技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種雙時鐘測試電路，包括主時鐘產(chǎn)生電路、激勵產(chǎn)生及比較電路、第一主時鐘分頻電路、第二主時鐘分頻電路；所述主時鐘產(chǎn)生電路分別與第一主時鐘分頻電路以及第二主時鐘分頻電路電路連接，所述第一主時鐘分頻電路與激勵產(chǎn)生及比較電路電路連接。使用時，激勵產(chǎn)生及比較電路與被測試裝置中的工作電路電路連接，所述第二主時鐘分頻電路與被測試裝置中的控制時鐘分頻電路電路連接。通過本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)測試激勵的產(chǎn)生、判斷和待測集成電路使用同源時鐘，每次反饋間隔可控，無需較多無效測試用例作為過渡，測試效率和測試覆蓋率高的技術(shù)效果。

技術(shù)研發(fā)人員：莊楠鍵;孫軼群
受保護的技術(shù)使用者：深圳市盛德金科技有限公司
文檔號碼：201510907319
技術(shù)研發(fā)日：2015.12.09
技術(shù)公布日：2017.06.16