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視覺(jué)檢測(cè)裝置及其視覺(jué)檢測(cè)方法與流程

文檔序號(hào):11823885閱讀:來(lái)源:國(guó)知局

技術(shù)特征:

1.一種用于半導(dǎo)體器件的視覺(jué)檢測(cè)裝置,所述裝置包括:視覺(jué)檢測(cè)單元,用于通過(guò)捕獲所述半導(dǎo)體器件的圖像并分析所捕獲的圖像來(lái)實(shí)施關(guān)于至少一個(gè)半導(dǎo)體器件的視覺(jué)檢測(cè),

其中,所述視覺(jué)檢測(cè)單元包括:

二維視覺(jué)檢測(cè)單元,包括用于將光照射到一個(gè)或更多待檢測(cè)半導(dǎo)體器件的上、下表面的一個(gè)表面的檢測(cè)表面上的二維光源,以及用于捕獲所述半導(dǎo)體器件的圖像,以便通過(guò)為來(lái)自所述二維光源的光已照射到其上的檢測(cè)表面拍照來(lái)獲取二維形狀的二維相機(jī);以及

三維視覺(jué)檢測(cè)單元,包括用于將光照射到通過(guò)所述二維視覺(jué)檢測(cè)單元檢測(cè)的所述檢測(cè)表面上的三維光源,以及用于捕獲所述半導(dǎo)體器件的圖像,以便通過(guò)為來(lái)自所述三維光源的光已照射到其上的所述檢測(cè)表面拍照來(lái)獲取三維形狀的三維相機(jī)。

2.權(quán)利要求1所述的裝置,其中,所述三維光源和所述三維相機(jī)設(shè)置為基于垂直于所述檢測(cè)表面的法線相互對(duì)稱。

3.權(quán)利要求1所述的裝置,其中,所述三維光源和所述三維相機(jī)以相對(duì)垂直于所述檢測(cè)表面的法線10°~45°的角度設(shè)置。

4.權(quán)利要求1~3之任一項(xiàng)所述的裝置,其中,所述二維相機(jī)與垂直于所述檢測(cè)表面的法線平行設(shè)置。

5.權(quán)利要求1所述的裝置,其中,所述三維光源和所述三維相機(jī)中的一個(gè)與垂直于所述檢測(cè)表面的法線平行設(shè)置,且另一個(gè)以與垂直于該檢測(cè)表面的法線傾斜的角度設(shè)置。

6.權(quán)利要求1所述的裝置,其中,所述半導(dǎo)體器件裝載于具有多個(gè)器件接收凹槽的托盤中。

7.權(quán)利要求1所述的裝置,還包括一個(gè)或更多傳送工具,用于通過(guò)吸附與所述半導(dǎo)體器件的所述檢測(cè)表面相對(duì)的表面來(lái)傳送該半導(dǎo)體器件,

其中,所述視覺(jué)檢測(cè)單元檢測(cè)通過(guò)所述一個(gè)或更多傳送工具所傳送的所述一個(gè)或更多半導(dǎo)體器件的所述檢測(cè)表面。

8.權(quán)利要求1所述的裝置,其中,所述二維光源為L(zhǎng)ED光源,且所述三維光源為激光光源。

9.權(quán)利要求1所述的裝置,其中,所述二維光源包括多個(gè)照明組,所述照明組的照明顏色、照明角度和照明強(qiáng)度中至少其一彼此不同。

10.權(quán)利要求9所述的裝置,其中,所述多個(gè)照明組包括:

第一照明組,安裝為具有相對(duì)于所述半導(dǎo)體器件的所述檢測(cè)表面30°以下的照明角度;

第二照明組,安裝為具有相對(duì)于所述半導(dǎo)體器件的所述檢測(cè)表面30°~90°的照明角度;和

第三照明組,安裝為具有相對(duì)于所述半導(dǎo)體器件的所述檢測(cè)表面90°的照明角度。

11.一種用于半導(dǎo)體器件的視覺(jué)檢測(cè)方法,該方法包括:

二維視覺(jué)檢測(cè)步驟,通過(guò)將來(lái)自二維光源的光照射到一個(gè)或更多待檢測(cè)的半導(dǎo)體器件的上、下表面的一個(gè)表面的檢測(cè)表面上,然后通過(guò)使用二維相機(jī)為來(lái)自所述二維光源的光已照射到其上的所述檢測(cè)表面拍照,來(lái)捕獲用于獲取半導(dǎo)體器件的二維形狀的圖像;以及

三維視覺(jué)檢測(cè)步驟,通過(guò)將來(lái)自三維光源的光照射到在所述二維視覺(jué)檢測(cè)步驟中檢測(cè)的所述檢測(cè)表面上,然后通過(guò)使用三維相機(jī)為來(lái)自所述三維光源的光已照射到其上的所述檢測(cè)表面拍照,來(lái)捕獲用于獲取所述半導(dǎo)體器件的三維形狀的圖像。

12.權(quán)利要求11所述的方法,其中,所述二維視覺(jué)檢測(cè)步驟和所述三維視覺(jué)檢測(cè)步驟同時(shí)實(shí)施。

13.權(quán)利要求11所述的方法,其中,在完成所述二維視覺(jué)檢測(cè)步驟之后實(shí)施所述三維視覺(jué)檢測(cè)步驟。

14.權(quán)利要求11所述的方法,其中,在已停止一個(gè)或更多半導(dǎo)體器件的狀態(tài)下實(shí)施所述二維視覺(jué)檢測(cè)步驟,

在所述二維視覺(jué)檢測(cè)步驟實(shí)施之后,在所述三維相機(jī)掃描所述檢測(cè)表面,同時(shí)相對(duì)移動(dòng)至用于二維視覺(jué)檢測(cè)的下一半導(dǎo)體器件時(shí)實(shí)施所述三維視覺(jué)檢測(cè)步驟。

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