專利名稱：立式轉(zhuǎn)盤測試機的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測試設(shè)備，更具體地說是指一種利用立式轉(zhuǎn)盤結(jié)構(gòu)對被測試元件進行測試分類的設(shè)備，可以用于各種SMD(表面貼裝)元件，比如SMD LED、SMD電容、 SMD電感、SMD 二極管、三極管等產(chǎn)品的測試分類。
背景技術(shù)：
目前，在測試分類設(shè)備中，比如LED分光機中，都是采用水平旋轉(zhuǎn)的測試轉(zhuǎn)盤，即上料機構(gòu)將被測元件從直振上料器里逐顆移送至水平轉(zhuǎn)盤的吸嘴上，再水平旋轉(zhuǎn)至測試工位進行測試，測試后通過送料機構(gòu)送入不同種類的料筒中，完成上料、測試、分類、收集的測試過程。上料機構(gòu)大多數(shù)采用的是往復(fù)式真空吸嘴吸料機構(gòu)或旋轉(zhuǎn)盤式真空吸嘴吸料機構(gòu)，這兩種上料機構(gòu)均需作水平與上、下移動的復(fù)合動作才能完成從直振上料器里吸料、移送、放置這一上料動作，因而對吸料機構(gòu)的運動位置精度和運動時序的要求較高，不然，會頻繁出現(xiàn)不能吸料、掉料、放置位置不準(zhǔn)等嚴(yán)重影響機器運行速度和效率的狀況，設(shè)備運行的穩(wěn)定性和可靠性不高。另外，由于上料機構(gòu)的往復(fù)運動，機構(gòu)回程占用一定的時間，想進一步提高上料機構(gòu)的上料速度也較為困難。由于高速的往復(fù)式運動，機構(gòu)中各連接部件較容易出現(xiàn)松動，導(dǎo)致定位精度下降或出現(xiàn)故障。由于都是靠真空吸料，吸嘴的吸、放位置變化及吸氣孔堵塞均會造成掉料、不能吸料等故障，調(diào)試和維護都比較困難。上料機構(gòu)零件多，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，成本高。為了解決上述問題，本發(fā)明人創(chuàng)新地設(shè)計出一種立式轉(zhuǎn)盤測試機。
實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種立式轉(zhuǎn)盤測試機，設(shè)有立式轉(zhuǎn)盤將被測元件移送至測試工位，直振上料器的末端則采用上、下氣墊供料道結(jié)構(gòu)為立式轉(zhuǎn)盤供料，可以實現(xiàn)連續(xù)地供料，能極大地提高測試設(shè)備的速度和可靠性。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用以下技術(shù)方案立式轉(zhuǎn)盤測試機，包括機座，及設(shè)于機座上的上料器、測試機構(gòu)，所述的測試機構(gòu)包括測試元件的測試電路；其特征在于所述的測試機構(gòu)包括測試臺座、設(shè)于測試臺座上的測試探針座，及與測試探針座對接的立式吸料轉(zhuǎn)盤、與立式吸料轉(zhuǎn)盤傳動聯(lián)接的轉(zhuǎn)盤電機、 用于固定轉(zhuǎn)盤電機的轉(zhuǎn)盤支座，所述的立式吸料轉(zhuǎn)盤一側(cè)與上料器對接，另一側(cè)設(shè)有滑動聯(lián)接的配氣環(huán)；所述的配氣環(huán)設(shè)有配氣槽，所述的配氣槽與設(shè)有的真空管聯(lián)接，所述立式吸料轉(zhuǎn)盤的外周設(shè)有若干個置料槽，所述置料槽的底部設(shè)有與配氣槽相聯(lián)通的轉(zhuǎn)盤真空通氣孔。其進一步技術(shù)方案為還包括設(shè)于上料器與立式吸料轉(zhuǎn)盤之間的供料機構(gòu)，所述的供料機構(gòu)包括供料支座、設(shè)于供料支座上的上氣墊體和下氣墊體，所述上氣墊體和下氣墊體之間設(shè)有送料腔，所述的上氣墊體和下氣墊體分別設(shè)有與送料腔聯(lián)通的上吹料口和下吹料口，所述的上吹料口和下吹料口分別與壓氣管聯(lián)接。[0008]其進一步技術(shù)方案為所述立式吸料轉(zhuǎn)盤與送料腔相對應(yīng)的另一側(cè)設(shè)有擋料塊， 所述擋料塊的兩側(cè)設(shè)有到料傳感器。其進一步技術(shù)方案為所述的轉(zhuǎn)盤支座上還設(shè)有與配氣環(huán)活動式聯(lián)接的固定環(huán)， 所述的固定環(huán)與配氣環(huán)之間設(shè)有彈簧和導(dǎo)向柱。其進一步技術(shù)方案為所述的擋料塊上還設(shè)有真空吸料口，立式吸料轉(zhuǎn)盤的側(cè)面還設(shè)有用于自動校正被測元件位置的校正塊。其進一步技術(shù)方案為所述的測試臺座上設(shè)有推動測試探針座的凸輪和與凸輪傳動聯(lián)接的測試電機，及對測試探針座起導(dǎo)向作用的滑軌滑塊組件，所述的滑軌滑塊組件包括固定在測試臺座上的滑軌和用于固定測試探針座的滑塊。其進一步技術(shù)方案為所述的測試探針座為多組。其進一步技術(shù)方案為還包括設(shè)于立式吸料轉(zhuǎn)盤下方的球面分箱送料機構(gòu)。其進一步技術(shù)方案為還包括設(shè)于球面分箱送料機構(gòu)下方的不停機收料裝置；所述的不停機收料裝置包括設(shè)有面板的收料座，及與收料座滑動聯(lián)接的收料托板，所述收料座的面板設(shè)有若干個送料孔，所述的收料托板上設(shè)有若干個與送料孔相對應(yīng)的主料筒；還包括若干個對接于主料筒與送料孔之間的副料筒，及設(shè)于副料筒與主料筒之間的開關(guān)板、 用于驅(qū)動開關(guān)板水平移動的開關(guān)動力機構(gòu)，所述的開關(guān)動力機構(gòu)設(shè)有與收料座固定聯(lián)接的固定端和與開關(guān)板固定聯(lián)接的活動端，所述的開關(guān)板設(shè)有若干個用于對接副料筒與主料筒的開關(guān)孔。其進一步技術(shù)方案為所述的被測試元件為貼片式的LED、電容、電感、二極管或三極管等片式元件。本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果是本實用新型采用立式轉(zhuǎn)盤為測試機構(gòu)送料，而上料器的末端采用上、下氣墊供料道結(jié)構(gòu)為立式轉(zhuǎn)盤供料，供料距離短且可以連續(xù)地單向送料，沒有往返動作，所以能極大地提高測試設(shè)備的供料速度。由于不使用真空吸料，沒有上升和下降的動作，供料的可靠性和穩(wěn)定性大大提高。由于立式轉(zhuǎn)盤占用空間小， 測試臺座上的測試探針座可以為二組或多組，能對被測試元件同時進行不同種類的測試， 比如用于LED分光測試時，一組測試探針座測試電性能，另一組測試探針座則測試光性能。 測試之后采用球面分箱送料機構(gòu)，進一步保證了分類測試設(shè)備的高速度。球面分箱送料機構(gòu)下方的收料裝置采用不停機收料裝置，可以使得測試機能夠不停機，連續(xù)性地工作，提高了設(shè)備的生產(chǎn)效率和實際產(chǎn)能。
以下結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步描述。
圖1為本實用新型立式轉(zhuǎn)盤測試機具體實施例的立體結(jié)構(gòu)圖(球面分箱送料機構(gòu)的上部未示出)；圖2為本實用新型立式轉(zhuǎn)盤測試機具體實施例的測試臺座和供料機構(gòu)的立體結(jié)構(gòu)圖；圖3為圖2的另一角度立體結(jié)構(gòu)圖；圖4本實用新型立式轉(zhuǎn)盤測試機具體實施例的測試臺座和供料機構(gòu)的立體爆炸圖；[0022]圖5為圖4的另一角度的立體爆炸圖；圖6為圖1實施例中的立式吸料轉(zhuǎn)盤的立體結(jié)構(gòu)圖；圖7為圖1實施例中的供料機構(gòu)的立體結(jié)構(gòu)圖；圖8為圖7的立體爆炸圖；圖9為圖7的主視圖；圖10為圖9的A-A剖視放大圖。附圖標(biāo)記說明1機座2上料器[0030]3測試機構(gòu)31測試臺座[0031]32測試探針座33立式吸料轉(zhuǎn)盤[0032]331置料槽332轉(zhuǎn)盤真空通氣孔[0033]34轉(zhuǎn)盤電機35轉(zhuǎn)盤支座[0034]351固定環(huán)352彈簧[0035]353導(dǎo)向柱36擋料塊[0036]361到料傳感器37校正塊[0037]38凸輪381測試電機[0038]39滑軌滑塊組件391滑軌[0039]392滑塊4配氣環(huán)[0040]41配氣槽42真空管[0041]5供料機構(gòu)50送料腔[0042]51供料支座521上吹料口[0043]52上氣墊體53下氣墊體[0044]531下吹料口6球面分箱送料機構(gòu)[0045]7不停機收料裝置71收料座[0046]711面板712送料孔[0047]72收料托板721主料筒[0048]73副料筒74開關(guān)板[0049]75開關(guān)動力機構(gòu)341聯(lián)接盤[0050]8吹氣機構(gòu)9貼片式LED
具體實施方式
為了更充分理解本實用新型的技術(shù)內(nèi)容，下面結(jié)合具體實施例對本實用新型的技術(shù)方案進一步介紹和說明，但不局限于此。如圖1至圖10所示，為本實用新型立式轉(zhuǎn)盤測試機的具體實施例，它用于測試貼片式LED，包括機座1，及設(shè)于機座1上的上料器2、測試機構(gòu)3，測試機構(gòu)3包括被測試元件的測試電路(圖中未示出)；測試機構(gòu)3包括測試臺座31、設(shè)于測試臺座31上的測試探針座32，及與測試探針座32對接的立式吸料轉(zhuǎn)盤33、與立式吸料轉(zhuǎn)盤33傳動聯(lián)接的轉(zhuǎn)盤電機；34、用于固定轉(zhuǎn)盤電機34的轉(zhuǎn)盤支座35，立式吸料轉(zhuǎn)盤33 —側(cè)與上料器2對接，另一側(cè)設(shè)有滑動聯(lián)接的配氣環(huán)4 ；配氣環(huán)4設(shè)有配氣槽41，配氣槽41與設(shè)有的真空管42聯(lián)接，立式吸料轉(zhuǎn)盤33的外周設(shè)有若干個置料槽331，置料槽331的底部設(shè)有與配氣槽41相聯(lián)通的轉(zhuǎn)盤真空通氣孔332。還包括設(shè)于上料器2與立式吸料轉(zhuǎn)盤33之間的供料機構(gòu)5，供料機構(gòu)5包括供料支座51、設(shè)于供料支座51上的上氣墊體52和下氣墊體53，上氣墊體52和下氣墊體53之間設(shè)有送料腔50，上氣墊體52和下氣墊體53分別設(shè)有與送料腔50聯(lián)通的上吹料口 521和下吹料口 531，上吹料口 521和下吹料口 531分別與壓氣管道聯(lián)接。其中的上吹料口 521和下吹料口 531的角度是斜向送料方向，被測試的貼片式LED在進料時，被夾在上氣道和下氣道之間送至與送料腔相對應(yīng)的置料槽331中。立式吸料轉(zhuǎn)盤33與送料腔50 相對應(yīng)的另一側(cè)設(shè)有擋料塊36 (可以固定在轉(zhuǎn)盤支座35上，也可以直接固定在機座1上)， 擋料塊36的兩側(cè)設(shè)有到料傳感器361。轉(zhuǎn)盤支座35上還設(shè)有與配氣環(huán)4活動聯(lián)接的固定環(huán)351，固定環(huán)351與配氣環(huán)4之間設(shè)有彈簧352和導(dǎo)向柱353。擋料塊36上還設(shè)有真空吸料口(圖中未示出，它配合送料腔50的工作，實現(xiàn)貼片式LED的迅速到位)，立式吸料轉(zhuǎn)盤33的一側(cè)還設(shè)有用于自動校正被測試元件位置的校正塊37。測試臺座31上設(shè)有推動測試探針座32移動的凸輪38和與凸輪傳動聯(lián)接的測試電機381，及對測試探針座32起導(dǎo)向作用的滑軌滑塊組件39，滑軌滑塊組件39包括固定在測試臺座31上的滑軌391和用于固定測試探針座32的滑塊392。本實施例中的測試探針座32為二組。還包括設(shè)于立式吸料轉(zhuǎn)盤下方的球面分箱送料機構(gòu)6 (其上部分的分箱動力部件未示出，底部為球面分箱送料機構(gòu))。還包括設(shè)于球面分箱送料機構(gòu)下方的不停機收料裝置 7 ；不停機收料裝置7包括設(shè)有面板711的收料座71，及與收料座71滑動聯(lián)接的收料托板 72,收料座71的面板711設(shè)有若干個送料孔712，收料托板72上設(shè)有若干個與送料孔712 相對應(yīng)的主料筒721 ；還包括若干個對接于主料筒721與送料孔712之間的副料筒73，及設(shè)于副料筒73與主料筒721之間的開關(guān)板74、用于驅(qū)動開關(guān)板74水平移動的開關(guān)動力機構(gòu)75，開關(guān)動力機構(gòu)75設(shè)有與收料座71固定聯(lián)接的固定端和與開關(guān)板74固定聯(lián)接的活動端，開關(guān)板74設(shè)有若干個用于對接副料筒73與主料筒721的開關(guān)孔(圖中未示出)。其工作原理是貼片式的LED元件被振動式上料器2不斷地送至供料機構(gòu)5的前端導(dǎo)軌槽中。當(dāng)LED元件在送料腔50中，受到上氣墊體52和下氣墊體53向外的氣墊作用，快速地被送入至置料槽331中(由于轉(zhuǎn)盤上真空的作用，LED元件被吸在置料槽中)，此時擋料塊36邊上的到料傳感器361 —旦檢測到LED元件到位，就發(fā)出信號，控制器控制轉(zhuǎn)盤電機旋轉(zhuǎn)一個角度，立式吸料轉(zhuǎn)盤也跟隨旋轉(zhuǎn)一個角度，LED元件在校正塊的作用下，位置被自動校正至預(yù)設(shè)位置，隨即自動接通真空將元件吸附固定在轉(zhuǎn)盤置料槽中。移送走一個元件后，再次從送料腔50中將后面的LED元件送料至新的置料槽331中，進入下一個循環(huán)。測試用的測試探針座32為二組，前面一組測試電性能，后面一組測試光性能，兩組測試并行進行，節(jié)約了測試時間并提高了測試精度。測試完成之后，LED元件被移送至立式吸料轉(zhuǎn)盤33的最下方位置，由吹料機構(gòu)8將元件吹入送料管，送至分箱送料機構(gòu)分類處理。由于氣墊式送料是沿直線連續(xù)地送料，移動距離短，不用真空吸料，沒有上下運動，所以供料速度、可靠性和穩(wěn)定性都大大提高。而且由于采用的是立式轉(zhuǎn)盤，節(jié)約空間，使得測試機構(gòu)上可裝上二組測試探針座并行測試電參數(shù)和光參數(shù)，縮短了測試時間，提高了測試速度。本實用新型從供料速度、測試速度、分箱送料速度和收料收集速度等幾個方面均有提升，使得測試設(shè)備的總體速度、實際產(chǎn)能和穩(wěn)定性等得到了提升。于其它實施例中，被測試元件還可以是貼片式的電容、電感、二極管、三極管等片式元件，即可用于不同物品的測試和分類。綜上所述，本實用新型采用立式轉(zhuǎn)盤為測試機構(gòu)送料，而上料器的末端采用上、下氣墊供料道結(jié)構(gòu)為立式轉(zhuǎn)盤供料，可以實現(xiàn)連續(xù)供料，能極大地提高分類測試設(shè)備的速度和穩(wěn)定性。由于立式轉(zhuǎn)盤占用空間小，測試臺座上的測試探針座可以為二組，能對被測試元件同時進行不同種類的性能測試，比如用于LED分光測試時，其中一個測試探針座測試電性能，另一個測試探針座則測試光性能。測試之后采用球面分箱送料機構(gòu)，進一步保證了分類測試設(shè)備分箱的高速度，球面分箱送料機構(gòu)下方的收料裝置采用不停機收料裝置，可以使得測試機能夠不停機，連續(xù)性地工作，提高了生產(chǎn)效率和實際產(chǎn)能。以上所述僅以實施例來進一步說明本實用新型的技術(shù)內(nèi)容，以便于讀者更容易理解，但不代表本實用新型的實施方式僅限于此，任何依本實用新型所做的技術(shù)延伸或再創(chuàng)造，均受本實用新型的保護。本實用新型的保護范圍以權(quán)利要求書為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.立式轉(zhuǎn)盤測試機，包括機座，及設(shè)于機座上的上料器、測試機構(gòu)，所述的測試機構(gòu)包括測試元件的測試電路；其特征在于所述的測試機構(gòu)包括測試臺座、設(shè)于測試臺座上的測試探針座，及與測試探針座對接的立式吸料轉(zhuǎn)盤、與立式吸料轉(zhuǎn)盤傳動聯(lián)接的轉(zhuǎn)盤電機、用于固定轉(zhuǎn)盤電機的轉(zhuǎn)盤支座，所述的立式吸料轉(zhuǎn)盤一側(cè)與上料器對接，另一側(cè)設(shè)有滑動聯(lián)接的配氣環(huán)；所述的配氣環(huán)設(shè)有配氣槽，所述的配氣槽與設(shè)有的真空管聯(lián)接，所述立式吸料轉(zhuǎn)盤的外周設(shè)有若干個置料槽，所述置料槽的底部設(shè)有與配氣槽相聯(lián)通的轉(zhuǎn)盤真空通氣孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的立式轉(zhuǎn)盤測試機，其特征在于還包括設(shè)于上料器與立式吸料轉(zhuǎn)盤之間的供料機構(gòu)，所述的送料機構(gòu)包括送料支座、設(shè)于送料支座上的上氣墊體和下氣墊體，所述上氣墊體和下氣墊體之間設(shè)有送料腔，所述的上氣墊體和下氣墊體分別設(shè)有與送料腔聯(lián)通的上吹料口和下吹料口，所述的上吹料口和下吹料口分別與壓氣管聯(lián)接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的立式轉(zhuǎn)盤測試機，其特征在于所述立式吸料轉(zhuǎn)盤與送料腔相對應(yīng)的另一側(cè)設(shè)有擋料塊，所述擋料塊的兩側(cè)設(shè)有到料傳感器。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的立式轉(zhuǎn)盤測試機，其特征在于所述的轉(zhuǎn)盤支座上還設(shè)有與配氣環(huán)活動式聯(lián)接的固定環(huán)，所述的固定環(huán)與配氣環(huán)之間設(shè)有彈簧和導(dǎo)向柱。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的立式轉(zhuǎn)盤測試機，其特征在于所述的擋料塊上還設(shè)有真空吸料口，立式吸料轉(zhuǎn)盤的側(cè)面還設(shè)有用于自動校正被測元件位置的校正塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項所述的立式轉(zhuǎn)盤測試機，其特征在于所述的測試臺座上設(shè)有推動測試探針座的凸輪和與凸輪傳動聯(lián)接的測試電機，及對測試探針座起導(dǎo)向作用的滑軌滑塊組件，所述的滑軌滑塊組件包括固定在測試臺座上的滑軌和用于固定測試探針座的滑塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的立式轉(zhuǎn)盤測試機，其特征在于所述的測試探針座為多組。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的立式轉(zhuǎn)盤測試機，其特征在于還包括設(shè)于立式吸料轉(zhuǎn)盤下方的球面分箱送料機構(gòu)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的立式轉(zhuǎn)盤測試機，其特征在于還包括設(shè)于球面分箱送料機構(gòu)下方的不停機收料裝置；所述的不停機收料裝置包括設(shè)有面板的收料座，及與收料座滑動聯(lián)接的收料托板，所述收料座的面板設(shè)有若干個送料孔，所述的收料托板上設(shè)有若干個與送料孔相對應(yīng)的主料筒；還包括若干個對接于主料筒與送料孔之間的副料筒，及設(shè)于副料筒與主料筒之間的開關(guān)板、用于驅(qū)動開關(guān)板水平移動的開關(guān)動力機構(gòu)，所述的開關(guān)動力機構(gòu)設(shè)有與收料座固定聯(lián)接的固定端和與開關(guān)板固定聯(lián)接的活動端，所述的開關(guān)板設(shè)有若干個用于對接副料筒與主料筒的開關(guān)孔。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項所述的立式轉(zhuǎn)盤測試機，其特征在于所述的被測試元件為貼片式的LED、電容、電感、二極管或三極管等片式元件。
專利摘要本實用新型公開了一種立式轉(zhuǎn)盤測試機，包括機座，及設(shè)于機座上的上料器、測試機構(gòu)，測試機構(gòu)包括測試物料的測試電路；測試機構(gòu)包括測試臺座、設(shè)于測試臺座上的測試探針座，及與測試探針座對接的立式吸料轉(zhuǎn)盤、與立式吸料轉(zhuǎn)盤傳動聯(lián)接的轉(zhuǎn)盤電機、用于固定轉(zhuǎn)盤電機的轉(zhuǎn)盤支座，立式吸料轉(zhuǎn)盤一側(cè)與上料器對接，另一側(cè)設(shè)有滑動聯(lián)接的配氣環(huán)；配氣環(huán)設(shè)有配氣槽，配氣槽與設(shè)有的真空管聯(lián)接。本實用新型采用立式轉(zhuǎn)盤為測試機構(gòu)送料，而上料器的末端則采用上、下氣墊供料道結(jié)構(gòu)為立式轉(zhuǎn)盤送料，可以實現(xiàn)連續(xù)地送料，再配以不停機收料機構(gòu)，能極大地提高分類測試設(shè)備的速度，提高設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性，實現(xiàn)不停機取料，提升實際產(chǎn)能。
文檔編號B65G47/74GK202163864SQ20112025763
公開日2012年3月14日 申請日期2011年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月20日
發(fā)明者何明清, 鐘嘯風(fēng) 申請人:何明清, 鐘嘯風(fēng)