技術(shù)編號(hào)：12657155
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電鏡分析技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種單根一維納米材料截面應(yīng)力的分析方法。背景技術(shù)目前對(duì)一維納米材料的截面應(yīng)力狀態(tài)的判斷有基于同步輻射的相干X射線衍射技術(shù)以及基于透射電子顯微學(xué)的微觀檢測技術(shù)。相干X射線衍射技術(shù)是一種空間平均的檢測方法，可以對(duì)單分散的一維納米材料整體進(jìn)行檢測分析。對(duì)于單分散的一維納米材料集合體，每個(gè)單根納米材料直徑、截面形貌、內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)基本一致，這樣得到的X射線衍射數(shù)據(jù)能夠反映材料整體的平均信息。但是這種方法無法區(qū)別不同個(gè)體間的內(nèi)應(yīng)力差異，以及復(fù)雜一維納米材料(如五次孿...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。