1.用于具有表面深谷信號的表面粗糙度測量的高斯濾波方法，其特征在于，所述用于具有表面深谷信號的表面粗糙度測量的高斯濾波方法包括：
通過引入回歸理論和穩(wěn)健估計理論，獲得用于開放輪廓的開環(huán)高斯濾波模型；
確定所述用于開放輪廓的開環(huán)高斯濾波模型所使用的穩(wěn)健估計權(quán)函數(shù)；
利用當(dāng)前獲得的用于開放輪廓的開環(huán)高斯濾波模型，對具有表面深谷信號的表面粗糙度測量數(shù)據(jù)進行高斯濾波。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于具有表面深谷信號的表面粗糙度測量的高斯濾波方法，其特征在于，確定所述用于開放輪廓的開環(huán)高斯濾波模型所使用的穩(wěn)健估計權(quán)函數(shù)的步驟包括：
根據(jù)多個預(yù)定穩(wěn)健估計權(quán)函數(shù)各自的穩(wěn)健統(tǒng)計特性與濾波性能，在所述多個預(yù)定穩(wěn)健估計權(quán)函數(shù)之中選擇一個作為所述用于開放輪廓的開環(huán)高斯濾波模型所使用的穩(wěn)健估計權(quán)函數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于具有表面深谷信號的表面粗糙度測量的高斯濾波方法，其特征在于，所述用于開放輪廓的開環(huán)高斯濾波模型所使用的穩(wěn)健估計權(quán)函數(shù)為ADRF穩(wěn)健估計權(quán)函數(shù)。