本發(fā)明涉及電子元器件測試領(lǐng)域，尤其涉及一種用于電子元器件測試的單尾回形探針及具有該單尾回形探針的測試夾具。

背景技術(shù)：

電子元器件在制造完成后需對其進行結(jié)構(gòu)及電氣功能的測試，以保證電子元器件符合系統(tǒng)的需求。在對電子元器件進行測試的裝置中，需要利用探針來達成待測試電子元器件與電路板的電性連接，因此，探針的性能對測試效能將產(chǎn)生直接影響。

現(xiàn)有的最典型的探針為彈簧針1，如圖1所示，其具有針體11、設(shè)于針體11內(nèi)的彈簧12及設(shè)于針體11兩端的針頭13，針頭13外具有鍍層14。這種彈簧針1的針頭13以及針頭13外的鍍層14都易磨損；并且彈簧12尺寸受限，允許的電流小，導致彈簧絲過電流能力低，即使不斷改進，也難以滿足要求；而且多個部件組合，信號失真大。這種彈簧針1想要到達更高的電性性能，需要更好的材料，更好的鍍層工藝，這些都會造成成本的增加。

如圖2所示，現(xiàn)有的另一種非彈簧結(jié)構(gòu)的S形針2，其具有S形的針體21及設(shè)于針體21的彈性橡膠體22，其針體21為一體成型結(jié)構(gòu)，因此電性性能優(yōu)秀，但是針體21的動作嚴重依賴于彈性橡膠體22，以提供接觸壓力，一旦彈性橡膠體22疲勞則測試效能將大幅降低，因此在長時間的使用中，穩(wěn)定性差，且總體的使用成本很高。

因此，有必要提供一種在同等材質(zhì)、相近價格條件下，耐電流能力和工作頻率更高、阻抗和信號失真更低、測試效能更穩(wěn)定的單尾回形探針及測試夾具，以解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種同等材質(zhì)、相近價格條件下，耐電流能力和工作頻率更高、阻抗和信號失真更低、測試效能更穩(wěn)定的單尾回形探針。

本發(fā)明的另一目的在于提供一種同等材質(zhì)、相近價格條件下，耐電流能力和工作頻率更高、阻抗和信號失真更低、測試效能更穩(wěn)定的測試夾具。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案為：提供一種單尾回形探針，適用于電子元器件的測試夾具，其包括一基部、一第一懸臂、一第二懸臂及一接觸臂；第一懸臂自所述基部的一端延伸，其用于接觸待測試產(chǎn)品；所述第二懸臂自所述基部的另一端延伸，且所述第二懸臂、所述第一懸臂位于所述基部的同一側(cè)；所述接觸臂凸設(shè)于所述第二懸臂的遠離所述基部的一端，其用于接觸所述測試夾具的印刷電路板，且所述接觸臂與所述印刷電路板相接觸時，所述接觸臂垂直于所述印刷電路板。

較佳地，所述接觸臂垂直于所述第二懸臂。

較佳地，所述接觸臂的遠離所述第二懸臂的端部形成有和所述印刷電路板相接觸的接觸端，所述接觸端呈一字型、十字型、皇冠型或呈平面結(jié)構(gòu)。

較佳地，所述第一懸臂具有一遠離所述第二懸臂的第一位置及一靠近所述第二懸臂的第二位置，當所述第一懸臂處于所述第二位置時，所述單尾回形探針處于工作狀態(tài)。

較佳地，當所述第一懸臂處于所述第二位置時，所述第一懸臂與所述第二懸臂相平行。

較佳地，所述基部呈弧形結(jié)構(gòu)。

較佳地，所述單尾回形探針通過一呈圓柱形的絲材一體彎曲成型。

較佳地，所述第一懸臂與待測試產(chǎn)品之間呈帶狀接觸。

對應(yīng)地，本發(fā)明還公開一種測試夾具，其包括一印刷電路板、一夾具主體、一上蓋及至少一單尾回形探針；夾具主體設(shè)于所述印刷電路板的上方，且所述夾具主體上設(shè)有復數(shù)個第一安裝槽；上蓋可拆卸地安裝于所述夾具主體的上方，且所述上蓋上開設(shè)有與所述第一安裝槽相對應(yīng)的第二安裝槽；單尾回形探針可拆卸地安裝于所述第一安裝槽、所述第二安裝槽內(nèi)，所述單尾回形探針如上所述。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，由于本發(fā)明的單尾回形探針，其包括向基部的同一側(cè)延伸的第一懸臂、第二懸臂，且第二懸臂的遠離基部的一端凸設(shè)有接觸臂，其中，第一懸臂用于接觸待測試產(chǎn)品，接觸臂用于接觸測試夾具的印刷電路板，且接觸臂與印刷電路板相接觸時，兩者之間形成垂直接觸。首先，由于單尾回形探針的整體長度較小，因此其阻抗更低，各項電性指標均更加優(yōu)越；其次，第一懸臂與待測試產(chǎn)品之間形成帶狀接觸，容錯率更高；再者，接觸臂與印刷電路板之間形成直角接觸，因此測試產(chǎn)品下壓該單尾回形探針時，單尾回形探針不會有水平方向上的位移，對測試夾具的印刷電路板沒有磨損，對該單尾回形探針自身也沒有磨損，因此使用壽命更長；另外，彈性力由單尾回形探針自身提供，不需要額外的彈性件，使其耐電流能力和工作頻率更高，測試效能更穩(wěn)定。對應(yīng)地，具有該單尾回形探針的測試夾具也具有相同的技術(shù)效果。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有的一種彈簧針的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是現(xiàn)有的一種S形針的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3是本發(fā)明單尾回形探針一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4是圖3的側(cè)視圖。

圖5是本發(fā)明單尾回形探針另一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖6是本發(fā)明單尾回形探針又一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖7是圖3中單尾回形探針的一工作狀態(tài)示意圖。

圖8是圖3中單尾回形探針的另一工作狀態(tài)示意圖。

圖9是本發(fā)明單尾回形探針在待測產(chǎn)品上形成的接觸痕跡示意圖。

圖10是本發(fā)明測試夾具的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖11是圖10的部分截面示意圖。

具體實施方式

現(xiàn)在參考附圖描述本發(fā)明的實施例，附圖中類似的元件標號代表類似的元件。

首先結(jié)合圖3-8所示，本發(fā)明所提供的單尾回形探針100，其可拆卸地安裝于電子元器件的測試夾具200，不需要通過注塑等方式固定在測試夾具200中，因此可以自由更換和安裝。

如圖3-4、7-8所示，該單尾回形探針100包括一基部110及從基部110的兩端延伸形成的一第一懸臂120及一第二懸臂130，第一懸臂120、第二懸臂130位于基部110的同一側(cè)，該第一懸臂120用于接觸待測試產(chǎn)品，第二懸臂130用于接觸測試夾具200的印刷電路板210(見圖7-8)；且第一懸臂120具有一遠離第二懸臂130的第一位置及一靠近第二懸臂130的第二位置(見圖4)，因此，該單尾回形探針100的彈性力由自身提供，不需要使用額外的彈性件。

本發(fā)明中，單尾回形探針100還包括一凸設(shè)于第二懸臂130并與第二懸臂130呈一定夾角的接觸臂140，該接觸臂140凸設(shè)于第二懸臂130的遠離基部110的一端，接觸臂140的遠離第二懸臂130的一端用來和印刷電路板210相接觸，當接觸臂140與印刷電路板210相接觸時，接觸臂140垂直于印刷電路板210，如圖7-8所示。

進一步結(jié)合圖3-4、7-8所示，接觸臂140垂直于第二懸臂130，且接觸臂140的自由端形成呈平面結(jié)構(gòu)的接觸端141(見圖4)。當接觸臂140的接觸端141接觸印刷電路板210后，接觸臂140與印刷電路板210之間形成直角接觸，測試過程中產(chǎn)品下壓單尾回形探針100時，該單尾回形探針100不會有水平方向上的位移，對印刷電路板210沒有磨損，對單尾回形探針100自身也沒有磨損，因此使用壽命更長。

可以理解地，接觸端141并不限于呈平面結(jié)構(gòu)，將接觸端141設(shè)置成一字型(如圖5所示)、十字型(如圖6所示)、皇冠型等，均不影響本發(fā)明技術(shù)方案的實現(xiàn)，因此，可根據(jù)需要設(shè)置接觸端141的形狀，此為本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知的技術(shù)。

再次參看圖4所示，本發(fā)明單尾回形探針100的基部110優(yōu)選呈弧形結(jié)構(gòu)，且當?shù)谝粦冶?20處于第二位置時，第一懸臂120與第二懸臂130相平行，此時的單尾回形探針100呈U形結(jié)構(gòu)。

另外，本發(fā)明的單尾回形探針100通過一呈圓柱形的絲材一體彎曲成型，結(jié)構(gòu)簡單，沒有多余部件，因此在進行測試時，信號失真較小。

繼續(xù)參看圖4所示，當單尾回形探針100處于自由狀態(tài)時，其第一懸臂120處于第一位置，第一懸臂120與接觸臂140的接觸端141之間的自由高度為h1；當單尾回形探針100處于工作狀態(tài)時，待測試產(chǎn)品下壓第一懸臂120使其由第一位置移動到第二位置，此時第一懸臂120與接觸臂140的接觸端141之間的工作高度為h2，h2小于h1。

下面參看表1所示，該表中顯示了本發(fā)明單尾回形探針100與現(xiàn)有的一種彈簧針的主要電性參數(shù)對比。

表1

從上述表1中可清楚看出，本發(fā)明的單尾回形探針100與同等規(guī)格、材料、鍍層工藝的彈簧針相比，具有更高的耐電流能力和工作頻率，同時具有更低的阻抗。另外，該的單尾回形探針100依靠自身提供彈性力，不依賴于額外的彈性件等來提供彈性力，因此測試效能更加穩(wěn)定。

下面結(jié)合圖7-9所示，以接觸端141呈平面結(jié)構(gòu)的單尾回形探針100為例，對其工作狀態(tài)進行描述。

如圖7所示，單尾回形探針100安裝于測試夾具200后，其接觸臂140的呈平面結(jié)構(gòu)的接觸端141接觸測試夾具200的印刷電路板210，且接觸臂140與印刷電路板210相垂直，兩者之間形成垂直接觸。第一懸臂120與待測試產(chǎn)品300相接觸，且第一懸臂120與待測試產(chǎn)品300之間呈帶狀接觸，第一懸臂120會在待測試產(chǎn)品300的被測試腳310上形成穩(wěn)定的線性接觸痕跡320(如圖9所示)，因此容錯率更高。

參看圖8，當產(chǎn)品300下壓單尾回形探針100的第一懸臂120時，第一懸臂120由第一位置移動到第二位置，使第一懸臂120與第二懸臂130相平行；且產(chǎn)品300下壓單尾回形探針100的過程中，由于接觸臂140與印刷電路板210之間呈垂直接觸，因此單尾回形探針100不會有水平方向上的位移，對測試夾具200的印刷電路板210沒有磨損，對單尾回形探針100自身也沒有磨損，因此使用壽命更長。

下面參看圖10-11所示，本發(fā)明所提供的一種測試夾具200，其包括印刷電路板210、設(shè)于印刷電路板210上方的夾具主體220及可拆卸地安裝于夾具主體220上方的上蓋230。單尾回形探針100可拆卸的安裝于夾具主體220與上蓋230之間，使單尾回形探針100可自由的安裝和更換。

如圖11所示，夾具主體220上設(shè)有復數(shù)個第一安裝槽221；上蓋230開設(shè)有復數(shù)個與第一安裝槽221相對應(yīng)的第二安裝槽231；第一安裝槽221、第二安裝槽231相配合形成單尾回形探針100的容置空間。單尾回形探針100可拆卸地安裝于第一安裝槽221、第二安裝槽231所形成的容置空間內(nèi)。

單尾回形探針100的結(jié)構(gòu)如上所述，此處不再贅述。另外，本發(fā)明測試夾具200的其他部分的結(jié)構(gòu)為本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所熟知，在此不再作詳細的說明。

本發(fā)明測試夾具200主要用于對電子元器件進行測試，但不以此為限。

綜上，由于本發(fā)明的單尾回形探針100，其包括向基部110的同一側(cè)延伸的第一懸臂120、第二懸臂130，且第二懸臂130的遠離基部110的一端凸設(shè)有接觸臂140，其中，第一懸臂120用于接觸待測試產(chǎn)品300，接觸臂140用于接觸測試夾具200的印刷電路板210，且接觸臂140與印刷電路板210相接觸時，兩者之間形成垂直接觸。首先，由于單尾回形探針100的整體長度較小，因此其阻抗更低，各項電性指標均更加優(yōu)越；其次，第一懸臂120與待測試產(chǎn)品300之間形成帶狀接觸，容錯率更高；再者，接觸臂140與印刷電路板210之間形成直角接觸，因此測試產(chǎn)品300下壓該單尾回形探針100時，單尾回形探針100不會有水平方向上的位移，對測試夾具200的印刷電路板210沒有磨損，對該單尾回形探針100自身也沒有磨損，因此使用壽命更長；另外，彈性力由單尾回形探針100自身提供，不需要額外的彈性件，使其耐電流能力和工作頻率更高，測試效能更穩(wěn)定。

對應(yīng)地，具有本發(fā)明單尾回形探針100的測試夾具200，也具有相同的技術(shù)效果。

以上所揭露的僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，當然不能以此來限定本發(fā)明之權(quán)利范圍，因此依本發(fā)明申請專利范圍所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。