專利名稱：測(cè)試裝置及其設(shè)置方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置及其設(shè)置方法。特定來說，本發(fā)明涉及一種測(cè)試電氣元件的測(cè)試裝置，及設(shè)置該測(cè)試裝置中所包括的信號(hào)輸入-輸出單元的設(shè)置方法。另外，本申請(qǐng)與以下日本專利申請(qǐng)有關(guān)，其內(nèi)容并入此處作為參考。
2003年3月19日提交的日本專利申請(qǐng)2003-074898號(hào)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的測(cè)試裝置指示測(cè)試控制單元響應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目從磁盤設(shè)備中讀出設(shè)置條件，并將該些設(shè)置條件發(fā)送給連接在電氣元件的通道以便執(zhí)行設(shè)置。盡管這種測(cè)試裝置重復(fù)測(cè)試相同類型的電氣元件，但是其每次測(cè)試都要從磁盤設(shè)備中讀出設(shè)置條件，并經(jīng)由系統(tǒng)總線將該設(shè)置條件發(fā)送給通道，這樣，測(cè)試裝置需要花費(fèi)大量時(shí)間從磁盤設(shè)備中讀出數(shù)據(jù)以及發(fā)送數(shù)據(jù)。
因此，為了減少測(cè)試時(shí)間，已知一種測(cè)試裝置包括一個(gè)用于分析來自上述測(cè)試控制單元的指令并設(shè)置一個(gè)通道條件的指令分析單元，例如，在日本專利申請(qǐng)?jiān)缙?laid-open)公開號(hào)1995-218602(專利文獻(xiàn)1)中。該現(xiàn)有技術(shù)所揭示的測(cè)試裝置在測(cè)試之前將磁盤設(shè)備的設(shè)置條件經(jīng)由系統(tǒng)總線發(fā)送并存儲(chǔ)到指令分析單元中的存儲(chǔ)器中。并且所述測(cè)試控制單元經(jīng)由系統(tǒng)總線將設(shè)置條件發(fā)送到指令分析單元，以便向通道發(fā)送和設(shè)置條件。
然而，當(dāng)設(shè)置連接到一個(gè)指令分析單元的通道時(shí)，專利文獻(xiàn)1中揭示的測(cè)試裝置只能將相同的設(shè)置條件發(fā)送到多個(gè)通道，而不能將不同的設(shè)置條件發(fā)送到這些通道。另外，專利文獻(xiàn)1中揭示的測(cè)試裝置不能夠響應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目來設(shè)置或改變條件數(shù)據(jù)的數(shù)量。
因此，本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種測(cè)試裝置及其設(shè)置方法，其能夠克服上述現(xiàn)有技術(shù)所具有的缺陷。通過本發(fā)明獨(dú)立權(quán)利要求描述的組合可以達(dá)到上述及其它目的。相關(guān)權(quán)利要求進(jìn)一步定義了本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和示例組合。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的第一方面，一種測(cè)試電氣元件的測(cè)試裝置包括多個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元，其響應(yīng)該電氣元件中所包括的多個(gè)端子中的每一個(gè)輸入和/或輸出測(cè)試信號(hào)；一個(gè)通道選擇存儲(chǔ)器，其存儲(chǔ)多條通道選擇信息，該信息指示每個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元根據(jù)設(shè)置條件是否應(yīng)該執(zhí)行設(shè)置通道；一個(gè)設(shè)置條件存儲(chǔ)器，其根據(jù)信號(hào)輸入-輸出單元存儲(chǔ)設(shè)置條件；以及一個(gè)控制構(gòu)件，當(dāng)接收到設(shè)置指令以設(shè)置信號(hào)輸入-輸出單元的設(shè)置條件時(shí)，其根據(jù)設(shè)置指令檢索并向信號(hào)輸入-輸出單元提供存儲(chǔ)在設(shè)置條件存儲(chǔ)器中的設(shè)置條件和存儲(chǔ)在通道選擇存儲(chǔ)器中的通道選擇信息，其中當(dāng)至少一個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元被控制構(gòu)件所提供的通道選擇信息選中時(shí)，則根據(jù)從控制構(gòu)件提供的設(shè)置條件設(shè)置此一信號(hào)輸入-輸出單元。
所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器可以相應(yīng)的方式存儲(chǔ)信號(hào)輸入-輸出單元的設(shè)置條件和通道選擇存儲(chǔ)器的地址，且該控制構(gòu)件可以包括一個(gè)設(shè)置條件檢索單元，其從設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索通道選擇存儲(chǔ)器的設(shè)置條件和地址；一個(gè)選擇信息檢索單元，其根據(jù)設(shè)置條件檢索單元檢索到的通道選擇存儲(chǔ)器的地址從通道選擇存儲(chǔ)器中檢索通道選擇信息；以及一個(gè)設(shè)置條件提供單元，其向信號(hào)輸入-輸出單元提供設(shè)置條件檢索單元檢索到的設(shè)置條件和選擇信息檢索單元檢索到的通道選擇信息。
設(shè)置條件檢索單元可以響應(yīng)每一條設(shè)置數(shù)據(jù)從設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索包括通道選擇存儲(chǔ)器的多條設(shè)置數(shù)據(jù)和地址的設(shè)置條件；選擇信息檢索單元可以根據(jù)設(shè)置條件檢索單元檢索到的通道來選擇存儲(chǔ)器的地址，從通道選擇存儲(chǔ)器中檢索多條通道選擇信息；并且設(shè)置條件提供單元可以向信號(hào)輸入-輸出單元提供由設(shè)置條件檢索單元檢索到的多條設(shè)置數(shù)據(jù)和由選擇信息檢索單元檢索到的多條通道選擇信息。
設(shè)置條件存儲(chǔ)器可以進(jìn)一步以相應(yīng)的方式存儲(chǔ)設(shè)置條件存儲(chǔ)器的地址和大小，并且設(shè)置條件檢索單元可以從設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索到設(shè)置條件存儲(chǔ)器的地址和大小，以及與從檢索到的設(shè)置條件存儲(chǔ)器的地址檢索到的大小所指示的數(shù)量相同的通道選擇存儲(chǔ)器的多條設(shè)置數(shù)據(jù)和地址。
通道選擇存儲(chǔ)器可以存儲(chǔ)通道選擇信息，以使響應(yīng)信號(hào)輸入-輸出單元執(zhí)行設(shè)置保持標(biāo)志“1”，而響應(yīng)信號(hào)輸入-輸出單元不執(zhí)行設(shè)置保持標(biāo)志“0”，且當(dāng)選擇信息檢索單元檢索到的通道選擇信息中所保持的標(biāo)志的邏輯總和為“0”時(shí)，設(shè)置條件提供單元可以不向信號(hào)輸入-輸出單元提供設(shè)置條件檢索單元檢索到的條件設(shè)置。
測(cè)試裝置可以進(jìn)一步包括多個(gè)測(cè)試模塊，該些模塊中的每個(gè)都包括多個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元、一個(gè)通道選擇存儲(chǔ)器、一個(gè)設(shè)置條件存儲(chǔ)器、一個(gè)設(shè)置條件檢索單元、一個(gè)選擇信息檢索單元以及一個(gè)設(shè)置條件提供單元，以及一個(gè)測(cè)試處理器，將設(shè)置指令提供給測(cè)試模塊以設(shè)置信號(hào)輸入-輸出單元的設(shè)置條件，其中測(cè)試模塊中所分別包括的設(shè)置條件存儲(chǔ)器可以在同一個(gè)地址存儲(chǔ)不同的設(shè)置條件，設(shè)置條件檢索單元可以根據(jù)測(cè)試處理器提供的設(shè)置指令所包括的設(shè)置條件存儲(chǔ)器的地址，分別從設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索不同的設(shè)置條件，并且設(shè)置條件提供單元可以分別向信號(hào)輸入-輸出單元提供設(shè)置條件檢索單元檢索到的設(shè)置條件。
根據(jù)本發(fā)明的第二方面，設(shè)置包括在測(cè)試裝置中的至少一個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元的設(shè)置條件的方法，其中該信號(hào)輸入-輸出單元響應(yīng)電氣元件中所包括的多個(gè)端子中的每一個(gè)輸入和/或輸出測(cè)試信號(hào)，該方法包括以下步驟從設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索所述信號(hào)輸入-輸出單元的設(shè)置條件；從通道選擇存儲(chǔ)器中檢索指示每個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元是否應(yīng)該根據(jù)設(shè)置條件來執(zhí)行設(shè)置通道選擇信息；向信號(hào)輸入-輸出單元提供從設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索到的設(shè)置條件以及從所述通道選擇存儲(chǔ)器中檢索的通道選擇信息；以及當(dāng)信號(hào)輸入-輸出單元被上文提供的通道選擇信息選中時(shí)，根據(jù)提供的設(shè)置條件設(shè)置至少一個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元。
本發(fā)明的摘要不必描述本發(fā)明的所有必要特征。本發(fā)明還可以是上述特征的子組合。本發(fā)明的上述及其他特征和優(yōu)點(diǎn)結(jié)合下面的附圖和實(shí)施例會(huì)更加顯而易見。


圖1所示為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試裝置100的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2所示為設(shè)置條件存儲(chǔ)器118和通道選擇存儲(chǔ)器116數(shù)據(jù)配置的示意圖。
圖3所示為存儲(chǔ)在通道選擇存儲(chǔ)器116中的選擇位陣列的示意圖。
圖4所示為與測(cè)試處理器102所產(chǎn)生的設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的共用條件記錄區(qū)相關(guān)的寫指令的數(shù)據(jù)配置示意圖。
具體實(shí)施例方式
將根據(jù)較佳實(shí)施例來描述本發(fā)明，其并非是限制本發(fā)明的范圍，而是本發(fā)明的示例。本發(fā)明實(shí)施例中所描述的所有特征及其組合不是本發(fā)明的必要要素。
請(qǐng)參閱圖1所示，為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試裝置100的結(jié)構(gòu)示意圖。測(cè)試裝置100向電氣元件輸入一個(gè)測(cè)試信號(hào)，并對(duì)該電氣元件的質(zhì)量進(jìn)行判斷以便測(cè)試該電氣元件。為了執(zhí)行多種類型的測(cè)試，所述測(cè)試裝置100可以響應(yīng)每個(gè)測(cè)試條件改變波形發(fā)生器或波形比較器的設(shè)置。因此，本發(fā)明中的測(cè)試裝置100的一個(gè)目的是減少測(cè)試條件的設(shè)置時(shí)間。
測(cè)試裝置100包括一個(gè)測(cè)試處理器102，其產(chǎn)生一個(gè)用于設(shè)置指定設(shè)置條件的設(shè)置指令；和多個(gè)測(cè)試模塊104，其根據(jù)測(cè)試處理器102所生成的設(shè)置指令來設(shè)置設(shè)置條件。測(cè)試處理器102經(jīng)由具有廣播功能的系統(tǒng)總線106向多個(gè)測(cè)試模塊提供設(shè)置指令。所述每個(gè)測(cè)試模塊104都包括多個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元108，其響應(yīng)所述電氣元件中所包括的多個(gè)端子中的每一個(gè)來輸入或輸出測(cè)試信號(hào)；一個(gè)通道選擇存儲(chǔ)器116，其存儲(chǔ)指示每個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元108是否應(yīng)當(dāng)根據(jù)設(shè)置條件執(zhí)行設(shè)置的多條通道選擇信息；一個(gè)設(shè)置條件存儲(chǔ)器118，其以相應(yīng)的方式存儲(chǔ)信號(hào)輸入-輸出單元108的設(shè)置條件和通道選擇存儲(chǔ)器116的邏輯地址；以及一個(gè)控制電路120，其根據(jù)測(cè)試處理器102提供的設(shè)置指令檢索并向信號(hào)輸入-輸出單元108提供通道選擇信息和設(shè)置條件。作為該實(shí)施例中控制構(gòu)件例子的控制電路120，當(dāng)接收到上述設(shè)置指令以設(shè)置信號(hào)輸入-輸出單元108的設(shè)置條件時(shí)，根據(jù)設(shè)置指令檢索存儲(chǔ)在上述設(shè)置條件存儲(chǔ)器118中的設(shè)置條件和存儲(chǔ)在通道選擇存儲(chǔ)器116中的通道選擇信息，并經(jīng)由內(nèi)部總線109將設(shè)置條件和通道選擇信息提供給信號(hào)輸入-輸出單元108。
每個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元108都包括一個(gè)波形發(fā)生器110，其產(chǎn)生輸入到上述電氣元件的測(cè)試信號(hào)；一個(gè)波形比較器112，其對(duì)響應(yīng)于輸入測(cè)試信號(hào)而從電氣元件輸出的信號(hào)與一個(gè)預(yù)期的信號(hào)進(jìn)行比較；以及一個(gè)DC測(cè)量設(shè)備114，其測(cè)量施加在電氣元件上的DC電壓或者電氣元件輸出的DC電壓。另外，控制電路120包括一個(gè)設(shè)置條件檢索單元122，用于從設(shè)置條件存儲(chǔ)器118中檢索設(shè)置條件；一個(gè)選擇信息檢索單元124，用于從通道選擇存儲(chǔ)器116中檢索通道選擇信息；以及一個(gè)設(shè)置條件提供單元126，用于向信號(hào)輸入一輸出單元108提供設(shè)置條件檢索單元122檢索到的設(shè)置條件和選擇信息檢索單元124檢索到的通道選擇信息。
測(cè)試處理器102向測(cè)試模塊104提供設(shè)置指令，以便設(shè)置信號(hào)輸入-輸出單元108的設(shè)置條件。設(shè)置條件檢索單元122從測(cè)試處理器102接收包括設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的邏輯地址的設(shè)置指令。當(dāng)設(shè)置條件檢索單元122接收到設(shè)置指令時(shí)，其根據(jù)測(cè)試處理器102提供的設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的邏輯地址從設(shè)置條件存儲(chǔ)器118中檢索通道選擇存儲(chǔ)器116的設(shè)置條件和邏輯地址。并且選擇信息檢索單元124根據(jù)設(shè)置條件檢索單元122所檢索到的通道選擇存儲(chǔ)器116的邏輯地址從通道選擇存儲(chǔ)器116中檢索通道選擇信息。設(shè)置條件提供單元126向信號(hào)輸入-輸出單元108提供設(shè)置條件檢索單元122所檢索到的設(shè)置條件和選擇信息檢索單元124所檢索到的通道選擇信息。
每個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元108都判斷其是否被設(shè)置條件提供單元126所提供的通道選擇信息選中。并且，如果其被通道選擇信息選中，則每個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元108根據(jù)設(shè)置條件提供單元126所提供的設(shè)置條件進(jìn)行設(shè)置。特定來說，設(shè)置電源電壓、測(cè)試模式、測(cè)試環(huán)境等。
請(qǐng)參閱圖2所示，為設(shè)置條件存儲(chǔ)器118和通道選擇存儲(chǔ)器116的數(shù)據(jù)配置例子。設(shè)置條件存儲(chǔ)器118包括一個(gè)條件組分配區(qū){b1，b2，b3，b4…}，其用于確定設(shè)置條件的存儲(chǔ)位置；一個(gè)共用條件記錄區(qū){b21，b22，b23，b24…}，其用于響應(yīng)測(cè)試模塊104存儲(chǔ)共用設(shè)置條件；以及一個(gè)唯一的條件記錄區(qū){b41，b42，b43，b44…}，其用于響應(yīng)測(cè)試模塊104存儲(chǔ)不同的設(shè)置條件。
設(shè)置條件存儲(chǔ)器118相應(yīng)地在條件組分配區(qū)存儲(chǔ)設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的邏輯地址和數(shù)據(jù)大小。為每個(gè)設(shè)置條件準(zhǔn)備邏輯地址和數(shù)據(jù)大小的組合體。特定來說，設(shè)置條件存儲(chǔ)器118相應(yīng)地存儲(chǔ)“條件1-邏輯地址”和“條件1-數(shù)據(jù)大小”，以及“條件2-邏輯地址”和“條件2-數(shù)據(jù)大小”。
另外，設(shè)置條件存儲(chǔ)器118將“實(shí)際地址”和“實(shí)際數(shù)據(jù)”相應(yīng)存儲(chǔ)在共用條件記錄區(qū)?！皩?shí)際地址”包括通道選擇存儲(chǔ)器116的邏輯地址和指定給信號(hào)輸入-輸出單元108中設(shè)置位置的設(shè)置地址，“實(shí)際數(shù)據(jù)”是指示設(shè)置條件的設(shè)置數(shù)據(jù)。例如，指定給信號(hào)輸入-輸出單元108中設(shè)置位置的設(shè)置地址為DC測(cè)量設(shè)備的識(shí)別信息，并且指示設(shè)置條件的設(shè)置數(shù)據(jù)是施加的電壓。分別包括在測(cè)試模塊104中的多個(gè)設(shè)置條件存儲(chǔ)器118可以存儲(chǔ)位于與“實(shí)際地址”和“實(shí)際數(shù)據(jù)”相同邏輯地址的區(qū)域中的共用設(shè)置條件。
設(shè)置條件存儲(chǔ)器118將“用于校正的實(shí)際地址”和“用于校正的實(shí)際數(shù)據(jù)”相應(yīng)存儲(chǔ)在唯一的條件記錄區(qū)?！坝糜谛Ｕ膶?shí)際地址”包括通道選擇存儲(chǔ)器116的邏輯地址和指定給信號(hào)輸入-輸出單元108中設(shè)置位置的設(shè)置地址，而“用于校正的實(shí)際數(shù)據(jù)”為指示設(shè)置條件的設(shè)置數(shù)據(jù)。分別包括在測(cè)試模塊104中的多個(gè)設(shè)置條件存儲(chǔ)器118響應(yīng)包括在測(cè)試模塊104中的信號(hào)輸入-輸出單元108的每個(gè)特性，在具有與“用于校正的實(shí)際地址”和“用于校正的實(shí)際數(shù)據(jù)”相同邏輯地址的區(qū)域中存儲(chǔ)不同的設(shè)置條件。
設(shè)置條件檢索單元122從設(shè)置條件存儲(chǔ)器118檢索設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的邏輯地址和數(shù)據(jù)大小。例如，其檢索“條件1-邏輯地址”和“條件1-數(shù)據(jù)大小”。并且設(shè)置條件檢索單元122為每個(gè)設(shè)置數(shù)據(jù)檢索包括來自設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的設(shè)置數(shù)據(jù)和通道選擇存儲(chǔ)器116的邏輯地址的設(shè)置條件。特定來說，設(shè)置條件檢索單元122檢索到的“實(shí)際地址”和“實(shí)際數(shù)據(jù)”與從檢索到的設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的邏輯地址所檢索到的數(shù)據(jù)大小指示的數(shù)量相同。例如，如果“條件1-數(shù)據(jù)大小”為“4”，則其檢索“實(shí)際地址(1-1)”、“實(shí)際數(shù)據(jù)(1-1)”、“實(shí)際地址(1-2)”和“實(shí)際數(shù)據(jù)(1-2)”。
然后，選擇信息檢索單元124根據(jù)分別包括在設(shè)置條件檢索單元122所檢索到的實(shí)際地址中的通道選擇存儲(chǔ)器116的邏輯地址，從通道選擇存儲(chǔ)器116中檢索多條通道選擇信息。例如，如果包括在“實(shí)際地址(1-1)”中的通道選擇存儲(chǔ)器116的邏輯地址為“a1”，則其檢索作為通道選擇信息的“選擇位陣列1”，并且如果包括在“實(shí)際地址(1-2)”中的通道選擇存儲(chǔ)器116的邏輯地址為“a2”，則其檢索作為通道選擇信息的“選擇位陣列2”。
然后，所述設(shè)置條件提供單元126向信號(hào)輸入-輸出單元108提供設(shè)置條件檢索單元122所檢索到的多條設(shè)置數(shù)據(jù)和選擇信息檢索單元124所檢索到的多條通道選擇信息。例如，其向上述信號(hào)輸入-輸出單元108提供了“實(shí)際地址(1-1)”、“實(shí)際數(shù)據(jù)(1-1)”、“選擇位陣列1”與“實(shí)際地址(1-2)”、“實(shí)際數(shù)據(jù)(1-2)”和“選擇位陣列2”。當(dāng)上述任意一個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元108被“選擇位陣列1”選中時(shí)，其根據(jù)“實(shí)際數(shù)據(jù)(1-1)”來設(shè)置包括在“實(shí)際地址(1-1)”中的設(shè)置地址所指定的設(shè)置位置。
另外，多個(gè)設(shè)置條件檢索單元122中的每一個(gè)可以根據(jù)測(cè)試處理器102提供的設(shè)置指令中所包括的設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的邏輯地址，分別從多個(gè)設(shè)置條件存儲(chǔ)器118中檢索作為多個(gè)不同設(shè)置條件的“用于校正的實(shí)際地址”和“用于校正的實(shí)際數(shù)據(jù)”。并且設(shè)置條件提供單元126可以向信號(hào)輸入-輸出單元108分別提供由每個(gè)設(shè)置條件檢索單元122所檢索的作為不同設(shè)置條件的“用于校正的實(shí)際地址”和“用于校正的實(shí)際數(shù)據(jù)”。如上所述，由于設(shè)置條件存儲(chǔ)器118可以為每個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元108存儲(chǔ)不同的設(shè)置條件，因此應(yīng)用該存儲(chǔ)器的效率可以得到改善。
請(qǐng)參閱圖3所示，為存儲(chǔ)在通道選擇存儲(chǔ)器116中的選擇位陣列例子。通道選擇存儲(chǔ)器116以相應(yīng)的方式存儲(chǔ)指示是否應(yīng)當(dāng)設(shè)置信號(hào)輸入-輸出單元108的信息。例如，通道選擇存儲(chǔ)器116存儲(chǔ)通道選擇信息，從而響應(yīng)信號(hào)輸入-輸出單元108執(zhí)行設(shè)置保持標(biāo)志“1”，而響應(yīng)信號(hào)輸入-輸出單元108不執(zhí)行設(shè)置而保持標(biāo)志“0”。
設(shè)置條件提供單元126計(jì)算選擇信息檢索單元124檢索到的通道選擇信息所保持的標(biāo)記的邏輯總和。并且，如果計(jì)算出的邏輯總和為“1”，則設(shè)置條件提供單元126向信號(hào)輸入-輸出單元108提供設(shè)置條件和通道選擇信息。同時(shí)，如果計(jì)算出的邏輯總和為“0”，則設(shè)置條件提供單元126不會(huì)向信號(hào)輸入-輸出單元108提供設(shè)置條件和通道選擇信息。這樣，由于設(shè)置條件提供單元126預(yù)先舍棄了設(shè)置條件，該些設(shè)置條件不會(huì)被信號(hào)輸入-輸出單元108而舍棄，通過內(nèi)部總線109發(fā)送的數(shù)據(jù)數(shù)量可以縮減。
請(qǐng)參閱圖4所示，為測(cè)試處理器102所產(chǎn)生的關(guān)于設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的共用條件記錄區(qū)的寫指令的數(shù)據(jù)配置。在開始測(cè)試電氣元件之前，測(cè)試處理器102響應(yīng)測(cè)試模塊104的一個(gè)設(shè)置條件存儲(chǔ)器118生成一個(gè)寫指令，并將存儲(chǔ)在磁盤設(shè)備(例如硬盤)中的設(shè)置條件寫入每個(gè)測(cè)試模塊104中所包括的設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的共用條件記錄區(qū)。
測(cè)試處理器102，如圖4(a)所示，經(jīng)由設(shè)置條件檢索單元122向設(shè)置條件存儲(chǔ)器118提供寫指令，其中寫指令包括一地址區(qū)，其用于保持測(cè)試模塊104的物理地址和設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的邏輯地址；以及一資料區(qū)，其用于保持包括通道選擇存儲(chǔ)器116的邏輯地址和信號(hào)輸入-輸出單元108中設(shè)置位置的實(shí)際地址。另外，測(cè)試處理器102，如圖4(b)所示，經(jīng)由設(shè)置條件檢索單元122向設(shè)置條件存儲(chǔ)器118提供寫指令，其中寫指令包括用于保持測(cè)試模塊104物理地址和設(shè)置條件存儲(chǔ)器118邏輯地址的地址區(qū)，以及用于保持實(shí)際數(shù)據(jù)(其作為指示設(shè)置條件的設(shè)置數(shù)據(jù))的數(shù)據(jù)區(qū)。設(shè)置條件存儲(chǔ)器118在圖4(a)所示地址區(qū)指定的測(cè)試模塊104之設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的邏輯地址區(qū)域保持“實(shí)際地址”，其包括通道選擇存儲(chǔ)器116的邏輯地址和信號(hào)輸入-輸出單元108中設(shè)置位置的設(shè)置地址。另外，設(shè)置條件存儲(chǔ)器118在圖4(b)所示地址區(qū)指定的測(cè)試模塊104之設(shè)置條件存儲(chǔ)器118的邏輯地址區(qū)保持“實(shí)際數(shù)據(jù)”，其為指示設(shè)置條件的設(shè)置數(shù)據(jù)。
如上所述，由于所述設(shè)置條件預(yù)先存儲(chǔ)在分別包括在測(cè)試模塊104中的設(shè)置條件存儲(chǔ)器118中，所以可以減少測(cè)試處理器102產(chǎn)生寫指令的時(shí)間消耗以及設(shè)置條件的寫入在系統(tǒng)總線106中的傳送時(shí)間。因此，以縮短整個(gè)測(cè)試時(shí)間可。
另外，雖然是從設(shè)置條件存儲(chǔ)器118向信號(hào)輸入-輸出單元108提供設(shè)置條件以設(shè)置信號(hào)輸入-輸出單元108，但是測(cè)試處理器102可以執(zhí)行其他的存取，例如對(duì)測(cè)試結(jié)果的分析。因此，可以改善所述并行測(cè)試程序，并且可以縮短整個(gè)測(cè)試時(shí)間。
從上文的描述可易于了解，根據(jù)本發(fā)明可以縮短測(cè)試時(shí)間并且可以為每個(gè)通道設(shè)置不同的設(shè)置條件。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試電氣元件的測(cè)試裝置，其包括多個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元，其響應(yīng)所述電氣元件中所包括的多個(gè)端子中的每一個(gè)來輸入和/或輸出測(cè)試信號(hào)；一個(gè)通道選擇存儲(chǔ)器，其存儲(chǔ)指示每個(gè)所述信號(hào)輸入-輸出單元是否應(yīng)當(dāng)根據(jù)設(shè)置條件執(zhí)行設(shè)置的多條頻道選擇信息；一個(gè)設(shè)置條件存儲(chǔ)器，其存儲(chǔ)關(guān)于所述信號(hào)輸入-輸出單元的所述設(shè)置條件；以及一個(gè)控制構(gòu)件，當(dāng)接收到所述設(shè)置指令以設(shè)置所述信號(hào)輸入-輸出單元的設(shè)置指令時(shí)，其根據(jù)設(shè)置指令檢索并向所述信號(hào)輸入-輸出單元提供存儲(chǔ)在所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器中的設(shè)置條件和存儲(chǔ)在所述通道選擇存儲(chǔ)器中的通道選擇信息，其中當(dāng)至少一個(gè)所述信號(hào)輸入-輸出單元被所述控制構(gòu)件提供的通道選擇信息選中時(shí)，則根據(jù)從所述控制構(gòu)件提供的所述設(shè)置條件設(shè)置所述信號(hào)輸入-輸出單元中所述的一個(gè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其中所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器以相應(yīng)的方式存儲(chǔ)所述信號(hào)輸入-輸出單元的所述設(shè)置條件和所述通道選擇存儲(chǔ)器的地址，且所述控制構(gòu)件包括一個(gè)設(shè)置條件檢索單元，其從所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器檢索所述設(shè)置條件以及所述通道選擇存儲(chǔ)器的所述地址；一個(gè)選擇信息檢索單元，其根據(jù)所述設(shè)置條件檢索單元所檢索的所述通道選擇存儲(chǔ)器的所述地址，從所述通道選擇存儲(chǔ)器中檢索所述通道選擇信息；以及一個(gè)設(shè)置條件提供單元，其向所述信號(hào)輸入-輸出單元提供所述設(shè)置條件檢索單元檢索到的所述設(shè)置條件和所述選擇信息檢索單元檢索到的所述通道選擇信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其中所述設(shè)置條件檢索單元響應(yīng)所述每條設(shè)置數(shù)據(jù)從所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索所述設(shè)置條件，該設(shè)置條件包括所述通道選擇存儲(chǔ)器的多條設(shè)置數(shù)據(jù)和所述地址，所述選擇信息檢索單元根據(jù)所述設(shè)置條件檢索單元檢索到的所述通道選擇存儲(chǔ)器的所述地址，從所述通道選擇存儲(chǔ)器中檢索多條所述通道選擇信息；且所述設(shè)置條件提供單元向所述信號(hào)輸入-輸出單元提供由所述設(shè)置條件檢索單元檢索到的所述多條設(shè)置數(shù)據(jù)以及由所述選擇信息檢索單元檢索到的所述多條通道選擇信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其中所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器進(jìn)一步以相應(yīng)的方式存儲(chǔ)所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器的地址和大小，并且所述設(shè)置條件檢索單元從所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器的所述地址和大小，以及與從所述檢索到的所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器的地址檢索到的大小所指示的數(shù)量相同的所述通道選擇存儲(chǔ)器的所述多條設(shè)置數(shù)據(jù)和所述地址。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其中所述通道選擇存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述通道選擇信息，使其響應(yīng)所述信號(hào)輸入-輸出單元執(zhí)行設(shè)置而保持標(biāo)記“1”，而響應(yīng)所述信號(hào)輸入-輸出單元不執(zhí)行設(shè)置保持標(biāo)記“0”，并且當(dāng)所述選擇信息檢索單元檢索到的所述通道選擇信息中所保持的所述標(biāo)記的邏輯總和為“0”時(shí)，所述設(shè)置條件提供單元不向所述信號(hào)輸入-輸出單元提供所述設(shè)置條件檢索單元所檢索到的所述條件設(shè)置。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其進(jìn)一步包括多個(gè)測(cè)試模塊，每個(gè)測(cè)試模塊包括所述多個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元；所述通道選擇存儲(chǔ)器；所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器；所述設(shè)置條件檢索單元；所述選擇信息檢索單元；和所述設(shè)置條件提供單元，以及一個(gè)測(cè)試處理器，其向所述測(cè)試模塊提供所述設(shè)置指令，以設(shè)置所述信號(hào)輸入-輸出單元的所述設(shè)置條件，其中分別包括在所述測(cè)試模塊中的所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器在具有相同地址的區(qū)域存儲(chǔ)不同的設(shè)置條件，所述設(shè)置條件檢索單元根據(jù)從所述測(cè)試處理器提供的所述設(shè)置指令所包括的所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器的所述地址分別從所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索所述不同設(shè)置條件，且所述設(shè)置條件提供單元向所述信號(hào)輸入-輸出單元分別提供由所述設(shè)置條件檢索單元檢索到的設(shè)置條件。
7.一種設(shè)置包括在測(cè)試裝置中的至少一個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元的設(shè)置條件的方法，其中該信號(hào)輸入-輸出單元響應(yīng)電氣元件中所包括的多個(gè)端子中的每一個(gè)輸入和/或輸出測(cè)試信號(hào)，該方法包括以下步驟從設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索所述信號(hào)輸入-輸出單元的設(shè)置條件；從通道選擇存儲(chǔ)器中檢索通道選擇信息，其指示每個(gè)所述信號(hào)輸入-輸出單元是否應(yīng)當(dāng)根據(jù)所述設(shè)置條件執(zhí)行設(shè)置；向所述信號(hào)輸入-輸出單元提供從所述設(shè)置條件存儲(chǔ)器中檢索到的設(shè)置條件以及從所述通道選擇存儲(chǔ)器中檢索到的通道選擇信息；以及當(dāng)所述信號(hào)輸入-輸出單元被提供的通道選擇信息選中時(shí)，根據(jù)所述提供的設(shè)置條件設(shè)置至少一個(gè)信號(hào)輸入-輸出單元。
全文摘要
一種測(cè)試電氣元件的測(cè)試裝置，包括多個(gè)信號(hào)輸入－輸出單元，其響應(yīng)該電氣元件中所包括的多個(gè)端子的每一個(gè)來輸入和/或輸出測(cè)試信號(hào)；一個(gè)通道選擇存儲(chǔ)器，其存儲(chǔ)指示每個(gè)信號(hào)輸入－輸出單元是否應(yīng)當(dāng)根據(jù)設(shè)置條件執(zhí)行設(shè)置的多條通道選擇信息；一個(gè)設(shè)置條件存儲(chǔ)器，其存儲(chǔ)關(guān)于信號(hào)輸入－輸出單元的設(shè)置條件；以及一個(gè)控制構(gòu)件；當(dāng)接收到設(shè)置指令以設(shè)置信號(hào)輸入－輸出單元的設(shè)置條件時(shí)；其根據(jù)設(shè)置指令檢索并向信號(hào)輸入－輸出單元提供存儲(chǔ)在設(shè)置條件存儲(chǔ)器中的設(shè)置條件以及存儲(chǔ)在通道選擇存儲(chǔ)器中的通道選擇信息，其中當(dāng)至少一個(gè)信號(hào)輸入－輸出單元被從控制構(gòu)件提供的通道選擇信息選中時(shí)，則根據(jù)從控制構(gòu)件提供的設(shè)置條件設(shè)置此一信號(hào)輸入－輸出單元。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1761885SQ20048000721
公開日2006年4月19日 申請(qǐng)日期2004年3月16日 優(yōu)先權(quán)日2003年3月19日
發(fā)明者矢口剛史 申請(qǐng)人:愛德萬測(cè)試株式會(huì)社