技術(shù)編號(hào)：12466953
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子元器件測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種用于電子元器件測(cè)試的單尾回形探針及具有該單尾回形探針的測(cè)試夾具。背景技術(shù)電子元器件在制造完成后需對(duì)其進(jìn)行結(jié)構(gòu)及電氣功能的測(cè)試，以保證電子元器件符合系統(tǒng)的需求。在對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試的裝置中，需要利用探針來達(dá)成待測(cè)試電子元器件與電路板的電性連接，因此，探針的性能對(duì)測(cè)試效能將產(chǎn)生直接影響?，F(xiàn)有的最典型的探針為彈簧針1，如圖1所示，其具有針體11、設(shè)于針體11內(nèi)的彈簧12及設(shè)于針體11兩端的針頭13，針頭13外具有鍍層14。這種彈簧針1的針頭13以及針頭13外...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。