技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種細(xì)胞膜比電容的檢測(cè)系統(tǒng)，包括一對(duì)交叉通道，所述交叉通道的第一通道位于第一方向，第二通道位于與第一方向交叉的第二方向。當(dāng)細(xì)胞受到驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)，通過細(xì)胞流入通道從細(xì)胞穿行壓縮通道穿行時(shí)，阻抗測(cè)量模塊記錄電極間的阻抗變化，結(jié)合細(xì)胞電學(xué)等效模型計(jì)算得到該細(xì)胞的細(xì)胞膜比電容。此外，本發(fā)明還提供了一種細(xì)胞膜比電容的檢測(cè)方法。本發(fā)明有效提高了細(xì)胞膜比電容檢測(cè)通量，同時(shí)無需光學(xué)檢測(cè)和圖像分析，有效降低成本，簡(jiǎn)化操作，并且可方便進(jìn)行并行化擴(kuò)展，在單通道基礎(chǔ)上進(jìn)一步提高通量。

技術(shù)研發(fā)人員：趙陽(yáng);黃成軍;陳健
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國(guó)科學(xué)院微電子研究所;中國(guó)科學(xué)院電子學(xué)研究所
技術(shù)研發(fā)日：2017.03.20
技術(shù)公布日：2017.07.18