本發(fā)明涉及芯片測試領(lǐng)域，尤其涉及一種LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

目前，液晶屏顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于數(shù)碼產(chǎn)品領(lǐng)域，與之配套的LCD驅(qū)動(dòng)芯片的需求量也大幅度增加。LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試貫穿在芯片的設(shè)計(jì)、制造與應(yīng)用的全過程中，是保證驅(qū)動(dòng)芯片品質(zhì)的重要手段。

現(xiàn)有技術(shù)中，在對LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行測試時(shí)，通常是將LCD驅(qū)動(dòng)芯片的波形所對應(yīng)的顯示器圖形通過模擬器進(jìn)行顯示，測試人員通過示波器觀察LCD顯示驅(qū)動(dòng)芯片的輸出波形或模擬器的顯示界面，并與理論上的仿真波形進(jìn)行比對，來驗(yàn)證LCD驅(qū)動(dòng)芯片的功能是否符合要求。

然而，現(xiàn)有的LCD驅(qū)動(dòng)芯片測試方法易受測試人員的主觀因素影響，測試準(zhǔn)確度較差。此外，通過人工觀察芯片的輸出波形存在測試效率較低的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例解決的技術(shù)問題是如何提高LCD驅(qū)動(dòng)芯片測試的準(zhǔn)確度及測試效率。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例提供一種LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試系統(tǒng)，包括：芯片承載臺(tái)以及測試機(jī)，其中：所述芯片承載臺(tái)，與所述測試機(jī)耦接，適于承載所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片；所述測試機(jī)，與所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片耦接，適于向所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出工作模式設(shè)置指令，以設(shè)置所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的實(shí)際工作模式；在所述實(shí)際工作模式下，接收所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的波形，依次提取每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值，并分別與所述每幀波形每一個(gè)狀態(tài)下預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，獲取每幀波形的比較結(jié)果；將所述每幀波形的比較結(jié)果與所述實(shí)際工作模式下所述每幀波形的預(yù)設(shè)值進(jìn)行對比，獲取所述實(shí)際工作模式下所有幀波形的比較結(jié)果。

可選的，所述測試機(jī)，將每幀波形在第j個(gè)狀態(tài)下的電壓值V_j與預(yù)設(shè)的第一電壓閾值V_i1和第二電壓閾值V_i2進(jìn)行比較，當(dāng)V_j＞V_i1時(shí)，將所述第j個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的比較結(jié)果設(shè)定為第一狀態(tài)碼；當(dāng)V_j＜V_i2時(shí)，將所述第j個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的比較結(jié)果設(shè)定為第二狀態(tài)碼；其中，V_i＞V_i1＞V_i2＞V_i+1，1≤i≤n-1，V_i為第i個(gè)檔位對應(yīng)的電壓值，V_i+1為第i+1個(gè)檔位對應(yīng)的電壓值，n為根據(jù)預(yù)設(shè)的理論波形電壓值所劃分出的檔位數(shù)目，且i、n均為整數(shù)；每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下對應(yīng)的所述第一狀態(tài)碼以及所述第二狀態(tài)碼的集合為所述每幀波形的比較結(jié)果。

可選的，所述測試機(jī)，還適于接收所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓，并將所述偏置電壓與所述實(shí)際工作模式下的預(yù)設(shè)偏置電壓門限值進(jìn)行比較，獲取偏置電壓的比較結(jié)果；所述測試機(jī)輸出測試結(jié)果，所述測試結(jié)果包括：所述所有幀波形的比較結(jié)果，以及所述偏置電壓的比較結(jié)果。

可選的，所述測試機(jī)，還適于將所述測試結(jié)果輸出至所述芯片承載臺(tái)；所述芯片承載臺(tái)還適于在接收到所述測試結(jié)果時(shí)，根據(jù)所述測試結(jié)果將所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行分類或標(biāo)記。

可選的，所述LCD驅(qū)動(dòng)芯片包括時(shí)鐘信號(hào)輸入端，所述時(shí)鐘信號(hào)輸入端與所述測試機(jī)的時(shí)鐘信號(hào)輸出端耦接；所述測試機(jī)，適于根據(jù)向所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)刻點(diǎn)，對接收到的所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的波形進(jìn)行同步。

可選的，所述芯片承載臺(tái)包括以下任一種：機(jī)械手、探針臺(tái)。

本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，包括：向所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出工作模式設(shè)置指令；設(shè)置所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的實(shí)際工作模式；接收所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的波形；依次提取每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值；將所述每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值分別與所述每幀波形每一個(gè)狀態(tài)下預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，獲取每幀波形的比較結(jié)果；將所述每幀波形的比較結(jié)果與所述實(shí)際工作模式下所述每幀波形的預(yù)設(shè)值進(jìn)行對比，獲取所述實(shí)際工作模式下所有幀波形的比較結(jié)果；輸出所述測試結(jié)果。

可選的，將所述每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值分別與所述每幀波形每一個(gè)狀態(tài)下預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，包括：將每幀波形在第j個(gè)狀態(tài)下的電壓值V_j與預(yù)設(shè)的第一電壓閾值V_i1和第二電壓閾值V_i2進(jìn)行比較，當(dāng)V_j＞V_i1時(shí)，將所述第j個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的比較結(jié)果設(shè)定為第一狀態(tài)碼；當(dāng)V_j＜V_i2時(shí)，將所述第j個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的比較結(jié)果設(shè)定為第二狀態(tài)碼；其中，V_i＞V_i1＞V_i2＞V_i+1，1≤i≤n-1，V_i為第i個(gè)檔位對應(yīng)的電壓值，V_i+1為第i+1個(gè)檔位對應(yīng)的電壓值，n為根據(jù)預(yù)設(shè)的理論波形電壓值所劃分出的檔位數(shù)目，且i、n均為整數(shù)；每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下對應(yīng)的所述第一狀態(tài)碼以及所述第二狀態(tài)碼的集合為所述每幀波形的比較結(jié)果。

可選的，在輸出所述測試結(jié)果之前，還包括：接收所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓；將所述偏置電壓與所述實(shí)際下的預(yù)設(shè)偏置電壓門限值進(jìn)行比較，獲取偏置電壓的比較結(jié)果；所述測試結(jié)果還包括所述偏置電壓的比較結(jié)果。

可選的，所述輸出測試結(jié)果，包括：將所述測試結(jié)果輸出至承載所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的芯片承載臺(tái)，使得所述芯片承載臺(tái)根據(jù)所述測試結(jié)果將所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行分類或標(biāo)記。

可選的，所述芯片承載臺(tái)包括以下任一種：機(jī)械手、探針臺(tái)。

可選的，在向所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出工作模式設(shè)置指令之前，還包括：向所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的時(shí)鐘信號(hào)輸入端輸入時(shí)鐘信號(hào)；根據(jù)向所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)刻點(diǎn)，對接收到的所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的波形進(jìn)行同步。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案具有以下有益效果：

在接收到所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片生成的與實(shí)際工作模式對應(yīng)的波形時(shí)，提取每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值，并分別與實(shí)際工作模式下每幀波形每一個(gè)狀態(tài)下預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，從而可以獲取每幀波形的比較結(jié)果。將每幀波形的比較結(jié)果與實(shí)際工作模式下每幀波形的預(yù)設(shè)值進(jìn)行對比，獲取實(shí)際工作模式下所有幀波形的比較結(jié)果，從而完成對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試。上述方案將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的波形對應(yīng)的電壓與實(shí)際工作模式預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，并不依賴于人工觀察芯片的輸出波形，故可以提高LCD驅(qū)動(dòng)芯片測試的準(zhǔn)確度及測試效率。

進(jìn)一步，在測試完成后，測試機(jī)將測試結(jié)果輸出至芯片承載臺(tái)。芯片承載臺(tái)根據(jù)測試結(jié)果將LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行分類或標(biāo)記，可以自動(dòng)地完成芯片分類，進(jìn)一步提高LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試效率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實(shí)施例中的一種LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例中的一種偏置電壓生成單元的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本發(fā)明實(shí)施例中的一種LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的波形示意圖；

圖4是本發(fā)明實(shí)施例中的一種LCD驅(qū)動(dòng)芯片的COM0端口輸出波形示意圖；

圖5是本發(fā)明實(shí)施例中的一種LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

現(xiàn)有技術(shù)中，在對LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行測試時(shí)，通常是將LCD驅(qū)動(dòng)芯片的波形所對應(yīng)的顯示器圖形通過模擬器進(jìn)行顯示，測試人員通過示波器觀察LCD顯示驅(qū)動(dòng)芯片的輸出波形或模擬器的顯示界面，并與理論上的仿真波形進(jìn)行比對，來驗(yàn)證LCD驅(qū)動(dòng)芯片的功能是否符合要求。

然而，現(xiàn)有的LCD驅(qū)動(dòng)芯片測試方法易受測試人員的主觀因素影響，測試準(zhǔn)確度較差。此外，通過人工觀察芯片的輸出波形需要花費(fèi)大量的時(shí)間，導(dǎo)致LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試效率較低。

在本發(fā)明實(shí)施例中，在接收到所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片生成的與實(shí)際工作模式對應(yīng)的波形時(shí)，提取每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值，并分別與實(shí)際工作模式下每幀波形每一個(gè)狀態(tài)下預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，從而可以獲取每幀波形的比較結(jié)果。將每幀波形的比較結(jié)果與實(shí)際工作模式下每幀波形的預(yù)設(shè)值進(jìn)行對比，獲取實(shí)際工作模式下所有幀波形的比較結(jié)果，從而完成對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試。上述方案將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的波形對應(yīng)的電壓與實(shí)際工作模式預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，并不依賴于人工觀察芯片的輸出波形，故可以提高LCD驅(qū)動(dòng)芯片測試的準(zhǔn)確度及測試效率。

為使本發(fā)明的上述目的、特征和有益效果能夠更為明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實(shí)施例做詳細(xì)的說明。

參照圖1，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試系統(tǒng)，包括：芯片承載臺(tái)102以及測試機(jī)101。

在具體實(shí)施中，芯片承載臺(tái)102，適于承載所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103，以便于測試機(jī)101對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103進(jìn)行測試。在芯片承載臺(tái)102上，可以設(shè)置有探針或者插槽，以與所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103的引腳建立電連接。

芯片承載臺(tái)102可以為機(jī)械手，也可以為探針臺(tái)，還可以為其他類型的承載裝置。

在實(shí)際應(yīng)用中，在對LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行測試之前，先將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片放置在芯片承載臺(tái)102?？梢酝ㄟ^人工將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片放置在芯片承載臺(tái)102，也可以通過機(jī)械抓手等裝置將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片自動(dòng)地放置在芯片承載臺(tái)102。

在具體實(shí)施中，當(dāng)所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103放置在芯片承載臺(tái)102上之后，測試機(jī)101可以與所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103進(jìn)行通信。當(dāng)測試機(jī)101檢測到測試人員輸入的開始測試的觸發(fā)信號(hào)時(shí)，向所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103輸出工作模式設(shè)置指令，以設(shè)置所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103的實(shí)際工作模式。

所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103在接收到工作模式設(shè)置指令后，根據(jù)工作模式設(shè)置指令設(shè)置實(shí)際工作模式，并輸出與實(shí)際工作模式對應(yīng)的波形。測試機(jī)101在接收到所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103輸出的波形后，依次提取每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值，并分別與實(shí)際工作模式下每幀波形每一個(gè)狀態(tài)下預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，獲取每幀波形的比較結(jié)果。在獲取到每幀波形的比較結(jié)果之后，將每幀波形的比較結(jié)果與實(shí)際工作模式下每幀波形的預(yù)設(shè)值進(jìn)行比對，獲取實(shí)際工作模式下所有幀波形的比較結(jié)果，將得到的比較結(jié)果作為測試結(jié)果。

當(dāng)每幀波形的比較結(jié)果與實(shí)際工作模式下每幀波形的預(yù)設(shè)值相同時(shí)，得到的結(jié)果為所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103功能正常。反之，當(dāng)每幀波形的比較結(jié)果與實(shí)際工作模式下每幀波形的預(yù)設(shè)值不同時(shí)，得到的結(jié)果為所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103功能異常。

在具體實(shí)施中，可以預(yù)先模擬出功能正常的LCD驅(qū)動(dòng)芯片對應(yīng)的理論波形，并根據(jù)電壓值大小，將每幀理論波形電壓值劃分為n個(gè)檔位。在實(shí)際應(yīng)用中可知，每幀波形包括8個(gè)狀態(tài)。針對每一個(gè)狀態(tài)，其對應(yīng)的電壓值均可能不同。在一幀波形中，可能存在部分狀態(tài)對應(yīng)的電壓值相同的情況。

例如，在一幀波形中，第1個(gè)狀態(tài)和第3個(gè)狀態(tài)、第4個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的電壓值均為V₁，第2個(gè)狀態(tài)和第6個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的電壓值均為V₂，第5個(gè)狀態(tài)和第8個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的電壓值均為V₃，第7個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的電壓值為V₀。則可以將該幀波形劃分為4個(gè)檔位，依次為第1檔位、第2檔位、第3檔位以及第4檔位，第1檔位對應(yīng)的電壓值為V₃，第2檔位對應(yīng)的電壓值為V₂，第3檔位對應(yīng)的電壓值為V₁，第四檔位對應(yīng)的電壓值為V₀。

在每兩個(gè)檔位之間，分別設(shè)置第一電壓閾值以及第二電壓閾值，第一電壓閾值大于第二電壓閾值且小于兩個(gè)檔位中的最大電壓值，第二電壓閾值大于兩個(gè)檔位中的最小電壓值。

在具體實(shí)施中，針對第i個(gè)檔位，設(shè)定V_i為第i個(gè)檔位對應(yīng)的電壓值，V_i+1為第i+1個(gè)檔位對應(yīng)的電壓值，V_i1為第一電壓閾值，V_i2為第二電壓閾值，且V_i＞V_i1＞V_i2＞V_i+1，1≤i≤n-1，n為根據(jù)預(yù)設(shè)的理論波形電壓值所劃分出的檔位數(shù)目，且i、n均為整數(shù)。

將每幀波形在第j個(gè)狀態(tài)下的電壓值V_j與第i個(gè)檔位對應(yīng)的第一電壓閾值V_i1、第二電壓閾值V_i2進(jìn)行比較，當(dāng)V_j＞V_i1時(shí)，將第j個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的比較結(jié)果設(shè)定為第一狀態(tài)碼；當(dāng)V_j＜V_i2時(shí)，將第j個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的比較結(jié)果設(shè)定為第二狀態(tài)碼。在對一幀波形的每一個(gè)狀態(tài)完成比較之后，可以得到該幀波形對應(yīng)的比較結(jié)果，每幀波形的比較結(jié)果為：每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的第一狀態(tài)碼以及第二狀態(tài)碼的集合。

在具體實(shí)施中，可以將第一狀態(tài)碼設(shè)定為H，將第二狀態(tài)碼設(shè)定L。

在實(shí)際應(yīng)用中可知，一幀波形對應(yīng)8個(gè)狀態(tài)，因此，得到的一幀波形的比較結(jié)果為由H和L組成的8位數(shù)據(jù)。

由于每幀波形被劃分為n個(gè)檔位，針對每兩個(gè)相鄰的檔位，均設(shè)置對應(yīng)的第一電壓閾值以及第二電壓閾值，并將第j個(gè)狀態(tài)下的電壓值分別與第一電壓值以及第二電壓值進(jìn)行比較。因此，一幀波形的比較結(jié)果包括n-1組。

在得到一幀波形的n-1組比較結(jié)果之后，可以將n-1組比較結(jié)果分別與該幀波形的n-1組預(yù)設(shè)值進(jìn)行比較，得到的比較結(jié)果包括：與預(yù)設(shè)值完全相同、與預(yù)設(shè)值不完全相同。在將所有幀波形的n-1組比較結(jié)果與該幀波形的n-1組預(yù)設(shè)值進(jìn)行比較之后，即可獲知所有幀波形的比較結(jié)果。當(dāng)所有幀波形比較結(jié)果均為與預(yù)設(shè)值完全相同時(shí)，得到的測試結(jié)果為所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103功能正常；反之，當(dāng)其中一幀波形的比較結(jié)果為與預(yù)設(shè)值不完全相同時(shí)，得到的測試結(jié)果為所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103功能異常。

在具體實(shí)施中，每幀波形的n-1組預(yù)設(shè)值可以通過理論仿真得出。在仿真工具中，設(shè)置LCD驅(qū)動(dòng)芯片的實(shí)際工作模式，使得LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出相應(yīng)的波形。提取LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值，并將其與每兩個(gè)相鄰檔位設(shè)置的第一電壓閾值以及第二電壓閾值進(jìn)行比較，得到的n-1組比較結(jié)果作為n-1組預(yù)設(shè)值，并保存在測試機(jī)101中。

在具體實(shí)施中，測試機(jī)101在得到測試結(jié)果后，可以將測試結(jié)果輸出至芯片承載臺(tái)102。芯片承載臺(tái)102可以根據(jù)測試結(jié)果對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103進(jìn)行分類或標(biāo)記。

例如，芯片承載臺(tái)包括兩個(gè)出料口，分別為功能正常芯片出料口以及功能異常芯片出料口。當(dāng)接收到的測試結(jié)果為所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片功能正常時(shí)，將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出至功能正常芯片出料口。當(dāng)接收到的測試結(jié)果為所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片功能異常時(shí)，將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出至功能異常芯片出料口。

芯片承載臺(tái)根據(jù)測試結(jié)果將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片通過相應(yīng)出料口輸出，可以自動(dòng)地將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片分類，而無需人工將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片分類，故能夠提高芯片測試效率。

又如，芯片承載臺(tái)在接收到測試機(jī)輸出的測試結(jié)果時(shí)，根據(jù)測試結(jié)果，將功能異常的所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片表面通過打墨點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記，功能正常的所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片表面則不做標(biāo)記。

可以理解的是，芯片承載臺(tái)還可以采用其他的方法，根據(jù)測試結(jié)果對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行分類或標(biāo)記，此處不做贅述。

在具體實(shí)施中，所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103的時(shí)鐘信號(hào)由能夠產(chǎn)生固定振蕩周期的晶體振蕩器提供。然而，若采用獨(dú)立的晶體振蕩器為所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103提供時(shí)鐘信號(hào)，則可能存在晶體振蕩器輸出的時(shí)鐘信號(hào)的初始相位不固定的問題，也即每一次晶體振蕩器輸出的時(shí)鐘信號(hào)的初始相位可能均不相同，導(dǎo)致測試機(jī)101難以對LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的波形進(jìn)行同步測試。

在本發(fā)明實(shí)施例中，為避免上述問題的出現(xiàn)，在進(jìn)行測試時(shí)，測試機(jī)101的時(shí)鐘信號(hào)輸出端與所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103的時(shí)鐘信號(hào)輸入端耦接，由測試機(jī)101為所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103提供時(shí)鐘信號(hào)。測試機(jī)101在為所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103提供時(shí)鐘信號(hào)時(shí)，可以記錄向所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103輸出時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)刻點(diǎn)。在接收到所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103輸出的波形時(shí)，根據(jù)向所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103輸出時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)刻點(diǎn)t₀，對接收到的所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103輸出的波形進(jìn)行同步處理。

在實(shí)際應(yīng)用中，測試人員可以預(yù)先通過仿真軟件，仿真所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103從接收到時(shí)鐘信號(hào)到輸出波形的時(shí)長t。測試機(jī)101在向所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片103輸出時(shí)鐘信號(hào)后，即可將同步時(shí)刻點(diǎn)設(shè)置為時(shí)刻點(diǎn)t₀+t，也即：從時(shí)刻點(diǎn)t₀+t開始，測試機(jī)101依次提取每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值，并獲取每幀波形的比較結(jié)果。

下面對本發(fā)明上述實(shí)施例中提供的LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試系統(tǒng)的工作原理及測試流程進(jìn)行說明。

在實(shí)際應(yīng)用中可知，LCD驅(qū)動(dòng)芯片包括公共背電極端(COM)端口以及公共段電極端(SEG)接口。所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片在接收到工作模式設(shè)置指令之后，設(shè)置實(shí)際工作模式，分別通過COM端口和SEG端口輸出波形。

對LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行測試時(shí)，分別對LCD驅(qū)動(dòng)芯片的COM端口以及SEG端口進(jìn)行測試。

在具體實(shí)施中，所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片中設(shè)置有偏置電壓生成單元、COM端口波形生成單元以及SEG端口波形生成單元。所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片在接收到測試機(jī)101發(fā)送的工作模式設(shè)置指令時(shí)，設(shè)置實(shí)際工作模式并生成與實(shí)際工作模式對應(yīng)的偏置電壓，并分別輸出至COM端口波形生成單元以及SEG端口波形生成單元。COM端口波形生成單元在偏置電壓的驅(qū)動(dòng)下，生成相應(yīng)波形并通過COM端口輸出至測試機(jī)101。SEG端口波形生成單元在偏置電壓的驅(qū)動(dòng)下，生成相應(yīng)波形并通過SEG端口輸出至測試機(jī)101。

在對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的COM端口進(jìn)行測試時(shí)，測試機(jī)101可以獲取COM端口的輸出波形，提取COM端口的輸出波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值，并與預(yù)設(shè)的實(shí)際工作模式下COM端口在每一個(gè)狀態(tài)下預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，得到COM端口的每幀波形的比較結(jié)果。

相應(yīng)地，在對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的SEG端口進(jìn)行測試時(shí)，測試機(jī)101可以獲取SEG端口的輸出波形，提取SEG端口的輸出波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值，并與預(yù)設(shè)的實(shí)際工作模式下SEG端口在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓閾值進(jìn)行比較，得到SEG端口的每幀波形的比較結(jié)果。

參照圖2，給出了本發(fā)明實(shí)施例中的一種偏置電壓生成單元20的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2中，偏置電壓生成單元20包括三個(gè)信號(hào)輸入端口：信號(hào)輸入口bias0、信號(hào)輸入口bias1以及信號(hào)輸入口bias2。此外，偏置電壓生成單元20包括分壓電阻R1～R6，每一個(gè)分壓電阻的阻值均相等。分壓電阻R1～R5的兩端均分別并聯(lián)有開關(guān)S1～S5。

可以理解的是，圖2示出的分壓電阻以及開關(guān)僅為示意圖，在實(shí)際應(yīng)用中偏置電壓生成單元20的結(jié)構(gòu)并不僅限于圖2中所示。

測試機(jī)101根據(jù)工作模式設(shè)置指令，選擇三個(gè)信號(hào)輸入端口中的一個(gè)，以確定實(shí)際工作模式。在不同的實(shí)際工作模式下，各個(gè)偏置電壓輸出端口輸出的電壓不同。

當(dāng)測試機(jī)101輸出的實(shí)際工作模式為工作模式0時(shí)，信號(hào)輸入口bias0輸入高電平信號(hào)。此時(shí)，偏置電壓生成單元20中的分壓電阻R1對應(yīng)的開關(guān)S1閉合，也即分壓電阻R1被短路。偏置電壓生成單元20中的5個(gè)偏置電壓輸出端口的輸出電壓依次為：V₄’＝V_LCD，V₃’＝4/5*V_LCD，V₂’＝3/5*V_LCD，V₁’＝2/5*V_LCD，V₀’＝1/5*V_LCD。

當(dāng)測試機(jī)101輸出的實(shí)際工作模式為工作模式1時(shí)，信號(hào)輸入口bias1輸入高電平信號(hào)。此時(shí)，偏置電壓生成單元20中的分壓電阻R1對應(yīng)的開關(guān)S1閉合，也即分壓電阻R1被短路；分壓電阻R2對應(yīng)的開關(guān)S2閉合，也即分壓電阻R2被短路。偏置電壓生成單元20中的5個(gè)偏置電壓輸出端口的輸出電壓依次為：V₄’＝V_LCD，V₃’＝V_LCD，V₂’＝3/4*V_LCD，V₁’＝2/4*V_LCD，V₀’＝1/4*V_LCD。

當(dāng)測試機(jī)101輸出的實(shí)際工作模式為工作模式2時(shí)，信號(hào)輸入口bias2輸入高電平信號(hào)。此時(shí)，偏置電壓生成單元20中的分壓電阻R1對應(yīng)的開關(guān)S1閉合，也即分壓電阻R1被短路；分壓電阻R2對應(yīng)的開關(guān)S2閉合，也即分壓電阻R2被短路；分壓電阻R3對應(yīng)的開關(guān)S3閉合，也即分壓電阻R3被短路。偏置電壓生成單元20中的5個(gè)偏置電壓輸出端口的輸出電壓依次為：V₄’＝V_LCD，V₃’＝V_LCD，V₂’＝V_LCD，V₁’＝2/3*V_LCD，V₀’＝1/3*V_LCD。

從上述對偏置電壓生成單元的描述可知，針對測試機(jī)101輸出的實(shí)際工作模式的不同，偏置電壓生成單元輸出的偏置電壓不同。

偏置電壓生成單元生成的偏置電壓輸出至COM端口波形生成單元以及SEG端口波形生成單元。當(dāng)輸入的偏置電壓不同時(shí)，COM端口波形生成單元生成的波形的幅度不同；相應(yīng)地，SEG端口波形生成單元生成的波形的幅度也不相同。

COM端口波形生成單元以及SEG端口波形生成單元輸出的波形對應(yīng)的電壓值包括4個(gè)檔位，第1檔位對應(yīng)的電壓值為V₃，第2檔位對應(yīng)的電壓值為V₂，第3檔位對應(yīng)的電壓值為V₁，第4檔位對應(yīng)的電壓值為V₀。

在一幀內(nèi)，COM端口波形生成單元輸出的波形和SEG端口波形生成單元輸出的波形會(huì)發(fā)生時(shí)間相等的8次變化，也即：在一幀內(nèi)，在T1、T2、……、T8，COM端口波形生成單元輸出的波形存在8次跳變，SEG端口波形生成單元輸出的波形同樣存在8次跳變。

由上可見，在每一幀內(nèi)，COM端口波形生成單元輸出的波形以及SEG端口波形生成單元輸出的波形一直處于變化的狀態(tài)。若通過人工將COM端口波形生成單元輸出的波形以及SEG端口波形生成單元輸出的波形與預(yù)設(shè)的波形進(jìn)行比對，工作量較大，且精度較差。

參照圖3，給出了本發(fā)明實(shí)施例中的一種LCD驅(qū)動(dòng)芯片的輸出的波形示意圖。在實(shí)際應(yīng)用中，LCD驅(qū)動(dòng)芯片包括四個(gè)COM端口以及兩個(gè)SEG端口，四個(gè)COM端口依次為COM0、COM1、COM2以及COM3，兩個(gè)SEG端口依次為SEG0、SEG1。

在本發(fā)明一實(shí)施例中，當(dāng)i＝1時(shí)，設(shè)定V₄為第1檔位與第2檔位之間的第一電壓閾值，設(shè)定V₅為第1檔位與第2檔位之間的第二電壓閾值，且V₃＞V₄＞V₅＞V₂。當(dāng)i＝2時(shí)，設(shè)定V₆為第2檔位與第3檔位之間的第一電壓閾值，設(shè)定V₇為第2檔位與第3檔位之間的第二電壓閾值。當(dāng)i＝3時(shí)，設(shè)定V₈為第3檔位與第4檔位之間的第一電壓閾值，設(shè)定V₉為第3檔位與第4檔位之間的第二電壓閾值。設(shè)定第一狀態(tài)碼為H，第二狀態(tài)碼為L。

測試機(jī)提取T1時(shí)刻～T8時(shí)刻的波形的電壓值，并分別與V₄和V₅進(jìn)行比較、與V₆和V₇進(jìn)行比較以及與V₈和V₉進(jìn)行比較，得到三組比較結(jié)果。

下面結(jié)合圖4，以COM端口COM0為例進(jìn)行說明。

圖4中，針對COM端口COM0，在T1時(shí)刻，第1個(gè)狀態(tài)下的電壓值為V₀，且V₀＜V₅，則判定第1個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。在T2時(shí)刻，第2個(gè)狀態(tài)下的電壓值為V₃，且V₃＞V₄，則判定第2個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T3時(shí)刻，第3個(gè)狀態(tài)下的電壓值為V₂，且V₂＜V₅，則判定第3個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。在T4時(shí)刻，第4個(gè)狀態(tài)下的電壓值為V₁，且V₁＜V₅，則判定第4個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。在T5時(shí)刻，第5個(gè)狀態(tài)下的電壓值為V₂，且V₂＜V₅，則判定第5個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。在T6時(shí)刻，第6個(gè)狀態(tài)下的電壓值為V₁，則判定第6個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。在T7時(shí)刻，第7個(gè)狀態(tài)下的電壓值為V₂，則判定第7個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。在T8時(shí)刻，第8個(gè)狀態(tài)下的電壓值為V₁，則判定第8個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。

因此，T1時(shí)刻～T8時(shí)刻對應(yīng)的比較結(jié)果為：LHLLLLLL，也即得到的第一組比較結(jié)果為LHLLLLLL。

相應(yīng)地，針對COM端口COM0，在T1時(shí)刻～T8時(shí)刻，將每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值分別與V₆、V₇進(jìn)行比較。

在T1時(shí)刻，V₀＜V₇，故第1個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。在T2時(shí)刻，V₃＞V₆，故第2個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T3時(shí)刻，V₂＞V₆，故第3個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T4時(shí)刻，V₁＜V₇，故第4個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。在T5時(shí)刻，V₂＞V₆，故第5個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T6時(shí)刻，V₁＜V₇，故第6個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。在T7時(shí)刻，V₂＞V₆，故第7個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T8時(shí)刻，V₁＜V₇，故第8個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。

因此，T1～T8時(shí)刻對應(yīng)的比較結(jié)果為：LHHLHLHL，也即得到的第二組比較結(jié)果為LHHLHLHL。

相應(yīng)地，針對COM端口COM0，在T1時(shí)刻～T8時(shí)刻，將每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值分別與V₈、V₉進(jìn)行比較。

在T1時(shí)刻，V₀＜V₉，故第1個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為L。在T2時(shí)刻，V₃＞V₈，故第2個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T3時(shí)刻，V₂＞V₈，故第3個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T4時(shí)刻，V₁＞V₈，故第4個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T5時(shí)刻，V₂＞V₈，故第5個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T6時(shí)刻，V₁＞V₈，故第6個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T7時(shí)刻，V₂＞V₈，故第7個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。在T8時(shí)刻，V₁＞V₈，故第8個(gè)狀態(tài)下COM0對應(yīng)的比較結(jié)果為H。

因此，T1～T8時(shí)刻對應(yīng)的比較結(jié)果為：LHHHHHHH，也即得到的第三組比較結(jié)果為LHHHHHHH。

通過上述步驟，得到三組比較結(jié)果。

在得到三組比較結(jié)果之后，可以分別將三組比較結(jié)果分別與實(shí)際工作模式下每幀波形的預(yù)設(shè)值進(jìn)行比較。

例如，實(shí)際工作模式0的第一組預(yù)設(shè)值為LHLLLLLL，第二組預(yù)設(shè)值為LHHLHLHL，第三組預(yù)設(shè)值為LHHHHHHH。將工作模式0的三組預(yù)設(shè)值分別與三組比較結(jié)果進(jìn)行比較，可以得知三組預(yù)設(shè)值分別與三組比較結(jié)果均相等，因此，得到的結(jié)果為“在T1～T8時(shí)刻，COM0端口測試正常”，也即測試結(jié)果為“T1～T8時(shí)刻，COM0端口測試正?！薄?/p>

又如，實(shí)際工作模式0的第一組預(yù)設(shè)值為LHLLLLLL，第二組預(yù)設(shè)值為LHHHHHHL，第三組預(yù)設(shè)值為LHHHHHHH。將工作模式0的三組預(yù)設(shè)值分別與三組比較結(jié)果進(jìn)行比較，可以得知第二組預(yù)設(shè)值與第二組比較結(jié)果不同，因此，得到的結(jié)果為“在T1～T8時(shí)刻，COM0端口測試錯(cuò)誤”，也即測試結(jié)果為“T1～T8時(shí)刻，COM0端口測試錯(cuò)誤”。

在實(shí)際應(yīng)用中，可以采用上述方法，并行地對COM0～COM4以及SEG0～SEG1進(jìn)行測試，以提高測試速度和測試效率。

當(dāng)所有的COM端口以及SEG端口均正常時(shí)，判定所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片為功能正常的芯片。當(dāng)COM端口以及SEG端口中的任一個(gè)測試結(jié)果為測試錯(cuò)誤時(shí)，判定所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片為功能異常的芯片。

測試機(jī)101將測試結(jié)果發(fā)送至芯片承載臺(tái)102。芯片承載臺(tái)102根據(jù)測試結(jié)果，對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行分類或標(biāo)記。芯片承載臺(tái)可以將功能正常的所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片歸為一類并放置在一起，將功能異常的所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片歸為一類并放置在一起。芯片承載臺(tái)也可以將功能異常的所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的表面通過打墨點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記，而功能正常的所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的表面則不做標(biāo)記。

由此可見，在接收到所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片生成的與實(shí)際工作模式對應(yīng)的波形時(shí)，提取每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值，并分別與實(shí)際工作模式下每幀波形每一個(gè)狀態(tài)下預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，從而可以獲取每幀波形的比較結(jié)果。將每幀波形的比較結(jié)果與實(shí)際工作模式下每幀波形的預(yù)設(shè)值進(jìn)行對比，獲取實(shí)際工作模式下所有幀波形的比較結(jié)果，從而完成對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試。上述方案將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的波形對應(yīng)的電壓與實(shí)際工作模式預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較，并不依賴于人工觀察芯片的輸出波形，故可以提高LCD驅(qū)動(dòng)芯片測試的準(zhǔn)確度及測試效率。

在現(xiàn)有技術(shù)中，大部分的測試機(jī)在對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行測試時(shí)，僅設(shè)置一組比較電壓閾值，導(dǎo)致測試結(jié)果的準(zhǔn)確性較差。而在本發(fā)明實(shí)施例中，在對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行測試時(shí)，在兩個(gè)檔位之間設(shè)置兩個(gè)不同的電壓比較閾值，可以提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

在具體實(shí)施中，在對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行測試時(shí)，還可以對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓進(jìn)行測試。當(dāng)偏置電壓的比較結(jié)果為正常，且每幀波形的比較結(jié)果與實(shí)際工作模式下每幀波形的預(yù)設(shè)值均相同時(shí)，判定所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的功能正常；當(dāng)偏置電壓的比較結(jié)果為異常，或者每幀波形的比較結(jié)果與實(shí)際工作模式下每幀波形的預(yù)設(shè)值不完全相同時(shí)，判定所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的功能異常。

在對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓進(jìn)行測試時(shí)，可以將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓與實(shí)際工作模式下的預(yù)設(shè)偏置電壓門限值進(jìn)行比較。當(dāng)所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓與預(yù)設(shè)偏置電壓門限值相同時(shí)，則判定偏置電壓的比較結(jié)果為正常；當(dāng)所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓與預(yù)設(shè)偏置電壓門限值不同時(shí)，則判定偏置電壓的比較結(jié)果異常。

在具體實(shí)施中，當(dāng)偏置電壓生成單元包括多個(gè)偏置電壓輸出端口時(shí)，所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓為多個(gè)。在預(yù)先設(shè)置實(shí)際工作模式對應(yīng)的偏置電壓門限值時(shí)，需要設(shè)置相應(yīng)個(gè)數(shù)的偏置電壓門限值，且每一個(gè)偏置電壓輸出端口存在一一對應(yīng)的偏置電壓門限值。

例如，參照圖2，偏置電壓生成單元包括5個(gè)偏置電壓輸出端口，則每一個(gè)實(shí)際工作模式對應(yīng)的偏置電壓門限值為5個(gè)，且5個(gè)偏置電壓輸出端口與5個(gè)偏置電壓門限值一一對應(yīng)。

結(jié)合圖2可知，針對不同的實(shí)際工作模式，偏置電壓生成單元生成的偏置電壓不同。例如，當(dāng)測試機(jī)設(shè)置的實(shí)際工作模式為工作模式1時(shí)，5個(gè)偏置電壓輸出端口的輸出電壓依次為：V₄’＝V_LCD，V₃’＝4/5*V_LCD，V₂’＝3/5*V_LCD，V₁’＝2/5*V_LCD，V₀’＝1/5*V_LCD。當(dāng)測試機(jī)設(shè)置的實(shí)際工作模式為工作模式2時(shí)，5個(gè)偏置電壓輸出端口的輸出電壓依次為：V₄’＝V_LCD，V₃’＝V_LCD，V₂’＝3/4*V_LCD，V₁’＝2/4*V_LCD，V₀’＝1/4*V_LCD。

在對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓進(jìn)行測試時(shí)，將偏置電壓生成單元輸出的偏置電壓與預(yù)設(shè)的實(shí)際工作模式下對應(yīng)的預(yù)設(shè)偏置電壓門限值進(jìn)行比較。

例如，預(yù)設(shè)的實(shí)際工作模式為工作模式1，則可以預(yù)先設(shè)定5個(gè)偏置電壓輸出端口輸出的偏置電壓門限值分別為：V_LCD、4/5*V_LCD、3/5*V_LCD、2/5*V_LCD以及1/5*V_LCD。在對所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓進(jìn)行測試時(shí)，將5偏置電壓輸出端口輸出的偏置電壓分別與各自對應(yīng)的偏置電壓門限值進(jìn)行比較。當(dāng)5個(gè)偏置電壓輸出端口輸出的偏置電壓分別與各自對應(yīng)的偏置電壓門限值均相同時(shí)，判定偏置電壓的比較結(jié)果正常；反之，當(dāng)5個(gè)偏置電壓輸出端口輸出的偏置電壓中的其中一個(gè)與自身對應(yīng)的偏置電壓門限值不同時(shí)，則判定偏置電壓的比較結(jié)果異常。

參照圖5，給出了本發(fā)明實(shí)施例中的一種LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，以下通過具體步驟進(jìn)行詳細(xì)說明。

步驟S501，向所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出工作模式設(shè)置指令。

在具體實(shí)施中，當(dāng)測試人員存在對LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試需求時(shí)，可以對測試機(jī)進(jìn)行操作。當(dāng)測試機(jī)檢測到測試人員對測試機(jī)的操作時(shí)，向所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出工作模式設(shè)置指令，以設(shè)置所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的實(shí)際工作模式。

例如，在測試機(jī)的操作界面，測試人員點(diǎn)擊“開始測試”選項(xiàng)。當(dāng)測試機(jī)檢測到“開始測試”選項(xiàng)被觸發(fā)時(shí)，向所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出工作模式設(shè)置指令。

在具體實(shí)施中，在執(zhí)行步驟S501之前，測試機(jī)可以通過時(shí)鐘信號(hào)輸出端口向所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出時(shí)鐘信號(hào)。所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片根據(jù)測試機(jī)輸出的時(shí)鐘信號(hào)，輸出相應(yīng)的波形。

步驟S502，接收所述所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的波形。

在具體實(shí)施中，當(dāng)所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片接收到工作模式設(shè)置指令之后，生成與工作模式設(shè)置指令對應(yīng)的波形并輸出至測試機(jī)。

步驟S503，依次提取每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值。

在具體實(shí)施中，每一幀波形對應(yīng)多個(gè)狀態(tài)，測試機(jī)可以依次提取每一幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值。

步驟S504，將所述每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下的電壓值分別與所述每幀波形每一個(gè)狀態(tài)下預(yù)設(shè)的電壓閾值進(jìn)行比較。

在具體實(shí)施中，可以預(yù)先模擬出正常的LCD驅(qū)動(dòng)芯片對應(yīng)的理論波形，并根據(jù)電壓值大小，將理論波形電壓值劃分為n個(gè)檔位。將每幀波形在第j個(gè)狀態(tài)下的電壓值V_j與預(yù)設(shè)的第一電壓閾值V_i1和第二電壓閾值V_i2進(jìn)行比較，當(dāng)V_j＞V_i1時(shí)，將第j個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的比較結(jié)果設(shè)定為第一狀態(tài)碼；當(dāng)V_j＜V_i2時(shí)，將第j個(gè)狀態(tài)對應(yīng)的比較結(jié)果設(shè)定為第二狀態(tài)碼，其中：V_i＞V_i1＞V_i2＞V_i+1，V_i為第i個(gè)檔位對應(yīng)的電壓值，V_i+1為第i+1個(gè)檔位對應(yīng)的電壓值，n為根據(jù)預(yù)設(shè)的理論波形電壓值所劃分出的檔位數(shù)目，且i、n均為整數(shù)。

步驟S505，獲取每幀波形的比較結(jié)果。

在具體實(shí)施中，每幀波形在每一個(gè)狀態(tài)下對應(yīng)的所述第一狀態(tài)碼以及所述第二狀態(tài)碼的集合為所述每幀波形的比較結(jié)果。

步驟S506，將所述每幀波形的比較結(jié)果與所述實(shí)際工作模式下所述每幀波形的預(yù)設(shè)值進(jìn)行對比，獲取所述實(shí)際工作模式下所有幀波形的比較結(jié)果作為測試結(jié)果并輸出。

在具體實(shí)施中，測試機(jī)可以將得到的測試結(jié)果輸出至承載所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的芯片承載臺(tái)，使得芯片承載臺(tái)根據(jù)測試結(jié)果將所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片分類。

例如，芯片承載臺(tái)根據(jù)測試結(jié)果，將功能正常的芯片歸為一類并放置在一起，將功能異常的芯片歸為一類并放置在一起。芯片承載臺(tái)也可以將功能異常的所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的表面通過打墨點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記，而功能正常的所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的表面則不做標(biāo)記。

在具體實(shí)施中，芯片承載臺(tái)可以為機(jī)械手，也可以為探針臺(tái)，還可以為其他能夠承載所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片的承載裝置。

在具體實(shí)施中，測試機(jī)還可以接收所測LCD驅(qū)動(dòng)芯片輸出的偏置電壓，將偏置電壓與實(shí)際工作模式下對應(yīng)的預(yù)設(shè)偏置電壓門限值進(jìn)行比較，獲取偏置電壓的比較結(jié)果。此時(shí)，測試結(jié)果可以包括：每幀波形對應(yīng)的比較結(jié)果與所述實(shí)際工作模式下每幀波形對應(yīng)的預(yù)設(shè)值進(jìn)行對比得到的結(jié)果，以及偏置電壓的比較結(jié)果。

步驟S501～步驟S506的具體執(zhí)行流程可以參照本發(fā)明上述實(shí)施例中提供的LCD驅(qū)動(dòng)芯片的測試系統(tǒng)中的具體描述，此處不做贅述。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述實(shí)施例的各種方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，該程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，存儲(chǔ)介質(zhì)可以包括：ROM、RAM、磁盤或光盤等。

雖然本發(fā)明披露如上，但本發(fā)明并非限定于此。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動(dòng)與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求所限定的范圍為準(zhǔn)。