本發(fā)明涉及分切加工裝置以及分切加工方法。

本申請基于2014年6月30日在日本申請的日本特愿2014-134629號而主張優(yōu)先權(quán)，將其內(nèi)容引用于此。

背景技術(shù)：

作為顯示立體圖像的方式，已知被稱作FPR(Film Patterned Retarder)方式的方式。在FPR方式的3D液晶顯示器中，為了將右眼用圖像與左眼用圖像分離，在液晶面板的表面配置有被稱作FPR膜的圖案化相位差膜(參照專利文獻(xiàn)1)。

FPR膜包括右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列。右眼用偏振圖案列以及左眼用偏振圖案列與液晶面板的右眼用像素列以及左眼用像素列對應(yīng)而交替配置。右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列的慢軸的方向彼此正交。有時在配置有右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列的有效區(qū)域的外側(cè)配置對準(zhǔn)用的偏振圖案列。

在先技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本特開2012-32445號公報

技術(shù)實現(xiàn)要素：

發(fā)明所要解決的課題

在FPR膜上以微細(xì)的寬度形成有多個偏振圖案列。因此，在將FPR膜切斷為規(guī)定的寬度或形狀、將FPR膜貼合于液晶面板時，必須準(zhǔn)確地檢測偏振圖案列的位置，并基于該位置對FPR膜進(jìn)行對準(zhǔn)。

例如，專利文獻(xiàn)1記載了從FPR膜的下表面?zhèn)日丈涔獠⒗孟鄼C(jī)從FPR膜的上表面?zhèn)冗M(jìn)行拍攝的裝置來作為偏振圖案列的檢測裝置。

在FPR膜與光源之間配置有偏振板，在FPR膜與相機(jī)之間從FPR膜側(cè)起依次配置有相位差板(1/4波長板)及偏振板。右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列沿著膜的長度方向延伸。伴隨著FPR膜的卷出以及輸送而連續(xù)地檢測這些偏振圖案列。

然而，在專利文獻(xiàn)1的結(jié)構(gòu)中，由于在FPR膜的下表面?zhèn)仍O(shè)置光源，因此無法在FPR膜的下表面?zhèn)扰渲弥С畜w。因而，必須在FPR膜不被支承體支承的不穩(wěn)定的位置進(jìn)行偏振圖案列的檢測。也考慮在支承體設(shè)置貫通孔，但僅憑借穿過貫通孔的光則無法充分地對FPR膜進(jìn)行照明。

另外，在FPR膜的最表面設(shè)置有防護(hù)膜、分隔膜等保護(hù)膜。保護(hù)膜具有雙折射性，會產(chǎn)生意外的相位差。若不存在保護(hù)膜，則右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列顯示為明圖案和暗圖案，但若存在保護(hù)膜，則明圖案與暗圖案的對比度降低，無法明確地區(qū)別兩者。因此，在進(jìn)行光學(xué)測定之前，需要花費對保護(hù)膜進(jìn)行剝離等的工夫。

另外，F(xiàn)PR膜貼合于液晶面板的顯示面?zhèn)鹊钠癜宓谋砻?，但最近也在研究將通過偏振板和FPR膜一體化而成的偏振板一體型的FPR膜貼合于液晶面板的表面的結(jié)構(gòu)。在該結(jié)構(gòu)中，由于偏振板的面內(nèi)的光學(xué)軸的偏差，上述的明圖案與暗圖案的對比度進(jìn)一步降低，更加難以區(qū)別兩者。

本發(fā)明的目的在于，提供能夠高精度地檢測偏振圖案列而進(jìn)行分切加工的分切加工裝置以及分切加工方法。

用于解決課題的方案

本發(fā)明的第一技術(shù)方案的分切加工裝置對從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、偏振片層、以及包括慢軸的方向彼此不同的多個偏振圖案列的圖案化相位差層而成的長條狀的光學(xué)膜進(jìn)行分切加工，所述分切加工裝置的特征在于，包括：膜供給部，其將所述光學(xué)膜沿著該光學(xué)膜的長度方向放出；第一檢測裝置，其檢測由所述膜供給部放出的所述光學(xué)膜的所述多個偏振圖案列；第一蛇行控制部，其基于由所述第一檢測裝置檢測出的所述多個偏振圖案列的位置來控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行；以及切斷部，其在比由所述第一蛇行控制部對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處，將所述光學(xué)膜沿著與該光學(xué)膜的輸送方向平行的分切線切斷，所述第一檢測裝置包括：第一支承體，其具有對所述光學(xué)膜的所述第一面進(jìn)行支承的第一支承面，在所述第一支承面內(nèi)的至少一部分具有第一反射面，該第一反射面使從所述第二面?zhèn)认蛩龅谝幻鎮(zhèn)韧高^所述光學(xué)膜后的光反射；第一光源部，其從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)瘸蛭挥谒龅谝环瓷涿嫔系乃龉鈱W(xué)膜照射光；第一偏振板，其設(shè)置于從所述第一光源部朝向所述光學(xué)膜的所述光的光路上；第一攝像部，其從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)扰臄z位于所述第一反射面上的所述光學(xué)膜的反射光像；以及第一圖案檢測部，其基于由所述第一攝像部拍攝到的所述光學(xué)膜的所述反射光像來檢測位于所述第一反射面上的所述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第一技術(shù)方案的分切加工裝置中，可以是，所述第一檢測裝置包括對所述第一偏振板的偏振軸與所述偏振圖案列的慢軸的相對角度進(jìn)行調(diào)整的第一調(diào)整部。

在本發(fā)明的第一技術(shù)方案的分切加工裝置中，可以是，所述分切加工裝置包括：第二檢測裝置，其在比由所述第一蛇行控制部對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處，檢測所述光學(xué)膜的所述多個偏振圖案列；以及第二蛇行控制部，其基于由所述第二檢測裝置檢測出的所述多個偏振圖案列的位置，在比由所述第一蛇行控制部對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行，所述第二檢測裝置包括：第二支承體，其具有對所述光學(xué)膜的所述第一面進(jìn)行支承的第二支承面，在所述第二支承面內(nèi)的至少一部分具有第二反射面，該第二反射面使從所述第二面?zhèn)认蛩龅谝幻鎮(zhèn)韧高^所述光學(xué)膜后的光反射；第二光源部，其從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)瘸蛭挥谒龅诙瓷涿嫔系乃龉鈱W(xué)膜照射光；第二偏振板，其設(shè)置于從所述第二光源部朝向所述光學(xué)膜的所述光的光路上；第二攝像部，其從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)扰臄z位于所述第二反射面上的所述光學(xué)膜的反射光像；以及第二圖案檢測部，其基于由所述第二攝像部拍攝到的所述光學(xué)膜的所述反射光像來檢測位于所述第二反射面上的所述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第一技術(shù)方案的分切加工裝置中，可以是，所述第二檢測裝置包括對所述第二偏振板的偏振軸與所述偏振圖案列的慢軸的相對角度進(jìn)行調(diào)整的第二調(diào)整部。

在本發(fā)明的第一技術(shù)方案的分切加工裝置中，可以是，所述第一蛇行控制部通過使所述膜供給部放出所述光學(xué)膜的位置沿著所述光學(xué)膜的寬度方向移動來控制所述光學(xué)膜的蛇行，所述第二蛇行控制部通過使對所述光學(xué)膜進(jìn)行支承的引導(dǎo)輥的旋轉(zhuǎn)軸的方向相對于所述光學(xué)膜的輸送方向傾斜來控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行。

本發(fā)明的第二技術(shù)方案的分切加工裝置對從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、包括慢軸的方向彼此不同的多個偏振圖案列的圖案化相位差層、以及偏振片層而成的長條狀的光學(xué)膜進(jìn)行分切加工，所述分切加工裝置的特征在于，包括：膜供給部，其將所述光學(xué)膜沿著該光學(xué)膜的長度方向放出；第一檢測裝置，其檢測由所述膜供給部放出的所述光學(xué)膜的所述多個偏振圖案列；第一蛇行控制部，其基于由所述第一檢測裝置檢測出的所述多個偏振圖案列的位置來控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行；以及切斷部，其在比所述第一蛇行控制部靠所述光學(xué)膜的輸送方向的下游側(cè)的位置處，將所述光學(xué)膜沿著與該光學(xué)膜的輸送方向平行的分切線切斷，所述第一檢測裝置包括：第一支承體，其具有對所述光學(xué)膜的所述第一面進(jìn)行支承的第一支承面，在所述第一支承面內(nèi)的至少一部分具有第一反射面，該第一反射面使從所述第二面?zhèn)认蛩龅谝幻鎮(zhèn)韧高^所述光學(xué)膜后的光反射；第一光源部，其從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)瘸蛭挥谒龅谝环瓷涿嫔系乃龉鈱W(xué)膜照射光；第一攝像部，其從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)扰臄z位于所述第一反射面上的所述光學(xué)膜的反射光像；以及第一圖案檢測部，其基于由所述第一攝像部拍攝到的所述光學(xué)膜的所述反射光像來檢測位于所述第一反射面上的所述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第二技術(shù)方案的分切加工裝置中，可以是，所述分切加工裝置包括：第二檢測裝置，其在比由所述第一蛇行控制部對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處，檢測所述光學(xué)膜的所述多個偏振圖案列；以及第二蛇行控制部，其基于由所述第二檢測裝置檢測出的所述多個偏振圖案列的位置，在比由所述第一蛇行控制部對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行，所述第二檢測裝置包括：第二支承體，其具有對所述光學(xué)膜的所述第一面進(jìn)行支承的第二支承面，在所述第二支承面內(nèi)的至少一部分具有第二反射面，該第二反射面使從所述第二面?zhèn)认蛩龅谝幻鎮(zhèn)韧高^所述光學(xué)膜后的光反射；第二光源部，其從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)瘸蛭挥谒龅诙瓷涿嫔系乃龉鈱W(xué)膜照射光；第二攝像部，其從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)扰臄z位于所述第二反射面上的所述光學(xué)膜的反射光像；以及第二圖案檢測部，其基于由所述第二攝像部拍攝到的所述光學(xué)膜的所述反射光像來檢測位于所述第二反射面上的所述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第二技術(shù)方案的分切加工裝置中，可以是，所述第一蛇行控制部通過使所述膜供給部放出所述光學(xué)膜的位置沿著所述光學(xué)膜的寬度方向移動來控制所述光學(xué)膜的蛇行，所述第二蛇行控制部通過使對所述光學(xué)膜進(jìn)行支承的引導(dǎo)輥的旋轉(zhuǎn)軸的方向相對于所述光學(xué)膜的輸送方向傾斜來控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行。

本發(fā)明的第一技術(shù)方案的分切加工方法對從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、偏振片層、以及包括慢軸的方向彼此不同的多個偏振圖案列的圖案化相位差層而成的長條狀的光學(xué)膜進(jìn)行分切加工，所述分切加工方法的特征在于，包括：膜供給步驟，在該膜供給步驟中，將所述光學(xué)膜沿著該光學(xué)膜的長度方向放出；第一檢測步驟，在該第一檢測步驟中，檢測通過所述膜供給步驟放出的所述光學(xué)膜的所述多個偏振圖案列；第一蛇行控制步驟，在該第一蛇行控制步驟中，基于通過所述第一檢測步驟檢測出的所述多個偏振圖案列的位置來控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行；以及切斷步驟，在該切斷步驟中，在比通過所述第一蛇行控制步驟對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處，將所述光學(xué)膜沿著與該光學(xué)膜的輸送方向平行的分切線切斷，所述第一檢測步驟包括：第一支承步驟，在該第一支承步驟中，由第一支承體支承所述光學(xué)膜的所述第一面，該第一支承體具有對所述光學(xué)膜的所述第一面進(jìn)行支承的第一支承面，在所述第一支承面內(nèi)的至少一部分具有第一反射面，該第一反射面使從所述第二面?zhèn)认蛩龅谝幻鎮(zhèn)韧高^所述光學(xué)膜后的光反射；第一照射步驟，在該第一照射步驟中，從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)冉?jīng)由第一偏振板朝向位于所述第一反射面上的所述光學(xué)膜照射光；第一攝像步驟，在該第一攝像步驟中，從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)扰臄z位于所述第一反射面上的所述光學(xué)膜的反射光像；以及第一圖案檢測步驟，在該第一圖案檢測步驟中，基于通過所述第一攝像步驟拍攝到的所述光學(xué)膜的所述反射光像來檢測位于所述第一反射面上的所述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第一技術(shù)方案的分切加工方法中，可以是，所述第一檢測步驟包括對所述第一偏振板的偏振軸與所述偏振圖案列的慢軸的相對角度進(jìn)行調(diào)整的第一調(diào)整步驟。

在本發(fā)明的第一技術(shù)方案的分切加工方法中，可以是，所述分切加工方法包括：第二檢測步驟，在該第二檢測步驟中，在比通過所述第一蛇行控制步驟對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處，檢測所述光學(xué)膜的所述多個偏振圖案列；以及第二蛇行控制步驟，在該第二蛇行控制步驟中，基于通過所述第二檢測步驟檢測出的所述多個偏振圖案列的位置，在比通過所述第一蛇行控制步驟對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行，所述第二檢測步驟包括：第二支承步驟，在該第二支承步驟中，由第二支承體支承所述光學(xué)膜的所述第一面，該第二支承體具有對所述光學(xué)膜的所述第一面進(jìn)行支承的第二支承面，在所述第二支承面內(nèi)的至少一部分具有第二反射面，該第二反射面使從所述第二面?zhèn)认蛩龅谝幻鎮(zhèn)韧高^所述光學(xué)膜后的光反射；第二照射步驟，在該第二照射步驟中，從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)冉?jīng)由第二偏振板朝向位于所述第二反射面上的所述光學(xué)膜照射光；第二攝像步驟，在該第二攝像步驟中，從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)扰臄z位于所述第二反射面上的所述光學(xué)膜的反射光像；以及第二圖案檢測步驟，在該第二圖案檢測步驟中，基于通過所述第二攝像步驟拍攝到的所述光學(xué)膜的所述反射光像來檢測位于所述第二反射面上的所述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第一技術(shù)方案的分切加工方法中，可以是，所述第二檢測步驟包括對所述第二偏振板的偏振軸與所述偏振圖案列的慢軸的相對角度進(jìn)行調(diào)整的第二調(diào)整步驟。

在本發(fā)明的第一技術(shù)方案的分切加工方法中，可以是，在所述第一蛇行控制步驟中，使通過所述膜供給步驟放出所述光學(xué)膜的位置沿著所述光學(xué)膜的寬度方向移動，由此控制所述光學(xué)膜的蛇行，在所述第二蛇行控制步驟中，通過使對所述光學(xué)膜進(jìn)行支承的引導(dǎo)輥的旋轉(zhuǎn)軸的方向相對于所述光學(xué)膜的輸送方向傾斜來控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行。

本發(fā)明的第二技術(shù)方案的分切加工方法對從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、包括慢軸的方向彼此不同的多個偏振圖案列的圖案化相位差層、以及偏振片層而成的長條狀的光學(xué)膜進(jìn)行分切加工，所述分切加工方法的特征在于，包括：膜供給步驟，在該膜供給步驟中，將所述光學(xué)膜沿著該光學(xué)膜的長度方向放出；第一檢測步驟，在該第一檢測步驟中，檢測通過所述膜供給步驟放出的所述光學(xué)膜的所述多個偏振圖案列；第一蛇行控制步驟，在該第一蛇行控制步驟中，基于通過所述第一檢測步驟檢測出的所述多個偏振圖案列的位置來控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行；以及切斷步驟，在該切斷步驟中，在比通過所述第一蛇行控制步驟對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處，將所述光學(xué)膜沿著與該光學(xué)膜的輸送方向平行的分切線切斷，所述第一檢測步驟包括：第一支承步驟，在該第一支承步驟中，由第一支承體支承所述光學(xué)膜的所述第一面，該第一支承體具有對所述光學(xué)膜的所述第一面進(jìn)行支承的第一支承面，在所述第一支承面內(nèi)的至少一部分具有第一反射面，該第一反射面使從所述第二面?zhèn)认蛩龅谝幻鎮(zhèn)韧高^所述光學(xué)膜后的光反射；第一照射步驟，在該第一照射步驟中，從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)瘸蛭挥谒龅谝环瓷涿嫔系乃龉鈱W(xué)膜照射光；第一攝像步驟，在該第一攝像步驟中，從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)扰臄z位于所述第一反射面上的所述光學(xué)膜的反射光像；以及第一圖案檢測步驟，在該第一圖案檢測步驟中，基于通過所述第一攝像步驟拍攝到的所述光學(xué)膜的所述反射光像來檢測位于所述第一反射面上的所述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第二技術(shù)方案的分切加工方法中，可以是，所述分切加工方法包括：第二檢測步驟，在該第二檢測步驟中，在比通過所述第一蛇行控制步驟對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處，檢測所述光學(xué)膜的所述多個偏振圖案列；以及第二蛇行控制步驟，在該第二蛇行控制步驟中，基于通過所述第二檢測步驟檢測出的所述多個偏振圖案列的位置，在比通過所述第一蛇行控制步驟對所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行，所述第二檢測步驟包括：第二支承步驟，在該第二支承步驟中，由第二支承體支承所述光學(xué)膜的所述第一面，該第二支承體具有對所述光學(xué)膜的所述第一面進(jìn)行支承的第二支承面，在所述第二支承面內(nèi)的至少一部分具有第二反射面，該第二反射面使從所述第二面?zhèn)认蛩龅谝幻鎮(zhèn)韧高^所述光學(xué)膜后的光反射；第二照射步驟，在該第二照射步驟中，從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)瘸蛭挥谒龅诙瓷涿嫔系乃龉鈱W(xué)膜照射光；第二攝像步驟，在該第二攝像步驟中，從所述光學(xué)膜的所述第二面?zhèn)扰臄z位于所述第二反射面上的所述光學(xué)膜的反射光像；以及第二圖案檢測步驟，在該第二圖案檢測步驟中，基于通過所述第二攝像步驟拍攝到的所述光學(xué)膜的所述反射光像來檢測位于所述第二反射面上的所述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第二技術(shù)方案的分切加工方法中，可以是，在所述第一蛇行控制步驟中，使通過所述膜供給步驟放出所述光學(xué)膜的位置沿著所述光學(xué)膜的寬度方向移動，由此控制所述光學(xué)膜的蛇行，在所述第二蛇行控制步驟中，通過使對所述光學(xué)膜進(jìn)行支承的引導(dǎo)輥的旋轉(zhuǎn)軸的方向相對于所述光學(xué)膜的輸送方向傾斜來控制所述光學(xué)膜的寬度方向上的蛇行。

發(fā)明的效果

根據(jù)本發(fā)明，能夠提供可高精度地檢測偏振圖案列而進(jìn)行分切加工的分切加工裝置以及分切加工方法。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的第一實施方式的分切加工裝置的簡要圖。

圖2是設(shè)置于分切加工裝置的第一檢測裝置的簡要圖。

圖3是第一檢測裝置的概念圖。

圖4是表示光學(xué)膜的一例的剖視圖。

圖5是表示光學(xué)膜的一例的俯視圖。

圖6是表示光學(xué)膜的反射光像的光量分布以及色分布的圖。

圖7是適用于本發(fā)明的第二實施方式的分切加工裝置的第一檢測裝置的概念圖。

具體實施方式

[第一實施方式]

圖1是本發(fā)明的第一實施方式的分切加工裝置100的簡要圖。

圖2是設(shè)置于分切加工裝置100的第一檢測裝置106的簡要圖。

圖3是第一檢測裝置106的概念圖。

圖4是表示光學(xué)膜F1的一例的剖視圖。

圖5是表示光學(xué)膜F1的一例的俯視圖。

如圖1所示，本實施方式的分切加工裝置100包括膜供給部101、膜卷取部102、103、廢邊卷取部104、第一蛇行控制部105、第一檢測裝置106、第二蛇行控制部107、第二檢測裝置108、切斷部109以及控制裝置110。

膜供給部101對卷取光學(xué)膜F1而成的坯料卷R1進(jìn)行保持，并且將光學(xué)膜F1沿著其長度方向放出。在從膜供給部101放出的光學(xué)膜F1的輸送路徑FCL上，從輸送方向上游側(cè)起依次配置有第一蛇行控制部105、第一檢測裝置106、第二蛇行控制部107、第二檢測裝置108以及切斷部109。

分切加工裝置100一邊通過第一蛇行控制部105以及第二蛇行控制部107來控制光學(xué)膜F1的蛇行，一邊沿著分切線SL1、SL2、SL3(參照圖5)對光學(xué)膜F1進(jìn)行分切加工。

如圖5所示，光學(xué)膜F1是在與長度方向正交的寬度方向上交替地包含有效區(qū)域AC和周邊區(qū)域SR的長條狀的膜。有效區(qū)域AC例如是與液晶面板的顯示區(qū)域?qū)χ玫牟糠郑苓厖^(qū)域SR是與位于液晶面板的顯示區(qū)域的周邊部的周邊區(qū)域?qū)χ玫牟糠帧?/p>

在有效區(qū)域AC，與液晶面板的多個像素列對應(yīng)地設(shè)置有慢軸的方向彼此不同的多個偏振圖案列DPAa、DPAb。在液晶面板的顯示區(qū)域交替地配置有顯示右眼用圖像的右眼用像素列和顯示左眼用圖像的左眼用像素列。因此，在有效區(qū)域AC交替地配置有與右眼用像素列對應(yīng)的右眼用偏振圖案列DPAa和與左眼用像素列對應(yīng)的左眼用偏振圖案列DPAb。

在周邊區(qū)域SR交替地配置有慢軸的方向與右眼用偏振圖案列DPAa平行的第一偏振圖案列APAa和慢軸的方向與左眼用偏振圖案列DPAb平行的第二偏振圖案列APAb。設(shè)置于周邊區(qū)域SR的偏振圖案列APAa、APAb可以單獨地或與設(shè)置于有效區(qū)域AC的偏振圖案列DPAa、DPAb一起作為用于對光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置進(jìn)行檢測的基準(zhǔn)而使用。為了使偏振圖案列APAa、APAb的檢測容易，例如設(shè)置于周邊區(qū)域SR的偏振圖案列APAa、APAb中的至少一個偏振圖案列的寬度可以設(shè)為比設(shè)置于有效區(qū)域AC的偏振圖案列DPAa、DPAb的寬度寬。

光學(xué)膜F1具有與多張(在圖5中例如兩張)液晶面板相應(yīng)的寬度。使用分切加工裝置100沿著分切線SL1、SL2、SL3將光學(xué)膜F1切斷。分切線SL1、SL2、SL3被設(shè)定在周邊區(qū)域SR內(nèi)。由此，光學(xué)膜F1被分割成多個具有與一張液晶面板相應(yīng)的寬度的長條狀膜。分切線SL1、SL2、SL3例如被設(shè)定于在周邊區(qū)域SR設(shè)置的偏振圖案列APAa、APAb的分界線的位置。需要說明的是，通過本實施方式的分切加工而被切斷的分切線的位置只要不存在加工上(生產(chǎn)上)的問題，就以細(xì)的線被切斷。

返回圖1，使用第一檢測裝置106來檢測從膜供給部101放出的光學(xué)膜F1的剛放出后的行進(jìn)位置。第一檢測裝置106檢測設(shè)置于光學(xué)膜F1的多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖5)。控制裝置110基于由第一檢測裝置106檢測出的多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的位置(例如偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的分界線的位置)，來檢測光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置的偏移，控制第一蛇行控制部105而控制光學(xué)膜F1的寬度方向上的蛇行。

使用第二檢測裝置108來檢測由第一蛇行控制部105控制了蛇行后的光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置。第二檢測裝置108檢測設(shè)置于光學(xué)膜F1的多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖5)。控制裝置110基于由第二檢測裝置108檢測出的多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的位置(例如偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的分界線的位置)，來檢測光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置的偏移，控制第二蛇行控制部107而控制光學(xué)膜F1的寬度方向上的蛇行。

第一蛇行控制部105例如基于由第一檢測裝置106以及控制裝置110檢測出的光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置的偏移，來使由膜供給部101放出光學(xué)膜F1的位置(坯料卷R1的位置)沿著光學(xué)膜F2的寬度方向移動。通過第一蛇行控制部105來粗略地控制光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置的偏移。

第二蛇行控制部107例如基于由第二檢測裝置108以及控制裝置110檢測出的光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置的偏移來使支承光學(xué)膜F1的第一引導(dǎo)輥115以及第二引導(dǎo)輥116相對于光學(xué)膜F1的輸送方向傾斜。第一引導(dǎo)輥115與第二引導(dǎo)輥116以旋轉(zhuǎn)軸彼此平行的方式配置。第二蛇行控制部107使第一引導(dǎo)輥115和第二引導(dǎo)輥116的旋轉(zhuǎn)軸的方向相對于光學(xué)膜F1的行進(jìn)方向一體地傾斜。由此，光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置在寬度方向上被微調(diào)，使得光學(xué)膜F1在預(yù)先設(shè)定的行進(jìn)位置上行進(jìn)。

需要說明的是，第二蛇行控制部107也可以是使支承光學(xué)膜F1的一根引導(dǎo)輥的旋轉(zhuǎn)軸的方向相對于光學(xué)膜F1的輸送方向傾斜的結(jié)構(gòu)。

向切斷部109輸送的光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置被第一蛇行控制部105以及第二蛇行控制部107精密地控制。第一蛇行控制部105以及第二蛇行控制部107的結(jié)構(gòu)不限定于上述的結(jié)構(gòu)。作為第一蛇行控制部105，優(yōu)選與第二蛇行控制部107相比能夠較大程度地調(diào)整光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置。作為第二蛇行控制部107，優(yōu)選與第一蛇行控制部105相比能夠精密地調(diào)整光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置。

另外，第一蛇行控制部105、第一檢測裝置106、第二蛇行控制部107以及第二檢測裝置108的配置不限定于上述配置。第一檢測裝置106可以配置在第一蛇行控制部105的上游側(cè)，也可以配置在第一蛇行控制部105的下游側(cè)。第二檢測裝置108可以配置在第二蛇行控制部107的上游側(cè)，也可以配置在第二蛇行控制部107的下游側(cè)。第二檢測裝置108在比由第一蛇行控制部105對光學(xué)膜F1的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)且比由切斷部109切斷光學(xué)膜F1的位置靠上游側(cè)的位置處檢測光學(xué)膜F1的多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb即可。

第二蛇行控制部107在比由第一蛇行控制部105對光學(xué)膜F1的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)且比由切斷部109切斷光學(xué)膜F1的位置靠上游側(cè)的位置處控制光學(xué)膜F1的寬度方向上的蛇行即可。

切斷部109沿著圖5中所示的分切線SL1、SL2、SL3切斷光學(xué)膜F1。切斷部109例如可以由切斷刃、激光切割器等構(gòu)成。切斷部109以與分切線SL1、SL2、SL3的配置間隔相同的間隔在光學(xué)膜F1的寬度方向上配置多個。控制裝置110通過第一蛇行控制部105以及第二蛇行控制部107來控制光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置，以在切斷部109的正下方配置分切線SL1、SL2、SL3。切斷部109在比由第一蛇行控制部105以及第二蛇行控制部107對光學(xué)膜F1的寬度方向上的蛇行進(jìn)行控制的位置靠下游側(cè)的位置處，將光學(xué)膜F1沿著與其輸送方向平行的分切線SL1、SL2、SL3切斷。

被切斷部109沿著寬度方向分割后的光學(xué)膜F1中的包含有效區(qū)域AC的部分由膜卷取部102、103卷取，作為具有與一張液晶面板對應(yīng)的寬度的長條狀膜的坯料卷R2、R3而提供。被切斷部109分割后的光學(xué)膜F1中的不包含有效區(qū)域AC的部分被廢邊卷取部104卷取并被廢棄。

以下，使用圖2以及圖3來說明第一檢測裝置106以及第二檢測裝置108的結(jié)構(gòu)。第一檢測裝置106與第二檢測裝置108的結(jié)構(gòu)相同。因而，在以下的說明中，以第一檢測裝置106的結(jié)構(gòu)為中心進(jìn)行說明。

如圖2以及圖3所示，本實施方式的第一檢測裝置106包括第一支承體111、第一攝像單元112、第一圖案檢測部114以及第一調(diào)整部113。第一檢測裝置106對光學(xué)膜F1所含的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖5)進(jìn)行檢測。

光學(xué)膜F1至少包括相位差層F20、偏振片層F16以及圖案化相位差層F14。從光學(xué)膜F1的第一面(由第一支承體111支承的一側(cè)的面)側(cè)朝向第二面(與由第一支承體111支承的一側(cè)相反側(cè)的面)側(cè)依次設(shè)置相位差層F20、偏振片層F16以及圖案化相位差層F14。光學(xué)膜F1中的除相位差層F11以外的部分是光學(xué)膜主體部F21。

圖案化相位差層F14包括慢軸RTAX的方向彼此不同的多個偏振圖案列F14a、F14b。圖案化相位差層F14例如包括慢軸RTAX的方向彼此正交的第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b。從光學(xué)膜F1的法線方向觀察，第一偏振圖案列F14a的慢軸RTAX例如相對于偏振片層F16的偏振軸(透射軸)PLAX1順時針地形成45°的角度。從光學(xué)膜F1的法線方向觀察，第二偏振圖案列F14b的慢軸RTAX例如相對于偏振片層F16的偏振軸PLAX1逆時針地形成45°的角度。第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b在與其長度方向正交的方向上交替配置。第一偏振圖案列F14a與圖5的偏振圖案列APAa以及偏振圖案列DPAa對應(yīng)，第二偏振圖案列F14b與圖5的偏振圖案列APAb以及偏振圖案列DPAb對應(yīng)。

相位差層F20作為光學(xué)膜主體部F21的保護(hù)膜(分隔膜)而以能夠剝離的方式設(shè)置于光學(xué)膜主體部F21。保護(hù)膜通常通過雙軸延伸來制造，具有雙折射性。保護(hù)膜與圖案化相位差層F14、偏振片層F16等相比，相位差未被充分控制。因此，保護(hù)膜對透過圖案化相位差層F14后的光施加非意圖的相位差。這樣的相位差會使光學(xué)測定的精度降低而應(yīng)該被排除，但在本實施方式中積極地利用這樣的相位差來進(jìn)行偏振圖案列F14a、F14b的檢測。關(guān)于這點在后面進(jìn)行敘述。

光學(xué)膜F1可以包括相位差層F20、偏振片層F16以及圖案化相位差層F14以外的層。在本實施方式中，例如可以將圖4所示的光學(xué)膜F2的一部分或全部用作光學(xué)膜F1。

圖4的光學(xué)膜F2在厚度方向上依次包括第一相位差層(保護(hù)膜)F11、基材層F12、光取向?qū)覨13、圖案化相位差層F14、第一粘接層F15、偏振片層F16、第二粘接層F17、偏振片保護(hù)層F18、粘合層F19以及第二相位差層(分隔膜)F20。光學(xué)膜F2中的除第一相位差層F11和第二相位差層F20以外的部分是光學(xué)膜主體部F21。

以下說明光學(xué)膜F2的具體的結(jié)構(gòu)。

＜偏振片層＞

偏振片層F16具有使入射的光中的具有某一方向的振動面的光透過、吸收具有與該某一方向正交的振動面的光。經(jīng)由偏振片層F16射出的光是直線偏振光。

作為偏振片層F16，例如可以使用經(jīng)由如下工序而制造的偏振膜，所述工序是指將聚乙烯醇系樹脂膜單軸延伸的工序、通過用二色性色素對聚乙烯醇系樹脂膜進(jìn)行染色而吸附二色性色素的工序、用硼酸水溶液對吸附有二色性色素的聚乙烯醇系樹脂膜進(jìn)行處理的工序、以及在硼酸水溶液的處理后進(jìn)行水洗的工序。

聚乙烯醇系樹脂可以通過使聚乙酸乙烯酯系樹脂皂化而得到。聚乙酸乙烯酯系樹脂除了可以是乙酸乙烯酯的均聚物即聚乙酸乙烯酯以外，還可以是乙酸乙烯酯和能夠與之共聚的其他單體的共聚物。作為能夠與乙酸乙烯酯共聚的其他單體，例如可以舉出不飽和羧酸類、烯烴類、乙烯基醚類、不飽和磺酸類、具有銨基的丙烯酰胺類等。

作為二色性色素，例如可以使用碘、二色性的有機(jī)染料。在作為二色性色素使用碘的情況下，可以采用將聚乙烯醇系樹脂膜浸漬于含有碘以及碘化鉀的水溶液并染色的方法。

聚乙烯醇系樹脂膜的單軸延伸可以在二色性色素的染色之前進(jìn)行，也可以與二色性色素的染色同時地進(jìn)行，也可以在二色性色素的染色之后、例如在硼酸處理期間進(jìn)行。

偏振片層F16的厚度例如可以設(shè)為平均厚度為5μm以上且40μm以下。

＜圖案化相位差層＞

圖案化相位差層F14將入射的直線偏振光以兩種偏振狀態(tài)的光的形式射出。圖案化相位差層F14形成于光取向?qū)覨13上。

光取向?qū)覨13對具有液晶性的材料(以下稱作液晶材料)具有取向限制力。光取向?qū)覨13使用聚合性的光取向材料而形成。作為光取向材料，可以使用因被偏振光曝光而顯現(xiàn)取向限制力的材料。通過在對光取向材料曝光偏振光而顯現(xiàn)取向限制力的基礎(chǔ)上使之聚合，從而形成保持有取向限制力的光取向?qū)覨13。作為這樣的光取向材料，可以使用通常已知的材料。

光取向?qū)覨13例如包括取向限制力的方向彼此正交的第一取向區(qū)域和第二取向區(qū)域。第一取向區(qū)域和第二取向區(qū)域分別沿著與光學(xué)膜F2的一邊平行的方向呈帶狀延伸。第一取向區(qū)域和第二取向區(qū)域在與自身的延伸方向正交的方向上交替設(shè)置。

圖案化相位差層F14包括與光取向?qū)覨13的第一取向區(qū)域?qū)?yīng)的第一偏振圖案列F14a、以及與第二取向區(qū)域?qū)?yīng)的第二偏振圖案列F14b。第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的慢軸彼此正交。第一偏振圖案列F14a使直線偏振光變化為第一圓偏振光。第二偏振圖案列F14b使直線偏振光變化為旋轉(zhuǎn)方向與第一圓偏振光的旋轉(zhuǎn)方向不同的第二圓偏振光。

圖案化相位差層F14使用具有聚合性的官能團(tuán)的液晶材料而形成。圖案化相位差層F14通過如下方式得到，即根據(jù)光取向?qū)覨13所具有的第一取向區(qū)域以及第二取向區(qū)域的取向限制力而沿著兩個方向排列液晶材料，而且，使液晶材料所具有的聚合性的官能團(tuán)反應(yīng)，維持所使用的液晶材料的液晶相并使之固化。作為這樣的聚合性的液晶材料，可以使用通常已知的材料。

＜基材層＞

基材層F12用作對光取向?qū)覨13以及圖案化相位差層F14進(jìn)行支承的基材。光取向?qū)覨13以及圖案化相位差F14通過在基材層F12的表面涂敷光取向材料以及液晶材料而形成。

作為基材層F12的形成材料，例如可以舉出三醋酸纖維素(TAC)系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚乙烯醇系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、(甲基)丙烯酸酯系樹脂、包含環(huán)狀聚烯烴系樹脂、聚丙烯系樹脂的聚烯烴系樹脂、聚芳酯系樹脂、聚酰亞胺系樹脂、聚酰胺系樹脂等。

基材層F12的厚度例如可以設(shè)為平均厚度為40μm以上且100μm以下。

＜偏振片保護(hù)層＞

作為偏振片保護(hù)層F18的形成材料，可以使用與上述的基材層F12同樣的材料。作為這樣的材料，例如可以舉出三醋酸纖維素(TAC)系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚乙烯醇系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、(甲基)丙烯酸酯系樹脂、包含環(huán)狀聚烯烴系樹脂、聚丙烯系樹脂的聚烯烴系樹脂、聚芳酯系樹脂、聚酰亞胺系樹脂、聚酰胺系樹脂等。

偏振片保護(hù)層F18的厚度例如可以設(shè)為平均厚度為5μm以上且80μm以下。

＜粘接層＞

第一粘接層F15以及第二粘接層F17的形成材料例如可以舉出以使用了聚乙烯醇系樹脂或聚氨酯樹脂的組成物作為主要成分而溶解于水中得到的材料或者分散于水中得到的水系粘接劑、含有光固化性樹脂和光陽離子聚合引發(fā)劑等的無溶劑的光固化性粘接劑。作為第一粘接層F15以及第二粘接層F17的形成材料，從制造時的體積收縮少、厚度的控制容易這一觀點出發(fā)，優(yōu)選使用光固化性粘接劑，更優(yōu)選使用紫外線固化型粘接劑。

作為紫外線固化型粘接劑，只要以能夠呈液態(tài)狀涂敷的狀態(tài)進(jìn)行供給，則可以使用在以往偏振板的制造中使用的各種粘接劑。就紫外線固化型粘接劑而言，從耐氣候性、聚合性等的觀點出發(fā)，優(yōu)選含有陽離子聚合性的化合物、例如環(huán)氧化合物、更具體而言如日本特開2004-245925號公報所記載那樣的在分子內(nèi)不具有芳香環(huán)的環(huán)氧化合物來作為紫外線固化性成分之一的粘接劑。

作為這樣的環(huán)氧化合物，例如可舉出以雙酚A的二縮水甘油基醚作為代表例的對芳香族環(huán)氧化合物的原料即芳香族多羥基化合物進(jìn)行核氫化、并使其縮水甘油基醚化而得到的氫化環(huán)氧化合物、在分子內(nèi)至少具有一個與脂環(huán)式環(huán)結(jié)合的環(huán)氧基的脂環(huán)式環(huán)氧化合物、以脂肪族多羥基化合物的縮水甘油基醚為代表例的脂肪族環(huán)氧化合物等。

紫外線固化型粘接劑除了配入有以環(huán)氧化合物為代表例的陽離子聚合性化合物以外，還配入有聚合引發(fā)劑、尤其是用于因紫外線的照射而產(chǎn)生陽離子種或路易斯酸進(jìn)而引發(fā)陽離子聚合性化合物的聚合的光陽離子聚合引發(fā)劑。而且，紫外線固化型粘接劑也可以配入通過加熱來引發(fā)聚合的熱陽離子聚合引發(fā)劑、以及光敏化劑等各種添加劑。

第一粘接層F15以及第二粘接層F17的形成材料可以相同，或者也可以不同，但從生產(chǎn)率的觀點出發(fā)，在能夠得到適度的粘接力這一前提下，優(yōu)選使用相同的粘接劑來形成第一粘接層F15以及第二粘接層F17。

第一粘接層F15以及第二粘接層F17的厚度例如可以設(shè)為平均厚度為0.5μm以上且5μm以下。

＜粘合層＞

粘合層F19例如用于將光學(xué)膜主體部F21貼合于液晶面板的顯示面。作為形成粘合層F19的粘合劑，例如可以舉出以丙烯酸系樹脂、硅酮系樹脂、聚酯、聚氨酯、聚醚等作為基底樹脂的粘合劑。其中，以丙烯酸系樹脂作為基底樹脂的丙烯酸系粘合劑在光學(xué)透明性上優(yōu)異，能保持適度的潤濕性和凝聚力，而且耐氣候性、耐熱性等優(yōu)異，且在加熱、加濕的條件下不容易產(chǎn)生浮起、剝落等剝離問題，因此優(yōu)選使用。

構(gòu)成丙烯酸系粘合劑的丙烯酸系樹脂優(yōu)選使用酯部分具有甲基、乙基、丁基、或2-乙基己基那樣的碳原子數(shù)為20以下的烷基的丙烯酸烷基酯與(甲基)丙烯酸、(甲基)丙烯酸-2-羥乙酯那樣的含有官能團(tuán)的(甲基)丙烯酸系單體的丙烯酸系共聚物。

含有這樣的丙烯酸系共聚物的粘合層F19在貼合于液晶面板之后因存在某種不良情況而需要剝離時，能夠不在玻璃基板上產(chǎn)生膠糊殘留等而比較容易地剝離。丙烯酸系共聚物的?；瘻囟葍?yōu)選為25℃以下，更優(yōu)選為0℃以下。另外，該丙烯酸系共聚物具有通常10萬以上的重均分子量。

粘合層F19的厚度例如可以設(shè)為平均厚度為1μm以上且40μm以下。

＜第一相位差層＞

第一相位差層(保護(hù)膜)F11與基材層F12一起保護(hù)圖案化相位差層F14。第一相位差層F11被設(shè)為相對于基材層F12剝離自如。

第一相位差層F11可以使用在透明樹脂膜上形成粘合-剝離性的樹脂層或附著性的樹脂層而賦予弱粘合性的相位差層。作為透明樹脂膜，例如可以舉出聚對苯二甲酸乙二醇酯、聚萘二甲酸乙二醇酯、聚乙烯、以及聚丙烯那樣的熱塑性樹脂的擠出膜、將它們組合而成的共擠膜、將它們單軸或雙軸地延伸而得到的膜等。作為透明樹脂膜，優(yōu)選使用透明性以及均質(zhì)性優(yōu)異且廉價的聚對苯二甲酸乙二醇酯或聚乙烯的單軸或雙軸延伸膜。

作為粘合-剝離性的樹脂層，例如可以舉出丙烯酸系粘合劑、天然橡膠系粘合劑、苯乙烯-丁二烯共聚樹脂系粘合劑、聚異丁烯系粘合劑、乙烯醚系樹脂粘合劑、硅酮系樹脂粘合劑等。另外，作為附著性的樹脂層，例如可以舉出乙烯-乙酸乙烯酯共聚樹脂等。作為粘合-剝離性的樹脂層，優(yōu)選使用透明性優(yōu)異的丙烯酸系粘合劑。

第一相位差層F11的厚度例如可以設(shè)為平均厚度為15μm以上且75μm以下。

＜第二相位差層＞

第二相位差層(分隔膜)F20覆蓋粘合層F19而保護(hù)粘合層F19。第二相位差層F20被設(shè)置為相對于粘合層F19剝離自如。作為第二相位差層F20，可以使用與第一相位差層F11同樣的透明樹脂膜。

第二相位差層F20的厚度例如可以設(shè)為平均厚度為15μm以上且75μm以下。

在本實施方式中，例如將光學(xué)膜F2用作光學(xué)膜F1。但是，也可以將從光學(xué)膜F2例如剝離第一相位差層F11而得到的膜用作光學(xué)膜F1。

返回圖2以及圖3，第一支承體111具有與光學(xué)膜F1的寬度方向平行的圓柱狀的第一支承面111a。第一支承體111例如是構(gòu)成光學(xué)膜F1的輸送路徑FCL(參照圖1)的多個輸送輥中的一個。第一支承體111在支承光學(xué)膜F1的第一面(在本實施方式中，例如圖4的第二相位差層F20的上表面)的同時，伴隨著光學(xué)膜F1的輸送而旋轉(zhuǎn)。

第一支承體111在第一支承面111a內(nèi)的至少一部分具有使從第二面?zhèn)认虻谝幻鎮(zhèn)韧高^光學(xué)膜F1后的光反射的反射面RS(第一反射面)。在本實施方式的情況下，第一支承體111例如是被實施了鏡面加工的金屬制的輥，第一支承面111a整體成為反射面RS，但第一支承體111的結(jié)構(gòu)不限定于此。反射面RS的材料、結(jié)構(gòu)不特別限定。反射面RS可以通過對第一支承體111的表面進(jìn)行鏡面加工而形成，也可以通過將金屬反射膜、反射式偏振板等反射構(gòu)件配置于第一支承體111的表面而形成。另外，可以是第一支承面111a整體成為反射面RS，也可以是僅第一支承面111a的一部分區(qū)域成為反射面RS。

第一攝像單元112包括第一光源部112a、第一攝像部112b以及第一偏振板112c。第一攝像單元112例如以使透過一個偏振圖案列而由反射面RS反射的光透過同一個偏振圖案列而入射到第一攝像部112b的方式，使第一光源部112a與第一攝像部112b接近并一體地保持該第一光源部112a以及第一攝像部112b。

第一光源部112a從光學(xué)膜F1的第二面(圖4的第一相位差層F11的下表面)側(cè)朝向位于反射面上的光學(xué)膜F1照射光。第一偏振板112c設(shè)置于從第一光源部112a朝向光學(xué)膜F1的光的光路上。從第一光源部112a照射出的光透過第一偏振板112c而轉(zhuǎn)換為直線偏振光。作為第一光源部112a，可以使用LED等公知的光源。第一光源部112a例如朝向光學(xué)膜F1照射白色光，但第一光源部112a所照射的光不限定于此。例如，可以根據(jù)光學(xué)膜F1所含的相位差層F20、圖案化相位差層F14以及偏振片層F16、第一偏振板112c的相位差、波長分散特性等而從第一光源部112a照射適當(dāng)波長的光。

第一攝像部112b從光學(xué)膜F1的第二面?zhèn)扰臄z位于反射面RS上的光學(xué)膜F1的反射光像。作為第一攝像部112b，可以使用CCD相機(jī)等公知的攝像單元。

第一圖案檢測部114基于光學(xué)膜F1的反射光像來檢測位于反射面RS上的第一偏振圖案列F14a(APAa、DPAa)以及第二偏振圖案列F14b(APAb、DPAb)，提取偏振圖案列F14a、F14b的分界線的位置信息。作為第一圖案檢測部114，可以使用公知的圖像處理單元。由第一攝像部112b拍攝到的反射光像的圖像信號被第一圖案檢測部114轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)化后的圖像數(shù)據(jù)，并被實施顏色提取處理、二值化處理等公知的圖像處理。

第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的慢軸RTAX相對于第一偏振板112c的偏振軸(透射軸)PLAX2所成的方向彼此不同。因此，就透過第一偏振板112c、圖案化相位差層F14、偏振片層F16以及相位差層F20并由反射面RS反射、進(jìn)而再次透過相位差層F20、偏振片層F16以及圖案化相位差層F14后的光的亮度、顏色而言，透過第一偏振圖案列F14a后的光的亮度、顏色與透過第二偏振圖案列F14b后的光的亮度、顏色不同。因而，第一圖案檢測部114基于第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的反射光像的亮度或顏色的差異來檢測第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b。

例如，如圖6中的(a)以及(b)所示，在從第一光源部112a照射白色光時，產(chǎn)生如下現(xiàn)象：透過第一偏振圖案列F14a而向第一攝像部112b入射的光的紅色R的光量大，與此相對，透過第二偏振圖案列F14b而向第一攝像部112b入射的光的綠色G的光量小。第一圖案檢測部114通過對反射光像的圖像數(shù)據(jù)實施顏色提取處理、二值化處理等公知的圖像處理來檢測第一偏振圖案列F14a以及第二偏振圖案列F14b?？梢赃x擇使用顏色提取處理、二值化處理中的任一方，也可以一并使用兩者。例如，第一圖案檢測部114通過在反射光像的圖像數(shù)據(jù)中提取具有更明亮地顯示的顏色(在圖6中，例如為紅色R)的部分，并對所提取的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)一步進(jìn)行二值化處理，由此將第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b作為明圖案和暗圖案而檢測出。顏色提取處理、二值化處理的算法已知有許多個，不限定于特定的檢測方法。

第一光源部112a也可以為了調(diào)整多個偏振圖案列F14a、F14b的反射光像的對比度(反射光像的亮度之比)而照射紅色、綠色等顏色的光。例如，若從第一光源部112a照射紅色R的光，則幾乎不含有紅色R的第二偏振圖案列F14b的反射光像成為黑色。因而，第一偏振圖案列F14a的反射光像的亮度與第二偏振圖案列F14b的反射光像的亮度之比(以下，稱作“第一偏振圖案列與第二偏振圖案列的反射光像的對比度”)變大，容易檢測出第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b。

第一光源部112a也可以照射綠色G的光。但是，使用照射更明亮地顯示的顏色(在圖6中例如為紅色R)的第一光源部112a對于提高第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的反射光像的對比度方面更為有利。

如上所述，第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的反射光像的對比度根據(jù)向光學(xué)膜F1入射的光的波長而不同。從第一光源部112a照射的光的波長可以設(shè)定為如下波長：該波長使得第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的反射光像的對比度同照射白色光的情況相比相對地變大。

第一調(diào)整部113調(diào)整第一偏振板112c的偏振軸PLAX2與偏振圖案列F14a、F14b的慢軸RTAX的相對角度。通過由第一調(diào)整部113調(diào)整第一偏振圖案列F14a以及第二偏振圖案列F14b的慢軸RTAX相對于第一偏振板112c的偏振軸PLAX2所成的角度，由此能夠增大第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的反射光像的非對稱性(顏色、亮度等的差異)。因而，第一圖案檢測部114能夠高精度地檢測位于反射面上的偏振圖案列F14a、F14b。

需要說明的是，上述的第一偏振板112c的偏振軸PLAX2與偏振圖案列F14a、F14b的慢軸RTAX的相對角度的調(diào)整例如可以由第一調(diào)整部113以如下方式進(jìn)行：在將第一偏振板112c貼附于能夠旋轉(zhuǎn)的夾具后，作業(yè)者一邊確認(rèn)光學(xué)膜F1的反射光像，一邊使貼附于能夠旋轉(zhuǎn)的夾具的第一偏振板112c連同夾具一起旋轉(zhuǎn)。在該情況下，可以采用如下步驟：作業(yè)者一邊確認(rèn)光學(xué)膜F1的反射光像一邊使夾具旋轉(zhuǎn)，在判斷為第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的非對稱性變得最大的位置使夾具的旋轉(zhuǎn)停止。另一方面，上述的相對角度的調(diào)整也可以通過第一調(diào)整部113以利用省略圖示的馬達(dá)等使夾具旋轉(zhuǎn)的方式自動地進(jìn)行。另外，上述的相對角度的調(diào)整也可以按每次工序來實施，但也可以是，在坯料卷(參照圖1中的附圖標(biāo)記R1)更換時確認(rèn)光學(xué)膜F1的反射光像，在該反射光像的非對稱性大的情況下不進(jìn)行相對角度的調(diào)整，而僅在非對稱性小且圖案識別不良時進(jìn)行調(diào)整。

控制裝置110取得第一圖案檢測部114所提取的偏振圖案列F14a、F14b的分界線的位置信息?？刂蒲b置110基于偏振圖案列F14a、F14b的分界線的位置信息來確認(rèn)光學(xué)膜F1相對于第一支承體111的配置位置。控制裝置110基于偏振圖案列F14a、F14b的位置(例如偏振圖案列F14a、F14b的分界線的位置)來檢測實際的光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置相對于預(yù)先設(shè)定的行進(jìn)位置偏移了何種程度。控制裝置110通過圖1所示的第一蛇行控制部105使膜供給部101沿著與光學(xué)膜F1的輸送方向正交的寬度方向移動，以減小光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置的偏移。

控制裝置110構(gòu)成為包括計算機(jī)系統(tǒng)。計算機(jī)系統(tǒng)包括CPU等運算處理部、以及存儲器、硬盤等存儲部。第一圖案檢測部114的功能通過運算處理部來實現(xiàn)?？刂蒲b置110包括能夠執(zhí)行計算機(jī)系統(tǒng)與外部的裝置之間的通信的接口，綜合控制膜供給部101、膜卷取部102、103、廢邊卷取部104、第一蛇行控制部105、第一檢測裝置106、第二蛇行控制部107、第二檢測裝置108以及切斷部109等外部裝置的動作。

第二檢測裝置108的結(jié)構(gòu)與第一檢測裝置106同樣。第二檢測裝置108包括第二支承體117、第二攝像單元118、第二圖案檢測部120以及第二調(diào)整部119。第二支承體117是與第一支承體111相同的結(jié)構(gòu)，第二攝像單元118是與第一攝像單元112相同的結(jié)構(gòu)，第二圖案檢測部120是與第一圖案檢測部114相同的結(jié)構(gòu)，第二調(diào)整部119是與第一調(diào)整部113相同的結(jié)構(gòu)。

第二檢測裝置108與第一檢測裝置106同樣地，利用第二攝像單元118對由第二支承體117的反射面RS(第二反射面)反射后的光學(xué)膜F1的反射光像進(jìn)行拍攝，并基于該攝像結(jié)果來檢測位于反射面RS上的第一偏振圖案列F14a(APAa、DPAa)以及第二偏振圖案列F14b(APAb、DPAb)，提取第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的分界線的位置信息。

如以上那樣，在本實施方式的分切加工裝置100中，作為第一檢測裝置106以及第二檢測裝置108，使用上述結(jié)構(gòu)的裝置。在第一檢測裝置106以及第二檢測裝置108中，使透過圖案化相位差層F14以及偏振片層F16后的光經(jīng)由相位差層F20而入射到反射面RS，使由反射面RS反射后的光再次經(jīng)由相位差層F20而入射到偏振片層F16以及圖案化相位差層F14。因此，在由攝像部112b、118b拍攝的反射光像中，與第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b對應(yīng)地顯示顏色、亮度不同的多個圖案列。因而，若對該反射光像的圖像數(shù)據(jù)實施顏色提取處理、二值化處理等圖像處理，則能夠高精度地檢測第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b。

若相位差層F20未設(shè)置于圖案化相位差層F14與反射面RS之間，則由攝像部112b、118b拍攝的反射光像成為整面黑的圖像。因而，無法檢測第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b。通過將相位差層F20設(shè)置于圖案化相位差層F14與反射面RS之間，由此產(chǎn)生從偏振片層F16泄漏的光，就該光的顏色、亮度而言，透過第一偏振圖案列F14a后的光的顏色、亮度與透過第二偏振圖案列F14b后的光的顏色、亮度不同。

相位差層F20與圖案化相位差層F14、偏振片層F16等相比，其相位差未被充分控制，因此在光學(xué)測定中多會產(chǎn)生不良情況。因此，需要在光學(xué)測定之前花費工夫預(yù)先將相位差層剝離等，但在本實施方式中，積極地利用相位差層F20的相位差，從而不剝離相位差層F20地檢測偏振圖案列F14a、F14b。因此，能夠提供可高精度且高效地檢測偏振圖案列F14a、F14b的檢測裝置以及檢測方法。

另外，在本實施方式中，能夠通過調(diào)整部113、119來增大第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的反射光像的非對稱性。因而，偏振圖案列F14a、F14b的檢測精度提高。

本實施方式的分切加工裝置100基于由第一檢測裝置106以及第二檢測裝置108檢測出的偏振圖案列F14a、F14b的位置(例如偏振圖案列F14a、F14b的分界線的位置)，來控制光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置。因此，能夠高精度地進(jìn)行行進(jìn)位置的控制。另外，使用第一蛇行控制部105和第二蛇行控制部107分兩個階段進(jìn)行行進(jìn)位置的控制，因此能夠?qū)⒐鈱W(xué)膜F1的行進(jìn)位置的偏移基本上消除。因而，減小了因行進(jìn)位置的偏移而誤將有效區(qū)域AC切斷的可能性，成品率提高。另外，能夠縮窄考慮了行進(jìn)位置的偏移的剩余部分(周邊區(qū)域)的寬度，因此光學(xué)膜F1的浪費變少，制造成本降低。

[第二實施方式]

圖7是適用于本發(fā)明的第二實施方式的分切加工裝置的第一檢測裝置130的概念圖。

在本實施方式中，對與第一實施方式共通的構(gòu)成要素標(biāo)注相同的附圖標(biāo)記而省略詳細(xì)的說明。

在本實施方式中，支承于第一支承體111的光學(xué)膜F1的姿勢與第一實施方式不同。另外，基于該姿勢的差異，第一檢測裝置130的結(jié)構(gòu)也與第一實施方式的第一檢測裝置106不同。

本實施方式的第一檢測裝置130包括第一支承體111、第一攝像單元131以及第一圖案檢測部114。第一支承體111將光學(xué)膜F1以光學(xué)膜F1的圖案化相位差層F21比偏振片層F16靠下側(cè)配置的姿勢支承。就光學(xué)膜F1而言，在將由第一支承體111支承的一側(cè)的面設(shè)為第一面，將與由第一支承體111支承的一側(cè)相反側(cè)的面設(shè)為第二面時，光學(xué)膜F1從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来伟ǖ谝幌辔徊顚覨11、圖案化相位差層F14以及偏振片層F16。

第一攝像單元131包括第一光源部112a和第一攝像部112b。

在本實施方式中，偏振片層F16配置于圖案化相位差層F14與第一光源部112a之間，因此無需在第一光源部112a與光學(xué)膜F1之間另行配置偏振板。因此，能夠省略第一實施方式所示的第一偏振板112c以及第一調(diào)整部113。

第一圖案檢測部114基于光學(xué)膜F1的反射光像來檢測位于反射面RS上的偏振圖案列F14a、F14b，提取偏振圖案列F14a、F14b的分界線的位置信息。由第一攝像部112b拍攝的反射光像的圖像信號被第一圖案檢測部114轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)化后的圖像數(shù)據(jù)，并被實施顏色提取處理、二值化處理等公知的圖像處理。

第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b的慢軸RTAX相對于偏振片層F16的偏振軸PLAX所成的方向彼此不同。因此，就透過偏振片層F16、圖案化相位差層F14以及相位差層F11并由反射面RS反射、進(jìn)而再次透過相位差層F11、圖案化相位差層F14以及偏振片層F16后的光的亮度、顏色而言，透過第一偏振圖案列F14a后的光的亮度、顏色與透過第二偏振圖案列F14b后的光的亮度、顏色不同。因而，第一圖案檢測部114基于第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的反射光像的亮度或顏色的差異，來檢測第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b。

雖然省略圖示，但第二檢測裝置的結(jié)構(gòu)也與第一檢測裝置130相同。在第二檢測裝置中，也可以省略第一實施方式所示的第二偏振板118c以及第二調(diào)整部119。在第二檢測裝置中，由第二支承體117支承的光學(xué)膜F1的姿勢也與第一實施方式不同，因此能夠基于由第二攝像部118b拍攝的第一偏振圖案列F14a與第二偏振圖案列F14b的反射光像的亮度或顏色的差異，來檢測第一偏振圖案列F14a和第二偏振圖案列F14b。

在本實施方式中，也積極利用相位差層F11的相位差，從而不剝離相位差層F11地檢測偏振圖案列F14a、F14b。因此，能夠提供可高精度且高效地檢測偏振圖案列F14a、F14b的檢測裝置以及檢測方法。并且，通過使用這樣的檢測裝置以及檢測方法來控制光學(xué)膜F1的行進(jìn)位置，由此能夠提供可高精度地進(jìn)行行進(jìn)位置的控制的分切加工裝置以及分切加工方法。

以上，參照附圖對本發(fā)明的優(yōu)選的實施方式例進(jìn)行了說明，但本發(fā)明并不限定于上述例子。在上述的例子中示出的各結(jié)構(gòu)構(gòu)件的各種形狀、組合等僅為一例，可以在不脫離本發(fā)明的主旨的范圍內(nèi)基于設(shè)計要求等進(jìn)行各種變更。

另外，在上述的實施方式中，作為圖案化相位差層所含的偏振圖案列，說明了兩種偏振圖案列。但是，圖案化相位差層所含的偏振圖案列不限定于兩種，也可以設(shè)為三種以上。在該情況下，多個偏振圖案列的反射光像彼此的亮度、顏色等也不同。因而，圖案檢測部能夠基于多個偏振圖案列的反射光像的亮度或顏色的差異來檢測多個偏振圖案列。

產(chǎn)業(yè)上的可利用性

根據(jù)本發(fā)明的分切加工裝置以及分切加工方法，能夠提供可高精度地檢測偏振圖案列而進(jìn)行分切加工的分切加工裝置以及分切加工方法。

附圖標(biāo)記說明：

100…分切加工裝置、101…膜供給部、105…第一蛇行控制部、106…第一檢測裝置、107…第二蛇行控制部、108…第二檢測裝置、109…切斷部、111…第一支承體、111a…第一支承面、112a…第一光源部、112b…第一攝像部、112c…第一偏振板、113…第一調(diào)整部、114…第一圖案檢測部、115…第一引導(dǎo)輥、116…第二引導(dǎo)輥、117…第二支承體、117a…第二支承面、118a…第二光源部、118b…第二攝像部、118c…第二偏振板、119…第二調(diào)整部、120…第二圖案檢測部、F1、F2…光學(xué)膜、F11…第一相位差層(相位差層)、F14…圖案化相位差層、F14a、F14b、APAa、APAb、DPAa、DPAb…偏振圖案列、F16…偏振片層、F20…第二相位差層(相位差層)、RS…反射面、SL1、SL2、SL3…分切線。