本發(fā)明實施例涉及顯示技術(shù)，尤其涉及一種顯示面板的測試電路及測試方法。

背景技術(shù)：

制作顯示面板的過程中需要對顯示面板進行液晶分子取向，其過程可以采用如下步驟：在陣列基板和彩膜基板之間施加一電壓或電流信號，陣列基板和/或彩膜基板上具有配向膜，配向膜在上述電壓或電流作用下形成聚合物凸起，從而形成預(yù)傾角，預(yù)傾角能夠使位于陣列基板和彩膜基板之間的液晶分子按照特定方向排列，進而提高顯示面板的顯示品質(zhì)。在進行液晶分子取向時，每個顯示面板都需要一個單獨的引線以及與該引線相連接的焊盤。這樣就造成線路繁多，現(xiàn)有的一種解決方式是將一條引線連接多個顯示面板。

但是采用將一條引連接多個顯示面板的方式存在如下問題：在對顯示面板進行陣列測試時，多個顯示面板之間由于由一條引線相連接因而存在測試信號干擾的問題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供一種顯示面板的測試電路及測試方法，以實現(xiàn)在進行陣列測試時分別對每個顯示面板進行測試，在進行液晶分子取向時同時對多個顯示面板進行測試。

第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種顯示面板的測試電路，包括：

多個開關(guān)單元；

多條第一測試引線；

多個第一測試墊；

第二測試墊和第二測試引線；

其中，每一顯示面板對應(yīng)一所述開關(guān)單元、一所述第一測試引線以及一所述第一測試墊；且每一所述第一測試引線與對應(yīng)的所述顯示面板電連接；每一所述第一測試墊與對應(yīng)所述開關(guān)單元的輸出端以及對應(yīng)的所述第一測試引線電連接；所述第二測試墊和所述第二測試引線均與多個所述開關(guān)單元的輸入端電連接。

可選地，所述測試電路還包括多個第三測試墊，每一顯示面板對應(yīng)一所述第三測試墊，每一所述第三測試墊與對應(yīng)的所述開關(guān)單元的輸入端電連接；

所述第一測試墊和所述第三測試墊相鄰設(shè)置。

可選地，所述開關(guān)單元為三極管；所述三極管的輸入端和控制端短接作為所述開關(guān)單元的輸入端；所述三極管的輸出端為所述開關(guān)單元的輸出端。

可選地，所述開關(guān)單元為二極管；所述二極管的輸入端為所述開關(guān)單元的輸入端，所述二極管的輸出端為所述開關(guān)單元的輸出端。

可選地，所述多個第一測試墊沿所述第二測試引線的延伸方向陣列排布。

第二方面，本發(fā)明實施例還提供了一種顯示面板的測試方法，顯示面板的測試電路包括：多個開關(guān)單元；

多條第一測試引線；

多個第一測試墊；

第二測試墊和第二測試引線；

其中，每一顯示面板對應(yīng)一所述開關(guān)單元、一所述第一測試引線以及一所述第一測試墊；且每一所述第一測試引線與對應(yīng)的所述顯示面板電連接；每一所述第一測試墊與對應(yīng)所述開關(guān)單元的輸出端以及對應(yīng)的所述第一測試引線電連接；所述第二測試墊和所述第二測試引線均與多個所述開關(guān)單元的輸入端電連接；

所述方法包括：在對所述顯示面板進行陣列測試時，控制多個所述開關(guān)單元關(guān)閉，并通過多個所述第一測試墊施加第一測試信號到與所述第一測試墊相對應(yīng)的所述顯示面板；

在對所述顯示面板進行液晶分子取向時，控制所述多個開關(guān)單元導(dǎo)通，并通過所述第二測試墊將第二測試信號施加到多個所述顯示面板。

可選地，在對所述顯示面板進行陣列測試時，通過所述第二測試墊輸入控制信號，控制多個所述開關(guān)單元關(guān)閉，并通過多個所述第一測試墊施加第一測試信號到與所述第一測試墊相對應(yīng)的所述顯示面板；

在對所述顯示面板進行液晶分子取向時，通過所述第二測試墊輸入所述第二測試信號控制所述多個開關(guān)單元導(dǎo)通，并將第二測試信號施加到多個所述顯示面板。

可選地，所述測試電路還包括多個第三測試墊，每一顯示面板對應(yīng)一所述第三測試墊，每一所述第三測試墊與對應(yīng)的所述開關(guān)單元的輸入端電連接；所述第一測試墊和所述第三測試墊相鄰設(shè)置；

在對所述顯示面板進行陣列測試時，通過所述第三測試墊輸入控制信號，控制多個所述開關(guān)單元關(guān)閉，并通過多個所述第一測試墊施加第一測試信號到與所述第一測試墊相對應(yīng)的所述顯示面板；

在對所述顯示面板進行液晶分子取向時，通過所述第二測試墊輸入所述第二測試信號控制所述多個開關(guān)單元導(dǎo)通，并將第二測試信號施加到多個所述顯示面板。

可選地，所述開關(guān)單元為三極管；所述三極管的輸入端和控制端短接作為所述開關(guān)單元的輸入端；所述三極管的輸出端為所述開關(guān)單元的輸出端。

可選地，所述開關(guān)單元為二極管；所述二極管的輸入端為所述開關(guān)單元的輸入端，所述二極管的輸出端為所述開關(guān)單元的輸出端。

本發(fā)明實施例提供了一種顯示面板的測試電路及測試方法，通過在測試電路中設(shè)置多個開關(guān)單元、多條第一測試引線、多個第一測試墊、第二測試墊和第二測試引線，且每一個第一測試墊與對應(yīng)的開關(guān)單元的輸出端電連接，第二測試墊和第二測試引線均與多個開關(guān)單元的輸入端電連接，在對顯示面板進行陣列測試時開關(guān)單元關(guān)閉，實現(xiàn)了在進行陣列測試時分別對每個顯示面板進行測試，提高了陣列測試的精準度；在對顯示面板進行液晶分子取向時開關(guān)單元導(dǎo)通，實現(xiàn)了在進行液晶分子取向時同時對多個顯示面板內(nèi)形成預(yù)傾角，提高了對顯示面板進行液晶分子取向的效率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例提供的一種顯示面板的檢測電路；

圖2為本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的檢測電路；

圖3為本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的檢測電路；

圖4為本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的檢測電路。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步的詳細說明?？梢岳斫獾氖牵颂幩枋龅木唧w實施例僅僅用于解釋本發(fā)明，而非對本發(fā)明的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分而非全部結(jié)構(gòu)。

圖1為本發(fā)明實施例提供的一種顯示面板的檢測電路，如圖1所示，本發(fā)明實施例提供的顯示面板的檢測電路包括：多個開關(guān)單元60、多條第一測試引線20、多個第一測試墊30、第二測試墊40和第二測試引線50。其中，多個顯示面板10形成在一母基板100上，每一顯示面板10對應(yīng)一開關(guān)單元60、一第一測試引線20以及一第一測試墊30，且每一第一測試引線20與對應(yīng)的顯示面板10電連接，每一第一測試墊30與對應(yīng)開關(guān)單元60的輸出端以及對應(yīng)的第一測試引線20電連接，第二測試墊40和第二測試引線50均與多個開關(guān)單元60的輸入端電連接。

可選地，多個第一測試墊30沿所述第二測試引線50的延伸方向陣列排布。將多個第一測試墊陣列排布，方便使用探針對第一測試墊施加測試信號。

需要說明的是，圖1中僅示例性地設(shè)置第二測試墊和第二測試引線與三個開關(guān)單元的輸入端電連接，本發(fā)明實施例對與第二測試墊和第二測試引線電連接的開關(guān)單元的數(shù)量不做限定。

本發(fā)明實施例提供了一種顯示面板的測試電路，通過在測試電路中設(shè)置多個開關(guān)單元60、多條第一測試引線20、多個第一測試墊30、第二測試墊40和第二測試引線50，且每一個第一測試墊30與對應(yīng)的開關(guān)單元60的輸出端電連接，第二測試墊40和第二測試引線50均與多個開關(guān)單元60的輸入端電連接，在對顯示面板進行陣列測試時開關(guān)單元60關(guān)閉，避免了多個顯示面板10之間由于由一條引線相連接因而存在測試信號干擾的問題,實現(xiàn)了在進行陣列測試時分別對每個顯示面板10進行測試，提高了陣列測試的精準度；在對顯示面板10進行液晶分子取向時開關(guān)單元60導(dǎo)通，實現(xiàn)了在進行液晶分子取向時同時對多個顯示面板10內(nèi)形成預(yù)傾角，提高了對顯示面板進行液晶分子取向的效率。另外,本發(fā)明實施例中僅僅設(shè)置一個第二測試墊40和一條第二測試引線50,相對于現(xiàn)有技術(shù)中每一顯示面板10均需要設(shè)置一第二測試引線50和一第二測試墊40的情況來說,簡化了線路,節(jié)約了成本。其中，對顯示面板液晶分子取向，例如可以在液晶中加入化學單體，在配向過程中，化學單體受到紫外線照射聚合形成聚合物凸點，用于固定液晶形成預(yù)傾角。具體過程可以為：對顯示面板施加配向電壓序列，液晶在電場作用下有序傾倒，接著保持電壓不變，同時使用紫外線照射顯示面板，顯示面板中的化學單體在紫外線照射的條件下聚合，形成有序排列的聚合物凸點，從而使顯示面板形成預(yù)傾角，進一步地使液晶分子在顯示面板的預(yù)傾角作用下有序排列。

圖2為本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的檢測電路，如圖2所示，在上述實施例的基礎(chǔ)上，測試電路還包括多個第三測試墊70，每一個顯示面板10對應(yīng)一第三測試墊70，每一第三測試墊70與對應(yīng)的開關(guān)單元60的輸入端電連接，第一測試墊30和第三測試墊70相鄰設(shè)置。由于對顯示面板10進行陣列測試時，需要在第一測試墊30上施加測試信號，且需要保證多個顯示面板10之間不能有相互的信號干擾，即需要開關(guān)單元60處于關(guān)閉狀態(tài)，因此將第一測試墊30和第三測試墊70相鄰設(shè)置，方便使用探針將信號源發(fā)出的信號同時加載在第一測試墊30和第三測試墊70上，通過第三測試墊70控制開關(guān)單元60關(guān)閉，同時通過第一測試墊30發(fā)送測試信號到顯示面板10。

圖3為本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的檢測電路，如圖3所示，在上述實施例的基礎(chǔ)上，開關(guān)單元60為三極管，三極管的輸入端和控制端短接作為開關(guān)單元60的輸入端，三極管的輸出端為開關(guān)單元60的輸出端。三極管具體可以采用電子三極管、場效應(yīng)管、薄膜晶體管等。對于場效應(yīng)管和薄膜晶體管來說，其輸入端可以是源極或漏極，其輸出端可以是漏極或源極，其控制端可以是柵極?？梢岳斫獾氖?，本實施方式中，測試電路也可以包括多個第三測試墊，每一顯示面板對應(yīng)一第三測試墊，每一第三測試墊與對應(yīng)的開關(guān)單元(例如本實施例中的三極管)的輸入端電連接，第一測試墊和第三測試墊相鄰設(shè)置。

圖4為本發(fā)明實施例提供的另一種顯示面板的檢測電路，如圖4所示，在上述實施例的基礎(chǔ)上，開關(guān)單元60為二極管，二極管的輸入端為開關(guān)單元60的輸入端，二極管的輸出端為開關(guān)單元60的輸出端。可以理解的是，本實施方式中，測試電路也可以包括多個第三測試墊，每一顯示面板對應(yīng)一第三測試墊，每一第三測試墊與對應(yīng)的開關(guān)單元(例如本實施例中的二極管)的輸入端電連接，第一測試墊和第三測試墊相鄰設(shè)置。

在某些實施例中，顯示面板可例如為液晶顯示面板、量子點液晶顯示面板或其他顯示面板，顯示面板可以應(yīng)用在例如手機、平板電腦或電視上。

需要說明的是，圖1-圖4中所示母基板100可以采用玻璃基板來制作，在同一母基板100上同時制作多個顯示面板10，相對于一次只制作單個顯示面板10提高了顯示面板10的制作效率，在對母基板100上的多個顯示面板10進行陣列測試和液晶分子取向后，將母基板100進行切割以便得到獨立的顯示面板10，上述測試電路在對母基板100進行切割的過程中可以被切割去除，即切割完成后獨立的顯示面板10中可以不包含上述測試電路。

本發(fā)明實施例還提供了一種顯示面板的測試方法，請參照圖1、圖2、圖3、圖4，顯示面板的測試電路包括：多個開關(guān)單元60、多條第一測試引線20、多個第一測試墊30、第二測試墊40和第二測試引線50。其中，每一顯示面板10對應(yīng)一開關(guān)單元60、一第一測試引線20以及一第一測試墊30，且每一第一測試引線20與對應(yīng)的顯示面板10電連接，每一第一測試墊30與對應(yīng)開關(guān)單元60的輸出端以及對應(yīng)的第一測試引線20電連接，第二測試墊40和第二測試引線50均與多個開關(guān)單元60的輸入端電連接。

本發(fā)明實施例提供的顯示面板的測試方法包括：在對顯示面板10進行陣列測試時，控制多個開關(guān)單元60關(guān)閉，并通過多個第一測試墊40施加第一測試信號到與第一測試墊30相對應(yīng)的顯示面板10；在對顯示面板10進行液晶分子取向時，控制多個開關(guān)單元60導(dǎo)通，并通過第二測試墊50將第二測試信號施加到多個顯示面板10。

在一實施方式中，在對顯示面板10進行陣列測試時，通過第二測試墊40輸入控制信號，控制多個開關(guān)單元60關(guān)閉，并通過多個第一測試墊20施加第一測試信號到與第一測試墊20相對應(yīng)的顯示面板10；在對顯示面板10進行液晶分子取向時，通過第二測試墊40輸入第二測試信號控制多個開關(guān)單元60導(dǎo)通，并將第二測試信號施加到多個顯示面板10。

在另一實施方式中，測試電路還包括多個第三測試墊70，每一顯示面板10對應(yīng)一第三測試墊70，每一第三測試墊70與對應(yīng)的開關(guān)單元60的輸入端電連接，第一測試墊30和第三測試墊70相鄰設(shè)置，在對顯示面板10進行陣列測試時，通過第三測試墊70輸入控制信號，控制多個開關(guān)單元60關(guān)閉，并通過多個第一測試墊30施加第一測試信號到與第一測試墊30相對應(yīng)的顯示面板10，在對顯示面板10進行液晶分子取向時，通過第二測試墊40輸入第二測試信號控制多個開關(guān)單元60導(dǎo)通，并將第二測試信號施加到多個顯示面板10。

可選地，開關(guān)單元60為三極管，三極管的輸入端和控制端短接作為開關(guān)單元60的輸入端，三極管的輸出端為開關(guān)單元60的輸出端。三極管具體可以采用電子三極管、場效應(yīng)管、薄膜晶體管等。對于場效應(yīng)管和薄膜晶體管來說，其輸入端可以是源極或漏極，其輸出端可以是漏極或源極，其控制端可以是柵極。在對顯示面板10進行陣列測試時，控制多個三極管關(guān)閉，例如施加一低電平信號控制多個三極管關(guān)閉，并通過多個第一測試墊30施加第一測試信號到與第一測試墊30相對應(yīng)的顯示面板10；在對顯示面板10進行液晶分子取向時，通過第二測試墊40輸入第二測試信號控制多個三極管導(dǎo)通，并將第二測試信號施加到多個顯示面板10。在其他實施方式中還可以為，在對顯示面板10進行陣列測試時，并沒有在三極管的柵極施加控制信號，此時三極管的柵極是關(guān)閉的，通過第一測試墊30施加第一測試信號到與第一測試墊30相對應(yīng)的顯示面板。需要說明的是，在對顯示面板10進行陣列測試時，可以通過第二測試墊40或第三測試墊70輸入控制信號，控制多個三極管關(guān)閉。

可選地，開關(guān)單元60為二極管，二極管的輸入端為開關(guān)單元60的輸入端，二極管的輸出端為開關(guān)單元60的輸出端。在對顯示面板10進行陣列測試時，控制多個二極管關(guān)閉，例如二極管的pn結(jié)加反向電壓，二極管的pn結(jié)截止，呈現(xiàn)出高電阻，并通過多個第一測試墊30施加第一測試信號到與第一測試墊30相對應(yīng)的顯示面板10；在對顯示面板10進行液晶分子取向時，通過第二測試墊40輸入第二測試信號控制多個二極管導(dǎo)通，例如二極管的pn結(jié)加正向電壓，二極管的pn結(jié)導(dǎo)通，呈現(xiàn)出低電阻，并將第二測試信號施加到多個顯示面板10。

本發(fā)明實施例提供了一種顯示面板的測試方法，通過控制多個開關(guān)單元60在對顯示面板10進行陣列測試時關(guān)閉，避免了多個顯示面板10之間由于由一條引線相連接因而存在測試信號干擾的問題,實現(xiàn)了在進行陣列測試時分別對每個顯示面板10進行測試，提高了陣列測試的精準度；通過控制多個開關(guān)單元60在對顯示面板10進行液晶分子取向時導(dǎo)通，實現(xiàn)了在進行液晶分子取向時同時對多個顯示面板10進行測試，提高了對顯示面板進行液晶分子取向的效率。

注意，上述僅為本發(fā)明的實施例及所運用技術(shù)原理。本領(lǐng)域技術(shù)人員會理解，本發(fā)明不限于這里所述的特定實施例，對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說能夠進行各種明顯的變化、重新調(diào)整和替代而不會脫離本發(fā)明的保護范圍。因此，雖然通過以上實施例對本發(fā)明進行了較為詳細的說明，但是本發(fā)明不僅僅限于以上實施例，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的情況下，還可以包括更多其他等效實施例，而本發(fā)明的范圍由所附的權(quán)利要求范圍決定。