本發(fā)明屬于激光元素分析儀領(lǐng)域，尤其涉及一種lips全地形實時環(huán)境監(jiān)測儀。
背景技術(shù)：
激光誘導等離子體光譜法，簡稱lips（laser-inducedplasmaspectroscopy)，或激光誘導擊穿光譜法，簡稱libs(laser-inducedbreakdownspectroscopy），是由美國losalamos國家實驗室的davidcremers研究小組于1962年提出和實現(xiàn)的。lips環(huán)境監(jiān)測儀是利用激光元素分析技術(shù)制成的一類儀器，激光元素分析技術(shù)是一種利用高能脈沖激光與樣品作用產(chǎn)生的等離子體發(fā)射光譜來進行元素分析的新技術(shù)。該技術(shù)利用一束脈沖激光照射待測樣品（固體、液體、氣體），導致樣品內(nèi)的原子和分子激發(fā)或離化形成等離子體。等離子體中的激發(fā)態(tài)原子和離子在向下躍遷時產(chǎn)生弛豫現(xiàn)象，部分能量以光的形式輻射出來，這種輻射帶有明顯的元素特征。因此，通過光電檢測器記錄和分析輻射的光譜信號就可以對固體、液體和氣體樣品中的化學元素進行定性和定量的分析。
現(xiàn)有的lips環(huán)境監(jiān)測儀在使用過程中存在以下問題：1、儀器無法移動，只能在室內(nèi)或車體上使用；2、樣品臺上只能設(shè)置1個樣品，嚴重影響樣品檢測效率。
技術(shù)實現(xiàn)要素：
本發(fā)明針對上述技術(shù)問題，提供了一種儀器能夠移動，樣品臺上能設(shè)置多個樣品的lips全地形實時環(huán)境監(jiān)測儀。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為：一種lips全地形實時環(huán)境監(jiān)測儀，其特征在于：包括機殼，所述機殼的內(nèi)部固定有電源、激光器、光譜儀、全反鏡、匯聚透鏡、光纖探頭，所述機殼的下部設(shè)置有樣品室，所述機殼的底部設(shè)置有底座，所述電源通過電路分別與所述激光器、光譜儀連接，所述光譜儀與計時器相連，所述全反鏡位于所述激光器的一側(cè)，所述匯聚透鏡位于全反鏡、樣品室之間，所述底座上設(shè)置有儲物盒、貫通樣品室的滑道，所述底座的底部設(shè)置有萬向輪，所述滑道上設(shè)置有三個結(jié)構(gòu)相同的樣品檢測裝置，一個樣品檢測裝置設(shè)置于樣品室內(nèi)部，兩個樣品檢測裝置設(shè)置于樣品室外部，所述三個樣品檢測裝置均包括滑動座、轉(zhuǎn)臺、樣品臺，所述滑動座滑動設(shè)置于所述滑道上，所述轉(zhuǎn)臺固定于所述滑動座上，所述樣品臺固定于所述轉(zhuǎn)臺上，所述樣品臺上設(shè)置有三個以上的樣品孔，所述光纖探頭固定于所述樣品室內(nèi)并且其位于樣品臺的上方，所述光纖探頭與光譜儀相連。
所述儲物盒為抽屜式結(jié)構(gòu)。
所述樣品孔位于同一個圓環(huán)上。
本發(fā)明的有益效果為：圖中，1-機殼，2-電源，3-激光器，4-光譜儀，5-全反鏡，6-匯聚透鏡，7-光纖探頭，8-樣品室，9-底座，10-計時器，11-儲物盒，12-滑道，13-萬向輪，14-樣品檢測裝置，15-滑動座，16-轉(zhuǎn)臺，17-樣品臺，18-樣品孔。
1、本發(fā)明在使用時，激光器發(fā)射出激光脈沖后，經(jīng)過匯聚透鏡會聚并照射到樣品臺的樣品上，激光作用于樣品產(chǎn)生等離子體，輻射出的特征譜線被光譜儀采集并傳輸?shù)竭h程計算機上進行處理，由于萬向輪的設(shè)置，儀器能夠在所有地形上移動，樣品臺上只能設(shè)置三個以上的樣品孔，樣品檢測效率高。
2、底座上設(shè)置有儲物盒，儲存物品方便。
3、滑道的設(shè)置，樣品檢測裝置滑動方便。
4、三個樣品檢測裝置，一個樣品檢測裝置設(shè)置于樣品室內(nèi)部，進行樣品檢測，兩個樣品檢測裝置設(shè)置于樣品室外部，一個樣品檢測裝置已經(jīng)檢測完畢，另一側(cè)樣品檢測裝置待檢測，保障更換、處理樣品時間。
5、計時器的設(shè)置，在檢測過程中，計時方便。
6、轉(zhuǎn)臺的設(shè)置，更換樣品方便。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步說明：圖中，1-機殼，2-電源，3-激光器，4-光譜儀，5-全反鏡，6-匯聚透鏡，7-光纖探頭，8-樣品室，9-底座，10-計時器，11-儲物盒，12-滑道，13-萬向輪，14-樣品檢測裝置，15-滑動座，16-轉(zhuǎn)臺，17-樣品臺，18-樣品孔。
實施例
如圖1所示，一種lips全地形實時環(huán)境監(jiān)測儀，包括機殼1，機殼1的內(nèi)部固定有電源2、激光器3、光譜儀4、全反鏡5、匯聚透鏡6、光纖探頭7，機殼1的下部設(shè)置有樣品室8，機殼1的底部設(shè)置有底座9，電源2通過電路分別與激光器3、光譜儀4連接，光譜儀4與計時器10相連，全反鏡5位于激光器3的一側(cè)，匯聚透鏡6位于全反鏡5、樣品室8之間，底座9上設(shè)置有儲物盒11、貫通樣品室8的滑道12，底座9的底部設(shè)置有萬向輪13，滑道12上設(shè)置有三個結(jié)構(gòu)相同的樣品檢測裝置14，一個樣品檢測裝置14設(shè)置于樣品室8內(nèi)部，兩個樣品檢測裝置14設(shè)置于樣品室8外部，三個樣品檢測裝置14均包括滑動座15、轉(zhuǎn)臺16、樣品臺17，滑動座15滑動設(shè)置于滑道12上，轉(zhuǎn)臺16固定于滑動座15上，樣品臺17固定于轉(zhuǎn)臺16上，樣品臺17上設(shè)置有三個以上的樣品孔18，光纖探頭7固定于樣品室17內(nèi)并且其位于樣品臺17的上方，光纖探頭7與光譜儀4相連。
儲物盒11為抽屜式結(jié)構(gòu)。
樣品孔18位于同一個圓環(huán)上。
以上對本發(fā)明的1個實施例進行了詳細說明，但所述內(nèi)容僅為本發(fā)明的較佳實施例，不能被認為用于限定本發(fā)明的實施范圍。凡依本發(fā)明申請范圍所作的均等變化與改進等，均應仍歸屬于本發(fā)明的專利涵蓋范圍之內(nèi)。