技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種用于生產(chǎn)參比電極的方法和裝置，其中所述參比電極(1)的內(nèi)部空間(2)由外壁(3)限定，并且其中所述內(nèi)部空間(2)包含達(dá)到指定高度(h)的參考電解質(zhì)(4)，其中所述參比電極(1)被引入增壓室(6)內(nèi)，其中將限定的過壓(PO)施加到所述增壓室(6)，并且經(jīng)由位于所述參比電極(1)的外壁(3)中的指定高度(h)之上的開口(5)施加到所述參比電極(1)的所述內(nèi)部空間(2)，并且其中所述參比電極(1)的外壁(3)中的開口(5)在限定的過壓(PO)下被封閉。

技術(shù)研發(fā)人員：邁克爾·漢克;斯蒂芬尼·耶恩;延斯·費(fèi)特曼
受保護(hù)的技術(shù)使用者：恩德萊斯和豪瑟爾分析儀表兩合公司
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.20
技術(shù)公布日：2017.07.21