本發(fā)明涉及存儲器技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法和一種非揮發(fā)性存儲器的自測試裝置。

背景技術(shù)：

存儲器由于容量大，器件密度高，存在嚴(yán)重的早期失效問題，且這個問題隨著存儲器工藝尺寸的縮小而加劇。存儲器的失效概率與使用次數(shù)之間的關(guān)系符合圖1所示浴缸曲線的特性，即開始使用時存儲器的失效概率高，當(dāng)達(dá)到一定使用次數(shù)后存儲器的失效概率就會大幅降低，直到達(dá)到存儲器的使用壽命后，存儲器的失效概率會繼續(xù)升高。通過老化測試能夠提高存儲器的可靠性。老化測試即在存儲器出廠之前，對存儲器進(jìn)行反復(fù)地擦除、寫、讀等操作，讓早期失效的存儲器個體被檢測出來，這樣出廠時候的產(chǎn)品失效概率已經(jīng)處于浴缸曲線的底部，失效概率大幅降低。

現(xiàn)有老化測試方法是使用老化測試設(shè)備，對存儲器依次進(jìn)行擦、寫、校驗以及所需的其他操作，并循環(huán)特定的次數(shù)，從而篩除早期失效的存儲器個體。

但是，現(xiàn)有老化測試方法中還存在以下缺點：在批量生產(chǎn)存儲器的時候，需要用老化測試設(shè)備對存儲器進(jìn)行反復(fù)的擦除、寫、讀等操作，時間很長，由于老化測試設(shè)備昂貴，而且單位時間的測試費用也比較昂貴，因此，現(xiàn)有老化測試方法的測試成本很高，造成存儲器產(chǎn)品成本上升。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

鑒于上述問題，本發(fā)明實施例的目的在于提供一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法和一種非揮發(fā)性存儲器的自測試裝置，以解決現(xiàn)有老化測試方法的測試成本很高，造成存儲器產(chǎn)品成本上升的問題。

為了解決上述問題，本發(fā)明實施例公開了一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法，所述非揮發(fā)性存儲器包括自測試控制器，所述非揮發(fā)性存儲器的第一 預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息，所述自測試方法包括以下步驟：在所述非揮發(fā)性存儲器上電后，通過所述自測試控制器判斷所述啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志；當(dāng)所述啟動標(biāo)志為使能標(biāo)志時，通過所述自測試控制器根據(jù)所述待測試項目信息對所述非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對所述待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于所述最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為所述非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置所述第一預(yù)設(shè)存儲空間中的所述啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，若任一待測試項目的測試結(jié)果為所述非揮發(fā)性存儲器失效，則通過所述自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至所述非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。

可選地，在所述設(shè)置所述第一預(yù)設(shè)存儲空間中的所述啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志時，包括：擦除所述第一預(yù)設(shè)存儲空間中的所述啟動標(biāo)志。

可選地，在所述通過所述自測試控制器根據(jù)所述待測試項目信息對所述非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試時，還包括：若任一待測試項目的測試結(jié)果為所述非揮發(fā)性存儲器有效，通過所述自測試控制器記錄對應(yīng)的項目通過信息至所述第二預(yù)設(shè)存儲空間。

可選地，所述通過所述自測試控制器根據(jù)所述待測試項目信息對所述非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，包括：當(dāng)所述待測試項目為擦除操作測試時，通過所述自測試控制器對所述非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行擦除操作和校驗，若校驗失敗，則判斷所述待測試項目的測試結(jié)果為所述非揮發(fā)性存儲器失效；當(dāng)所述待測試項目為寫操作測試時，通過所述自測試控制器對所述非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行寫操作和校驗，若校驗失敗，則判斷所述待測試項目的測試結(jié)果為所述非揮發(fā)性存儲器失效。

可選地，所述非揮發(fā)性存儲器與所述測試設(shè)備相連，所述自測試方法還包括：通過所述非揮發(fā)性存儲器接收所述測試設(shè)備發(fā)送的信息讀取指令；通過所述非揮發(fā)性存儲器發(fā)送所述第二預(yù)設(shè)存儲空間中的信息至所述測試設(shè)備。

為了解決上述問題，本發(fā)明實施例還公開了一種非揮發(fā)性存儲器的自測 試裝置，所述非揮發(fā)性存儲器包括自測試控制器，所述非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息，所述自測試裝置包括：判斷模塊，用于在所述非揮發(fā)性存儲器上電后，通過所述自測試控制器判斷所述啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志；測試模塊，用于當(dāng)所述啟動標(biāo)志為使能標(biāo)志時，通過所述自測試控制器根據(jù)所述待測試項目信息對所述非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對所述待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于所述最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為所述非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置所述第一預(yù)設(shè)存儲空間中的所述啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，若任一待測試項目的測試結(jié)果為所述非揮發(fā)性存儲器失效，則通過所述自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至所述非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。

可選地，所述測試模塊在所述設(shè)置所述第一預(yù)設(shè)存儲空間中的所述啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志時，包括：啟動標(biāo)志擦除單元，用于擦除所述第一預(yù)設(shè)存儲空間中的所述啟動標(biāo)志。

可選地，所述測試模塊在所述通過所述自測試控制器根據(jù)所述待測試項目信息對所述非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試時，還用于：若任一待測試項目的測試結(jié)果為所述非揮發(fā)性存儲器有效，通過所述自測試控制器記錄對應(yīng)的項目通過信息至所述第二預(yù)設(shè)存儲空間。

可選地，所述測試模塊包括：第一測試單元，用于當(dāng)所述待測試項目為擦除操作測試時，通過所述自測試控制器對所述非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行擦除操作和校驗，若校驗失敗，則判斷所述待測試項目的測試結(jié)果為所述非揮發(fā)性存儲器失效；第二測試單元，用于當(dāng)所述待測試項目為寫操作測試時，通過所述自測試控制器對所述非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行寫操作和校驗，若校驗失敗，則判斷所述待測試項目的測試結(jié)果為所述非揮發(fā)性存儲器失效。

可選地，所述非揮發(fā)性存儲器與所述測試設(shè)備相連，所述自測試裝置還包括：第二接收模塊，用于通過所述非揮發(fā)性存儲器接收所述測試設(shè)備發(fā)送的信息讀取指令；發(fā)送模塊，用于通過所述非揮發(fā)性存儲器發(fā)送所述第二預(yù)設(shè)存儲空間中的信息至所述測試設(shè)備。

本發(fā)明實施例包括以下優(yōu)點：通過在非揮發(fā)性存儲器中嵌入自測試控制器，和通過非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備預(yù)先寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息。在非揮發(fā)性存儲器上電后，首先通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志，如果是，通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。

這樣，上電后，對非揮發(fā)性存儲器的老化測試由非揮發(fā)性存儲器內(nèi)的自測試控制器自動完成，且利用非揮發(fā)性存儲器的特點，在自測試控制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行老化自測試過程中記錄測試相關(guān)的信息例如項目失效信息，測試設(shè)備只需提前將啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息寫入第一預(yù)設(shè)存儲空間，和在非揮發(fā)性存儲器自測試完成后讀取測試相關(guān)的信息，就可以實現(xiàn)對失效非揮發(fā)性存儲器個體的篩除，且測試設(shè)備無需對非揮發(fā)性存儲器再進(jìn)行最后一遍全功能的測試。本發(fā)明實施例不僅簡化了老化測試流程，提高了老化測試的便利性和批量生產(chǎn)存儲器時的產(chǎn)出效率，還大幅降低了老化測試對測試設(shè)備的要求，進(jìn)而降低了產(chǎn)品老化測試成本。

附圖說明

圖1是存儲器的失效概率與使用次數(shù)之間的關(guān)系示意圖；

圖2是本發(fā)明的一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法實施例的步驟流程圖；

圖3是本發(fā)明的另一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法實施例的步驟流程圖；

圖4是本發(fā)明的一種非揮發(fā)性存儲器的自測試裝置實施例的結(jié)構(gòu)框圖；

圖5是本發(fā)明的另一種非揮發(fā)性存儲器的自測試裝置實施例的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

實施例一

參照圖2，示出了本發(fā)明的一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法實施例的步驟流程圖，非揮發(fā)性存儲器包括自測試控制器，自測試控制器可以嵌入或集成在非揮發(fā)性存儲器內(nèi)部，非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息，自測試方法具體可以包括如下步驟：

s21，在非揮發(fā)性存儲器上電后，通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志。

其中，非揮發(fā)性存儲器(nvram，non-volatilememory)是指當(dāng)系統(tǒng)關(guān)閉或無電源供應(yīng)時，所存儲的信息不會消失的存儲器。例如，eprom(erasableprogrammableread-onlymemory，可擦可編程式只讀存儲器)、eeprom(electricallyerasableprogrammableread-onlymemory，電子可擦除可編程式只讀存儲器、flashmemory(閃存存儲器)等。

步驟s21可以通過自測試控制器讀取第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲的啟動標(biāo)志，進(jìn)而判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志。具體地，啟動標(biāo)志可以為預(yù)設(shè)標(biāo)志位，此時，可以設(shè)置啟動標(biāo)志的值為1時為使能標(biāo)志，或可以設(shè)置啟動標(biāo)志的值為0時為使能標(biāo)志。

s22，當(dāng)啟動標(biāo)志為使能標(biāo)志時，通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，若任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，則通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。

步驟s22可以通過自測試控制器讀取第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲的最大測 試次數(shù)、待測試項目信息，進(jìn)而根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試。

具體地，若非揮發(fā)性存儲器可執(zhí)行的操作為擦除操作、寫操作、尋址操作、修改數(shù)據(jù)操作等操作，則待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目可以為擦除操作測試、寫操作測試、尋址操作測試、修改數(shù)據(jù)操作測試等測試項目中的一個或多個。需要說明的是，在本發(fā)明的其它實施例中，非揮發(fā)性存儲器可執(zhí)行的操作由非揮發(fā)性存儲器自身情況決定，可以為擦除操作、寫操作、尋址操作、修改數(shù)據(jù)操作或其它操作中的一個或多個。

其中，在本發(fā)明的一個實施例中，步驟s22可以通過自測試控制器根據(jù)各待測試項目依次對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試。步驟s22中對各待測試項目的測試次數(shù)可以理解為，通過自測試控制器根據(jù)各待測試項目依次對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試時，循環(huán)的次數(shù)或?qū)Ψ菗]發(fā)性存儲器進(jìn)行測試的總次數(shù)。任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，可以理解為當(dāng)任一待測試項目的測試結(jié)果為測試失敗時，則自測試控制器判斷非揮發(fā)性存儲器失效。具體地，項目失效信息可以包括失效的項目名稱、失效時的測試次數(shù)以及其它與項目失效相關(guān)的信息。

需要說明的是，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志后，若非揮發(fā)性存儲器再次上電，步驟s21可以通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志，不會進(jìn)入步驟s22，用戶可以正常操作非揮發(fā)性存儲器。其中，若啟動標(biāo)志的值為1時為使能標(biāo)志，則步驟s22在設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志時，可以設(shè)置啟動標(biāo)志的值為0或擦除啟動標(biāo)志。

具體地，在本發(fā)明的一個實施例中，用戶僅能夠操作非揮發(fā)性存儲器中除第一預(yù)設(shè)存儲空間、第二預(yù)設(shè)存儲空間之外的存儲空間，例如，對于1g的非揮發(fā)性存儲器，非揮發(fā)性存儲器的實際存儲空間可以為1g加第一預(yù)設(shè)存儲空間、第二預(yù)設(shè)存儲空間之和，用戶僅可操作該1g存儲空間。其中，第一預(yù)設(shè)存儲空間的大小可以根據(jù)啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息的大小等在生產(chǎn)非揮發(fā)性存儲器時進(jìn)行設(shè)置，第二預(yù)設(shè)存儲空間的大小可以根據(jù)測試需求等在生產(chǎn)非揮發(fā)性存儲器時進(jìn)行設(shè)置。

在步驟s22之后，測試設(shè)備只需讀取第二預(yù)設(shè)存儲空間的信息，就可以確定當(dāng)前非揮發(fā)性存儲器是否失效，進(jìn)而確定是否篩除當(dāng)前非揮發(fā)性存儲器，且在該過程中，測試設(shè)備無需對該當(dāng)前非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行老化測試和再進(jìn)行最后一遍全功能的測試等，因此，不僅簡化了老化測試流程，提高了老化測試的便利性和批量生產(chǎn)存儲器時的產(chǎn)出效率，還大幅降低了老化測試對測試設(shè)備的要求，進(jìn)而降低了產(chǎn)品老化測試成本。

在本發(fā)明的一個具體實施例中，在非揮發(fā)性存儲器例如flashmemory上電后，自測試控制器讀取啟動標(biāo)志，進(jìn)而判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志，例如判斷啟動標(biāo)志的值是否為1，如果是，步驟s22通過自測試控制器讀取最大測試次數(shù)例如10次和待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目例如擦除操作測試和寫操作測試，進(jìn)而通過自測試控制器根據(jù)各待測試項目依次對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行擦除操作測試和寫操作測試，直至循環(huán)的次數(shù)等于10次，或直至擦除操作測試和寫操作測試中任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志，例如設(shè)置啟動標(biāo)志的值是否為0。當(dāng)擦除操作測試和寫操作測試中任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效時，通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息例如失效的項目名稱、失效時的測試次數(shù)等至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。

本發(fā)明實施例一包括以下優(yōu)點：通過在非揮發(fā)性存儲器中嵌入自測試控制器，和通過非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備預(yù)先寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息。在非揮發(fā)性存儲器上電后，首先通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志。如果是，通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。

這樣，上電后，對非揮發(fā)性存儲器的老化測試由非揮發(fā)性存儲器內(nèi)的自 測試控制器自動完成，且利用非揮發(fā)性存儲器的特點，在自測試控制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行老化自測試過程中記錄測試相關(guān)的信息例如項目失效信息，測試設(shè)備只需提前將啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息寫入第一預(yù)設(shè)存儲空間，和在非揮發(fā)性存儲器自測試完成后讀取測試相關(guān)的信息，就可以實現(xiàn)對失效非揮發(fā)性存儲器個體的篩除，且測試設(shè)備無需對非揮發(fā)性存儲器再進(jìn)行最后一遍全功能的測試。本發(fā)明實施例不僅簡化了老化測試流程，提高了老化測試的便利性和批量生產(chǎn)存儲器時的產(chǎn)出效率，還大幅降低了老化測試對測試設(shè)備的要求，進(jìn)而降低了產(chǎn)品老化測試成本。

實施例二

參照圖3，示出了本發(fā)明的另一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法實施例的步驟流程圖，非揮發(fā)性存儲器包括自測試控制器，非揮發(fā)性存儲器與測試設(shè)備相連，非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息，自測試方法具體可以包括如下步驟：

s31，在非揮發(fā)性存儲器上電后，通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志。

其中，最大測試次數(shù)和待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目可以根據(jù)非揮發(fā)性存儲器特性、測試需求等在生產(chǎn)非揮發(fā)性存儲器時進(jìn)行設(shè)置。

s32，當(dāng)啟動標(biāo)志為使能標(biāo)志時，通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，若任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，則通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間；通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，可以包括：

s321，當(dāng)待測試項目為擦除操作測試時，通過自測試控制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行擦除操作和校驗，若校驗失敗，則判斷待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效。

其中，步驟s321中，對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行校驗可以為在對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行擦除操作后，對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行讀操作，并判斷讀取結(jié)果是否為零，如果否，則校驗失敗。

s322，當(dāng)待測試項目為寫操作測試時，通過自測試控制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行寫操作和校驗，若校驗失敗，則判斷待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效。

其中，步驟s322中，對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行校驗可以為在對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行寫操作后，例如寫入數(shù)據(jù)a，對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行讀操作，并判斷讀取結(jié)果是否為數(shù)據(jù)a，如果否，則校驗失敗。

s323，當(dāng)待測試項目為除擦除操作測試、寫操作測試之外的其它操作測試時，通過自測試控制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行相應(yīng)的操作和校驗，若校驗失敗，則判斷待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效。

其中，步驟s323中，對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行校驗可以為在對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行相應(yīng)的操作后，對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行讀操作，并判斷讀取結(jié)果是否為預(yù)期值，如果否，則校驗失敗。

其中，在本發(fā)明的一個實施例中，步驟s32在設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志時，可以包括：

擦除第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志。

在本發(fā)明的一個實施例中，步驟s32在通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試時，還可以包括：

若任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器有效，通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目通過信息至第二預(yù)設(shè)存儲空間。

其中，項目通過信息可以為通過的項目名稱、通過時的測試次數(shù)等。步驟s32還可以通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目通過信息至非揮發(fā)性存儲器的其它存儲空間。

s33，通過非揮發(fā)性存儲器接收測試設(shè)備發(fā)送的信息讀取指令。

s34，通過非揮發(fā)性存儲器發(fā)送第二預(yù)設(shè)存儲空間中的信息至測試設(shè)備。

從而，測試設(shè)備可以讀取測試相關(guān)的信息(例如項目失效信息和/或項目 通過信息)，進(jìn)而完成對失效非揮發(fā)性存儲器個體的篩除。該過程中，測試設(shè)備只需將啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息寫入第一預(yù)設(shè)存儲空間和發(fā)送信息讀取指令，且測試設(shè)備無需對非揮發(fā)性存儲器再進(jìn)行最后一遍全功能的測試。因此，不僅可以簡化老化測試流程，提高老化測試的便利性和批量生產(chǎn)存儲器時的產(chǎn)出效率，還可以大幅降低老化測試對測試設(shè)備的要求，進(jìn)而降低產(chǎn)品老化測試成本。

本發(fā)明實施例二包括以下優(yōu)點：通過在非揮發(fā)性存儲器中嵌入自測試控制器，和通過非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備預(yù)先寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息。在非揮發(fā)性存儲器上電后，首先通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志。如果是，通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。最后通過非揮發(fā)性存儲器根據(jù)接收的信息讀取指令，發(fā)送第二預(yù)設(shè)存儲空間中的信息至測試設(shè)備。

這樣，上電后，對非揮發(fā)性存儲器的老化測試由非揮發(fā)性存儲器內(nèi)的自測試控制器自動完成，且利用非揮發(fā)性存儲器的特點，在自測試控制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行老化自測試過程中記錄測試相關(guān)的信息例如項目失效信息和/或項目通過信息，測試設(shè)備只需提前將啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息寫入第一預(yù)設(shè)存儲空間，和在非揮發(fā)性存儲器自測試完成后，發(fā)送信息讀取指令以讀取測試相關(guān)的信息，就可以實現(xiàn)對失效非揮發(fā)性存儲器個體的篩除，測試設(shè)備無需對非揮發(fā)性存儲器再進(jìn)行最后一遍全功能的測試。本發(fā)明實施例不僅簡化了老化測試流程，提高了老化測試的便利性和批量生產(chǎn)存儲器時的產(chǎn)出效率，還大幅降低了老化測試對測試設(shè)備的要求，進(jìn)而降低了產(chǎn)品老化測試成本。

需要說明的是，對于方法實施例，為了簡單描述，故將其都表述為一系 列的動作組合，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該知悉，本發(fā)明實施例并不受所描述的動作順序的限制，因為依據(jù)本發(fā)明實施例，某些步驟可以采用其他順序或者同時進(jìn)行。其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員也應(yīng)該知悉，說明書中所描述的實施例均屬于優(yōu)選實施例，所涉及的動作并不一定是本發(fā)明實施例所必須的。

實施例三

參照圖4，示出了本發(fā)明的一種非揮發(fā)性存儲器的自測試裝置實施例的結(jié)構(gòu)框圖，非揮發(fā)性存儲器包括自測試控制器，非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息，自測試裝置具體可以包括如下模塊：

判斷模塊41，用于在非揮發(fā)性存儲器上電后，通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志。

測試模塊42，用于當(dāng)啟動標(biāo)志為使能標(biāo)志時，通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，若任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，則通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。

本發(fā)明實施例三包括以下優(yōu)點：通過在非揮發(fā)性存儲器中嵌入自測試控制器，和通過非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備預(yù)先寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息。在非揮發(fā)性存儲器上電后，首先判斷模塊通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志。如果是，測試模塊通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，測試模塊通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。

這樣，上電后，對非揮發(fā)性存儲器的老化測試由非揮發(fā)性存儲器內(nèi)的自測試控制器自動完成，且利用非揮發(fā)性存儲器的特點，在自測試控制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行老化自測試過程中記錄測試相關(guān)的信息例如項目失效信息，測試設(shè)備只需提前將啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息寫入第一預(yù)設(shè)存儲空間，和在非揮發(fā)性存儲器自測試完成后讀取測試相關(guān)的信息，就可以實現(xiàn)對失效非揮發(fā)性存儲器個體的篩除，測試設(shè)備無需對非揮發(fā)性存儲器再進(jìn)行最后一遍全功能的測試。本發(fā)明實施例不僅簡化了老化測試流程，提高了老化測試的便利性和批量生產(chǎn)存儲器時的產(chǎn)出效率，還大幅降低了老化測試對測試設(shè)備的要求，進(jìn)而降低了產(chǎn)品老化測試成本。

實施例四

參照圖5，示出了本發(fā)明的另一種非揮發(fā)性存儲器的自測試裝置實施例的結(jié)構(gòu)框圖，非揮發(fā)性存儲器包括自測試控制器，非揮發(fā)性存儲器與測試設(shè)備相連，非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息，自測試裝置具體可以包括如下模塊：

判斷模塊51，用于在非揮發(fā)性存儲器上電后，通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志。

測試模塊52，用于當(dāng)啟動標(biāo)志為使能標(biāo)志時，通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，若任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，則通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。測試模塊52可以包括：

第一測試單元521，用于當(dāng)待測試項目為擦除操作測試時，通過自測試控制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行擦除操作和校驗，若校驗失敗，則判斷待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效。

第二測試單元522，用于當(dāng)待測試項目為寫操作測試時，通過自測試控 制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行寫操作和校驗，若校驗失敗，則判斷待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效。

第三測試單元523，用于當(dāng)待測試項目為除擦除操作測試、寫操作測試之外的其它操作測試時，通過自測試控制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行相應(yīng)的操作和校驗，若校驗失敗，則判斷待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效。

其中，測試模塊52在設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志時，可以包括：

啟動標(biāo)志擦除單元，用于擦除第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志。

另外，測試模塊52在通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試時，還可以用于若任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器有效，通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目通過信息至第二預(yù)設(shè)存儲空間。

第二接收模塊53，用于通過非揮發(fā)性存儲器接收測試設(shè)備發(fā)送的信息讀取指令。

發(fā)送模塊54，用于通過非揮發(fā)性存儲器發(fā)送第二預(yù)設(shè)存儲空間中的信息至測試設(shè)備。

本發(fā)明實施例二包括以下優(yōu)點：通過在非揮發(fā)性存儲器中嵌入自測試控制器，和通過非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間存儲測試設(shè)備預(yù)先寫入的啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息。在非揮發(fā)性存儲器上電后，首先判斷模塊通過自測試控制器判斷啟動標(biāo)志是否為使能標(biāo)志。如果是，測試模塊通過自測試控制器根據(jù)待測試項目信息對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試，直至對待測試項目信息對應(yīng)的各待測試項目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù)，或直至任一待測試項目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效，設(shè)置第一預(yù)設(shè)存儲空間中的啟動標(biāo)志為無效標(biāo)志；其中，通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第二預(yù)設(shè)存儲空間。最后發(fā)送模塊通過非揮發(fā)性存儲器根據(jù)接收的信息讀取指令，發(fā)送第二預(yù)設(shè)存儲空間中的信息至測試設(shè)備。

這樣，上電后，對非揮發(fā)性存儲器的老化測試由非揮發(fā)性存儲器內(nèi)的自測試控制器自動完成，且利用非揮發(fā)性存儲器的特點，在自測試控制器對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行老化自測試過程中記錄測試相關(guān)的信息例如項目失效信息和/或項目通過信息，測試設(shè)備只需提前將啟動標(biāo)志、最大測試次數(shù)和待測試項目信息寫入第一預(yù)設(shè)存儲空間，和在非揮發(fā)性存儲器自測試完成后，發(fā)送信息讀取指令以讀取測試相關(guān)的信息，就可以實現(xiàn)對失效非揮發(fā)性存儲器個體的篩除，測試設(shè)備無需對非揮發(fā)性存儲器再進(jìn)行最后一遍全功能的測試。本發(fā)明實施例不僅簡化了老化測試流程，提高了老化測試的便利性和批量生產(chǎn)存儲器時的產(chǎn)出效率，還大幅降低了老化測試對測試設(shè)備的要求，進(jìn)而降低了產(chǎn)品老化測試成本。

對于裝置實施例而言，由于其與方法實施例基本相似，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法實施例的部分說明即可。

本說明書中的各個實施例均采用遞進(jìn)的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可。

本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員應(yīng)明白，本發(fā)明實施例的實施例可提供為方法、裝置、或計算機(jī)程序產(chǎn)品。因此，本發(fā)明實施例可采用完全硬件實施例、完全軟件實施例、或結(jié)合軟件和硬件方面的實施例的形式。而且，本發(fā)明實施例可采用在一個或多個其中包含有計算機(jī)可用程序代碼的計算機(jī)可用存儲介質(zhì)(包括但不限于磁盤存儲器、cd-rom、光學(xué)存儲器等)上實施的計算機(jī)程序產(chǎn)品的形式。

本發(fā)明實施例是參照根據(jù)本發(fā)明實施例的方法、終端設(shè)備(系統(tǒng))、和計算機(jī)程序產(chǎn)品的流程圖和/或方框圖來描述的。應(yīng)理解可由計算機(jī)程序指令實現(xiàn)流程圖和/或方框圖中的每一流程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結(jié)合?？商峁┻@些計算機(jī)程序指令到通用計算機(jī)、專用計算機(jī)、嵌入式處理機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理終端設(shè)備的處理器以產(chǎn)生 一個機(jī)器，使得通過計算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理終端設(shè)備的處理器執(zhí)行的指令產(chǎn)生用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的裝置。

這些計算機(jī)程序指令也可存儲在能引導(dǎo)計算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理終端設(shè)備以特定方式工作的計算機(jī)可讀存儲器中，使得存儲在該計算機(jī)可讀存儲器中的指令產(chǎn)生包括指令裝置的制造品，該指令裝置實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能。

這些計算機(jī)程序指令也可裝載到計算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理終端設(shè)備上，使得在計算機(jī)或其他可編程終端設(shè)備上執(zhí)行一系列操作步驟以產(chǎn)生計算機(jī)實現(xiàn)的處理，從而在計算機(jī)或其他可編程終端設(shè)備上執(zhí)行的指令提供用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的步驟。

盡管已描述了本發(fā)明實施例的優(yōu)選實施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念，則可對這些實施例做出另外的變更和修改。所以，所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實施例以及落入本發(fā)明實施例范圍的所有變更和修改。

最后，還需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者終端設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者終端設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者終端設(shè)備中還存在另外的相同要素。

以上對本發(fā)明所提供的一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法和一種非揮發(fā)性存儲器的自測試裝置，進(jìn)行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了具體個例對本發(fā) 明的原理及實施方式進(jìn)行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實施方式及應(yīng)用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制。