本發(fā)明屬于鋁電解電容器檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于測(cè)試電容器內(nèi)爆或短路的測(cè)試電路。

背景技術(shù)：

在產(chǎn)品制造過(guò)程中，難免出現(xiàn)鋁箔切邊不整齊產(chǎn)生毛刺、電解紙雜質(zhì)等缺陷，然而有毛刺或電解紙雜質(zhì)的位置耐壓遠(yuǎn)低于正常值，老化過(guò)程中隨著充電電壓不斷提高，一旦電壓到達(dá)擊穿臨界點(diǎn)就產(chǎn)生尖端放電，初期表現(xiàn)為閃火，后期就有可能發(fā)生爆炸，也有少量產(chǎn)品不一定會(huì)發(fā)生爆炸，但其實(shí)閃火現(xiàn)象就已經(jīng)存在爆炸的重大隱患，而閃火現(xiàn)象從產(chǎn)品外觀上不會(huì)有任何表現(xiàn)，這即是我們所說(shuō)的“電容器內(nèi)爆”。因此，我們需要通過(guò)開(kāi)發(fā)一套新的測(cè)試方法和手段，使得此類產(chǎn)品能夠在測(cè)試時(shí)把這些帶有重大隱患的產(chǎn)品檢出剔除，以避免流到客戶端，在將來(lái)的使用過(guò)程有發(fā)生爆炸的可能。

基于以上原因，迫切需要在測(cè)試環(huán)節(jié)中，增加一環(huán)，通過(guò)采取合適的方法和手段，對(duì)電容器內(nèi)爆或短路現(xiàn)象進(jìn)行測(cè)試，并盡可能使此類產(chǎn)品在外觀上發(fā)生明顯變化，以便在機(jī)器上進(jìn)行剔除，在不良品中能夠?qū)㈦娙萜鲀?nèi)爆或短路品從外觀上直接鑒別出來(lái)，以便后續(xù)拆解進(jìn)行技術(shù)分析，以便對(duì)工藝及生產(chǎn)制造過(guò)程做出改善，不斷提高產(chǎn)品質(zhì)量，徹底杜絕此類不良流至客戶端的可能。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種用于測(cè)試電容器內(nèi)爆或短路的測(cè)試電路，該電路用于測(cè)試電容器內(nèi)爆或短路的測(cè)試電路通過(guò)PLC控制固態(tài)繼電器SSR來(lái)控制交流接觸器閉合，同時(shí)控制IGBT關(guān)閉，以對(duì)儲(chǔ)能電容器進(jìn)行充電；通過(guò)PLC控制固態(tài)繼電器來(lái)控制交流接觸器斷開(kāi)，同時(shí)控制IGBT導(dǎo)通以實(shí)現(xiàn)儲(chǔ)能大電容對(duì)待測(cè)電容器放電，實(shí)現(xiàn)了對(duì)待測(cè)電容器的大電流沖擊。通過(guò)等效電阻與待測(cè)電容串聯(lián)形成回路將待測(cè)電容經(jīng)大電流充電后內(nèi)部?jī)?chǔ)存的電量放凈。此方案徹底解決了現(xiàn)有檢測(cè)手段不能檢出電容器內(nèi)爆或短路的問(wèn)題。

本發(fā)明通過(guò)以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)。

本發(fā)明提供的一種用于測(cè)試電容器內(nèi)爆或短路的測(cè)試電路，包括PLC、固態(tài)繼電器SSR、交流接觸器K及其輔助觸點(diǎn)，并至少包括一個(gè)充電回路；所述固態(tài)繼電器SSR的兩個(gè)輸入控制端分別接至PLC的COM端和+24V電源端，兩個(gè)輸出受控端中的一端連接至電源220VAC+，另一端與交流接觸器K線圈的一端連接，交流接觸器K線圈的另一端與電源220VAC-連接；所述充電回路包括輔助觸點(diǎn)K-1、儲(chǔ)能電容C1、IGBT、電阻R1～R2和待測(cè)電容C0，儲(chǔ)能電容C1與輔助觸點(diǎn)K-1串聯(lián)后串接于電源DC+和DC-之間；IGBT1的C極與儲(chǔ)能電容C1的正極連接，G極與電阻R1串聯(lián)后連接至PLC的Y4端，E極串聯(lián)電阻R2和待測(cè)電容C0后連接至電源DC-。

所述儲(chǔ)能電容C1的兩端還并聯(lián)有儲(chǔ)能電容C2。

所述電阻R2的兩端還并聯(lián)有電流檢測(cè)裝置Q。

所述固態(tài)繼電器SSR的型號(hào)為SSR-40DC。

本發(fā)明的有益效果在于：通過(guò)PLC控制固態(tài)繼電器與交流接觸器、IGBT的組合以較簡(jiǎn)單的設(shè)計(jì)滿足儲(chǔ)能大電容器的充電以及對(duì)待測(cè)電容器放電的功能。實(shí)現(xiàn)了對(duì)待測(cè)電容器的大電流沖擊及放電兩個(gè)過(guò)程，解決了現(xiàn)有檢測(cè)手段不能檢出電容器內(nèi)爆或短路的問(wèn)題；該電路設(shè)計(jì)合理、簡(jiǎn)單，同時(shí)利用該檢測(cè)電路對(duì)待測(cè)電容器進(jìn)行多次大電流沖擊并放電，可靠性更高，可剔除偶發(fā)因素對(duì)結(jié)果的影響；通過(guò)對(duì)輸出電壓的限壓及輸出電流的限流，能夠達(dá)成對(duì)不同規(guī)格的產(chǎn)品進(jìn)行大電流沖擊的要求，適用于各種規(guī)格的電容器。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明的電路連接示意圖。

具體實(shí)施方式

下面進(jìn)一步描述本發(fā)明的技術(shù)方案，但要求保護(hù)的范圍并不局限于所述。

如圖1所示的一種用于測(cè)試電容器內(nèi)爆或短路的測(cè)試電路，包括PLC、固態(tài)繼電器SSR、交流接觸器K及其輔助觸點(diǎn)，并至少包括一個(gè)充電回路；所述固態(tài)繼電器SSR的兩個(gè)輸入控制端分別接至PLC的COM端和+24V電源端，兩個(gè)輸出受控端中的一端連接至電源220VAC+，另一端與交流接觸器K線圈的一端連接，交流接觸器K線圈的另一端與電源220VAC-連接；所述充電回路包括輔助觸點(diǎn)K-1、儲(chǔ)能電容C1、IGBT、電阻R1～R2和待測(cè)電容C0，儲(chǔ)能電容C1與輔助觸點(diǎn)K-1串聯(lián)后串接于電源DC+和DC-之間；IGBT1的C極與儲(chǔ)能電容C1的正極連接，G極與電阻R1串聯(lián)后連接至PLC的Y4端，E極串聯(lián)電阻R2和待測(cè)電容C0后連接至電源DC-。儲(chǔ)能電容C1為儲(chǔ)能大電容，PLC驅(qū)動(dòng)固態(tài)繼電器，使得交流接觸器閉合，此時(shí)，IGBT處于關(guān)閉狀態(tài)，此時(shí)為對(duì)儲(chǔ)能大電容進(jìn)行充電的過(guò)程；當(dāng)PLC驅(qū)動(dòng)固態(tài)繼電器，使得交流接觸器斷開(kāi)，此時(shí)IGBT處于導(dǎo)通狀態(tài)，此時(shí)為儲(chǔ)能大電容通過(guò)回路對(duì)待測(cè)電容器放電過(guò)程。所述固態(tài)繼電器與交流接觸器、IGBT的組合以較簡(jiǎn)單的設(shè)計(jì)滿足儲(chǔ)能大電容器的充電以及對(duì)待測(cè)電容器放電的功能。

所述儲(chǔ)能電容C1的兩端還并聯(lián)有儲(chǔ)能電容C2。被充電過(guò)程中能夠儲(chǔ)存足夠多的電能，以滿足當(dāng)待測(cè)電容容量較大時(shí)，亦可提供對(duì)應(yīng)的大電流沖擊所需電能。

所述電阻R2的兩端還并聯(lián)有電流檢測(cè)裝置Q。

所述固態(tài)繼電器SSR的型號(hào)為SSR-40DC。

本發(fā)明的工作原理：所述PLC驅(qū)動(dòng)固態(tài)繼電器，使得交流接觸器閉合，此時(shí)，IGBT處于關(guān)閉狀態(tài)，此時(shí)為對(duì)儲(chǔ)能大電容進(jìn)行充電的過(guò)程；當(dāng)PLC驅(qū)動(dòng)固態(tài)繼電器，使得交流接觸器斷開(kāi)，此時(shí)IGBT處于導(dǎo)通狀態(tài)，此時(shí)為儲(chǔ)能大電容通過(guò)回路對(duì)待測(cè)電容器放電過(guò)程。當(dāng)待測(cè)電容器產(chǎn)品內(nèi)部存在有閃火內(nèi)爆或短路現(xiàn)象時(shí)，通過(guò)大電流沖擊后待測(cè)電容器底部起鼓，可以經(jīng)過(guò)外觀挑選出來(lái)。每個(gè)大電流沖擊后經(jīng)過(guò)1K100W電阻放電后再次充電，循環(huán)重復(fù)三次，提高大電流沖擊可靠性。

本發(fā)明通過(guò)PLC控制固態(tài)繼電器SSR來(lái)控制交流接觸器，以完成儲(chǔ)能大容量電容器進(jìn)行充電以及儲(chǔ)能大容量電容器對(duì)待測(cè)電容器放電兩種工況，實(shí)現(xiàn)了對(duì)待測(cè)電容器的大電流沖擊，通過(guò)放電電路將待測(cè)電容器中儲(chǔ)存的電能徹底放凈實(shí)現(xiàn)待測(cè)電容器完成大電流沖擊后不帶電。徹底解決了現(xiàn)有檢測(cè)手段不能檢出電容器內(nèi)爆或短路的問(wèn)題。測(cè)試電路主要是通過(guò)對(duì)產(chǎn)品施加大電流沖擊的方法，使得內(nèi)爆或短路產(chǎn)品在測(cè)試工序被檢測(cè)出來(lái)并發(fā)生鼓底，這樣更方便分撿，方便后續(xù)對(duì)不良品的處理及故障分析。項(xiàng)目實(shí)施主要包括機(jī)械部分和電路部分。電路部分要求即滿足大電流沖擊要求，沖擊的充放電節(jié)拍與生產(chǎn)設(shè)備節(jié)拍一致，并且大電流沖擊結(jié)果準(zhǔn)確，并且每顆產(chǎn)品經(jīng)過(guò)三次大電流沖擊和放電的循環(huán)過(guò)程。

該電路設(shè)計(jì)合理、簡(jiǎn)單，實(shí)現(xiàn)一個(gè)點(diǎn)大電流沖擊、兩個(gè)點(diǎn)的放電過(guò)程并且循環(huán)三次，可靠地進(jìn)行大電流沖擊及放電，確保了達(dá)成項(xiàng)目目標(biāo)。通過(guò)對(duì)輸出電壓的限壓及輸出電流的限流，能夠達(dá)成對(duì)不同規(guī)格的產(chǎn)品進(jìn)行大電流沖擊的要求，適用于各種規(guī)格的電容器。

調(diào)機(jī)時(shí)，只需進(jìn)行對(duì)電壓的限壓調(diào)整以及對(duì)大電流沖擊的限流調(diào)整即可滿足不同規(guī)格產(chǎn)品的內(nèi)爆測(cè)試要求。

此電路設(shè)計(jì)合理，針對(duì)大電流沖擊的要求，能夠確保大電流沖擊輸出的電壓、電流符合不同產(chǎn)品的內(nèi)爆測(cè)試需求，大電流可采用公司生產(chǎn)并銷售的產(chǎn)品，其余電路元器件亦可在市場(chǎng)上采購(gòu)品牌廠家的優(yōu)質(zhì)元器件，功能、性能穩(wěn)定。并且組件調(diào)整簡(jiǎn)單、方便，對(duì)于項(xiàng)目目標(biāo)要求的實(shí)現(xiàn)有保障，能夠在測(cè)試工序通過(guò)大電流充放電，使閃火內(nèi)爆及短路這兩類不良品通過(guò)測(cè)試發(fā)生爆破及底部起鼓并剔除至不良品區(qū)域，徹底杜絕之前內(nèi)爆、短路等不良的發(fā)生及流轉(zhuǎn)。