技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種介電測(cè)試樣品的制樣方法，包括以下步驟：a)在下電極放置隔離柱和介電測(cè)試樣品，得到放置有介電測(cè)試樣品的下電極；所述介電測(cè)試樣品分布在以下電極中心為圓心的圓內(nèi)；b)將步驟a)得到的放置有介電測(cè)試樣品的下電極進(jìn)行真空干燥，再覆蓋上電極進(jìn)行壓制，得到待測(cè)樣品。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的制樣方法能夠測(cè)到非極性高分子材料的鏈段松弛運(yùn)動(dòng)，提高介電測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確率，且能夠進(jìn)行變溫測(cè)試，即使測(cè)試溫度超過待測(cè)樣品玻璃化溫度或熔點(diǎn)，依然可以進(jìn)行正常測(cè)試。另外，本發(fā)明提供的制樣方法沒有引入新物質(zhì)，不會(huì)對(duì)測(cè)試樣品造成污染；并且由于隔離柱的存在，樣品的流動(dòng)受到一定限制，樣品與電極不易脫落。

技術(shù)研發(fā)人員：李俊玲;劉寶峰
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春應(yīng)用化學(xué)研究所
技術(shù)研發(fā)日：2017.07.13
技術(shù)公布日：2017.10.20