技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種芯片內(nèi)部邏輯驗證系統(tǒng)，其特征在于，包括：用于根據(jù)控制指令向被測芯片發(fā)送控制信號并接收被測芯片的反饋信號的主控模塊、用于在被測芯片與主控模塊之間進行電平轉(zhuǎn)換的電平轉(zhuǎn)換模塊、至少一個用于連接被測芯片的I/O模塊；其中所述I/O模塊通過電平轉(zhuǎn)換模塊連接所述主控模塊。上述技術(shù)方案能夠針對可編程芯片內(nèi)部邏輯的測試驗證，該裝置的投入可以對芯片進行批量的測試驗證，減少了操作人員的工作量，提高了測試效率和測試覆蓋率。

技術(shù)研發(fā)人員：李鑫;彭紅五;周飴然;向剛
受保護的技術(shù)使用者：北京航天自動控制研究所
文檔號碼：201710008030
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.05
技術(shù)公布日：2017.05.24