技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法和裝置，非揮發(fā)性存儲器包括自測試控制器，非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項(xiàng)目信息，方法包括：在上電后，通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志；如果是，通過自測試控制器根據(jù)待測試項(xiàng)目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對各待測試項(xiàng)目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項(xiàng)目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項(xiàng)目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。本發(fā)明使得老化測試簡單方便，大幅降低了老化測試對測試設(shè)備的要求，測試成本更低。

技術(shù)研發(fā)人員：胡洪
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2016.04.21
技術(shù)公布日：2017.10.31