亚洲成年人黄色一级片,日本香港三级亚洲三级,黄色成人小视频,国产青草视频,国产一区二区久久精品,91在线免费公开视频,成年轻人网站色直接看

一種集成電路測試裝置及其測試方法與流程

文檔序號:12359374閱讀:454來源:國知局
一種集成電路測試裝置及其測試方法與流程

本發(fā)明涉及集成電路領(lǐng)域,特別涉及一種集成電路測試裝置及其測試方法。



背景技術(shù):

集成電路封裝中,四方扁平無引腳封裝、四方扁平封裝或球柵陣列式封裝等,均會利用大量的焊盤進行外部電連接,而焊盤連接的可靠性直接影響了封裝體的可靠性,在形成封裝體之前,對焊盤的可靠性進行測試是本領(lǐng)域常用的技術(shù)手段。

現(xiàn)有技術(shù)中,常用測試電路板對所述焊盤進行電測試。一般的,測試電路板上設(shè)有與焊盤相對應(yīng)的接觸焊盤,測試電路板與封裝芯片對接,使得焊盤與測試電路板的接觸焊盤電接觸外連測試系統(tǒng),以此得到測試的結(jié)果,但是在測試中往往會有靜電產(chǎn)生,造成測試不準確的問題。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

基于解決上述封裝中的問題,本發(fā)明提供了一種集成電路測試裝置,包括:

載臺,用于承載待測集成電路芯片,載臺下方連接升降器,所述升降器用于將載臺抬升或降落;載臺卡在定位桿上,并可以沿著定位桿上下滑動,定位桿的頂端固定有定位框,所述定位框為環(huán)形框,中空部分漏出測試電路板的中間測試部分,定位框支撐所述測試電路板,所述測試電路板的邊緣與定位框接觸,在緊貼所述測試電路板的上表面上設(shè)置一陶瓷板,所述陶瓷板與測試電路板的背面(非測試面)相接觸。

其中,所述陶瓷板還包括靜電引出焊盤和加熱元件,所述靜電引出焊盤通過線路接地;所述加熱元件通過線路連接到電源,所述加熱元件加熱陶瓷板。

其中,所述載臺為絕緣材料,可以為散熱性較好的陶瓷或復合塑料。

其中,在所述測試裝置的側(cè)面上還設(shè)有清洗裝置。

其中,該清洗裝置是包括噴嘴的氣體清洗裝置,用于清洗待測集成電路芯片的表面。

其中,所述測試電路板的測試面上具有與芯片對應(yīng)電接觸的接觸焊盤或電極,并且,在測試電路板中設(shè)有再分布層,該再分布層用于重新布局芯片的電連接。

本發(fā)明還提供了一種集成電路的測試方法,其特征在于,包括:

提供上述的集成電路測試裝置;

將所述待測集成電路芯片放置于載臺上并固定;

利用清潔裝置清潔所述待測集成電路芯片的表面;

抬升所述載臺及待測集成電路芯片至待測集成電路芯片與測試電路板電接觸;

利用加熱元件加熱陶瓷板,并同時進行電測試;

測試完畢后,停止加熱,并降落所述載臺和待測集成電路芯片,至恢復常溫后,取下待測集成電路芯片。

本發(fā)明的技術(shù)方案,利用接地除靜電或熱干擾除靜電的方式避免了測試帶來的靜電;利用測試電路板的再分布層進行芯片的重布線,方便測試;利用清潔裝置進行清洗芯片,增加了測試的可靠性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的測試裝置的示意圖;

圖2為測試裝置在測試過程中的示意圖。

具體實施方式

本發(fā)明提供了一種集成電路測試裝置,包括:

參見圖1,載臺1用于承載待測集成電路芯片3,載臺1下方連接升降器2,所述升降器2用于將載臺1抬升或降落;載臺1卡在定位桿4上,并可以沿著定位桿4上下滑動,定位桿4的頂端固定有定位框5,所述定位框5為環(huán)形框,中空部分漏出測試電路板6的中間測試部分,定位框5支撐所述測試電路板6,所述測試電路板的邊緣與定位框5接觸,在緊貼所述測試電路板6的上表面上設(shè)置一陶瓷板7,所述陶瓷板7與測試電路板的背面(非測試面)相接觸。

所述陶瓷板7包括靜電引出焊盤8和加熱元件10,所述靜電引出焊盤8通過線路9接地,以此將測試電路板6的靜電除去;所述加熱元件10通過線路8連接到電源,所述加熱元件加熱陶瓷板7,采用熱擾亂的形式進一步去除測試中的靜電。

所述載臺1為絕緣材料,可以為散熱性較好的陶瓷或復合塑料;在所述測試裝的側(cè)面上還設(shè)有清洗裝置,該清洗裝置可以是例如包括噴嘴的氣體清洗裝置,用于清洗待測集成電路芯片3的表面。

所述測試電路板6的測試面上具有與芯片對應(yīng)電接觸的接觸焊盤或電極,并且,在測試電路板6中設(shè)有再分布層,該再分布層用于重新布局芯片3的電連接。

所述靜電引出焊盤8與測試電路板6接觸,其在陶瓷板7的下表面露出;所述加熱元件10可以是例如電阻絲的加熱器件。

參見圖2,本發(fā)明還提供了一種集成電路的測試方法,其特征在于,包括:

提供上述的集成電路測試裝置;

將所述待測集成電路芯片3放置于載臺1上并固定;

利用清潔裝置清潔所述待測集成電路芯片3的表面;

抬升所述載臺1及待測集成電路芯片3至待測集成電路芯片3與測試電路板電接觸;

利用加熱元件10加熱陶瓷板7,并同時進行電測試;

測試完畢后,停止加熱,并降落所述載臺1和待測集成電路芯片3,至恢復常溫后,取下待測集成電路芯片3。

最后應(yīng)說明的是:顯然,上述實施例僅僅是為清楚地說明本發(fā)明所作的舉例,而并非對實施方式的限定。對于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在上述說明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動。這里無需也無法對所有的實施方式予以窮舉。而由此所引申出的顯而易見的變化或變動仍處于本發(fā)明的保護范圍之中。

當前第1頁1 2 3 
網(wǎng)友詢問留言 已有0條留言
  • 還沒有人留言評論。精彩留言會獲得點贊!
1