技術(shù)編號：11860401
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及納米材料性能原位檢測領(lǐng)域，具體涉及一種基于原位透射電子顯微鏡的納米材料交流電學(xué)性能測試裝置及方法。背景技術(shù)納米材料是指在三維空間中至少有一維處于納米尺度范圍(1-100nm)或由它們作為基本單元構(gòu)成的材料。根據(jù)結(jié)構(gòu)的不同可分為：三維、二維、一維和零維。一維納米材料包括納米線、納米棒和納米帶等，其表面效應(yīng)、量子尺寸效應(yīng)、小尺寸效應(yīng)和宏觀量子隧道效應(yīng)使其在納米電子器件方面承擔(dān)著重要角色。一維納米材料作為納電子器件的構(gòu)建基石，首先要對其電學(xué)性質(zhì)有一個(gè)全面的認(rèn)識。目前，基于半導(dǎo)體納米線的納米器...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。