專利名稱：一種防轉環(huán)檢具的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種檢測量器，尤其涉及一種防轉環(huán)檢具。
技術背景
防轉環(huán)產(chǎn)品有4個均勻分布的定珠孔和4個均勻分布的定位孔，定珠孔與定位孔在同一中心圓上，間隔45°，每個孔相對中心圓均有C 0. 06^ 0.04的位置度要求，每個孔的夾角均為理想值要求，孔的大小均有公差范圍。為了方便、快捷、直觀、正確地檢測產(chǎn)品的中心徑、位置度、角度差、孔徑以及產(chǎn)品的外徑，也為了方便退料，設計了帶有退料裝置的防轉環(huán)檢具。發(fā)明內容
本發(fā)明提供了一種防轉環(huán)檢具，能夠方便、快捷、精確的檢測防轉環(huán)。
本發(fā)明采用如下技術方案本發(fā)明所述的一種防轉環(huán)檢具，包括底座，支架，量具主體，氣缸，頂塊，第一測量柱，第二測量柱；所述的底座的上緣布置支架，支架上端布置量具主體，量具主體內設置若干個均勻分布的通孔，第一測量柱與第二測量柱布置在量具主體的若干個通孔內，量具主體還設置了一個外徑卡位和一個置頂塊的型腔，氣缸的上端與頂塊連接，下端與底座固定。
本發(fā)明所述的防轉環(huán)檢具，所述的第一測量柱的直徑小于第二測量柱的直徑。
有益效果本發(fā)明提供的防轉環(huán)檢具一次測量，可同時檢測產(chǎn)品的中心徑、位置度、角度差、孔徑以及產(chǎn)品的外徑，方便、快捷、直觀、正確。


圖1是本發(fā)明結構示意圖； 圖2是本發(fā)明的俯視結構示意圖；圖中1是底座，2是支架，3是量具主體，4是氣缸，5是頂塊，第6是一測量柱，7是第二測量柱。
具體實施方式
下面結合

對本發(fā)明進一步詳細說明如圖所示一種防轉環(huán)檢具，包括底座1，支架2，量具主體3，氣缸4，頂塊5，第一測量柱6，第二測量柱7。
底座1的上緣布置支架2，支架2上端布置量具主體3，量具主體3內設置了若干個均勻分布的通孔，第一測量柱6與第二測量柱7布置在量具主體3的通孔內，第一測量柱 6的直徑小于第二測量柱7的直徑。量具主體3還設置了一個外徑卡位和一個置頂塊5的型腔；氣缸4的上端與頂塊5連接，下端與底座1固定。
被檢產(chǎn)品平穩(wěn)地按在檢具的主體3上，如果能同時進入4個定珠孔測量柱7、4個定位孔測量柱6和測外徑卡位，認定產(chǎn)品合格，打開氣動開關，頂塊向上運動把被檢產(chǎn)品頂出量具主體；如果被檢產(chǎn)品不能同時進入4個定珠孔測量柱(7)、4個定位孔測量柱6和外徑卡位，則通過其它單項檢具，檢測不合格原因。方便、快捷、直觀、正確，節(jié)約了大量的檢測時間和人力。
權利要求
1.一種防轉環(huán)檢具，其特征在于包括底座(1)，支架(2)，量具主體(3)，氣缸(4)，頂塊(5)，第一測量柱(6)，第二測量柱(7);所述的底座(1)的上緣布置支架(2)，支架(2)上端布置量具主體(3)；量具主體(3)內設置若干個均勻分布的通孔，第一測量柱(6)與第二測量柱(7 )布置在量具主體(3 )的若干個通孔內，量具主體(3 )還設置了一個外徑卡位和一個置頂塊(5)的型腔；氣缸(4)的上端與頂塊(5)連接，下端與底座(1)固定。
2.根據(jù)權利要求1所述的防轉環(huán)檢具，其特征在于所述的第一測量柱(6)的直徑小于第二測量柱(7)的直徑。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種檢測量器，尤其涉及一種防轉環(huán)檢具。包括底座，支架，量具主體，氣缸，頂塊，第一測量柱，第二測量柱；所述的底座的上緣布置支架，支架上端布置量具主體；量具主體內設置若干個均勻分布的通孔，第一測量柱與第二測量柱布置在量具主體的若干個通孔內，量具主體還設置了一個外徑卡位和一個置頂塊的型腔；氣缸的上端與頂塊連接，下端與底座固定。本發(fā)明提供的防轉環(huán)檢具一次測量，可同時檢測產(chǎn)品的中心徑、位置度、角度差、孔徑以及產(chǎn)品的外徑，方便、快捷、直觀、正確。
文檔編號G01B5/08GK102506642SQ20111036973
公開日2012年6月20日 申請日期2011年11月21日 優(yōu)先權日2011年11月21日
發(fā)明者馮連鎖, 姜維鴻, 張建榮 申請人:吳江市雙精軸承有限公司