一種具有垂直升降式多讀寫卡座的ic卡芯片測試設備的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供一種具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，所述測試設備包括：進卡槽、水平運動伺服電機、水平送卡軌道、至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)、垂直運動伺服電機、垂直運動絲杠、廢卡槽、成品卡收卡槽、可編程控制器PLC和工控機；該測試設備采用二組以上垂直升降的多IC卡讀寫卡座作為進卡機構(gòu)，相鄰連接在一條搬送IC卡的軌道上；一個收廢卡槽，用來收取IC卡芯片測試不成功的卡片；對測試或個人化成功的IC卡通過搬運機構(gòu)進入與水平送卡軌道相垂直的自動收卡皮帶轉(zhuǎn)動的平臺。該測試設備可最大限度地減少手工測試帶來的人為錯誤，控制誤判率在千分之三以下，大大提高了勞動生產(chǎn)率、自動化程度高、成本低。
【專利說明】一種具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備【技術領域】
[0001]本實用新型涉及非接觸式IC卡的測試相關【技術領域】，尤其涉及一種平行雙垂直升降式多讀寫卡座并行的接觸式與非接觸式IC卡芯片測試(個人化)設備。
【背景技術】
[0002]目前ISO標準接觸與非接觸IC卡已被廣泛應用在交通卡、門禁控制卡、移動通信卡、銀行卡等領域；同時，在應用前各類接觸或非接觸IC卡都必須被寫入數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)可以是某一類卡相同的數(shù)據(jù)，也可以是某一類卡中每張卡有不一樣的數(shù)據(jù)(稱個人化數(shù)據(jù))。目前對這些數(shù)據(jù)的寫入分兩種方法:
[0003]I)、用單一讀寫卡器以人工的方式一張一張的寫入；
[0004]發(fā)明人發(fā)現(xiàn)這種方式的缺點在于:勞動力強度大，數(shù)據(jù)漏寫與寫錯經(jīng)常發(fā)生。 [0005]2)、采用國外進口的多個讀寫卡座以圓盤進卡并行自動測試接觸式與非接觸式IC卡芯片(個人化)設備；
[0006]發(fā)明人發(fā)現(xiàn)這種方式的缺點在于:多個讀寫卡座圓盤進卡并行自動測試接觸式與非接觸式IC卡芯片(個人化)設備，制造商已經(jīng)申請了多重專利保護，所以這設備銷售價格高，從二百多萬人民幣到六，七百萬人民幣不等，國內(nèi)的IC卡生產(chǎn)廠家難以承受這樣的價格。
實用新型內(nèi)容
[0007]本實用新型的目的在于，克服現(xiàn)有技術的上述不足，提供一種自動化程度高、價格便宜、誤判率低的具有升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備。
[0008]為達上述目的，本實用新型提供了一種具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，其包括:進卡槽、水平運動伺服電機、水平送卡軌道、至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)、垂直運動伺服電機、垂直運動絲杠、廢卡槽、成品卡收卡槽、可編程控制器PLC和工控機；
[0009]所述水平運動伺服電機，分別與所述進卡槽、所述水平送卡軌道和所述PLC連接，用于在所述PLC的控制下從所述進卡槽獲取存儲的多個待測試的IC卡，并驅(qū)動所述水平送卡軌道運送所述多個待測試的IC卡；
[0010]所述至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)，分別與所述工控機連接，并且通過所述垂直運動絲杠連接至所述垂直運動伺服電機,用于在所述垂直運動伺服電機和所述垂直運動絲杠的帶動下作垂直升降運動，從所述水平送卡軌道中依次獲取待測試的IC卡；每個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)上設置有垂直分布的多個嵌入式IC卡讀寫機，所述多個嵌入式IC卡讀寫機分別通過串口與所述工控機相連接，每個嵌入式IC卡讀寫機對其內(nèi)的IC卡進行讀寫卡操作；
[0011 ] 所述垂直運動伺服電機，與所述PLC連接，用于在所述PLC的控制下驅(qū)動所述垂直運動絲杠帶動所述至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)作升降運動；[0012]所述工控機，與所述PLC連接，用于監(jiān)視與控制PLC的運行狀態(tài)，控制所述IC卡讀寫機對待測試的IC卡進行測試處理，向所述PLC發(fā)送對于每一待測試的IC卡的測試結(jié)果
信號;
[0013]所述PLC，與所述工控機、所述垂直運動伺服電機、所述水平運動伺服電機連接，用于控制所述水平送卡軌道的運行，并控制所述至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)中多個IC卡讀寫機按先進先出順序?qū)Χ鄠€待測試的IC卡進行測試，實時采集所述工控機發(fā)送的測試結(jié)果信號，將測試成功的卡由所述水平運動伺服電機驅(qū)動所述水平送卡軌道存放入所述成品卡收卡槽，并將測試失敗的卡存放入所述廢卡槽。
[0014]作為優(yōu)選地，所述的具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備還可包括:收廢卡氣缸，與所述PLC連接，用于當測試失敗的卡接近到廢卡槽時，在所述PLC的控制下而啟動，以將所述測試失敗的卡收進所述廢卡槽。
[0015]作為優(yōu)選地，所述的具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，還可包括:觸摸LCD顯示屏，與所述PLC連接，用于顯示所述PLC的運行狀態(tài)。
[0016]作為優(yōu)選地，所述成品卡收卡槽是設置于所述水平送卡軌道的終點，與所述水平送卡軌道垂直。
[0017]作為優(yōu)選地，所述垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)上垂直分布有多個卡座，每個卡座上設置一個IC卡讀寫機。
[0018]作為優(yōu)選地，所述IC卡可為接觸式或者非接觸式IC卡。
[0019]作為優(yōu)選地，所述串口可以是RS-232接口、RS-422接口或者RS-485接口。
[0020]作為優(yōu)選地，所述至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)互相平行。
[0021]本實用新型的上述技術方案的有益技術效果在于:
[0022]該測試或數(shù)據(jù)個人化設備是采用垂直升降平臺，每個垂直升降平臺包含有垂直分布的多個嵌入式IC讀寫機，從而解決了在一條生產(chǎn)線上使用多個讀寫機而使生產(chǎn)線的長度過長的問題，在本實用新型這種垂直升降平臺節(jié)約了搬送IC卡線的長度。
[0023]本實用新型實施例還很好地解決了在并行的二個或以上的垂直升降多卡座進卡系統(tǒng)中的先進先出的問題。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0024]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖做一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0025]圖1為本實用新型實施例的一種平行雙垂直升降式多讀寫卡座IC卡芯片測試設備的總體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖2為本實用新型實施例的垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)的示意圖。
【具體實施方式】
[0027]為使本實用新型實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├?，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0028]本實用新型實施例的測試設備采用二組以上(可以是一組或多組)垂直升降的多IC卡讀寫卡座(后稱垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)、垂直升降臺，每組垂直升降臺可以包含一個以上的卡座)作為進卡機構(gòu)，相鄰連接在一條搬送IC卡的軌道(水平送卡軌道)上；其還具有一個進卡槽，以及在二組垂直升降臺后面某一位置放置的一個收廢卡槽(或平臺)，用來收取IC卡芯片測試不成功的卡片；對測試或個人化成功的IC卡通過搬運機構(gòu)(如皮帶和伺服電機)進入與水平送卡軌道相垂直的由自動收卡皮帶轉(zhuǎn)動的平臺。
[0029]圖1為本實用新型實施例的一種平行雙垂直升降式多讀寫卡座IC卡芯片測試設備的總體結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，該測試設備100包括:
[0030]進卡槽102、水平運動伺服電機104、水平送卡軌道106、至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)108、垂直運動伺服電機110、垂直運動絲杠112、工控機114、可編程控制器PLC116、成品卡收卡槽118和廢卡槽120 ；
[0031]水平運動伺服電機104，分別與進卡槽102、水平送卡軌道106和PLC116連接，用于在PLC116的控制下從進卡槽102獲取存儲的多個待測試的IC卡，并驅(qū)動水平送卡軌道106運送多個待測試的IC卡；
[0032]至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)108，分別與工控機114連接，并且通過垂直運動絲杠112連接至垂直運動伺服電機110，用于在垂直運動伺服電機110和垂直運動絲杠112的帶動下作垂直升降運動，從水平送卡軌道中106依次獲取待測試的IC卡；每個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)108上設置有垂直分布的多個嵌入式IC卡讀寫機，多個嵌入式IC卡讀寫機分別通過串口與工控機114相連接，每個嵌入式IC卡讀寫機對其內(nèi)的IC卡進行讀寫卡操作；
[0033]垂直運動伺服電機110，與PLCl 16連接，用于在PLCl 16的控制下驅(qū)動垂直運動絲杠112帶動至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)108作升降運動；
[0034]工控機114，與PLCl 16連接，用于監(jiān)視與控制PLCl 16的運行狀態(tài)，控制IC卡讀寫機對待測試的IC卡進行測試處理，向PLC116發(fā)送對于每一待測試的IC卡的測試結(jié)果信號;
[0035]PLC116，與工控機114、垂直運動伺服電機110、水平運動伺服電機104連接，用于控制水平送卡軌道106的運行,并控制至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)108中多個IC卡讀寫機按先進先出順序?qū)Χ鄠€待測試的IC卡進行測試，實時采集工控機114發(fā)送的測試結(jié)果信號，將測試成功的卡由水平運動伺服電機104驅(qū)動水平送卡軌道106存放入成品卡收卡槽118，并將測試失敗的卡存放入廢卡槽120。
[0036]作為優(yōu)選地，該具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備100還可包括:收廢卡氣缸122，與PLCl 16連接，用于當測試失敗的卡接近到廢卡槽120時，在PLCl 16的控制下而啟動，以將測試失敗的卡收進廢卡槽120。
[0037]作為優(yōu)選地，該具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備100還可包括:觸摸IXD顯示屏(未繪示)，與PLCl 16連接，用于顯示PLCl 16的運行狀態(tài)。
[0038]作為優(yōu)選地，該成品卡收卡槽118是設置于水平送卡軌道106的終點，與水平送卡軌道106垂直。[0039]作為優(yōu)選地，該垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)108上垂直分布有多個卡座，每個卡座上設置一個IC卡讀寫機。
[0040]作為優(yōu)選地，IC卡可為接觸式或者非接觸式IC卡。
[0041 ] 作為優(yōu)選地，串口可以是RS-232接口、RS-422接口或者RS-485接口。
[0042]該測試或數(shù)據(jù)個人化設備由于是采用垂直升降平臺，每個垂直升降平臺包含有垂直分布的多個IC讀寫機(嵌入式讀寫機)在這一垂直面中，從而解決了在一條生產(chǎn)線上使用多個讀寫機而使生產(chǎn)線的長度過長的問題，在本實用新型中這種垂直升降平臺節(jié)約了搬送IC卡線的長度。
[0043]本實用新型實施例還很好地解決了在并行的二個或以上的垂直升降多卡座進卡系統(tǒng)中的先進先出的問題。
[0044]圖2為本實用新型實施例的垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)108的示意圖。圖2示出了二個平行垂直升降式多讀寫卡座并行的接觸式與非接觸式IC卡芯片測試(個人化)設備的垂直升降臺的多卡槽結(jié)構(gòu)圖。在圖2中，A(B) I中A表示垂直升降臺A ；B表示垂直升降臺B ；1-8:分別表不一號至八號嵌入式IC卡讀寫機。
[0045]如圖2所示，兩個平行垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)(以下簡稱垂直升降臺)先進先出的結(jié)構(gòu)特點描述如下:
[0046]一個由PLC (可編程控制器)與垂直運動伺服電機控制的垂直升降裝置(平臺)通常帶有8個獨立的嵌入式IC卡讀寫機，8個獨立的嵌入式IC卡讀寫機與上位多串口工控PC機相聯(lián)接。垂直升降臺里的多個IC卡讀寫機對其中的IC卡完成讀寫卡操作后，由工控PC機的串口通知PLC按先進先出的原則同時按好卡與壞卡的固定存放位置處理好卡與壞卡。反復循環(huán)直到處理完預定的計劃量。
[0047]當初次進卡時垂直升降臺是在下方的，即Al (BI)位，完成的Al (BI)位的進卡，垂直升降臺上升一位到A2 (B2)位，以此類推到AS (B8)，此時為升到最高，在完成測試后，馬上又下降到底等按Al (BI)，A2 (B2).......AS (B8)的次序出卡，同時進入第二循環(huán)進卡。
[0048]結(jié)合參閱圖1-圖2，本實用新型實施例的兩個平行垂直升降式多個IC卡讀寫機并行數(shù)據(jù)處理IC卡芯片測試設備的工作原理/過程包括:
[0049](I)被測試或數(shù)據(jù)個人化的卡按先進先出的原則從“進卡槽”底部拉出，由水平運動伺服電機經(jīng)水平運行皮帶依次進出二個平行垂直升降臺中的多個IC卡讀寫機中，并行地進行處理。
[0050](2)二個平行的垂直升降臺中的嵌入式IC卡讀寫機(例如每組8個)按先進先出的原則進行測試或者讀寫卡操作，上位工控PC機將完成測試或數(shù)據(jù)個人化的卡通知控制本測試設備的PLC進行皮帶搬送卡的處理。本步驟中，上位工控PC機對進入IC卡讀寫機中的
卡進行并行的IC芯片的數(shù)據(jù)處理，將處理完的結(jié)果通知PLCjP:A1 ；A2 ；A3........;B1 ；
B2 ；B3......中的卡的測試結(jié)果“通過”或“不通過”。
[0051](3)控制本測試設備運行的PLC按收到工控PC機發(fā)送來的測試或數(shù)據(jù)個性化成功與不成功的卡的信號，按次序?qū)⒁褱y試或個性化完的卡送入收卡槽或廢卡槽來處理。本步驟具體為，PLC控制水平軌道與二平行垂直升降臺多個IC卡讀寫機按先進先出的原則運行，同時控制收廢卡的氣缸的工作，當PLC實時采集到上位工控PC機發(fā)回的各IC卡讀寫機對應的IC卡的數(shù)據(jù)處理結(jié)果時，即:A1 ；A2 ；A3........;B1 ；B2 ；B3......中的卡的測試結(jié)果“通過”或“不通過”。按好卡由水平運動伺服電機運行水平搬送皮帶將好卡進收卡平臺(槽);當廢卡到廢卡平臺(槽)時，PLC啟動收廢卡氣缸將廢卡收進廢卡槽的方法處理已測試或數(shù)據(jù)個人化的卡。
[0052](4) PLC控制二個平行的垂直升降臺在初次進卡時垂直升降臺總是在下方依次進卡后朝上升，本實用新型實施例可以用如下一種按先進先出的方法來按次序搬送IC卡，具體為:二個(N)平行垂直升降臺同時平行升降一進卡位，水平位移送二張卡的方法來完成。即:A1 (Kl)，BI (K2) — A2 (K3)，B2 (K4) — A3 (K5)，B3 (K6)等…。
[0053]注:A1 (KO)表示Al卡槽沒卡；A2 (Kl)表示A2卡槽為I號卡；B1 (K8)表示BI卡槽為8號卡；N表不多個。
[0054]與現(xiàn)有技術相比，本實用新型具有以下優(yōu)點:
[0055]一、最大限度地減少了手工測試或個性化IC卡芯片帶來的人為錯誤，控制誤判率在千分之三以下，大大提高了勞動生產(chǎn)率。
[0056]二、在這設備上能同時并行運行多個IC卡讀寫機對芯片進行測試或數(shù)據(jù)個人化，這極大地提高了單位時間里完成量。
[0057]三、使用范圍廣:能對ISO標準接觸式IC卡或非接觸式IC卡的各類芯片做測試或個人化數(shù)據(jù)寫入。
[0058]四、自動化程度高:本實施例以工控電腦(PC)來控制測試設備上多個IC卡讀寫機的數(shù)據(jù)讀寫成功與否的完成狀況，并且利用工控電腦(PC)來監(jiān)控PLC的運行狀態(tài)，如:某一IC卡在測試設備上所處的位置，數(shù)據(jù)讀寫成功的卡與不成功卡的處理情況等，利用PLC按照先進先出的要求，按次序?qū)⒁淹瓿蓽y試或個人化的IC卡自動進入收卡平臺，同時對IC芯片測試或個人化不成功的卡送至廢卡槽。這實現(xiàn)了自動化的進出卡和測試，自動化程度高，效率極大提高，同時成本降低。
`[0059]以上實施例僅用以說明本實用新型實施例的技術方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本實用新型實施例進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解:其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質(zhì)脫離本實用新型實施例各實施例技術方案的精神和范圍。
【權利要求】
1.一種具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，其特征在于，所述測試設備包括:進卡槽、水平運動伺服電機、水平送卡軌道、至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)、垂直運動伺服電機、垂直運動絲杠、廢卡槽、成品卡收卡槽、可編程控制器PLC和工控機； 所述水平運動伺服電機，分別與所述進卡槽、所述水平送卡軌道和所述PLC連接，用于在所述PLC的控制下從所述進卡槽獲取存儲的多個待測試的IC卡，并驅(qū)動所述水平送卡軌道運送所述多個待測試的IC卡； 所述至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)，分別與所述工控機連接，并且通過所述垂直運動絲杠連接至所述垂直運動伺服電機，用于在所述垂直運動伺服電機和所述垂直運動絲杠的帶動下作垂直升降運動，從所述水平送卡軌道中依次獲取待測試的IC卡；每個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)上設置有垂直分布的多個嵌入式IC卡讀寫機，所述多個嵌入式IC卡讀寫機分別通過串口與所述工控機相連接，每個嵌入式IC卡讀寫機對其內(nèi)的IC卡進行讀寫卡操作；所述垂直運動伺服電機，與所述PLC連接，用于在所述PLC的控制下驅(qū)動所述垂直運動絲杠帶動所述至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)作升降運動； 所述工控機，與所述PLC連接，用于監(jiān)視與控制PLC的運行狀態(tài)，控制所述IC卡讀寫機對待測試的IC卡進行測試處理，向所述PLC發(fā)送對于每一待測試的IC卡的測試結(jié)果信號；所述PLC，與所述工控機、所述垂直運動伺服電機、所述水平運動伺服電機連接，用于控制所述水平送卡軌道的運行，并控制所述至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)中多個IC卡讀寫機按先進先出順序?qū)Χ鄠€待測試的IC卡進行測試，實時采集所述工控機發(fā)送的測試結(jié)果信號，將測試成功的卡由所述水平運動伺服電機驅(qū)動所述水平送卡軌道存放入所述成品卡收卡槽，并將測試失敗的卡存放入所述廢卡槽。
2.根據(jù)權利要求1所述的具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，其特征在于，還包括: 收廢卡氣缸，與所述PLC連接，用于當測試失敗的卡接近到廢卡槽時，在所述PLC的控制下而啟動，以將所述測試失敗的卡收進所述廢卡槽。
3.根據(jù)權利要求1所述的具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，其特征在于，還包括: 觸摸IXD顯示屏，與所述PLC連接，用于顯示所述PLC的運行狀態(tài)。
4.根據(jù)權利要求1所述的具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，其特征在于: 所述成品卡收卡槽是設置于所述水平送卡軌道的終點，與所述水平送卡軌道垂直。
5.根據(jù)權利要求1所述的具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，其特征在于: 所述垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)上垂直分布有多個卡座，每個卡座上設置一個IC卡讀寫機。
6.根據(jù)權利要求1所述的具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，其特征在于:所述IC卡為接觸式或者非接觸式IC卡。
7.根據(jù)權利要求1所述的具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，其特征在于:所述串口是RS-232接口、RS-422接口或者RS-485接口。
8.根據(jù)權利要求1所述的具有垂直升降式多讀寫卡座的IC卡芯片測試設備，其特征在于:所述至少兩個垂直升降多卡槽結(jié)構(gòu)互相平行。
【文檔編號】G06K17/00GK203502525SQ201320656307
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年10月23日 優(yōu)先權日:2013年10月23日
【發(fā)明者】忻偉 申請人:上海聚碩科技有限公司