技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及電鏡分析技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種單根一維納米材料截面應(yīng)力的分析方法。該方法包括：(1)確定待分析的單根一維納米材料并使其長(zhǎng)軸方向與樣品桿傾轉(zhuǎn)軸線方向垂直；(2)確定衍射點(diǎn)，得到系列傾轉(zhuǎn)電子衍射譜；(3)按照傾轉(zhuǎn)角度順序排列，形成原始倒空間三維強(qiáng)度矩陣；進(jìn)一步處理得到真實(shí)的倒空間三維衍射強(qiáng)度分布矩陣；(4)從所述倒空間三維衍射強(qiáng)度分布矩陣中提取二維強(qiáng)度分布信息；(5)將二維強(qiáng)度分布信息與理論電子衍射模擬結(jié)果結(jié)合，確定待分析的一維納米材料截面應(yīng)力分布狀態(tài)。本發(fā)明能夠?qū)蝹€(gè)一維納米材料的截面應(yīng)力狀態(tài)進(jìn)行分析，彌補(bǔ)了X射線衍射方法對(duì)大量一維納米材料進(jìn)行統(tǒng)計(jì)平均分析的不足。

技術(shù)研發(fā)人員：付新;杜志偉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：國(guó)標(biāo)（北京）檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司;北京有色金屬研究總院
文檔號(hào)碼：201710110346
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.27
技術(shù)公布日：2017.06.13