技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種顯示面板的測試電路及測試方法，測試電路包括：多個開關(guān)單元；多條第一測試引線；多個第一測試墊；第二測試墊和第二測試引線；其中，每一顯示面板對應(yīng)一所述開關(guān)單元、一所述第一測試引線以及一所述第一測試墊；且每一所述第一測試引線與對應(yīng)的所述顯示面板電連接；每一所述第一測試墊與對應(yīng)所述開關(guān)單元的輸出端以及對應(yīng)的所述第一測試引線電連接；所述第二測試墊和所述第二測試引線均與多個所述開關(guān)單元的輸入端電連接。本發(fā)明提供的顯示面板的測試電路及測試方法，實現(xiàn)了在進行陣列測試時分別對每個顯示面板進行測試，在進行液晶分子取向時同時對多個顯示面板內(nèi)形成預(yù)傾角。

技術(shù)研發(fā)人員：陳猷仁
受保護的技術(shù)使用者：惠科股份有限公司;重慶惠科金渝光電科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.20
技術(shù)公布日：2017.08.18