本實用新型屬于LED器件檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種固定測試針遮光面積的LED測試裝置。

背景技術(shù)：

目前LED芯片在完成制作后，都需要經(jīng)過測試，測試出準(zhǔn)確光、電參數(shù)，以對芯片質(zhì)量進(jìn)行評估?，F(xiàn)業(yè)內(nèi)最常見的測試方式為測試針模式，通過測試針不斷的與不同芯片直接接觸來獲得電性參數(shù)，同時通過收光器獲得LED芯片的光學(xué)參數(shù)，由于測試針會遮光，導(dǎo)致收光器獲取的光小于實際芯片的出光，需要在收光器獲得的光學(xué)參數(shù)上設(shè)定一個補(bǔ)償值，以提高光學(xué)參數(shù)準(zhǔn)確度。

然而，在這不斷地測試過程中，存在多種情況導(dǎo)致測試光學(xué)參數(shù)中亮度值發(fā)生異常，主要分為以下幾種情況：1、由于測試針磨損，遮光面積減小，導(dǎo)致增加補(bǔ)償值后的亮度大于實際亮度。2、由于測試針粘附異物，遮光面積增大，導(dǎo)致增加補(bǔ)償值后的亮度小于實際亮度。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的在于穩(wěn)定測試針的遮光面積，以得到準(zhǔn)確的光學(xué)參數(shù)。本實用新型提供一種LED測試裝置，具體的技術(shù)方案如下：

一種LED測試裝置，用于測試LED芯片的光、電參數(shù)，由測試針、電性參數(shù)采集器、收光器組成，收光器位于LED芯片的上方，收集LED芯片工作時的光學(xué)參數(shù)，所述測試針最少由兩段組成，第一段為與電性參數(shù)采集器固定連接的部分，將電流傳遞給電性參數(shù)采集器，第一段為與LED芯片的電極部分相接觸的裸露針尖部分，第二段為與一種具備固定遮光面積的治具固定連接的部分，所述治具在芯片上的投影覆蓋測試針在芯片上的投影。

優(yōu)選的，所述治具為圓柱體或者長方體或者兩者任意數(shù)量的組合。

優(yōu)選的，測試時，所述治具水平投影邊緣到電極邊緣的距離d大于0、小于電極的直徑。

優(yōu)選的，測試時，所述治具水平投影的寬度小于電極的直徑。

本實用新型具以下有益效果：

本實用新型在測試針模式的基礎(chǔ)上加上一個治具，用治具本身固定的遮光面積來代替因測試針不斷磨損而不固定的遮光面積，并且即使測試針存在磨損現(xiàn)象，也僅在治具內(nèi)部與電極區(qū)域，不影響光電參數(shù)的精確性。治具遮光則由通過測試機(jī)臺自身的內(nèi)部修正參數(shù)將固定面積的這個光參數(shù)補(bǔ)償回來，此方案可精確芯粒測試的光電性能，且適用于所有需要探針測試的產(chǎn)品。

附圖說明

附圖構(gòu)成本申請的一部分的附圖用來提供對本實用新型的進(jìn)一步理解，本實用新型的示意性實施例及其說明用于解釋本實用新型，并不構(gòu)成對本實用新型的不當(dāng)限定。在附圖中：

圖1為本實用新型LED測試裝置的示意圖；

圖2為本實用新型帶有治具的測試針示意圖；

圖3為測試時，本實用新型在芯片上投影的示意圖。

附圖標(biāo)注：100、載片盤，110、芯片，111、電極，200、測試針，210、針尖，220、治具，300、探針臺，310、支架，400、收光器。

具體實施方式

在下列段落中參照附圖以舉例方式更具體地描述本實用新型。根據(jù)下面說明和權(quán)利要求書，本實用新型的優(yōu)點和特征將更清楚。需說明的是，附圖均采用非常簡化的形式且均使用非精準(zhǔn)的比例，僅用以方便、明晰地輔助說明本實用新型實施例

參看附圖1和附圖2，本實用新型采用的一種LED測試裝置，用于測試載片片100上的LED芯片110的光、電參數(shù)，由測試針200、電性參數(shù)采集器（即本實施例的探針臺300）、收光器400組成，測試時，收光器400位于LED芯片110的上方，收集LED芯片110工作時的光學(xué)參數(shù)，其特征在于，所述測試針200最少由兩段組成，第一段為與電性參數(shù)采集器電性連接的部分，將電極111上電流傳遞給電性參數(shù)采集器，為與LED芯片的電極部分相接觸的裸露針尖210部分，第二段為與一種具備固定遮光面積的治具220固定連接的部分，另一方面測試針200和治具220通過支架310固定連接到探針臺300，所述治具220在芯片上的投影覆蓋測試針在芯片110上的投影，在芯片110上的陰影只看得到治具220陰影，而看不到測試針200陰影，該情況下治具的遮光面覆蓋了測試針200的遮光面，消除了測試針200遮光對光學(xué)參數(shù)的影響。通過具備固定遮光面積的治具220，設(shè)定修正參數(shù)，更加準(zhǔn)確、穩(wěn)定地測試LED芯片的光學(xué)參數(shù)。

具體地，治具220外形可以為圓柱體或者任意數(shù)量圓柱的組合，也可以是長方體或者任意數(shù)量長方體的組合，也可以是其他具有固定遮光面積的形狀。

參看附圖3，測試時，治具220在芯片110的水平投影為網(wǎng)格狀陰影部分，其邊緣到電極111邊緣的距離d大于0、小于電極111的直徑，此條件下，保證了測試針尖210測試時準(zhǔn)確落在電極111上。測試時，所述治具220水平投影的寬度w小于電極111的直徑，盡量減少不必要的遮光，提高測試準(zhǔn)確性。

本實用新型采用的治具220固定在測試針200上，因為降低了測試針200由于磨損或者臟污對光學(xué)參數(shù)采集造成的影響，一定程度上延長了測試針200的使用壽命和更換周期。

應(yīng)當(dāng)理解的是，上述具體實施方案為本實用新型的優(yōu)選實施例，本實用新型的范圍不限于該實施例，凡依本實用新型所做的任何變更，皆屬本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。