一種高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，連接測試器件，所述測試器件內(nèi)部包括激光驅(qū)動器和限幅放大器，所述測試器件引出四對輸入輸出管腳：TINP/TINN輸入管腳、TOP/TON輸出管腳、RINP/RINN輸入管腳和ROP/RON輸出管腳，所述測試系統(tǒng)包括誤碼儀、測試控制器和測試機(jī)，其中：所述測試機(jī)輸出遠(yuǎn)程控制命令，所述測試控制器將接收的遠(yuǎn)程控制命令轉(zhuǎn)發(fā)給所述誤碼儀，所述誤碼儀發(fā)出高頻數(shù)字信號經(jīng)測試器件，對返回的模擬信號處理后得到傳輸誤碼率，測試控制器抓取傳輸誤碼率并轉(zhuǎn)發(fā)給所述測試機(jī)。本發(fā)明可以很好地進(jìn)行相關(guān)的誤碼率測試，精度達(dá)到5G數(shù)量級，而且速度很快，便于特殊需求的集成電路的誤碼率測試。
【專利說明】一種高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及集成電路參數(shù)測試領(lǐng)域，尤其涉及一種高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著通信技術(shù)的不斷發(fā)展，通信系統(tǒng)向著工作頻率更高，信號處理更快的方向發(fā)展。在數(shù)字通信系統(tǒng)的性能測試中，通常需要對誤碼性能進(jìn)行測量，誤碼率測試一般采用專用測試設(shè)備完成，比如Verigy公司的93000等，這類設(shè)備系統(tǒng)功能強(qiáng)大，性能穩(wěn)定。但是對于一些客戶對于高頻率器件的誤碼率測試在IG以上的測試要求，無法簡單地實(shí)現(xiàn)，當(dāng)前只能采取一些間接測試的方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，采用測試機(jī)外掛高頻設(shè)備，可以很好地進(jìn)行相關(guān)的誤碼率測試，精度達(dá)到5G數(shù)量級，而且速度很快，便于特殊需求的集成電路的誤碼率測試，使用方便。
[0004]實(shí)現(xiàn)上述目的的技術(shù)方案是:
[0005]一種高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，連接測試器件，所述測試器件內(nèi)部包括激光驅(qū)動器和限幅放大器，所述測試器件引出四對輸入輸出管腳:TINP/TINN輸入管腳、Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳、RINP/RINN輸入管腳和R0P/R0N輸出管腳，
[0006]所述測試系統(tǒng)包括誤碼儀、測試控制器和測試機(jī)，其中:
[0007]所述測試機(jī)輸出遠(yuǎn)程控制命令給所述測試控制器；
[0008]所述測試控制器一方面將接收的遠(yuǎn)程控制命令轉(zhuǎn)發(fā)給所述誤碼儀；另一方面抓取所述誤碼儀測試得到的傳輸誤碼率，并轉(zhuǎn)發(fā)給所述測試機(jī)；
[0009]所述誤碼儀接收所述遠(yuǎn)程控制命令，發(fā)出高頻數(shù)字信號自所述TINP/TINN輸入管腳進(jìn)入所述測試器件，經(jīng)所述激光驅(qū)動器處理后從所述Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳輸出，長距離光信號傳輸后自所述RINP/RINN輸入管腳返回所述測試器件，然后經(jīng)所述限幅放大器處理后從所述R0P/R0N輸出管腳輸出模擬信號返回所述誤碼儀，最后經(jīng)所述誤碼儀處理后得到傳輸誤碼率。
[0010]上述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)中，所述激光驅(qū)動器輸出端為Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳；所述限幅放大器輸出端為R0P/R0N輸出管腳。
[0011 ] 上述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)中，與所述TINP/TINN輸入管腳、Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳、RINP/RINN輸入管腳和R0P/R0N輸出管腳相接的線纜均使用射頻電纜。
[0012]上述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)中，所述測試系統(tǒng)還包括可擦寫存儲器，用于所述測試器件的初始化。
[0013]上述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)中，所述測試系統(tǒng)還包括并接在所述Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳上的兩個(gè)第一電阻以及并接在所述R0P/R0N輸出管腳上的兩個(gè)第二電阻，所述第一電阻和第二電阻均用于模仿負(fù)載阻抗。[0014]上述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)中，所述第一電阻和第二電阻的阻值均為50ohm± 15ohm。
[0015]上述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)中，所述測試系統(tǒng)還包括串接在所述TINP/TINN輸入管腳上的兩個(gè)第一電容，以及串接在所述RINP/RINN輸入管腳上的兩個(gè)第二電容，用于優(yōu)化輸入信號。
[0016]上述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)中，所述第一電容和第二電容的電容值均為0.1uF ±10%。
[0017]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明通過外掛的方式，即采用V50測試機(jī)外掛高頻設(shè)備，來實(shí)現(xiàn)5G級別的誤碼率的測試，并通過程序化的測試控制器實(shí)現(xiàn)外掛高頻設(shè)備與測試機(jī)的通信，以及配備上拉電阻、隔直電容等具備較好的測試的匹配度。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]圖1是本發(fā)明的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
[0020]請參閱圖1，測試器件10內(nèi)部包括激光驅(qū)動器和限幅放大器，測試器件10引出四對輸入輸出管腳(即:四對輸入輸出差分對):TINP/TINN輸入管腳、Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳、RINP/RINN輸入管腳和R0P/R0N輸出管腳。
[0021]本發(fā)明的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，包括誤碼儀1、測試控制器2和測試機(jī)(圖中未示)，其中:測試機(jī)上運(yùn)行誤碼儀I用戶軟件，以此充當(dāng)網(wǎng)關(guān)，作為遠(yuǎn)程控制程序，即測試控制器2。
[0022]測試機(jī)輸出遠(yuǎn)程控制命令給測試控制器2，測試控制器2將遠(yuǎn)程控制命令通過USB轉(zhuǎn)發(fā)給誤碼儀1，誤碼儀I根據(jù)遠(yuǎn)程控制命令發(fā)出高頻數(shù)字信號，從TINP/TINN輸入管腳進(jìn)入測試器件10，經(jīng)激光驅(qū)動器處理后從Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳輸出，長距離光信號傳輸后自RINP/RINN輸入管腳返回測試器件10，作為限幅放大器的輸入信號，然后經(jīng)限幅放大器處理后從R0P/R0N輸出管腳輸出模擬信號返回誤碼儀1，最后經(jīng)誤碼儀I處理后得到傳輸誤碼率，測試控制器2抓取傳輸誤碼率并轉(zhuǎn)發(fā)給測試機(jī)。測試控制器2還連接測試器件10 ；
[0023]本實(shí)施例中，測試機(jī)選用SCUD V50，其是插板式的測試機(jī)，有邏輯板，混合信號板和OPM板?？梢詼y試數(shù)字類、模擬類和數(shù)模混合1C。測試頻率可以最大為50MHz。最大通道數(shù)為256。pattren深度為17M。V50模擬板的最大量測電壓為-15V?+40V，最大量測電流為±1.8Α。
[0024]誤碼儀I選用Agilent5980A，它是一款專為高速數(shù)字通信元器件和系統(tǒng)測試而設(shè)計(jì)的通用誤碼率測試儀。提供速率最高為12.5Gb/s的碼型發(fā)生和誤差檢測功能。波形轉(zhuǎn)換時(shí)間小于25ps。輸入靈敏度小于50mV pp,粹發(fā)模式功能,快速位模式同步,預(yù)定義標(biāo)準(zhǔn)兼容模式(Sonet/SDH/以太網(wǎng)/PC總線)，采用差分輸入來測試LVDS和其它差分接口。LAN、USB2.0 和 GPIB 端口。
[0025]本發(fā)明中測試回路中的信號通路，以及測試器件10與誤碼儀I的信號通路，能否不失真的完成信號傳輸，是關(guān)系到測試成功與否的主要技術(shù)難點(diǎn)。[0026]網(wǎng)絡(luò)信道的阻抗失配是引起網(wǎng)絡(luò)傳輸誤碼和速度減慢的主要原因，阻抗的變化范圍為標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的50±15歐姆。
[0027]因此，本發(fā)明的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，還包括可擦寫存儲器3、兩個(gè)第一電阻R1、兩個(gè)第二電阻R2、兩個(gè)第一電容Cl和兩個(gè)第二電容C2，其中:
[0028]可擦寫存儲器3用于測試器件10的初始化；
[0029]兩個(gè)第一電阻Rl并接在Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳上，兩個(gè)第二電阻R2并接在R0P/R0N輸出管腳上，第一電阻Rl和第二電阻R2均用于模仿負(fù)載阻抗，第一電阻Rl和第二電阻R2的阻值均為50ohm±15ohm。
[0030]兩個(gè)第一電容Cl串接在TINP/TINN輸入管腳上，兩個(gè)第二電容C2串接在RINP/RINN輸入管腳上,用于優(yōu)化輸入信號。第一電容Cl和第二電容C2的電容值均為
0.1uF ±10%。
[0031]大多數(shù)阻抗失配問題發(fā)生在測量儀和線纜之間的連接，四對輸入輸出差分對:TINP/TINN，TOP/TON, RINP/RINN, R0P/R0N,均使用SAM射頻電纜，能確保通路阻抗匹配。激光驅(qū)動器輸出端為Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳；限幅放大器輸出端為R0P/R0N輸出管腳，本測試上差分對走線同樣要做好阻抗匹配。信號走線盡量直且短。
[0032]以上實(shí)施例僅供說明本發(fā)明之用，而非對本發(fā)明的限制，有關(guān)【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以作出各種變換或變型，因此所有等同的技術(shù)方案也應(yīng)該屬于本發(fā)明的范疇，應(yīng)由各權(quán)利要求所限定。
【權(quán)利要求】
1.一種高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，連接測試器件，所述測試器件內(nèi)部包括激光驅(qū)動器和限幅放大器，所述測試器件引出四對輸入輸出管腳:TINP/TINN輸入管腳、TOP/TON輸出管腳、RINP/RINN輸入管腳和R0P/R0N輸出管腳， 其特征在于，所述測試系統(tǒng)包括誤碼儀、測試控制器和測試機(jī)，其中: 所述測試機(jī)輸出遠(yuǎn)程控制命令給所述測試控制器； 所述測試控制器一方面將接收的遠(yuǎn)程控制命令轉(zhuǎn)發(fā)給所述誤碼儀；另一方面抓取所述誤碼儀測試得到的傳輸誤碼率，并轉(zhuǎn)發(fā)給所述測試機(jī)； 所述誤碼儀接收所述遠(yuǎn)程控制命令，發(fā)出高頻數(shù)字信號自所述TINP/TINN輸入管腳進(jìn)入所述測試器件，經(jīng)所述激光驅(qū)動器處理后從所述Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳輸出，長距離光信號傳輸后自所述RINP/RINN輸入管腳返回所述測試器件，然后經(jīng)所述限幅放大器處理后從所述R0P/R0N輸出管腳輸出模擬信號返回所述誤碼儀，最后經(jīng)所述誤碼儀處理后得到傳輸誤碼率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，其特征在于，所述激光驅(qū)動器輸出端為Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳；所述限幅放大器輸出端為R0P/R0N輸出管腳。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，其特征在于，與所述TINP/TINN輸入管腳、Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳、RINP/RINN輸入管腳和R0P/R0N輸出管腳相接的線纜均使用射頻電纜。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)還包括可擦寫存儲器，用于所述測試器件的初始化。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)還包括并接在所述Τ0Ρ/Τ0Ν輸出管腳上的兩個(gè)第一電阻以及并接在所述R0P/R0N輸出管腳上的兩個(gè)第二電阻，所述第一電阻和第二電阻均用于模仿負(fù)載阻抗。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一電阻和第二電阻的阻值均為50ohm±15ohm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)還包括串接在所述TINP/TINN輸入管腳上的兩個(gè)第一電容，以及串接在所述RINP/RINN輸入管腳上的兩個(gè)第二電容，用于優(yōu)化輸入信號。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的高頻動態(tài)誤碼率測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一電容和第二電容的電容值均為0.luF±10%。
【文檔編號】H04B17/00GK103795485SQ201410079544
【公開日】2014年5月14日 申請日期:2014年3月6日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月6日
【發(fā)明者】聶紀(jì)平, 趙靜 申請人:上海貝嶺股份有限公司