技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明屬于光纖檢測技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種檢測雙包層光纖涂層缺陷的方法，包括：向所述雙包層光纖通入檢測光信號；通過檢光設(shè)備，檢測從所述雙包層光纖漏出的光信號；其中，所述檢光設(shè)備實時檢測所述雙包層光纖漏出的光信號的光功率；預(yù)先測量所述雙包層光纖不同涂層缺陷漏出光信號的功率，建立對應(yīng)關(guān)系；實測時，依據(jù)所述對應(yīng)關(guān)系確定所述缺陷種類以及在光纖中的位置。本發(fā)明提供了一種可靠性高，定位精確，高效的光纖涂層缺陷檢測方法。

技術(shù)研發(fā)人員：劉銳;王靜;吳杰;包箭華;李云麗;朱建友;李沅桉;魏斌建;曾紅姣
受保護的技術(shù)使用者：武漢睿芯特種光纖有限責(zé)任公司
文檔號碼：201610762074
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.30
技術(shù)公布日：2016.12.07