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一種用于制備銀納米線透明電極的選擇性去除不均勻短線的方法與流程

文檔序號:11267503閱讀:來源:國知局

技術特征:

技術總結
本發(fā)明公開了一種用于制備銀納米線透明電極的選擇性去除不均勻短線的方法,屬于柔性透明電極的技術領域。本發(fā)明方法:將銀納米線分散液滴涂在基底上,常溫下靜置至銀納米線分散液在基底上的潤濕面積尚未收縮,使用溶劑清洗基底;然后常溫下自然干燥,即完成選擇性去除部分很短的銀納米線的操作。本發(fā)明利用銀納米線分散液中短線和長線向基底沉積的速率不同而選擇性地分離短線,大幅度地降低了對導電性幾乎無貢獻的0?10μm短線的比例,可以提高銀納米線透明電極的光電性能。此外,本發(fā)明具有操作簡單,無需復雜設備,耗時短,試劑消耗少,成本低的優(yōu)勢。

技術研發(fā)人員:林鐵松;何鵬;黃釗
受保護的技術使用者:哈爾濱工業(yè)大學
技術研發(fā)日:2017.05.22
技術公布日:2017.09.26
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