技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種用于具有表面深谷信號的表面粗糙度測量的高斯濾波方法。用于具有表面深谷信號的表面粗糙度測量的高斯濾波方法包括：通過引入回歸理論和穩(wěn)健估計理論，獲得用于開放輪廓的開環(huán)高斯濾波模型；確定上述用于開放輪廓的開環(huán)高斯濾波模型所使用的穩(wěn)健估計權(quán)函數(shù)；利用當(dāng)前獲得的用于開放輪廓的開環(huán)高斯濾波模型，對具有表面深谷信號的表面粗糙度測量數(shù)據(jù)進行高斯濾波。本發(fā)明的用于具有表面深谷信號的表面粗糙度測量的高斯濾波方法，能夠消除邊界效應(yīng)，提高濾波器穩(wěn)健性，并能消除局部形狀對濾波中線的影響。

技術(shù)研發(fā)人員：謝勇剛;殷憲宇;許進
受保護的技術(shù)使用者：哈爾濱理工大學(xué)
文檔號碼：201610907699
技術(shù)研發(fā)日：2016.10.18
技術(shù)公布日：2017.02.22