本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說(shuō)，涉及一種應(yīng)答器測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)是一種基于點(diǎn)式信息傳輸?shù)陌踩珎鬏斚到y(tǒng)，安裝在軌道上，實(shí)現(xiàn)道旁設(shè)備或地面設(shè)備與車(chē)載設(shè)備之間的信息傳輸，應(yīng)答器作為應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)的一部分，它在系統(tǒng)中的主要作用是將存儲(chǔ)在系統(tǒng)內(nèi)部的信息發(fā)送給車(chē)載設(shè)備。

在應(yīng)答器生產(chǎn)過(guò)程中，需要測(cè)量應(yīng)答器的一些電器參數(shù)，對(duì)電路中一些關(guān)鍵參數(shù)(如電容)進(jìn)行調(diào)整，使其電氣特性滿(mǎn)足出廠指標(biāo)的要求。應(yīng)答器需要測(cè)試的電路包括：能量接收電路、PSK信號(hào)發(fā)射電路和FSK信號(hào)發(fā)射電路。

然而，目前，對(duì)應(yīng)答器的測(cè)試通常是手動(dòng)實(shí)現(xiàn)，測(cè)試效率低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)及測(cè)試方法，以提高應(yīng)答器的測(cè)試效率。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下技術(shù)方案：

一種應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)，包括：

控制器；

與所述控制器連接的任意波信號(hào)發(fā)生器、功率計(jì)、矢量信號(hào)分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀；

與所述任意波信號(hào)發(fā)生器連接的功率放大器；

用于放置應(yīng)答器的第一測(cè)試臺(tái)支架和第二測(cè)試臺(tái)支架；所述第一測(cè)試臺(tái)支架和第二測(cè)試臺(tái)支架上均固定有測(cè)試天線；當(dāng)應(yīng)答器放置在所述第一測(cè)試臺(tái)支架或所述第二測(cè)試臺(tái)支架上時(shí)，所固定的測(cè)試天線位于所述應(yīng)答器正上方預(yù)設(shè)距離處；

所述第一測(cè)試臺(tái)支架上固定的測(cè)試天線分別與所述矢量信號(hào)分析儀、所述功率計(jì)和所述功率放大器連接；

所述第二測(cè)試臺(tái)支架上固定的測(cè)試天線與所述網(wǎng)絡(luò)分析儀連接。

上述系統(tǒng)，優(yōu)選的，所述功率放大器包括：

與所述任意波信號(hào)發(fā)生器連接的第一衰減器；

與所述第一衰減器連接的射頻功放器；

與所述射頻功放器連接的第二衰減器。

上述系統(tǒng)，優(yōu)選的，所述控制器、所述任意波信號(hào)發(fā)生器和所述矢量信號(hào)分析儀集成在PXI機(jī)箱內(nèi)。

上述系統(tǒng)，優(yōu)選的，還包括：

與所述控制器連接的上位機(jī)。

上述系統(tǒng)，優(yōu)選的，當(dāng)應(yīng)答器放置在所述第一測(cè)試臺(tái)支架或所述第二測(cè)試臺(tái)支架上時(shí)，所固定的測(cè)試天線位于所述應(yīng)答器正上方220mm處。

一種應(yīng)答器測(cè)試方法，應(yīng)用于如前任意一項(xiàng)所述的應(yīng)答器測(cè)試系統(tǒng)，所述方法包括：

所述控制器控制所述網(wǎng)絡(luò)分析儀在PSK信號(hào)發(fā)射電路對(duì)應(yīng)的頻率范圍內(nèi)對(duì)位于所述第二測(cè)試臺(tái)支架上的第一測(cè)試天線進(jìn)行測(cè)量，獲取第一頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖，基于所述第一頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖確定幅度對(duì)數(shù)最小值對(duì)應(yīng)的第一頻率，以及與所述PSK信號(hào)發(fā)射電路對(duì)應(yīng)的第一補(bǔ)償因子，基于所述第一頻率，以及所述第一補(bǔ)償因子確定放置于所述第二測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器的PSK信號(hào)發(fā)射電路的調(diào)試電容參考值；

所述控制器控制所述網(wǎng)絡(luò)分析儀在能量接收電路對(duì)應(yīng)的頻率范圍內(nèi)對(duì)位于所述第二測(cè)試臺(tái)支架上的第一測(cè)試天線進(jìn)行測(cè)量，獲取第二頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖，基于所述第二頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖確定幅度對(duì)數(shù)最小值對(duì)應(yīng)的第二頻率，以及與能量信號(hào)接收電路對(duì)應(yīng)的第二補(bǔ)償因子；

所述控制器在所述第二頻率所處頻率范圍的中心頻率兩邊確定若干個(gè)頻點(diǎn)，對(duì)于所確定的每一個(gè)頻點(diǎn)，控制所述任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射相應(yīng)頻率的正弦波信號(hào)，每發(fā)射一次正弦波信號(hào)，所述控制器在所述功率計(jì)的讀數(shù)為預(yù)設(shè)功率值時(shí)記錄所述矢量信號(hào)分析儀測(cè)量位于所述第一測(cè)試臺(tái)支架上的所述待測(cè)試應(yīng)答器發(fā)送的FSK信號(hào)得到的第三功率值；基于所記錄的最大第三功 率值對(duì)應(yīng)的正玄波信號(hào)的頻率值，以及所述第二補(bǔ)償因子確定所述能量接收電路的調(diào)試電容參考值；

所述控制器控制所述任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射第一特定信號(hào)，記錄所述矢量信號(hào)分析儀測(cè)量位于所述第一測(cè)試臺(tái)支架上的所述待測(cè)試應(yīng)答器發(fā)送的FSK信號(hào)得到的最大功率值對(duì)應(yīng)的第三頻率值；基于所述第三頻率值確定所述待測(cè)應(yīng)答器的FSK信號(hào)發(fā)射電路的第一調(diào)試電容參考值；

所述控制器控制所述任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射第二特定信號(hào)，記錄所述矢量信號(hào)分析儀測(cè)量位于所述第一測(cè)試臺(tái)支架上的所述待測(cè)試應(yīng)答器發(fā)送的FSK信號(hào)得到的最大功率值對(duì)應(yīng)的第四頻率值；基于所述第四頻率值確定所述待測(cè)應(yīng)答器的FSK信號(hào)發(fā)射電路的第二調(diào)試電容參考值。

上述方法，優(yōu)選的，確定與所述PSK信號(hào)發(fā)射電路對(duì)應(yīng)的第一補(bǔ)償因子的過(guò)程包括：

計(jì)算所述第一頻率與所述PSK信號(hào)發(fā)射電路的目標(biāo)頻率的差值；

將與所述第一頻率所處頻率區(qū)間對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償系數(shù)與所述差值的乘積確定為與所述PSK信號(hào)發(fā)射電路對(duì)應(yīng)的第一補(bǔ)償因子。

上述方法，優(yōu)選的，所述基于所述第一頻率，以及所述第一補(bǔ)償因子確定放置于所述第二測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器的PSK信號(hào)發(fā)射電路的調(diào)試電容參考值包括：

將所述第一頻率與所述第一補(bǔ)償因子的和值確定為補(bǔ)償后的第一頻率；

將所述PSK信號(hào)發(fā)射電路的目標(biāo)頻率對(duì)應(yīng)電容值與所述補(bǔ)償后的第一頻率對(duì)應(yīng)的電容值的差值確定為所述PSK信號(hào)發(fā)射電路的調(diào)試電容參考值。

上述方法，優(yōu)選的，所述基于所記錄的最大第三功率值對(duì)應(yīng)的正弦波信號(hào)的頻率值，以及所述第二補(bǔ)償因子確定所述能量接收電路的調(diào)試電容參考值包括：

將所述最大第三功率值對(duì)應(yīng)的正弦波信號(hào)的頻率值與所述第二補(bǔ)償因子的和值確定為補(bǔ)償后的正弦波信號(hào)的頻率值；

將所述能量接收電路的目標(biāo)頻率對(duì)應(yīng)的電容值與所述補(bǔ)償后的正弦波信號(hào)的頻率值對(duì)應(yīng)的電容值的差值確定為所述能量接收電路的調(diào)試電容參考值。

上述方法，優(yōu)選的，所述基于所述第三頻率值確定所述待測(cè)應(yīng)答器的FSK信號(hào)發(fā)射電路的第一調(diào)試電容參考值包括：

將所述FSK信號(hào)發(fā)射電路的目標(biāo)頻率對(duì)應(yīng)電容值與所述第三頻率值對(duì)應(yīng)電容值的差值確定為所述FSK信號(hào)發(fā)射電路的第一調(diào)試電容參考值。

通過(guò)以上方案可知，本申請(qǐng)?zhí)峁┑囊环N應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)及測(cè)試方法，可以通過(guò)控制器控制任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射預(yù)設(shè)信號(hào)，并實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)答器報(bào)文的讀、寫(xiě)；通過(guò)功率計(jì)可以記錄信號(hào)發(fā)生器發(fā)射的信號(hào)的功率；通過(guò)矢量信號(hào)分析儀可以對(duì)放置于第一測(cè)試臺(tái)支架上的應(yīng)答器發(fā)射的FSK信號(hào)或PSK信號(hào)進(jìn)行分析、解碼等，確定信號(hào)功率、頻率；通過(guò)網(wǎng)絡(luò)分析儀可以在應(yīng)答器放置于第二測(cè)量測(cè)試臺(tái)支架上時(shí)測(cè)試頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖，從而控制器可以根據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析儀和矢量信號(hào)分析儀的輸出結(jié)果分別計(jì)算應(yīng)答器的不同測(cè)試電路的調(diào)試電容參考值，用戶(hù)只要將應(yīng)答器從一個(gè)測(cè)試臺(tái)支架移到另一測(cè)試臺(tái)支架即可，測(cè)試過(guò)程自動(dòng)完成，提高了應(yīng)答器的測(cè)試效率。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)的一種結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的功率放大器的一種結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)的一種實(shí)物結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試方法的一種實(shí)現(xiàn)流程圖。

說(shuō)明書(shū)和權(quán)利要求書(shū)及上述附圖中的術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”、“第三”“第四”等(如果存在)是用于區(qū)別類(lèi)似的部分，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本申請(qǐng)的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示的以外的順序?qū)嵤?/p>

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有付出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

請(qǐng)參閱圖1，圖1為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)的一種結(jié)構(gòu)示意圖，可以包括：

控制器11；

與控制器11連接的任意波信號(hào)發(fā)生器12，功率計(jì)13，矢量信號(hào)分析儀14和網(wǎng)絡(luò)分析儀15；控制器11與任意波信號(hào)發(fā)生器12，功率計(jì)13，矢量信號(hào)分析儀14和網(wǎng)絡(luò)分析儀15之間可以通過(guò)GPIB(General-Purpose Interface Bus，通用接口總線)接口總線方式連接。

與任意波信號(hào)發(fā)生器12連接的功率放大器16；

用于放置應(yīng)答器的第一測(cè)試臺(tái)支架17和第二測(cè)試臺(tái)之間18；第一測(cè)試臺(tái)支架17和第二測(cè)試臺(tái)之間18上均固定有測(cè)試天線；當(dāng)應(yīng)答器放置在第一測(cè)試臺(tái)支架17或第二測(cè)試臺(tái)支架18上時(shí)，所固定的測(cè)試天線位于應(yīng)答器正上方預(yù)設(shè)距離處；也就是說(shuō)，當(dāng)應(yīng)答器放置于第一測(cè)試臺(tái)支架17上時(shí)，第一測(cè)試臺(tái)支架17上固定的測(cè)試天線位于應(yīng)答器正上方預(yù)設(shè)距離處，當(dāng)應(yīng)答器放置于第二測(cè)試臺(tái)支架18上時(shí)，第二測(cè)試臺(tái)支架18上固定的天線位于應(yīng)答器正上方預(yù)設(shè)距離處；

第一測(cè)試臺(tái)支架17上固定的天線分別與功率計(jì)13、矢量信號(hào)分析儀14和功率放大器16連接；可選的，第一測(cè)試臺(tái)支架17上固定的天線可以通過(guò)濾波器與矢量信號(hào)分析儀14連接。也就是說(shuō)，濾波器對(duì)第一測(cè)試臺(tái)支架17上固定的天線的發(fā)射信號(hào)進(jìn)行濾波后輸出至矢量信號(hào)分析儀14。

第二測(cè)試臺(tái)支架18上固定的天線與網(wǎng)絡(luò)分析儀15連接。

其中，控制器11可以控制任意波信號(hào)發(fā)生器12發(fā)射預(yù)定波形的信號(hào)，任意波信號(hào)發(fā)生器12發(fā)射的信號(hào)經(jīng)功率放大器16放大后通過(guò)第一測(cè)試臺(tái)支架17上的天線發(fā)射給位于第一測(cè)試臺(tái)支架17上的應(yīng)答器，也就是說(shuō)，任意波信號(hào)發(fā)生器12、功率放大器16和第一測(cè)試臺(tái)支架17上固定的天線構(gòu)成了用于與應(yīng)答器通信的車(chē)載設(shè)備的模擬器，換句話說(shuō)，本發(fā)明實(shí)施例中，用任 意波信號(hào)發(fā)生器12、功率放大器16和第一測(cè)試臺(tái)支架17上固定的天線模擬與應(yīng)答器通信的車(chē)載設(shè)備。

功率計(jì)13可以測(cè)量任意波信號(hào)發(fā)生器12發(fā)射的信號(hào)的功率。

控制器11可以讀取功率計(jì)13記錄的功率值，可以通過(guò)控制任意波信號(hào)發(fā)生器12的發(fā)射功率，使得功率13記錄的功率計(jì)達(dá)到預(yù)設(shè)功率值。

矢量信號(hào)分析儀14可以對(duì)放置于第一測(cè)試臺(tái)支架17上的應(yīng)答器發(fā)射的FSK(Frequency-shift keying，頻移鍵控)信號(hào)或PSK(phase-shift keying，相移鍵控)信號(hào)進(jìn)行信號(hào)分析、解碼等操作，獲取FSK信號(hào)或PSK信號(hào)的功率、頻率等參數(shù)信息。

網(wǎng)絡(luò)分析儀15可以測(cè)試第二測(cè)試臺(tái)支架18上的所固定天線的Log Mag型式的S11參數(shù)，具體為頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖，該關(guān)系圖表征了天線輻射頻率與幅度的對(duì)數(shù)的對(duì)應(yīng)關(guān)系；

控制器11基于矢量信號(hào)分析儀14獲取的功率和頻率，以及網(wǎng)絡(luò)分析儀15記錄的S11參數(shù)可以計(jì)算出應(yīng)答器要測(cè)試電路的當(dāng)前電容，結(jié)合應(yīng)答器要測(cè)試電路的目標(biāo)電容，可以確定應(yīng)答器當(dāng)前要測(cè)試電路的調(diào)試電容參考值，即從應(yīng)答器要測(cè)試電路的當(dāng)前電容到應(yīng)答器要測(cè)試電路的目標(biāo)電容所需要的電容的大小。

本發(fā)明實(shí)施例中，當(dāng)應(yīng)答器位于第二測(cè)試臺(tái)支架18時(shí)，可以對(duì)應(yīng)答器的PSK信號(hào)發(fā)射電路進(jìn)行測(cè)試；當(dāng)應(yīng)答器位于第一測(cè)試臺(tái)支架17時(shí)，可以對(duì)應(yīng)答器的能量接收電路和FSK信號(hào)發(fā)射電路進(jìn)行測(cè)試。

本發(fā)明實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)，可以通過(guò)控制器控制任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射預(yù)設(shè)信號(hào)，并實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)答器報(bào)文的讀、寫(xiě)；通過(guò)功率計(jì)可以記錄信號(hào)發(fā)生器發(fā)射的信號(hào)的功率；通過(guò)矢量信號(hào)分析儀可以對(duì)放置于第一測(cè)試臺(tái)支架上的應(yīng)答器發(fā)射的FSK信號(hào)或PSK信號(hào)進(jìn)行分析、解碼等，確定信號(hào)功率、頻率；通過(guò)網(wǎng)絡(luò)分析儀可以在應(yīng)答器放置于第二測(cè)量測(cè)試臺(tái)支架上時(shí)測(cè)試頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖，從而控制器可以根據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析儀和矢量信號(hào)分析儀的輸出結(jié)果分別計(jì)算應(yīng)答器的不同測(cè)試電路的調(diào)試電容參考值，用戶(hù)只要將應(yīng)答器從一個(gè)測(cè)試臺(tái)支架移到另一測(cè)試臺(tái)支架即可，測(cè)試過(guò)程自動(dòng)完成，提高了應(yīng)答器的測(cè)試效率。當(dāng)本發(fā)明實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)應(yīng)用于大容量應(yīng)答器的測(cè)試時(shí)，效率提高由其明顯。

可選的，功率放大器16的一種結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示，可以包括：

第一衰減器21，與任意波信號(hào)發(fā)生器12連接；

射頻功率放大器22，與第一衰減器21連接；

第二衰減器23，與射頻功率放大器22連接。

本發(fā)明實(shí)施例提供的功率放大器16包括兩級(jí)衰減和一級(jí)放大，保證到達(dá)測(cè)試天線的信號(hào)與任意波信號(hào)發(fā)生器12發(fā)射信號(hào)的一致性，還降低射頻信號(hào)傳輸導(dǎo)致的信號(hào)反射對(duì)設(shè)備的損害。另外，通過(guò)這種結(jié)構(gòu)，衰減器器功率放大器均可以使用非定制參數(shù)的產(chǎn)品，使得功率放大器實(shí)現(xiàn)成本低。

可選的，為了節(jié)約應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)所占用的空間，控制器11、任意波信號(hào)發(fā)生器12和矢量信號(hào)分析儀14可以集成在PXI機(jī)箱內(nèi)。

可選的，本發(fā)明實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)還可以包括：

與控制器11連接的上位機(jī)。

控制器11可以將處理結(jié)果通過(guò)上位機(jī)進(jìn)行顯示，以便于用戶(hù)查看。另外，通過(guò)上位機(jī)還可以交互界面，用于用戶(hù)配置測(cè)試參數(shù)(如判斷指標(biāo)等)或選擇測(cè)試流程等，上位機(jī)向控制器11發(fā)送控制指令，以指示控制11基于所配置的測(cè)試參數(shù)執(zhí)行用戶(hù)所選擇的流程。

由于應(yīng)答器在封裝前和封裝后判斷指標(biāo)(即目標(biāo)頻率值)略有不同，因此，通過(guò)本發(fā)明實(shí)施例，通過(guò)修改判斷指標(biāo)可以對(duì)封裝前和封裝后的應(yīng)答器分別進(jìn)行測(cè)試，應(yīng)用范圍更廣。

可選的，當(dāng)應(yīng)答器放置在第一測(cè)試臺(tái)支架17或第二測(cè)試臺(tái)支架18上時(shí)，所固定的測(cè)試天線位于應(yīng)答器正上方220mm處。

也就是說(shuō)，當(dāng)應(yīng)答器放置在第一測(cè)試臺(tái)支架17上時(shí)，第一測(cè)試臺(tái)支架17固定的測(cè)試天線位于應(yīng)答器正上方220mm處；當(dāng)應(yīng)答器放置在第二測(cè)試臺(tái)支架18上時(shí)，第二測(cè)試臺(tái)支架18固定的測(cè)試天線位于應(yīng)答器正上方220mm處。

可選的，本發(fā)明實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)的一種實(shí)物結(jié)構(gòu)示意圖如圖3所示。圖3中，控制器、任意波信號(hào)發(fā)生器和矢量信號(hào)分析儀均集成在PXI機(jī)箱內(nèi)。

基于上述應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種應(yīng)答器測(cè)試方法。為了更好的理解本發(fā)明實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試方法，首先說(shuō)明基于上述應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)答器測(cè)試的整體思路，如下所述：

第一步：將待測(cè)試應(yīng)答器放置于第二測(cè)試臺(tái)支架上；

第二步：通過(guò)上述應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)答器的PSK信號(hào)發(fā)射電路的參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，控制器分析參數(shù)后給出第一建議參考值；

第三步：將應(yīng)答器從第二測(cè)試臺(tái)支架移至第一測(cè)試臺(tái)支架；

第四步：通過(guò)上述應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)答器的能量接收電路的參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，控制器分析參數(shù)后給出第二建議參考值；

第五步：通過(guò)上述應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)答器的FSK信號(hào)發(fā)射電路的參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，控制器分析參數(shù)后給出第三建議參考值。

下面詳細(xì)說(shuō)明基于本發(fā)明實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)答器進(jìn)行測(cè)試的具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程，請(qǐng)參看圖4，圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試方法的一種實(shí)現(xiàn)流程圖，可以包括：

步驟S11：控制器控制網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)PSK信號(hào)發(fā)射電路的參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，具體包括：控制器控制網(wǎng)絡(luò)分析儀在PSK信號(hào)發(fā)射電路對(duì)應(yīng)的頻率范圍內(nèi)對(duì)位于第二測(cè)試臺(tái)支架上的第一測(cè)試天線進(jìn)行測(cè)量，獲取第一頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖，基于第一頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖確定幅度對(duì)數(shù)最小值對(duì)應(yīng)的第一頻率，以及與PSK信號(hào)發(fā)射電路對(duì)應(yīng)的第一補(bǔ)償因子，基于第一頻率，以及第一補(bǔ)償因子確定放置于第二測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器的PSK信號(hào)發(fā)射電路的調(diào)試電容參考值；

在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，首先將待測(cè)試應(yīng)答器放置在第二測(cè)試臺(tái)支架上。此時(shí)，應(yīng)答器處于非工作狀態(tài)，即應(yīng)答器處于待機(jī)狀態(tài)。

在將待測(cè)試應(yīng)答器放置在第二測(cè)試臺(tái)支架上后，控制器控制網(wǎng)絡(luò)分析儀在PSK信號(hào)發(fā)射電路對(duì)應(yīng)的頻率范圍內(nèi)對(duì)第二測(cè)試臺(tái)支架上的第一天線進(jìn)行測(cè)量，得到一個(gè)頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖，為便于敘述，記為第一頻率-幅度對(duì)數(shù) 關(guān)系圖，基于該第一頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖，可以確定最小的幅度對(duì)數(shù)對(duì)應(yīng)的頻率(記為第一頻率)，并確定與PSK信號(hào)發(fā)射電路對(duì)應(yīng)的第一補(bǔ)償因子。第一補(bǔ)償因子用于對(duì)第一頻率進(jìn)行補(bǔ)償。

基于第一補(bǔ)償因子確定放置于第二測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器的PSK信號(hào)發(fā)射電路的調(diào)試電容參考值，提高了待測(cè)試應(yīng)答器的PSK信號(hào)發(fā)射電路的調(diào)試電容參考值的精度。

步驟S12：控制器控制網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)能量接收電路的初值參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，具體包括：控制器控制網(wǎng)絡(luò)分析儀在能量接收電路對(duì)應(yīng)的頻率范圍內(nèi)對(duì)位于第二測(cè)試臺(tái)支架上的第一測(cè)試天線進(jìn)行測(cè)量，獲取第二頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖，基于第二頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖確定幅度對(duì)數(shù)最小值對(duì)應(yīng)的第二頻率，以及與能量信號(hào)接收電路對(duì)應(yīng)的第二補(bǔ)償因子；

在確定放置于第二測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器的PSK信號(hào)發(fā)射電路的調(diào)試電容參考值之后，控制器控制網(wǎng)絡(luò)分析儀繼續(xù)在能量接收電路對(duì)應(yīng)的頻率范圍內(nèi)再次對(duì)位于第二測(cè)試臺(tái)支架上的第一測(cè)試天線進(jìn)行測(cè)量，得到另一個(gè)頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖(記為第二頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖)，基于該第二頻率-幅度對(duì)數(shù)關(guān)系圖，可以確定最小的幅度對(duì)數(shù)對(duì)應(yīng)的頻率(記為第二頻率)，并確定與能量信號(hào)接收電路對(duì)應(yīng)的第二補(bǔ)償因子。第二頻率和第二補(bǔ)償因子即為能量接收電路的初值參數(shù)。

步驟S13：控制器控制矢量分析儀對(duì)能量接收電路的參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，具體包括：控制器在第二頻率所處頻率范圍的中心頻率兩邊確定若干個(gè)頻點(diǎn)，對(duì)于所確定的每一個(gè)頻點(diǎn)，控制任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射相應(yīng)頻率的正弦波信號(hào)，每發(fā)射一次正弦波信號(hào)，控制器在功率計(jì)的讀數(shù)為預(yù)設(shè)功率值時(shí)記錄矢量信號(hào)分析儀測(cè)量位于第一測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器發(fā)送的FSK信號(hào)得到的第三功率值；基于所記錄的最大第三功率值對(duì)應(yīng)的正弦波信號(hào)的頻率值，以及第二補(bǔ)償因子確定能量接收電路的調(diào)試電容參考值；

在得到能量接收電路的初值后，用戶(hù)將待測(cè)試應(yīng)答器移至第一測(cè)試臺(tái)支架上。在將待測(cè)試應(yīng)答器移至第一測(cè)試臺(tái)支架上后，控制器在第一頻率所處頻率范圍的中心頻率兩邊確定若干個(gè)頻點(diǎn)(例如每邊各7-12個(gè)頻點(diǎn))，對(duì)于所確定的每個(gè)頻點(diǎn)，控制器控制任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射相應(yīng)頻率的正弦波信號(hào)，所發(fā)射的正弦波信號(hào)的功率為預(yù)設(shè)功率值，具體的，當(dāng)功率計(jì)的讀數(shù)為 預(yù)設(shè)功率值時(shí)，說(shuō)明任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射的正弦波信號(hào)的功率為預(yù)設(shè)功率值。任意波信號(hào)發(fā)生器每發(fā)射一次正弦波信號(hào)，當(dāng)功率計(jì)的讀數(shù)為預(yù)設(shè)功率值時(shí)，控制器記錄矢量信號(hào)分析儀測(cè)量位于第一測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器發(fā)送的FSK信號(hào)得到的第三功率值。

基于第二補(bǔ)償因子確定能量接收電路的調(diào)試電容參考值，提高了待測(cè)試應(yīng)答器的能量接收電路的調(diào)試電容參考值的精度。第二補(bǔ)償因子用于對(duì)最大第三功率值對(duì)應(yīng)的正弦波信號(hào)的頻率值進(jìn)行補(bǔ)償。

步驟S14：控制器控制矢量信號(hào)分析儀對(duì)FSK信號(hào)發(fā)射電路的參數(shù)進(jìn)行第一測(cè)試，具體包括：控制器控制任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射第一特定信號(hào)，記錄矢量信號(hào)分析儀測(cè)量位于第一測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器發(fā)送的FSK信號(hào)得到的最大功率值對(duì)應(yīng)的第三頻率值；基于第三頻率值確定待測(cè)應(yīng)答器的FSK信號(hào)發(fā)射電路的第一調(diào)試電容參考值；

在確定能量接收電路的調(diào)試電容參考值后，控制器控制任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射第一特定信號(hào)，該第一特定信號(hào)可以是攜帶有通信協(xié)議的信號(hào)，該信號(hào)可以為表征全“0”報(bào)文的信號(hào)，也就是說(shuō)，本發(fā)明實(shí)施例中，通過(guò)任意波信號(hào)發(fā)生器將全“0”報(bào)文寫(xiě)入應(yīng)答器。控制器記錄矢量信號(hào)分析儀測(cè)量位于第一測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器發(fā)送的FSK信號(hào)得到的最大功率值對(duì)應(yīng)的頻率值(記為第三頻率值)。

步驟S15：控制器控制矢量信號(hào)分析儀對(duì)FSK信號(hào)發(fā)射電路的參數(shù)進(jìn)行第二測(cè)試，具體包括：控制器控制任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射第二特定信號(hào)，記錄矢量信號(hào)分析儀測(cè)量位于第一測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器發(fā)送的FSK信號(hào)得到的最大功率值對(duì)應(yīng)的第四頻率值；基于第四頻率值確定待測(cè)應(yīng)答器的FSK信號(hào)發(fā)射電路的第二調(diào)試電容參考值。

在確定能量接收電路的調(diào)試電容參考值后，控制器控制任意波信號(hào)發(fā)生器發(fā)射第二特定信號(hào)，該第二特定信號(hào)可以是攜帶有通信協(xié)議的信號(hào)，該信號(hào)可以為表征全“1”報(bào)文的信號(hào)，也就是說(shuō)，本發(fā)明實(shí)施例中，通過(guò)任意波信號(hào)發(fā)生器將全“1”報(bào)文寫(xiě)入應(yīng)答器?？刂破饔涗浭噶啃盘?hào)分析儀測(cè)量位于第一測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器發(fā)送的FSK信號(hào)得到的最大功率值對(duì)應(yīng)頻率值(記為第四頻率值)。

本發(fā)明實(shí)施例提供的應(yīng)答器測(cè)試方法，基于前述應(yīng)答器測(cè)試臺(tái)系統(tǒng)，通過(guò)控制器、網(wǎng)絡(luò)分析儀和第二測(cè)試臺(tái)支架實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)答器的PSK信號(hào)發(fā)射電路的自動(dòng)測(cè)試，通過(guò)任意波信號(hào)發(fā)生器、功率放大器、功率計(jì)、矢量信號(hào)分析儀和第一測(cè)試臺(tái)支架實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)答器的能量接收電路和FSK信號(hào)發(fā)射電路的自動(dòng)測(cè)試，用戶(hù)只需要將應(yīng)答器放置在第一測(cè)試臺(tái)支架上或第二測(cè)試臺(tái)支架上即可。另外，在計(jì)算過(guò)程中，對(duì)頻率進(jìn)行補(bǔ)償，提高了確定調(diào)試電容參考值的精度。

可選的，確定與PSK信號(hào)發(fā)射電路對(duì)應(yīng)的第一補(bǔ)償因子的過(guò)程可以包括：

計(jì)算第一頻率與PSK信號(hào)發(fā)射電路的目標(biāo)頻率的差值；

將與第一頻率所處頻率區(qū)間對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償系數(shù)與所述差值的乘積確定為與所述PSK信號(hào)發(fā)射電路對(duì)應(yīng)的第一補(bǔ)償因子。

第一補(bǔ)償因子用公式可以表示為：

α₁＝a(F₁-F₀) (1)

其中，α₁表示第一補(bǔ)償因子；a表示與第一頻率所處頻率區(qū)間對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償系數(shù)；F₁表示第一頻率；F₀表示PSK信號(hào)發(fā)射電路的目標(biāo)頻率。

可選的，確定與能量信號(hào)接收電路對(duì)應(yīng)的第二補(bǔ)償因子的過(guò)程可以包括：

計(jì)算能量信號(hào)接收電路的目標(biāo)頻率與第二頻率的差值；

將與第二頻率所處頻率區(qū)間對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償系數(shù)與所述差值的乘積確定為與能量信號(hào)接收電路對(duì)應(yīng)的第二補(bǔ)償因子。

第二補(bǔ)償因子用公式可以表示為：

α₂＝b(F₃-F₂) (2)

其中，α₂表示第二補(bǔ)償因子；b表示與第二頻率所處頻率區(qū)間對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償系數(shù)；F₂表示第二頻率；F₃表示能量接收電路的目標(biāo)頻率。

可選的，基于第一頻率，以及第一補(bǔ)償因子確定放置于第二測(cè)試臺(tái)支架上的待測(cè)試應(yīng)答器的PSK信號(hào)發(fā)射電路的調(diào)試電容參考值可以包括：

將第一頻率與第一補(bǔ)償因子的和值確定為補(bǔ)償后的第一頻率；

將PSK信號(hào)發(fā)射電路的目標(biāo)頻率對(duì)應(yīng)電容值與補(bǔ)償后的第一頻率對(duì)應(yīng)的電容值的差值確定為PSK信號(hào)發(fā)射電路的調(diào)試電容參考值。

可以通過(guò)公式(3)計(jì)算與頻率對(duì)應(yīng)的電容值。

其中，f表示頻率；L表示所測(cè)試電路的電感量的理論值；C表示所電容。所測(cè)試電路的電感的理論值可以通過(guò)公式(4)計(jì)算得到。

L＝μ×A_e×N²/l_m (4)

其中，L表示所測(cè)試電路的電感量的理論值；μ表示所測(cè)試電路中磁芯的磁導(dǎo)率；A_e表示所測(cè)試電路中磁芯的截面積；N表示所測(cè)試電路中線圈的匝數(shù)；l_m表示所測(cè)試電路中磁芯的磁路長(zhǎng)度。

所述測(cè)試電路可以為：PSK信號(hào)發(fā)射電路，或者，能量接收電路，或者，F(xiàn)SK信號(hào)發(fā)射電路。

可選的，基于所記錄的最大第三功率值對(duì)應(yīng)的正弦波信號(hào)的頻率值，以及第二補(bǔ)償因子確定能量接收電路的調(diào)試電容參考值可以包括：

將最大第三功率值對(duì)應(yīng)的正弦波信號(hào)的頻率值與第二補(bǔ)償因子的和值確定為補(bǔ)償后的正弦波信號(hào)的頻率值；

將能量接收電路的目標(biāo)頻率對(duì)應(yīng)的電容值與補(bǔ)償后的正弦波信號(hào)的頻率值對(duì)應(yīng)的電容值的差值確定為能量接收電路的調(diào)試電容參考值。

其中，能量接收電路的目標(biāo)頻率對(duì)應(yīng)的電容值和補(bǔ)償后的正弦波信號(hào)的頻率值對(duì)應(yīng)的電容值均可以通過(guò)公式(3)-(4)計(jì)算得到。

可選的，基于第三頻率值確定待測(cè)應(yīng)答器的FSK信號(hào)發(fā)射電路的第一調(diào)試電容參考值可以包括：

將FSK信號(hào)發(fā)射電路的目標(biāo)頻率對(duì)應(yīng)電容值與第三頻率值對(duì)應(yīng)電容值的差值確定為FSK信號(hào)發(fā)射電路的第一調(diào)試電容參考值。

FSK信號(hào)發(fā)射電路的目標(biāo)頻率對(duì)應(yīng)電容值進(jìn)和第三頻率值對(duì)應(yīng)電容值均可以通過(guò)公式(3)-(4)計(jì)算得到。

可選的，基于第四頻率值確定待測(cè)應(yīng)答器的FSK信號(hào)發(fā)射電路的第二調(diào)試電容參考值可以包括：

將FSK信號(hào)發(fā)射電路的目標(biāo)頻率對(duì)應(yīng)電容值與第四頻率值對(duì)應(yīng)電容值的差值確定為FSK信號(hào)發(fā)射電路的第二調(diào)試電容參考值。

FSK信號(hào)發(fā)射電路的目標(biāo)頻率對(duì)應(yīng)電容值進(jìn)和第四頻率值對(duì)應(yīng)電容值均可以通過(guò)公式(3)-(4)計(jì)算得到。

對(duì)所公開(kāi)的實(shí)施例的上述說(shuō)明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員來(lái)說(shuō)將是顯而易見(jiàn)的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開(kāi)的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。