技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于原位透射電子顯微鏡的納米材料交流電學(xué)性能測(cè)試裝置，包括納米線(xiàn)樣品、原位電學(xué)測(cè)試裝置和阻抗頻譜分析裝置；原位電學(xué)測(cè)試裝置包括鎢探針和納米線(xiàn)樣品桿；納米線(xiàn)樣品可固定在納米線(xiàn)樣品桿；所述鎢探針通過(guò)納米微操縱桿控制與納米線(xiàn)樣品的接觸；鎢探針與納米線(xiàn)樣品接觸后，鎢探針、納米線(xiàn)樣品和阻抗頻譜分析裝置形成回路。本發(fā)明只需要將樣品載入搭建的交流電學(xué)性能測(cè)試裝置，通過(guò)施加測(cè)試的交流信號(hào)、控制納米微操縱桿來(lái)改變探針和樣品的接觸狀態(tài)，操作遠(yuǎn)比其他方法簡(jiǎn)單，測(cè)試結(jié)果具有直觀(guān)性和定量檢測(cè)的特性，且電學(xué)參數(shù)信息較為全面，可以廣泛應(yīng)用于未來(lái)各種納米材料的電學(xué)性能測(cè)試。

技術(shù)研發(fā)人員：孫立濤;馬青;董輝;張秋波;徐濤;蘇適
受保護(hù)的技術(shù)使用者：東南大學(xué)
文檔號(hào)碼：201610539948
技術(shù)研發(fā)日：2016.07.08
技術(shù)公布日：2016.11.16