本發(fā)明涉及FPC轉盤測試機。

背景技術：

現(xiàn)有的用于檢測FPC 的測試治具，其存在著以下不足：結構較為復雜，給操作帶來一定的不便利；測試時間過長；測試穩(wěn)定性差。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術問題是克服現(xiàn)有技術的不足，提供一種測試耗時少、測試穩(wěn)定性好的FPC轉盤測試機。

本發(fā)明所采用的技術方案是：本發(fā)明包括主機和設置有剎車馬達的凸輪分割器，所述凸輪分割器上設置有分割盤，所述凸輪分割器設置在所述主機上，所述主機內設置有直立機械手和旋轉機械手，所述直立機械手和旋轉機械手位于所述主機的內部兩側，所述分割盤上均勻設置有若干載板，所述載板與外部測試件相適配，所述直立機械手和所述旋轉機械手均與所述載板相配合，所述載板設置有若干個工位。

進一步地，所述工位數(shù)量為四個，分別為掃碼工位、ICT-MIC靈敏度測試工位、ICT-MIC漏音測試工位和自動出料工位。

進一步地，所述分割盤的下面設置有第一氣缸，所述第一氣缸位于所述直立機械手的正下方，所述第一氣缸的推塊上端適配設置有頂盤組件，所述頂盤組件與所述分割盤相配合。

進一步地，所述ICT-MIC靈敏度測試工位包括安裝在所述直立機械手下端的ICT塊和設置在所述頂盤組件上并與外部測試件上的MIC相配合的喇叭，所述ICT塊與外部測試件相配合，所述ICT塊的上端適配設置有噪音計，所述噪音計與外部測試件上的MIC相配合。

進一步地，所述ICT-MIC漏音測試工位包括安裝在所述直立機械手上的平板，所述平板下端設置有堵孔塊，所述堵孔塊與所述平板通過可伸縮的天線桿相連接，所述ICT塊設置有可供所述堵孔塊穿過的通槽，所述堵孔塊位于外部測試件上的MIC的音孔的正上方。

進一步地，所述自動出料工位包括安裝在所述主機內的旋轉機械手，所述旋轉機械手上設置有第二氣缸，在所述第二氣缸的推塊的下端面設置有帶真空吸嘴的取料板，所述真空吸嘴與所述載板相配合。

進一步地，所述載板與外部測試件均設置有相適配的銷孔。

本發(fā)明的有益效果是：在本發(fā)明中，由剎車馬達提供動力，使凸輪分割器能每次旋轉90°，以使四個載板上的測試件在同一個工位迅速作業(yè)，并且還采用四個工位連續(xù)作業(yè)的形式，保障了本發(fā)明的測試時間為9～10s，提高速度效率。使用氣缸，利用其推力幫助載板與ICT塊壓緊，使ICT塊上的測試部件與外部測試件緊密結合，提高了測試的穩(wěn)定性。載板與測試件之間采用直徑為1.0mm的銷釘進行精確定位，提高了測試件的位置精度，保證了測試精度。本發(fā)明整體外觀簡潔美觀。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的立體結構示意圖；

圖2是ICT-MIC靈敏度測試工位的示意圖；

圖3是ICT-MIC漏音測試工位的示意圖；

圖4是本發(fā)明的測試工位的示意圖。

具體實施方式

如圖1至圖4所示，本發(fā)明包括主機1、設置有剎車馬達2的凸輪分割器3，所述凸輪分割器3上設置有分割盤4，所述凸輪分割器3設置在所述主機1上，所述主機1內設置有直立機械手5和旋轉機械手6，所述直立機械手5和旋轉機械手6位于所述主機的兩側，所述分割盤4上均勻設置有若干載板7，所述載板7與外部測試件17相適配，所述直立機械手5、所述旋轉機械手6均與所述載板7相配合，所述載板7設置有四個工位，分別為掃碼工位、ICT-MIC靈敏度測試工位（ICT指在線測試儀，是IN CIRCUIT TESTER的英文縮寫，是現(xiàn)代電子企業(yè)必備的PCBA生產的測試設備;MIC指擴音器、麥克風,microphone的縮寫）、ICT-MIC漏音測試工位和自動出料工位。

在本具體實施例中，所述載板7上均勻設置用通孔，而所述分割盤4上設置有與所述通孔配合的定位柱，所以所述載板7能準確定位在所述分割盤4上，所述載板7有四個，分別以繞所述分割盤4的圓心旋轉90°的形式均勻定位在所述分割盤4上，當然，載板7也可以設置為其它的數(shù)量，但需要將若干載板7均勻定位在以所述分割盤4的圓心為圓心的圓周上。另一方面，測試件17需精確地定位安裝在載板7上，所述測試件17的位置精度決定了本發(fā)明的測試精度，故而本發(fā)明采用直徑為1.0mm的銷釘進行所述測試件17與所述載板7的精確定位，所述測試件為FPC元件（FPC指可撓性印刷電路板是FLEXIBLE PRINTED CIRCUIT 的英文縮寫，它具有輕、薄、短、小的特點，作為一種特殊的互聯(lián)技術能夠滿足三維組裝的要求，已被廣泛應用于NOTEBOOK、LCD、手機、數(shù)碼相機、計算器、航空電子以及軍用電子設備中）。而且，當所述測試件17定位安裝在所述載板7上后，還需要使用預壓板進行預壓，確保所述測試件17能緊密安裝在所述載板7上。而所述測試件17與所述載板7之間的拆裝則采用簡單的通孔結構，這種設計易于拆裝，保證所述測試件17在拆裝過程中不易變形，進而提高本發(fā)明的測試穩(wěn)定性。裝好測試件后，即可開始進行測試，此測試包括四個不同工位，分別為：掃碼工位、ICT-MIC靈敏度測試工位、ICT-MIC漏音測試工位和自動出料工位。

通過所述剎車馬達2提供動力給所述凸輪分割器3，所述凸輪分割器3旋轉帶動其上端的載板7的位置變化，以實現(xiàn)測試件17在不同工位之間的轉換，在本具體實施例中，所述剎車馬達2每次為所述凸輪分割器3提供使所述分割盤4順時針旋轉90°的動力，使所述分割盤4上的四個載板7能正確地對位到每個工位，保證本發(fā)明測試的準確性。當然，所述載板7若為其它的數(shù)量，數(shù)量設為n，則需要將所述剎車馬達2調整為每次提供的動力恰好能使所述凸輪分割器3上的所述分割盤4順時針旋轉360/n度。

測試的第一個工位為掃碼工位，所述掃碼工位是針對測試件17上的MIC上的微型二維碼的掃碼工作，本具體實施例選擇了美國設計制造的型號為214-400的掃碼設備，手動按下所述主機1的啟動按鈕后，外部控制器控制掃碼槍工作，所述掃碼槍對MIC上的微型二維碼進行掃碼，掃碼產生的數(shù)據通過所述主機1保存到電腦緩存內，等待后續(xù)工位測試完畢，再同步所有測試數(shù)據，上傳到客戶的服務器，以備后期數(shù)據的追溯及對產品零件性能的評估。當測試完第一個測試件17，所述剎車馬達2啟動，使所述分割盤4順時針旋轉90°，此時，第二個測試件17隨著對應載板7被移動到原先第一個測試件17的位置上，使第二個測試件17能繼續(xù)進行本工位的測試，此原先第一個測試件17的位置為測試位，當四個測試件17均在所述測試位進行過本工位的測試后，所述剎車馬達2啟動，使所述分割盤4順時針旋轉90°，此時，第一個測試件17隨著對應載板7被移動到所述測試位上，等待進行第二個工位的測試。

測試的第二個工位為ICT-MIC靈敏度測試工位，進行本工位的測試時，位于所述測試位正上方的所述直立機械手5受到所述主機1的控制而下降，帶動位于所述直立機械手5下端的ICT塊10下壓位于所述測試位上的載板7，使所述ICT塊10與所述載板7相互貼合，而所述ICT塊10的下端設置有導柱，所述載板7的上端設置有與所述導柱對應的導套孔，故而，通過所述導柱與所述導套孔的配合，使所述ICT塊10與所述載板7在貼合過程中時能正確對位，提高本發(fā)明測試的精準性和穩(wěn)定性。在所述ICT塊10與所述載板7對位貼合后，所述ICT塊10與所述載板7上的測試件17連接，所述ICT塊10即可測試所述測試件17中包括電容、電阻在內的大概30多項的測試項，其中最重要也是本發(fā)明的核心的測試項是MIC的靈敏度測試。在本發(fā)明中，在本工位的測試位的正下方設置有豎直放置的第一氣缸8，所述第一氣缸8的推塊上端適配設置有頂盤組件9，所述頂盤組件9與所述分割盤4相配合，當進行MIC的靈敏度測試時，通過安裝在頂盤組件9上的喇叭發(fā)出聲音，測試件17上的MIC接收此聲音并通過MIC的音孔放聲，此時，安裝在所述ICT塊10上的型號為Center325的噪音計即可通過導音硅膠孔接收所述MIC發(fā)出的聲音，并得到相應聲音數(shù)據，接著再通過所述主機1將此數(shù)據存入電腦，為了得到更精確的聲音數(shù)據，就需要減小外界對MIC發(fā)出的聲音的影響，此時讓第一氣缸8充氣令推塊上推，所述頂盤組件9能上頂所述分割盤4上對應所述測試位的部分區(qū)域，使得所述ICT塊10與所述測試件17在所述直立機械手5的下壓力和所述頂盤組件9的上推力的共同作用下緊密結合，自然，所述ICT塊10上所述噪音計的導音硅膠孔和所述測試件17上的MIC即可100%地密閉結合，使MIC發(fā)出的聲音不失真地被所述噪音計接收，提高本發(fā)明測試的精準性與穩(wěn)定性。當測試完第一個測試件17的所有測試項，所述直立機械手5受到所述主機1的控制而上抬回升，所述直立機械手5帶動所述ICT塊10上升并與所述載板7分離，同時，所述第一氣缸8放氣，所述頂盤組件9受重力作用下降并與所述分割盤4分離，就此，本工位的第一個測試件17就完成了測試作業(yè)。最后，和第一工位一樣，所述分割盤4上的另外三個測試件17可依次輪流進行本工位的測試，完成第二個工位的全部測試作業(yè)。

測試的第三個工位為ICT-MIC漏音測試工位，本工位的實施內容與第二工位的實施內容基本類似，同樣是所述直立機械手5下降，帶動所述ICT塊10下壓并與第一個測試件17的載板7結合，所述ICT塊10即可與測試件17相連接，從而，所述ICT塊10即可測試所述測試件17中大概30多項的測試項，其中的MIC的漏音測試是本工位的測試項中重要的一項。在本發(fā)明中，所述直立機械手5上設置有平板12，所述平板12下端設置有堵孔塊13，所述堵孔塊13與所述平板12通過可伸縮的天線桿相連接，并且所述堵孔塊13位于所述測試件17的MIC的音孔的正上方，所以當測試所述MIC的漏音測試時，通過天線桿伸長可以使所述堵孔塊13下降，當所述堵孔塊13下降到極限位置時，所述堵孔塊13穿過所述ICT塊10上的通槽，最終與測試件17的MIC的音孔相接觸，并堵住MIC的音孔，同時，安裝在所述頂盤組件9上的所述喇叭發(fā)出聲音，此聲音被所述測試件17上的MIC接收，MIC通過音孔發(fā)出聲音，但由于MIC的音孔被堵住，所以此時可以用所述噪音計11通過MIC的發(fā)聲情況生成數(shù)據，用來檢測MIC的漏音問題，當然完成所述MIC的漏音測試后，所述堵孔塊13回升，完成所述MIC的漏音測試的收尾。當測試完第一個測試件17的所有測試項，和第二個工位一樣，所述分割盤4上的另外三個測試件17可依次輪流進行本工位的測試，完成第二個工位的全部測試作業(yè)。另一方面，當?shù)谌齻€測試件17隨著對應的載板7被移動到測試位時，第一個測試件17被所述分割盤4移動到第四個工位的出料位上，第一個測試件17便開始進入第四個工位，當然，后續(xù)其它測試件17也會陸續(xù)進入第四工位。

測試的第四個工位為自動出料工位，進行本工位的測試時，所述主機1控制位于所述主機1內部右側的旋轉機械手6動作并順時針旋轉，使取料板16定位到載板7的正上方，此載板7的位置正是出料位，此出料位與前三個工位所述的測試位相對于所述分割盤4來說為中心對稱的關系，所述取料板16上設置有真空吸嘴15，而所述旋轉機械手6豎直設置有第二氣缸14，所述取料板16就設置在所述第二氣缸14的推塊上，所以當進行本工位的測試時，所述第二氣缸14充氣將推塊往下推，推塊會帶動所述取料板16下降，所述取料板16上的所述真空吸嘴15就能與所述載板7相接觸并吸緊，所述載板7連同測試件17一起被所述真空吸嘴15吸住，進一步地，所述第二氣缸14放氣，使推塊上升收回，所述取料板16和被所述真空吸嘴15吸住的所述載板7和所述測試件17也隨著推塊一起上升，接著，所述旋轉機械手6逆時針旋轉，將所述載板7和所述測試件17移動到所述主機1側邊的滑軌上面，再接著，所述真空吸嘴15釋放并使所述載板7和所述測試件17掉落在滑軌上，完成所述自動出料工位的作業(yè)。針對另外三個測試件17，由于實施方式與第一測試件17相同，就不繼續(xù)說明了。

在本發(fā)明中，測試件17通過四個工位連續(xù)緊湊地作業(yè)，使每一個測試件17的總測試時間穩(wěn)定在9～10s內，此時間比市面上其它同類測試治具在效率上有明顯地提升，體現(xiàn)出本發(fā)明耗時少，效率高的特點。

本發(fā)明適用于FPC測試領域。