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一種三線值檢測工裝的制作方法

文檔序號:11822083閱讀:347來源:國知局

本發(fā)明屬于檢測工裝技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種適用于螺桿加工的三線值檢測工裝。



背景技術(shù):

滾珠螺桿副在工作中,鋼珠與螺桿工作溝槽相接觸,形成滾動摩擦,其接觸方式為哥德式曲線接觸;在螺桿加工過程中,尤其是輥扎螺桿,因其加工工藝的限制,容易出現(xiàn)螺桿在不同位置的工作溝槽不一致,即俗稱的大小頭,因此,在螺桿的加工檢驗中,需要檢驗螺桿是否出現(xiàn)大小頭的情況,目前,通常的方法為標準螺母與螺桿配合,從螺桿一端行走至另一端,檢驗螺母行走順暢度,但對于大批量生產(chǎn)的滾珠螺桿,此檢驗方法過于繁雜;其實,在實際檢驗中只需要測量鋼珠與螺桿溝槽配合后的圓心直徑,即三線值,便可簡單快捷檢驗螺桿是否存在大小頭,但因鋼珠直徑過小,不方便測量,而采用與鋼珠直徑相同的滾針作為模擬鋼珠使用,并用公法線千分尺測量的話,測量中因滾針不能固定,依舊對測量造成極大不便,降低了工作效率。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明要解決的問題是提供一種操作簡單快捷,降低加工成本、減小測量時間,提高工作效率,應(yīng)用廣泛,滾針不脫落于保持架的三線值檢測工裝。

為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種三線值檢測工裝,包括公法線千分尺、保持架和滾針,所述保持架分別設(shè)置于公法線千分尺兩個測量端的工作面上,且低于公法線千分尺工作面;所述保持架上設(shè)置有與公法線千分尺相同的燕尾槽;該保持架上設(shè)置有開口,所述滾針從一端插入保持架,并用彈性U型擋片擋住開口。

所述位于公法線千分尺固定工作面的保持架中安裝有兩個滾針。

所述位于公法線千分尺運動工作面的保持架中安裝有一個滾針。

由于采用上述技術(shù)方案,傳統(tǒng)測量中因滾針不能固定,對測量造成極大不便,所以,本發(fā)明制作特殊保持架,使?jié)L針在保持架范圍內(nèi)自由滑動,以方便測量;保持架設(shè)計為下方有與公法線千分尺相同的燕尾槽,安裝于公法線千分尺兩端的工作面上,并且低于公法線千分尺工作面,滾針采用從一端 插入保持架的形式,并用有彈性的U型擋片擋住開口,使?jié)L針不能從保持架中脫落,測量時,位于公法線千分尺固定工作面的保持架中裝入兩個滾針,使?jié)L針滑進待測螺桿的工作溝槽,位于公法線千分尺運動工作面的保持架中裝入一個滾針,也將滾針滑進待測螺桿的工作溝槽,按照千分尺的工作原理進行測量,即可得出螺桿的三線值,對同一根螺桿進行多角度多位置的測量,對比測量數(shù)值,即可的出螺桿的三線值曲線,從而和螺桿精度要求曲線對比,進而檢測螺桿的加工精度。

本發(fā)明的有益效果是:具有操作簡單快捷,降低加工成本、減小測量時間,提高工作效率,應(yīng)用廣泛,滾針不脫落于保持架優(yōu)點。

附圖說明

下面通過參考附圖并結(jié)合實例具體地描述本發(fā)明,本發(fā)明的優(yōu)點和實現(xiàn)方式將會更加明顯,其中附圖所示內(nèi)容僅用于對本發(fā)明的解釋說明,而不構(gòu)成對本發(fā)明的任何意義上的限制,在附圖中:

圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖

圖中:

1、公法線千分尺 2、待測螺桿 3、保持架

4、滾針 5、螺桿工作溝槽 6、開口

7、彈性U型擋片

具體實施方式

如圖1所示,本發(fā)明一種三線值檢測工裝,包括公法線千分尺1、保持架3和滾針4,所述保持架3分別設(shè)置于公法線千分尺1兩個測量端的工作面上,且低于公法線千分尺1工作面;所述保持架3上設(shè)置有與公法線千分尺1相同的燕尾槽;該保持架3上設(shè)置有開口6,所述滾針4從一端插入保持架3,并用彈性U型擋片7擋住開口6;所述位于公法線千分尺1固定工作面的保持架3中安裝有兩個滾針4;所述位于公法線千分尺1運動工作面的保持架3中安裝有一個滾針4。

本實例的工作過程:測量時,位于公法線千分尺1固定工作面的保持架3中裝入兩個滾針4,使?jié)L針4滑進待測螺桿2的螺桿工作溝槽5,位于公法線千分尺1運動工作面的保持架3中裝入一個滾針4,也將滾針4滑進待測螺桿2的螺桿工作溝槽5,按照千分尺的工作原理近型測量,即可得出待測 螺桿2的三線值,對同一根待測螺桿2進行多角度多位置的測量,對比測量數(shù)值,即可的出待測螺桿2的三線值曲線,從而和待測螺桿2精度要求曲線對比,進而檢測待測螺桿2的加工精度。

以上對本發(fā)明的實施例進行了詳細說明,但所述內(nèi)容僅為本發(fā)明的較佳實施例,不能被認為用于限定本發(fā)明的實施范圍。凡依本發(fā)明范圍所作的均等變化與改進等,均應(yīng)仍歸屬于本專利涵蓋范圍之內(nèi)。

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