寬:是通過以X1、X2做直線,波谷點(diǎn)到直線的距離即為峰高,并根據(jù)峰高計(jì)算半峰寬;

計(jì)算有效積分面積:是通過計(jì)算X1、X2之間所有點(diǎn)的峰高的總和,即為波谷點(diǎn)的有效積分面積。

優(yōu)選的,還進(jìn)一步包括定量分析模塊,其根據(jù)所述T線位置和所述C線位置進(jìn)行計(jì)算所述膠體金檢測(cè)卡中的檢測(cè)樣品的濃度值;具體的:

根據(jù)所述灰度積分曲線中的所述T線位置計(jì)算該T線位置的灰度積分值,其中,認(rèn)定為無T線時(shí),則T線的灰度積分值以零計(jì);

根據(jù)所述灰度積分曲線中的所述C線位置計(jì)算該C線位置的灰度積分值;

計(jì)算所述T線位置與所述C線位置的灰度積分值的比值R;

將所述比值R與標(biāo)準(zhǔn)比值Rs進(jìn)行比對(duì),得到待測(cè)樣品濃度值。

優(yōu)選的,將所述比值R與標(biāo)準(zhǔn)比值Rs進(jìn)行比對(duì),是通過測(cè)定一定范圍內(nèi)的系列濃度的標(biāo)準(zhǔn)樣品的標(biāo)準(zhǔn)比值Rs,每一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)比值Rs對(duì)應(yīng)一個(gè)唯一的標(biāo)準(zhǔn)樣品濃度值,從而得到標(biāo)準(zhǔn)曲線或者標(biāo)準(zhǔn)比對(duì)表;然后根據(jù)所述比值R進(jìn)行查找對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)比值Rs,并將該標(biāo)準(zhǔn)比值Rs對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)樣品濃度值作為所述待測(cè)樣品濃度值。

本發(fā)明的有益效果是:

(1)本發(fā)明通過獲取膠體金檢測(cè)卡的檢測(cè)圖像,并對(duì)該檢測(cè)圖像的待識(shí)別區(qū)域進(jìn)行灰度處理得到灰度圖像,計(jì)算所述灰度圖像的灰度積分曲線,查找所述灰度積分曲線的所有波谷點(diǎn),并計(jì)算各個(gè)波谷點(diǎn)的半峰寬、峰中心點(diǎn)、有效積分面積,并查找有效積分面積最大的波谷點(diǎn),得到最大波谷點(diǎn);根據(jù)所述最大波谷點(diǎn)的半峰寬進(jìn)行判斷所述膠體金檢測(cè)卡的有效性,若有效則進(jìn)一步根據(jù)所述最大波谷點(diǎn)的峰中心點(diǎn)的位置進(jìn)行判斷和查找C線位置和T線位置,從而實(shí)現(xiàn)膠體金檢測(cè)卡的定性分析,對(duì)獲取的圖像限定條件少,C線、T線的自動(dòng)定位識(shí)別分析準(zhǔn)確,兼容性好,適用范圍廣。

(2)本發(fā)明還進(jìn)一步計(jì)算所述T線位置與所述C線位置的灰度積分值的比值,并將該比值與標(biāo)準(zhǔn)比值進(jìn)行比對(duì),得到待測(cè)樣品的濃度值,從而實(shí)現(xiàn)膠體金檢測(cè)卡的定量分析,檢測(cè)精度高。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解,構(gòu)成本發(fā)明的一部分,本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:

圖1為本發(fā)明具體實(shí)施例的三種待測(cè)樣品的膠體金檢測(cè)卡的檢測(cè)圖像對(duì)比示意圖;

圖2為圖1的三種檢測(cè)圖像對(duì)應(yīng)的灰度積分曲線的對(duì)比示意圖;

圖3為圖2的灰度積分曲線進(jìn)行均值平滑濾波處理后的效果示意圖;

圖4為系列濃度的標(biāo)準(zhǔn)樣品的標(biāo)準(zhǔn)比值的標(biāo)準(zhǔn)曲線圖;

圖5為圖1三種待測(cè)樣品的檢測(cè)結(jié)果對(duì)比圖表。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚、明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。

如圖1所示,本發(fā)明的一種基于圖像處理的膠體金檢測(cè)方法,其包括以下步驟:

(10)獲取膠體金檢測(cè)卡的檢測(cè)圖像,并對(duì)該檢測(cè)圖像的待識(shí)別區(qū)域進(jìn)行灰度處理,得到灰度圖像(如圖1所示);

(20)計(jì)算所述灰度圖像的灰度積分曲線(如圖2所示);

(30)查找所述灰度積分曲線的所有波谷點(diǎn),并計(jì)算各個(gè)波谷點(diǎn)的半峰寬、峰中心點(diǎn)、有效積分面積;

(40)查找有效積分面積最大的波谷點(diǎn),得到最大波谷點(diǎn);

(50)若所述最大波谷點(diǎn)的半峰寬在預(yù)設(shè)范圍之外,則判斷該最大波谷點(diǎn)為無效點(diǎn),并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為無效卡;若所述最大波谷點(diǎn)的半峰寬在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi),則判斷該最大波谷點(diǎn)為有效點(diǎn),并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為有效卡,然后執(zhí)行步驟(60);

(60)根據(jù)所述最大波谷點(diǎn)的峰中心點(diǎn)的位置進(jìn)行判斷該最大波谷點(diǎn)為C線位置或者T線位置;若判斷為C線位置,則向T線方向?qū)ふ移渌行Рü赛c(diǎn),若找到其他有效波谷點(diǎn)則將該波谷點(diǎn)認(rèn)定為T線位置,若找不到其他有效波谷點(diǎn)則認(rèn)定為無T線;若判斷為T線位置,則向C線方向?qū)ふ移渌行Рü赛c(diǎn),若找到其他有效波谷點(diǎn)則將該波谷點(diǎn)認(rèn)定為C線位置;若找不到其他有效波谷點(diǎn)則認(rèn)定為無C線,并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為無效卡。

所述的步驟(10)中,獲取膠體金檢測(cè)卡的檢測(cè)圖像,所述獲取的膠體金檢測(cè)卡的檢測(cè)圖像的像素大小無限制,檢測(cè)圖像需包含整個(gè)反應(yīng)板的區(qū)域;并且,還進(jìn)一步將所述檢測(cè)圖像拉伸或壓縮至反應(yīng)板的長(zhǎng)度L,本實(shí)施例中,L為500個(gè)像素點(diǎn);并根據(jù)所述反應(yīng)板的檢測(cè)區(qū)域?qū)λ鰴z測(cè)圖像進(jìn)行裁剪得到所述檢測(cè)圖像的待識(shí)別區(qū)域。本實(shí)施例中,所述檢測(cè)圖像進(jìn)行拉伸或壓縮的方法如下:利用StretchDIBits函數(shù)將檢測(cè)圖像中矩形區(qū)域內(nèi)像素使用的顏色數(shù)據(jù)拷貝到指定的目標(biāo)矩形中。若目標(biāo)矩形大小比源矩形大,則對(duì)顏色數(shù)據(jù)的行和列進(jìn)行拉伸,以與目標(biāo)矩形匹配;若目標(biāo)矩形大小比源矩形小,則通過使用指定的光柵操作對(duì)行列進(jìn)行壓縮。本實(shí)施例中,進(jìn)行裁剪所述待識(shí)別區(qū)域,是以所述反應(yīng)板為中心,裁剪拉伸/壓縮后的檢測(cè)圖像,過濾可能干擾計(jì)算的區(qū)域,得到待識(shí)別區(qū)域。本實(shí)施例中,對(duì)所述檢測(cè)圖像進(jìn)行裁剪得到所述檢測(cè)圖像的待識(shí)別區(qū)域,是指以所述反應(yīng)板為中心,保留橫向M*L、縱向M*L*0.3的像素區(qū)域作為所述待識(shí)別區(qū)域;其中,M為校準(zhǔn)系數(shù),L為所述反應(yīng)板的長(zhǎng)度;所述M的值的范圍為:0.75~0.95。本實(shí)施例中,取M=0.9,L=400,保留圖像橫向?yàn)?.9*400,縱向?yàn)?.9*400*0.3的像素區(qū)域作為待識(shí)別區(qū)域。

所述的步驟(20)中計(jì)算所述灰度圖像的灰度積分曲線,進(jìn)一步包括:

(21)獲取所述灰度圖像的灰度值[X,Y,Z],其中,X為所述反應(yīng)板的長(zhǎng)邊的像素坐標(biāo),Y為所述反應(yīng)板的短邊的像素坐標(biāo),Z為坐標(biāo)位置(X,Y)處的灰度值;

(22)以X坐標(biāo)作為橫坐標(biāo),以Y坐標(biāo)為縱坐標(biāo),對(duì)Y坐標(biāo)進(jìn)行灰度積分求和,得到灰度積分曲線[X,Zsum];

(23)對(duì)所述灰度積分曲線進(jìn)行濾波處理(如圖3所示);本實(shí)施例中,所述濾波處理采用均值平滑濾波處理,以消除噪聲。

所述的步驟(30)中,所述半峰寬、峰中心點(diǎn)、有效積分面積的計(jì)算方法如下:

(31)計(jì)算峰中心點(diǎn):

以波谷點(diǎn)為中心,分別向兩側(cè)尋找拐點(diǎn),計(jì)算拐點(diǎn)與波谷點(diǎn)縱坐標(biāo)差值Z1、Z2,并根據(jù)該縱坐標(biāo)差值尋找橫坐標(biāo)差值X1、X2,取X1、X2的中心點(diǎn)即為峰中心點(diǎn);本實(shí)施例中,還進(jìn)一步對(duì)所述縱坐標(biāo)差值Z1、Z2進(jìn)行校準(zhǔn),即,校準(zhǔn)后的縱坐標(biāo)差值為N*Z1、N*Z2,并根據(jù)校準(zhǔn)后的縱坐標(biāo)差值N*Z1、N*Z2進(jìn)行尋找橫坐標(biāo)差值X1、X2;其中,N為校準(zhǔn)系數(shù),且N的值的范圍為:0.75~0.95;本實(shí)施例中,取N=0.8。

(32)計(jì)算半峰寬:

以X1、X2做直線,波谷點(diǎn)到直線的距離即為峰高,并根據(jù)峰高計(jì)算半峰寬;

(33)計(jì)算有效積分面積:

計(jì)算X1、X2之間所有點(diǎn)的峰高的總和,即為波谷點(diǎn)的有效積分面積S。

所述的步驟(50)中,還進(jìn)一步對(duì)所述半峰寬進(jìn)行校準(zhǔn),即,校準(zhǔn)后的半峰寬的預(yù)設(shè)范圍為P/V和P*V之間,所述半峰寬在P/V和P*V范圍之內(nèi)則判定所述最大波谷點(diǎn)為有效點(diǎn),所述半峰寬在P/V和P*V范圍之外則判定所述最大波谷點(diǎn)為無效點(diǎn);其中,P為半峰寬預(yù)設(shè)值,V為半峰寬變動(dòng)系數(shù);優(yōu)選的,所述V的值的范圍為:1.1~1.8。本實(shí)施例中,所述P取值為32,所述V取值為1.6,所述半峰寬的預(yù)設(shè)范圍在32/1.6~32*1.6之間,即,波谷點(diǎn)的半峰寬在32/1.6~32*1.6之間為有效點(diǎn)。

本實(shí)施例中,還進(jìn)一步包括步驟(70),根據(jù)所述T線位置和所述C線位置進(jìn)行計(jì)算所述膠體金檢測(cè)卡中的檢測(cè)樣品的濃度值;具體包括以下步驟:

(71)根據(jù)所述灰度積分曲線中的所述T線位置計(jì)算該T線位置的灰度積分值,其中,認(rèn)定為無T線時(shí),則T線的灰度積分值以零計(jì);

(72)根據(jù)所述灰度積分曲線中的所述C線位置計(jì)算該C線位置的灰度積分值;

(73)計(jì)算所述T線位置與所述C線位置的灰度積分值的比值R;

(74)將所述比值R與標(biāo)準(zhǔn)比值Rs進(jìn)行比對(duì),得到待測(cè)樣品濃度值。

具體的,所述的步驟(74),是通過測(cè)定一定范圍內(nèi)的系列濃度的標(biāo)準(zhǔn)樣品的標(biāo)準(zhǔn)比值Rs,每一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)比值Rs對(duì)應(yīng)一個(gè)唯一的標(biāo)準(zhǔn)樣品濃度值,從而得到標(biāo)準(zhǔn)曲線(如圖4所示)或者標(biāo)準(zhǔn)比對(duì)表;然后根據(jù)所述比值R進(jìn)行查找對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)比值Rs,并將該標(biāo)準(zhǔn)比值Rs對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)樣品濃度值作為所述待測(cè)樣品濃度值。

本實(shí)施例中,所述標(biāo)準(zhǔn)曲線根據(jù)不同膠體金檢測(cè)卡可選取不同的計(jì)算方法,包括線性擬合、對(duì)數(shù)擬合、浮點(diǎn)計(jì)算法等,本實(shí)施例優(yōu)選采用浮點(diǎn)計(jì)算法。

與前述的檢測(cè)方法相對(duì)應(yīng),本發(fā)明還提供一種基于圖像處理的膠體金檢測(cè)系統(tǒng),其包括:

圖像預(yù)處理模塊,其獲取膠體金檢測(cè)卡的檢測(cè)圖像,并對(duì)該檢測(cè)圖像的待識(shí)別區(qū)域進(jìn)行灰度處理,得到灰度圖像;

曲線處理模塊,用于計(jì)算所述灰度圖像的灰度積分曲線;并查找所述灰度積分曲線的所有波谷點(diǎn),并計(jì)算各個(gè)波谷點(diǎn)的半峰寬、峰中心點(diǎn)、有效積分面積;以及查找有效積分面積最大的波谷點(diǎn),得到最大波谷點(diǎn);

有效性判斷模塊,若所述最大波谷點(diǎn)的半峰寬在預(yù)設(shè)范圍之外,則判斷該最大波谷點(diǎn)為無效點(diǎn),并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為無效卡;若所述最大波谷點(diǎn)的半峰寬在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi),則判斷該最大波谷點(diǎn)為有效點(diǎn),并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為有效卡;

CT線定位模塊,其根據(jù)所述最大波谷點(diǎn)的峰中心點(diǎn)的位置進(jìn)行判斷該最大波谷點(diǎn)為C線位置或者T線位置;若判斷為C線位置,則向T線方向?qū)ふ移渌行Рü赛c(diǎn),若找到其他有效波谷點(diǎn)則將該波谷點(diǎn)認(rèn)定為T線位置,若找不到其他有效波谷點(diǎn)則認(rèn)定為無T線;若判斷為T線位置,則向C線方向?qū)ふ移渌行Рü赛c(diǎn),若找到其他有效波谷點(diǎn)則將該波谷點(diǎn)認(rèn)定為C線位置;若找不到其他有效波谷點(diǎn)則認(rèn)定為無C線,并認(rèn)定為所述膠體金檢測(cè)卡為無效卡。

所述曲線處理模塊進(jìn)一步包括曲線生成單元和曲線計(jì)算單元,其中:

所述曲線生成單元通過獲取所述灰度圖像的灰度值[X,Y,Z],X為反應(yīng)板的長(zhǎng)邊的像素坐標(biāo),Y為反應(yīng)板的短邊的像素坐標(biāo),Z為坐標(biāo)位置(X,Y)處的灰度值;以X坐標(biāo)作為橫坐標(biāo),以Y坐標(biāo)為縱坐標(biāo),對(duì)Y坐標(biāo)進(jìn)行灰度積分求和,得到灰度積分曲線[X,Zsum];并進(jìn)一步對(duì)所述灰度積分曲線進(jìn)行濾波處理;

所述曲線計(jì)算單元進(jìn)行計(jì)算所述波谷點(diǎn)的半峰寬、峰中心點(diǎn)、有效積分面積,具體的:

計(jì)算峰中心點(diǎn):是通過以波谷點(diǎn)為中心,分別向兩側(cè)尋找拐點(diǎn),計(jì)算拐點(diǎn)與波谷點(diǎn)縱坐標(biāo)差值Z1、Z2,并根據(jù)該縱坐標(biāo)差值尋找橫坐標(biāo)差值X1、X2,取X1、X2的中心點(diǎn)即為峰中心點(diǎn);

計(jì)算半峰寬:是通過以X1、X2做直線,波谷點(diǎn)到直線的距離即為峰高,并根據(jù)峰高計(jì)算半峰寬;

計(jì)算有效積分面積:是通過計(jì)算X1、X2之間所有點(diǎn)的峰高的總和,即為波谷點(diǎn)的有效積分面積。

本實(shí)施例中,還進(jìn)一步包括定量分析模塊,其根據(jù)所述T線位置和所述C線位置進(jìn)行計(jì)算所述膠體金檢測(cè)卡中的檢測(cè)樣品的濃度值;具體的:

根據(jù)所述灰度積分曲線中的所述T線位置計(jì)算該T線位置的灰度積分值,其中,認(rèn)定為無T線時(shí),則T線的灰度積分值以零計(jì);

根據(jù)所述灰度積分曲線中的所述C線位置計(jì)算該C線位置的灰度積分值;

計(jì)算所述T線位置與所述C線位置的灰度積分值的比值R;

將所述比值R與標(biāo)準(zhǔn)比值Rs進(jìn)行比對(duì),得到待測(cè)樣品濃度值。

優(yōu)選的,將所述比值R與標(biāo)準(zhǔn)比值Rs進(jìn)行比對(duì),是通過測(cè)定一定范圍內(nèi)的系列濃度的標(biāo)準(zhǔn)樣品的標(biāo)準(zhǔn)比值Rs,每一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)比值Rs對(duì)應(yīng)一個(gè)唯一的標(biāo)準(zhǔn)樣品濃度值,從而得到標(biāo)準(zhǔn)曲線或者標(biāo)準(zhǔn)比對(duì)表;然后根據(jù)所述比值R進(jìn)行查找對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)比值Rs,并將該標(biāo)準(zhǔn)比值Rs對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)樣品濃度值作為所述待測(cè)樣品濃度值。

本發(fā)明的一種基于圖像處理的膠體金檢測(cè)方法及系統(tǒng),其通過獲取待測(cè)樣品的膠體金檢測(cè)卡的圖像,并對(duì)圖像進(jìn)行壓縮/拉伸、裁剪處理等預(yù)處理,然后通過灰度積分、濾波算法獲取圖像的灰度積分曲線,找出波谷點(diǎn)并通過預(yù)設(shè)參數(shù)及校準(zhǔn)系數(shù),根據(jù)半峰寬、峰中心點(diǎn)位置、有效積分面積、進(jìn)行C線、T線的定位識(shí)別及積分面積比值計(jì)算,最后根據(jù)所述待測(cè)樣品的T/C線的積分比值與所述系列標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行比對(duì)計(jì)算,從而實(shí)現(xiàn)膠體金檢測(cè)卡的定性定量分析,對(duì)獲取的圖像限定條件少,C線、T線的自動(dòng)定位識(shí)別分析準(zhǔn)確,兼容性好、適用范圍廣、檢測(cè)精度高。

本實(shí)施例所述膠體金檢測(cè)卡主要以克倫特羅膠體金檢測(cè)卡為例,當(dāng)然也適用于其他膠體金檢測(cè)卡,不以此為限,只是在具體參數(shù)設(shè)置上可根據(jù)不同的膠體金檢測(cè)卡和不同檢測(cè)樣品來進(jìn)行設(shè)置,其工作原理基本相似,均在本發(fā)明的構(gòu)想范圍內(nèi),且都應(yīng)在本發(fā)明所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。

需要說明的是,本說明書中的各個(gè)實(shí)施例均采用遞進(jìn)的方式描述,每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處,各個(gè)實(shí)施例之間相同相似的部分互相參見即可。對(duì)于系統(tǒng)實(shí)施例而言,由于其與方法實(shí)施例基本相似,所以描述的比較簡(jiǎn)單,相關(guān)之處參見方法實(shí)施例的部分說明即可。并且,在本文中,術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含,從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素,而且還包括沒有明確列出的其他要素,或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下,由語句“包括一個(gè)……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。另外,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過硬件來完成,也可以通過程序來指令相關(guān)的硬件完成,所述的程序可以存儲(chǔ)于一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中,上述提到的存儲(chǔ)介質(zhì)可以是只讀存儲(chǔ)器,磁盤或光盤等。

上述說明示出并描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明并非局限于本文所披露的形式,不應(yīng)看作是對(duì)其他實(shí)施例的排除,而可用于各種其他組合、修改和環(huán)境,并能夠在本文發(fā)明構(gòu)想范圍內(nèi),通過上述教導(dǎo)或相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)或知識(shí)進(jìn)行改動(dòng)。而本領(lǐng)域人員所進(jìn)行的改動(dòng)和變化不脫離本發(fā)明的精神和范圍,則都應(yīng)在本發(fā)明所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。

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