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粒子分析裝置及其異常判斷方法和質控方法

文檔序號:9706658閱讀:670來源:國知局
粒子分析裝置及其異常判斷方法和質控方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種粒子分析裝置中的異常判斷方法、分析裝置中的質量控制方法及粒子分析裝置。
【背景技術】
[0002]有一種粒子分析裝置檢測粒子產(chǎn)生的熒光,分析粒子。粒子分析裝置將熒光色素混入含有粒子的樣本來制備測定試樣,讓所制備的測定試樣從流動室流過。粒子分析裝置用光照射測定試樣流,檢測粒子產(chǎn)生的熒光。根據(jù)如此檢測的信號分類粒子。此種粒子分析裝置用質量控制用標準品進行質量控制,以便獲得正確的測定結果。
[0003]根據(jù)專利文獻1的方法,使用含有被第一熒光色素熒光染色的第一標準粒子和預先含有第二熒光色素且實際上不被第一熒光色素染色的第二標準粒子的質量控制品判斷粒子分析裝置的異常部位。第二標準粒子的測定結果偏離標準范圍時,判斷熒光檢測器異常。當?shù)诙藴柿W拥臏y定結果在標準范圍內,而第一標準粒子的測定結果偏離標準范圍時,判斷試樣制備機構異常。當?shù)谝粯藴柿W拥臏y定結果小于標準范圍,第二標準粒子的測定結果大于標準范圍時,判斷試樣制備機構與熒光檢測器異常。
[0004]專利文獻
專利文獻1:日本專利公報特開2007-47154號。

【發(fā)明內容】

[0005]發(fā)明要解決的技術問題
根據(jù)專利文獻1所述方法,有時無法區(qū)分染色步驟出現(xiàn)異常的情況和非異常的情況。本發(fā)明目的在于比過去更切實地進行染色步驟的異常判斷。
[0006]解決技術問題的手段
本發(fā)明的第一部分涉及一種具有試樣制備部件和光學檢測部件的粒子分析裝置中的異常判斷方法。本部分的異常判斷方法中,通過試樣制備部件將含熒光色素的試劑、被熒光色素染色的第一質控粒子、以及未經(jīng)熒光色素染色且發(fā)熒光的第二質控粒子混合,制成混合物,通過光學檢測部件讓混合物流入流動室,用光照射在流動室流動的第一質控粒子和第二質控粒子,檢測來自第一質控粒子和第二質控粒子的熒光。此外,此異常判斷方法中,獲取表示第一質控粒子所發(fā)出的熒光的檢測結果的第一管理值和表示第二質控粒子所發(fā)出的熒光的檢測結果的第二管理值,根據(jù)從第一管理值和第二管理值算出的值或第一管理值和第二管理值的比例,至少判斷試樣制備部件中的染色異常。
[0007]本發(fā)明的第二部分涉及一種具有試樣制備部件和光學檢測部件的粒子分析裝置的異常判斷方法。此部分涉及的異常判斷方法通過試樣制備部件將含熒光色素的試劑與被熒光色素染色的第一質控粒子混合,制成混合物,通過光學檢測部件讓混合物流入流動室,光照在流動室流動的第一質控粒子,檢測來自第一質控粒子的熒光,通過光學檢測部件,使發(fā)熒光的第二質控粒子流入流動室,光照在流動室流動的第二質控粒子,檢測來自第二質控粒子的熒光。此外,此異常判斷方法中,獲取表示第一質控粒子發(fā)出的熒光的檢測結果的第一管理值和表示第二質控粒子發(fā)出的熒光的檢測結果的第二管理值,根據(jù)從第一管理值和第二管理值算出的值或第一管理值和第二管理值的比例,至少判斷試樣制備部件中的染色異常。
[0008]優(yōu)選地,根據(jù)所述第二管理值判斷所述光學檢測部件中的異常。
[0009]優(yōu)選地,所述第二管理值異常時、以及從所述第一管理值和所述第二管理值算出的值或比例異常時,禁止所述粒子分析裝置進行臨床樣本測定。
[0010]優(yōu)選地,至少從所述第一管理值和所述第二管理值算出的值或比例異常時,讓所述粒子分析裝置輸出敦促用戶更換試劑的信息。
[0011]優(yōu)選地,至少讓所述粒子分析裝置以一覽表的形式輸出基于所述第二管理值的異常判斷結果和基于從所述第一管理值和所述第二管理值算出的值或比例的異常判斷結果。
[0012]優(yōu)選地,所述第一質控粒子選自細胞、聚丙稀酰胺(polyacrylamide)粒子、親水性乙稀基聚合物(vinyl polymer)粒子、乳膠粒子和二氧化娃粒子構成的群。
[0013]優(yōu)選地,所述第一質控粒子是細胞;所述試劑含有染色作為所述第一質控粒子的細胞的核的核酸染色色素。
[0014]優(yōu)選地,所述試樣制備部件除了含有熒光色素的所述試劑外還用去除RNA的RNA去除劑制備所述混合物。
[0015]優(yōu)選地,從所述第一管理值和所述第二管理值算出的值小于標準范圍的下限閾值時,判斷所述試劑有異常;從所述第一管理值和所述第二管理值算出的值大于標準范圍的上限閾值時,判斷所述RNA去除劑有異常。
[0016]優(yōu)選地,在判斷所述試樣制備部件中的染色異常的步驟中,根據(jù)所述第一管理值和所述第二管理值算出第三管理值,根據(jù)算出的所述第三管理值是否偏離標準范圍來判斷所述試樣制備部件中的染色異常。
[0017]優(yōu)選地,當在以所述第一管理值和第二管理值為軸的坐標空間中,從所述第一質控粒子和所述第二質控粒子獲取的所述第一管理值和第二管理值相應的坐標不在表示正常范圍的區(qū)域內時,至少進行輸出來報告所述試樣制備部件中的染色異常。
[0018]優(yōu)選地,所述粒子分析裝置分析樣本所含有的細胞的DNA量。
[0019]優(yōu)選地,所述粒子分析裝置分析樣本所含有的細胞的DNA量,求出含有一定量以上的DNA的細胞的比率。
[0020]優(yōu)選地,所述第一管理值基于從各第一質控粒子的熒光信號的波形求出的數(shù)值的代表值;所述第二管理值基于從各第二質控粒子的熒光信號的波形求出的數(shù)值的代表值。
[0021]本發(fā)明的第三部分涉及一種根據(jù)熒光染色的細胞核發(fā)出的熒光的信號波形分析細胞核所含有的DNA量的粒子分析裝置中的異常判斷方法。此部分涉及的異常判斷方法通過粒子分析裝置將含熒光色素的試劑、被熒光色素染色的第一質控粒子、未被熒光色素染色且發(fā)熒光的第二質控粒子混合,制成混合物,讓混合物流入流動室,用光照射在流動室流動的第一質控粒子和第二質控粒子,獲取基于來自第一質控粒子和第二質控粒子的熒光的信號波形,求出第一質控粒子的熒光的信號波形的面積作為第一熒光面積,求出第二質控粒子的熒光的信號波形的面積作為第二熒光面積,根據(jù)第一熒光面積和第二熒光面積,至少判斷粒子分析裝置中的染色異常。
[0022]優(yōu)選地,所述第一質控粒子是細胞。
[0023]本發(fā)明的第四部分涉及一種用含熒光色素的第一試劑和含RNA去除劑的第二試劑對含有細胞的樣本進行處理,根據(jù)處理后的樣本所含有的細胞的DNA量的相關的特征參數(shù),求出含有一定量以上的DNA的細胞的比率的分析裝置中的質量控制方法。本部分涉及的質量控制方法通過分析裝置將熒光色素染色的第一質控粒子和未經(jīng)熒光色素染色且發(fā)熒光的第二質控粒子與第一試劑和第二試劑混合,制成混合物,讓混合物流入流動室,用光照射在流動室流動的第一質控粒子和第二質控粒子,檢測來自第一質控粒子和第二質控粒子的熒光,獲取表示第一質控粒子發(fā)出的熒光的檢測結果的第一管理值、以及表示第二質控粒子發(fā)出的熒光的檢測結果的第二管理值,根據(jù)從第一管理值和第二管理值算出的值或第一管理值和第二管理值的比例,輸出敦促用戶更換第一試劑和第二試劑至少其中之一的?目息。
[0024]優(yōu)選地,從所述第一管理值和所述第二管理值算出的值小于標準范圍的下限閾值時,判斷所述第一試劑有異常;從所述第一管理值和所述第二管理值算出的值大于標準范圍的上限閾值時,判斷所述第二試劑有異常。
[0025]本發(fā)明的第五部分涉及一種粒子分析裝置,其具有:混合含熒光色素的試劑和試樣的試樣制備部件、讓試樣制備部件制備的混合物流入流動室,用光照射在流動室流動的混合物,檢測混合物因照射而產(chǎn)生的光的光學檢測部件、以及分析光學檢測部件檢測出的光的特征的分析部件。分析部件在設定為質量控制模式時,讓試樣制備部件將試劑、被熒光色素染色的第一質控粒子、未經(jīng)熒光色素染色且發(fā)熒光的第二質控粒子混合制成混合物,讓光學檢測部件將混合物流入流動室,用光照射在流動室流動的第一質控粒子和第二質控粒子,并使其檢測來自第一質控粒子和第二質控粒子的熒光,獲取表示第一質控粒子所發(fā)出的熒光的檢測結果的第一管理值和表示第二質控粒子所發(fā)出的熒光的檢測結果的第二管理值,根據(jù)從第一管理值和第二管理值算出的值或第一管理值和第二管理值的比例,至少判斷試樣制備部件中的染色異常。
[0026]發(fā)明效果
根據(jù)本發(fā)明的幾個部分,能夠比過去更加切實地進行染色步驟的異常判斷。根據(jù)本發(fā)明的一部分,能夠與用于分析細胞核所含有的DNA量的粒子分析裝置相適應地進行染色步驟的異常判斷。
[0027]本發(fā)明的效果及意義通過以下所示實施方式的說明將更加明朗。但是,以下所示實施方式僅僅只是本發(fā)明具體實施時的一例,本發(fā)明不受以下實施方式的任何限制。
【附圖說明】
[0028]圖1為實施方式1所涉及的粒子分析裝置的結構框圖;
圖2的圖2(a)為實施方式1涉及的光學檢測部件的結構示意圖,圖2 (b)~ (d)為實施方式1涉及的特征參數(shù)的示意圖;
圖3為實施方式1涉及的常規(guī)模式下粒子分析裝置進行處理的流程圖;
圖4為實施方式1涉及的質量控制模式下粒子分析裝置進行處理的流程圖;
圖5的圖5(a)為與實施方式1涉及的各粒子產(chǎn)生的熒光信號的波形面積的相關的直方圖的示意圖,圖5(b)為實施方式1涉及的第一測定值和第二測定值的示圖; 圖6為實施方式1涉及的質量控制模式下粒子分析裝置進行處理的流程變更例;
圖7的圖7(a)、(b)為實施方式1涉及的檢測異常判斷和染色異常判斷的流程圖,圖7(c)為實施方式1涉及的判斷所用的下限閾值和上限閾值的示圖;
圖8的圖8(a)為實施方式1涉及的染色異常判斷的流程變更例,圖8(b)為變更例涉及的染色異常判斷中使用的正常范圍示圖;
圖9的圖9(a)~(c)為實施方式1涉及的輸出部件上顯示的界面示圖;
圖10的圖10(a)為實施方式1涉及的輸出部件上顯示的界面示圖,圖10(b)為實施方式1涉及的輸出部件上顯示的界面變更例示圖;
圖11的圖11 (a)為實施方式2涉及的染色異常判斷的流程圖,圖11 (b)、(c)為實施方式2涉及的輸出部件上顯示的界面示圖;
圖12的圖12 (a)~(c)為實施方式1涉及的實驗中分別在條件1~3的情況下獲取的第一測定值、第二測定值、第一管理值、第二管理值和第三管理值以及判斷結
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