本發(fā)明涉及光纖檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的方法及裝置。

背景技術(shù)：

雙包層光纖是一種具有特殊結(jié)構(gòu)的光纖，它比常規(guī)光纖增加了一個(gè)低折射率內(nèi)涂層，由外涂層、內(nèi)涂層、包層和摻雜纖芯所構(gòu)成，內(nèi)涂層的折射率小于包層的折射率，包層的折射率小于纖芯的折射率，這樣就構(gòu)成了雙層波導(dǎo)結(jié)構(gòu)。纖芯作為激光的波導(dǎo)，內(nèi)涂層作為包層的波導(dǎo)界面，對(duì)泵浦光在包層中傳輸起到重要作用，如果內(nèi)涂層有缺陷，包層中的泵浦光會(huì)從包層中大量泄漏。

現(xiàn)有技術(shù)中，通過(guò)顯微鏡采集光纖涂層的圖像信息，傳送輸出到主機(jī)，獲得光纖涂層的檢測(cè)信息，判斷光纖涂層是否存在異常，但是該種方法并不適用檢測(cè)雙包層光纖的內(nèi)涂層缺陷。常用的雙包層光纖內(nèi)層缺陷檢測(cè)，一般進(jìn)行光纖端面通光，再在光纖盤(pán)中找亮點(diǎn)的方法進(jìn)行判定。

但是，現(xiàn)有技術(shù)中的檢測(cè)方法，達(dá)不到自動(dòng)化過(guò)程，直接通過(guò)眼睛觀察亮點(diǎn)情況，誤差較大，可靠性低；另一方面，缺陷定位難度大，分布規(guī)律精度不高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供一種檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的方法及裝置，解決現(xiàn)有技術(shù)中光纖缺陷檢測(cè)定位難度大、精度低、可靠性和效率低的技術(shù)問(wèn)題。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的方法，包括：

向所述雙包層光纖端面通入檢測(cè)光信號(hào)；

通過(guò)檢光設(shè)備，檢測(cè)從所述雙包層光纖側(cè)面漏出的光信號(hào)；

其中，所述檢光設(shè)備實(shí)時(shí)檢測(cè)所述雙包層光纖漏出的光信號(hào)的光功率；

預(yù)先測(cè)量所述雙包層光纖不同涂層缺陷漏出光信號(hào)的功率，建立對(duì)應(yīng)關(guān)系；實(shí)測(cè)時(shí)，依據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系確定所述缺陷種類。

進(jìn)一步地，所述方法還包括：

在所述雙包層光纖上設(shè)置檢測(cè)定位參考點(diǎn)；

以所述檢測(cè)定位參考點(diǎn)為起點(diǎn)，檢測(cè)從所述雙包層光纖漏出的光信號(hào)，定位光纖缺陷。

進(jìn)一步地，所述方法還包括：

所述雙包層光纖采用復(fù)繞方法，配合所述檢光設(shè)備進(jìn)行缺陷檢測(cè)。

進(jìn)一步地，所述復(fù)繞方法包括：

將待檢測(cè)的雙包層光纖通過(guò)復(fù)繞裝置承載，執(zhí)行復(fù)繞操作。

進(jìn)一步地，所述方法還包括：光纖擦拭步驟。

進(jìn)一步地，所述光纖擦拭步驟包括：

將所述雙包層光纖通過(guò)光纖擦拭夾具擦拭；

通過(guò)光纖穩(wěn)定夾具穩(wěn)定擦拭后的雙包層光纖。

進(jìn)一步地，所述檢測(cè)光信號(hào)包括：紅光信號(hào)或者綠光信號(hào)。

一種檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的裝置，包括：檢測(cè)光源、復(fù)繞機(jī)、光纖穩(wěn)定夾具以及光纖擦拭夾具；

所述檢測(cè)光源輸出檢測(cè)光信號(hào)，用于通向待檢雙包層光纖；

所述復(fù)繞機(jī)用于待檢雙包層光纖的復(fù)繞操作；

所述光纖穩(wěn)定夾具設(shè)置在所述復(fù)繞機(jī)中部，用于穩(wěn)定復(fù)繞操作中的待檢雙包層光纖；

所述光纖擦拭夾具設(shè)置在所述復(fù)繞機(jī)中部，用于擦拭待檢雙包層光纖。

進(jìn)一步地，所述裝置還包括：光檢測(cè)探頭及光功率計(jì)；

所述光檢測(cè)探頭設(shè)置在所述光纖穩(wěn)定夾具和光纖擦拭夾具中間處，用于檢測(cè)待檢雙包層光纖上漏出的光信號(hào)；

所述光功率計(jì)與所述光檢測(cè)探頭相連，用于檢測(cè)漏出的光信號(hào)的功率。

進(jìn)一步地，所述檢測(cè)光源包括：綠光光源或者紅光光源。

本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案，至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn)：

本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的方法，通過(guò)檢測(cè)信號(hào)光耦合進(jìn)入待檢光纖，配合光檢測(cè)探頭和光功率計(jì)檢測(cè)漏出的光信號(hào)，從而實(shí)現(xiàn)缺陷檢測(cè)；同時(shí)通過(guò)光功率計(jì)的數(shù)值檢測(cè)，從而確定缺陷所在的涂層位置，實(shí)現(xiàn)精確且可靠的缺陷定位。

進(jìn)一步地，通過(guò)采用在線復(fù)繞檢測(cè)的方法，配合定位參考點(diǎn)的設(shè)置，能夠提升缺陷的定位精度和效率，同時(shí)提升缺陷分布情況的可靠性。

進(jìn)一步地，通過(guò)光纖穩(wěn)定夾具和光纖擦拭夾具的配合使用，能夠提升光纖的穩(wěn)定性和清潔度，提高光檢測(cè)操作的準(zhǔn)確性。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的方法的流程圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的方法原理示意圖。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明提供一種檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的方法及裝置，解決現(xiàn)有技術(shù)中光纖缺陷檢測(cè)定位難度大、精度低、可靠性和效率低的技術(shù)問(wèn)題。達(dá)到了提升缺陷檢測(cè)效率，可靠性，定位精度的技術(shù)效果。

為了更好的理解上述技術(shù)方案，下面將結(jié)合說(shuō)明書(shū)附圖以及具體的實(shí)施方式對(duì)上述技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明，應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明實(shí)施例以及實(shí)施例中的具體特征是對(duì)本申請(qǐng)技術(shù)方案的詳細(xì)的說(shuō)明，而不是對(duì)本申請(qǐng)技術(shù)方案的限定，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)實(shí)施例以及實(shí)施例中的技術(shù)特征可以相互組合。

參見(jiàn)圖1，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的方法，包括：

預(yù)先測(cè)量雙包層光纖不同涂層缺陷漏出光信號(hào)的功率，建立對(duì)應(yīng)關(guān)系；

向所述雙包層光纖端面通入檢測(cè)光信號(hào)；

通過(guò)檢光設(shè)備，檢測(cè)從所述雙包層光纖側(cè)面漏出的光信號(hào)及其光功率；

依據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系確定所述缺陷種類。

具體來(lái)說(shuō)，通過(guò)數(shù)據(jù)收集實(shí)驗(yàn)，針對(duì)不同涂層的缺陷樣本，根據(jù)一系列實(shí)驗(yàn)得到其對(duì)應(yīng)的缺陷漏出光信號(hào)的光功率，從而建立缺陷種類與光功率的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

具體來(lái)說(shuō)，缺陷種類包括：缺陷的形態(tài)；不同形態(tài)的缺陷其漏出的光信號(hào)參數(shù)均不同。因此，通過(guò)光功率計(jì)監(jiān)控漏出的光信號(hào)功率，同時(shí)記錄下光功率隨時(shí)間變化的曲線，從而標(biāo)定缺陷種類；即，隨著光纖的移動(dòng)，不同缺陷種類會(huì)對(duì)會(huì)產(chǎn)生不同光功率曲線波動(dòng)，因此可以十分準(zhǔn)確的標(biāo)定各類缺陷。同時(shí)，功率的大小也標(biāo)定缺陷的種類。

實(shí)時(shí)檢測(cè)時(shí)，通過(guò)檢測(cè)光源向待檢雙包層光纖耦合輸入檢測(cè)光信號(hào)，并通過(guò)光檢測(cè)探頭和光功率計(jì)檢測(cè)是否有光信號(hào)漏出，以及漏出的光信號(hào)的功率，進(jìn)一步，通過(guò)上述的對(duì)應(yīng)關(guān)系得到缺陷所在的軸向位置。從而避免了通過(guò)肉眼或者人工借助顯微鏡等設(shè)備，觀察尋找亮點(diǎn)的方式來(lái)確定缺陷所在的軸向位置所造成的可靠性低，效率低的問(wèn)題；能夠準(zhǔn)確且高效的得到缺陷所在的涂層位置。

進(jìn)一步地，所述方法還包括：

在所述雙包層光纖上設(shè)置檢測(cè)定位參考點(diǎn)；

以所述檢測(cè)定位參考點(diǎn)為起點(diǎn)，檢測(cè)從所述雙包層光纖漏出的光信號(hào)，定位光纖缺陷。

即通過(guò)在待檢光纖上設(shè)置一個(gè)相對(duì)參考點(diǎn)，以其為定位起點(diǎn)，執(zhí)行檢測(cè)操作，從而得到缺陷所在光纖的軸向位置；從而完成光纖缺陷的軸向和徑向位置定位；提升了缺陷的定位精度和效率，也使的缺陷分布統(tǒng)計(jì)的可靠性大大提升。

具體來(lái)說(shuō)，所述方法還包括：所述雙包層光纖采用復(fù)繞方法，配合所述檢光設(shè)備進(jìn)行缺陷檢測(cè)。即通過(guò)復(fù)繞操作能夠拉動(dòng)光纖的移動(dòng)，通過(guò)其位移來(lái)標(biāo)定檢測(cè)點(diǎn)的位置，即獲取缺陷所在的位置。

一般選用復(fù)繞機(jī)作為直接的操作設(shè)備。

由于本方案是直接捕捉從光纖上漏出的光信號(hào)，為了避免環(huán)境灰塵光散射或者遮蔽缺陷，優(yōu)選的所述方法還包括擦拭光纖的步驟。

具體來(lái)說(shuō)，所述光纖擦拭步驟包括：

將所述雙包層光纖通過(guò)光纖擦拭夾具擦拭；

所述光纖擦拭夾具中含有無(wú)水乙醇濕潤(rùn)的無(wú)塵紙；

通過(guò)光纖穩(wěn)定夾具穩(wěn)定擦拭后的雙包層光纖。

即通過(guò)光纖擦拭夾具和光纖穩(wěn)定夾具的配合，在復(fù)繞操作過(guò)程中，穩(wěn)定擦拭待檢光纖的外壁。

進(jìn)一步地，所述檢測(cè)光信號(hào)包括：紅光信號(hào)或者綠光信號(hào)。

參見(jiàn)圖3，本方案檢測(cè)原理：采用包層泵浦的光線路18可以較好的在光纖包層與內(nèi)涂層界面進(jìn)行波導(dǎo)；但是如果光纖內(nèi)涂層有缺陷16，光線路17會(huì)從缺陷16中漏出，通過(guò)光檢測(cè)器可以在光纖表面進(jìn)行光檢測(cè)。

本實(shí)施例還基于上述方法，提供一種實(shí)現(xiàn)上述方法的裝置；下面見(jiàn)具體介紹。

參見(jiàn)圖2，一種檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的裝置，包括：檢測(cè)光源3、復(fù)繞機(jī)1、光纖穩(wěn)定夾具10、底座11以及光纖擦拭夾具9。

所述檢測(cè)光源3輸出檢測(cè)光信號(hào)，用于在進(jìn)行檢測(cè)操作時(shí)，耦合進(jìn)入待檢雙包層光纖2。

所述復(fù)繞機(jī)用于待檢雙包層光纖2的復(fù)繞操作；即將待檢光纖固定在一側(cè)復(fù)繞盤(pán)上，通過(guò)另一側(cè)復(fù)繞盤(pán)執(zhí)行復(fù)繞操作，過(guò)程中，通過(guò)檢光設(shè)備，檢測(cè)移動(dòng)光纖的漏出光信號(hào)。能夠?qū)崿F(xiàn)光纖的軸向定位，便于缺陷軸向位置的確定。

所述光纖穩(wěn)定夾具10設(shè)置在所述復(fù)繞機(jī)中部，用于穩(wěn)定復(fù)繞操作中的待檢雙包層光纖2。

所述光纖擦拭夾具9設(shè)置在所述復(fù)繞機(jī)中部，用于擦拭待檢雙包層光纖2。

光纖擦拭夾具9和穩(wěn)定光纖夾具10的主要作用是在檢測(cè)光纖前，將光纖表面擦拭干凈，避免光纖表面污染造成光散射誤差或者缺陷遮蔽，同時(shí)兩邊夾具設(shè)計(jì)，可以避免光纖復(fù)繞過(guò)程中出現(xiàn)較大的波動(dòng)，增加測(cè)試準(zhǔn)確性。

所述裝置還包括：光檢測(cè)探頭5、光功率計(jì)7。

所述光檢測(cè)探頭5設(shè)置在所述光纖穩(wěn)定夾具10和光纖擦拭夾具9中間處處，用于檢測(cè)待檢雙包層光纖2上漏出的光信號(hào)。

所述光功率計(jì)7與所述光檢測(cè)探頭5相連，用于檢測(cè)漏出的光信號(hào)的功率?？刹捎眯盘?hào)線6進(jìn)行有線連接。

所述檢測(cè)光源3包括：綠光光源或者紅光光源。

具體來(lái)說(shuō)，以紅光源作為檢測(cè)光源進(jìn)行檢測(cè)操作，本裝置執(zhí)行檢測(cè)操作的過(guò)程是：

1.將光纖2如圖2所示繞到復(fù)繞機(jī)1中，其中右復(fù)繞盤(pán)通過(guò)復(fù)繞盤(pán)孔4留出2米長(zhǎng)光纖。

2.將復(fù)繞盤(pán)孔4留出的2米長(zhǎng)光纖頭端30mm剝除涂層，用光纖切割刀切割留裸纖長(zhǎng)度3～5mm。

3.將紅光源3，裸纖適配器8和光纖依次進(jìn)行組裝。

4.打開(kāi)光檢測(cè)探頭5和光功率計(jì)7，打開(kāi)紅光源3。

5.打開(kāi)復(fù)繞機(jī)1，對(duì)光纖進(jìn)行復(fù)繞，觀察信號(hào)功率計(jì)7讀數(shù)變化。

6.其中光纖擦拭夾具9和穩(wěn)定光纖夾具10的主要作用是在檢測(cè)光纖前，將光纖表面擦拭干凈，避免光纖表面污染造成光散射誤差或者缺陷遮蔽，同時(shí)兩邊夾具設(shè)計(jì)，可以避免光纖在復(fù)繞過(guò)程中出現(xiàn)較大的波動(dòng)，增加測(cè)試準(zhǔn)確性。

7.正常情況下，光纖纖芯12、包層13、內(nèi)涂層14以及外涂層15形成雙包層結(jié)構(gòu)，光信號(hào)正常向前傳播。如果光纖內(nèi)涂層有缺陷16，光線路17會(huì)從缺陷16中漏出，通過(guò)光檢測(cè)器可以在光纖表面進(jìn)行光檢測(cè)。

本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案，至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn)：

本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的檢測(cè)雙包層光纖涂層缺陷的方法，通過(guò)檢測(cè)信號(hào)光耦合進(jìn)入待檢光纖，配合光檢測(cè)探頭和光功率計(jì)檢測(cè)漏出的光信號(hào)，從而實(shí)現(xiàn)缺陷檢測(cè)；同時(shí)通過(guò)光功率計(jì)的數(shù)值檢測(cè)，從而確定缺陷種類，實(shí)現(xiàn)精確且可靠的缺陷定位。

進(jìn)一步地，通過(guò)采用在線復(fù)繞檢測(cè)的方法，配合定位參考點(diǎn)的設(shè)置，能夠提升缺陷的定位精度和效率，同時(shí)提升缺陷分布情況的可靠性。

進(jìn)一步地，通過(guò)光纖穩(wěn)定夾具和光纖擦拭夾具的配合使用，能夠提升光纖的穩(wěn)定性和清潔度，使得光檢測(cè)操作的順利。

最后所應(yīng)說(shuō)明的是，以上具體實(shí)施方式僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照實(shí)例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。