專利名稱：一種線路板v形切割偏移檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及線路板制造方法技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種線路板V形切割偏移檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
成型工序中，需在線路板上 進(jìn)行V形切割(即V-⑶T)，由于需對(duì)線路板進(jìn)行多次V-⑶T操作，為提高生產(chǎn)效率一般采用整版V-⑶T方式進(jìn)行作業(yè)。而目前檢驗(yàn)V形切割是否出現(xiàn)偏移，主要采用目視方式，檢查設(shè)計(jì)在各PCS件上的V-⑶T線是否被去除，若V-⑶T線被去除則視為不偏移。但實(shí)際作業(yè)中，因V-CUT線是在外層制作時(shí)采用影像轉(zhuǎn)移和人工對(duì)位方式形成，故存在因菲林漲縮或人為對(duì)偏導(dǎo)致V-CUT線偏移現(xiàn)象。而成型外形管控主要按照孔到板邊距離對(duì)外型尺寸進(jìn)行管控，故在成型過(guò)程中如以V-⑶T線是否被去除作為判斷V形切割是否出現(xiàn)偏移的標(biāo)準(zhǔn)，則會(huì)出現(xiàn)單PCS超公差現(xiàn)象。另外，現(xiàn)有的V-CUT線設(shè)計(jì)方式多為在各PCS與PCS間均設(shè)置有V-CUT線，而每PNL板上的V-CUT線少則幾十處，多則上百處，通過(guò)目視檢驗(yàn)工作量大、檢驗(yàn)時(shí)效慢、準(zhǔn)確性低，易出現(xiàn)V-CUT未被去除漏檢而導(dǎo)致短路現(xiàn)象，造成品質(zhì)隱患。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種有利于降低V-⑶T檢驗(yàn)難度、提高檢驗(yàn)時(shí)效，杜絕因V-CUT線未被去除所導(dǎo)致的短路現(xiàn)象，同時(shí)有利于提高V-CUT精度的線路板V形切割偏移檢測(cè)方法。為解決上述技術(shù)問(wèn)題，發(fā)明提供的技術(shù)方案是一種線路板V形切割偏移檢測(cè)方法，包括線路板鉆孔工序中，在鉆孔程式中加入V-CUT偏移檢驗(yàn)孔鉆孔程序，V-CUT偏移檢驗(yàn)孔鉆孔程序設(shè)定第一次鉆孔之前或之后，在線路板基板的成型線之外，于擬進(jìn)行V形切割的每條V-CUT線兩端各鉆一個(gè)或多個(gè)V-CUT偏移檢驗(yàn)孔；線路板成型后，檢驗(yàn)V形切割后形成的V-⑶T槽是否從V-⑶T線兩端的V-⑶T偏移檢驗(yàn)孔圓心切過(guò)，切過(guò)則可判定V形切割不偏移,反之則可判定V形切割偏移。本發(fā)明最主要的創(chuàng)新點(diǎn)是在每條V-CUT線兩端設(shè)置V-CUT偏移檢驗(yàn)孔，使得檢測(cè)時(shí)僅需檢驗(yàn)V形切割后形成的V-CUT槽是否從V-CUT線兩端的V-CUT偏移檢驗(yàn)孔圓心切過(guò)，從而實(shí)現(xiàn)了簡(jiǎn)單、快捷、高效的檢測(cè)方式，大幅降低ν-CUT檢驗(yàn)難度、提高檢驗(yàn)時(shí)效。通過(guò)實(shí)施本發(fā)明的技術(shù)方案，可將現(xiàn)有技術(shù)中在菲林上設(shè)置的V-⑶T線取消，可有效避免對(duì)板過(guò)程中因菲林漲縮和人為操作偏差導(dǎo)致的V-CUT線偏移，從而避免造成單PCS偏大或偏小或V-CUT線未過(guò)掉造成測(cè)試短路現(xiàn)象發(fā)生。同時(shí)，本發(fā)明采用在成型線以外設(shè)置V-CUT偏移檢驗(yàn)孔，取代原本需在各PCS之間設(shè)計(jì)ν-CUT線，一方面有利于簡(jiǎn)化提高V形切割作業(yè)工序，提高V形切割作業(yè)精度，另一方面大大降低ν-CUT偏移檢測(cè)難度，提高檢測(cè)準(zhǔn)確率和時(shí)效，并且可有效檢驗(yàn)各V-CUT槽的平行度，避免出現(xiàn)一端平行，一端偏移現(xiàn)象出現(xiàn)。
進(jìn)一步地，所述V-⑶T偏移檢驗(yàn)孔的直徑為O. 8-1. O毫米，所述V-⑶T偏移檢驗(yàn)孔與成型線的距離為1-2毫米。將V-CUT偏移檢驗(yàn)孔的直徑優(yōu)選為O. 8-1. O毫米，能提高PCB板兩面之V-CUT線對(duì)準(zhǔn)精度。將V-⑶T偏移檢驗(yàn)孔與成型線的距離設(shè)置為1-2毫米?？梢钥朔酝鵙-⑶T線設(shè)置在成型線以內(nèi)，在調(diào)機(jī)過(guò)程中極易造成ν-CUT偏移報(bào)廢的問(wèn)題，因V-CUT偏移檢驗(yàn)孔設(shè)置在成型線以外，在調(diào)機(jī)過(guò)程中可進(jìn)行試產(chǎn)，然后根據(jù)V-⑶T品質(zhì)狀況進(jìn)行調(diào)整作業(yè)參數(shù)且不會(huì)傷到成型線以內(nèi)而造成報(bào)廢，可保證線路板兩面之ν-CUT線的對(duì)準(zhǔn)精度控制在O. 05mm以內(nèi)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是本發(fā)明通過(guò)在每條V-CUT線兩端設(shè)置V-CUT偏移檢驗(yàn)孔，使得檢測(cè)時(shí)僅需檢驗(yàn)V形切割后形成的ν-CUT槽是否從ν-CUT線兩端的V-CUT偏移檢驗(yàn)孔圓心切過(guò)，從而實(shí)現(xiàn)了簡(jiǎn)單、快捷、高效的檢測(cè)方式，大幅降低V-CUT檢驗(yàn)難度、提高檢驗(yàn)時(shí)效。2、本發(fā)明采用在成型線以外設(shè)置V-CUT偏移檢驗(yàn)孔，取代原本需在各PCS之間設(shè)計(jì)V-⑶T線，一方面有利于簡(jiǎn)化提高V形切割作業(yè)工序，提高V形切割作業(yè)精度，另一方面大大降低V-CUT偏移檢測(cè)難度，提高檢測(cè)準(zhǔn)確率和時(shí)效，并且可有效檢驗(yàn)各ν-CUT槽的平行度，避免出現(xiàn)一端平行，一端偏移現(xiàn)象出現(xiàn)。3、本發(fā)明取消現(xiàn)有技術(shù)中在菲林上設(shè)置的ν-CUT線，可有效避免對(duì)板過(guò)程中因菲林漲縮和人為操作偏差導(dǎo)致的V-CUT線偏移，從而避免造成單PCS偏大或偏小或V-CUT線未過(guò)掉造成測(cè)試短路現(xiàn)象發(fā)生。


圖I為設(shè)直V-⑶T偏移檢驗(yàn)孔后線路板基板結(jié)構(gòu)不意圖。
具體實(shí)施例方式為了便于本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，下面將結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)描述。實(shí)施例I
將本線路板V形切割偏移檢測(cè)方法用于雙面板的生產(chǎn)中，制板流程如下
發(fā)料一鉆孔一整版鍛銅一干膜一圖形電鍛一蝕刻一防焊一文字一成型一成品檢驗(yàn)。
其它步驟均采用現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行，但在鉆孔工序中，在鉆孔程式中加入ν-CUT偏移檢驗(yàn)孔鉆孔程序，V-CUT偏移檢驗(yàn)孔鉆孔程序設(shè)定第一次鉆孔之前或之后，如圖I所示，在線路板基板I的成型線11之外，于擬進(jìn)行V形切割的每條V-CUT線12兩端各鉆一個(gè)ν-CUT偏移檢驗(yàn)孔13，V-CUT偏移檢驗(yàn)孔的直徑為O. 8毫米，V-CUT偏移檢驗(yàn)孔與成型線的距離為I毫米。在干膜工序中，菲林上取消ν-CUT線，線路板成型后，檢驗(yàn)V形切割后形成的V-⑶T槽是否從V-⑶T線兩端的V-⑶T偏移檢驗(yàn)孔圓心切過(guò)，切過(guò)則可判定V形切割不偏移，反之則可判定V形切割偏移。實(shí)施例2
將本線路板V形切割偏移檢測(cè)方法用于四面板的生產(chǎn)中，制板流程如下
發(fā)料一鉆孔一整版鍛銅一干膜一圖形電鍛一蝕刻一防焊一文字一成型一成品檢驗(yàn)。其它步驟均采用現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行，但在鉆孔工序中，在鉆孔程式中加入ν-CUT偏移檢驗(yàn)孔鉆孔程序，V-CUT偏移檢驗(yàn)孔鉆孔程序設(shè)定第一次鉆孔之前或之后，在線路板基板的成型線之外，于擬進(jìn)行V形切割的每條V-CUT線兩端各鉆一個(gè)V-CUT偏移檢驗(yàn)孔，V-CUT偏移檢驗(yàn)孔的直徑為I毫米，V-CUT偏移檢驗(yàn)孔與成型線的距離為2毫米。在干膜工序中，菲林上取消V-CUT線，線路板成型后，檢驗(yàn)V形切割后形成的V-CUT槽是否從V-CUT線兩端的ν-CUT偏移檢驗(yàn)孔圓心切過(guò)，切過(guò)則可判定V形切割不偏移，反之則可判定V形切割偏移。以上是實(shí)施例中，檢測(cè)時(shí)，工作人員僅需檢驗(yàn)V形切割后形成的ν-CUT槽是否從ν-CUT線兩端的V-CUT偏移檢驗(yàn)孔圓心切過(guò)，檢測(cè)方式簡(jiǎn)單、快捷、高效，大幅降低了 V-CUT檢驗(yàn)難度、提高了檢驗(yàn)時(shí)效，徹底杜絕因ν-CUT線未被去除所導(dǎo)致的短路現(xiàn)象。由于將V-⑶T偏移檢驗(yàn)孔的直徑優(yōu)選為O. 8-1. O毫米，顯著提高PCB板兩面之V-⑶T線對(duì)準(zhǔn)精度。將V-CUT偏移檢驗(yàn)孔與成型線的距離設(shè)置為1-2毫米，克服了以往V-CUT線設(shè)置在成型線以內(nèi)，在調(diào)機(jī)過(guò)程中極易造成V-⑶T偏移報(bào)廢的問(wèn)題，因V-⑶T偏移檢驗(yàn)孔設(shè)置在成型線以夕卜，在調(diào)機(jī)過(guò)程中可進(jìn)行試產(chǎn)，然后根據(jù)V-⑶T品質(zhì)狀況進(jìn)行調(diào)整作業(yè)參數(shù)且不會(huì)傷到成型線以內(nèi)而造成報(bào)廢，將線路板不同面的ν-CUT線的對(duì)準(zhǔn)精度控制在O. 05_以內(nèi)。
上述實(shí)施例是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，除此之外，本發(fā)明還可以有其他實(shí)現(xiàn)方式。也就是說(shuō)，在沒(méi)有脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，任何顯而易見的替換也應(yīng)落入本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種線路板V形切割偏移檢測(cè)方法，其特征在于包括線路板鉆孔工序中，在鉆孔程式中加入V-CUT偏移檢驗(yàn)孔鉆孔程序，V-CUT偏移檢驗(yàn)孔鉆孔程序設(shè)定第一次鉆孔之前或之后，在線路板基板(I)的成型線(11)之外，于擬進(jìn)行V形切割的每條V-CUT線(12)兩端各鉆一個(gè)或多個(gè)V-CUT偏移檢驗(yàn)孔(13);線路板成型后，檢驗(yàn)V形切割后形成的V-CUT槽是否從V-CUT線兩端的V-CUT偏移檢驗(yàn)孔圓心切過(guò)，切過(guò)則可判定V形切割不偏移，反之則可判定V形切割偏移。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的線路板V形切割偏移檢測(cè)方法，其特征在于所述ν-CUT偏移檢驗(yàn)孔(13)的直徑為O. 8-1. O毫米。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的線路板V形切割偏移檢測(cè)方法，其特征在于所述V-CUT偏移檢驗(yàn)孔(13)與成型線(11)的距離為1-2毫米。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種線路板V形切割偏移檢測(cè)方法,線路板鉆孔工序中,在鉆孔程式中加入V-CUT偏移檢驗(yàn)孔鉆孔程序,V-CUT偏移檢驗(yàn)孔鉆孔程序設(shè)定:第一次鉆孔之前或之后,在線路板基板的成型線之外，于擬進(jìn)行V形切割的每條V-CUT線兩端各鉆一個(gè)或多個(gè)V-CUT偏移檢驗(yàn)孔；線路板成型后，檢驗(yàn)V形切割后形成的V-CUT槽是否從V-CUT線兩端的V-CUT偏移檢驗(yàn)孔圓心切過(guò)，切過(guò)則可判定V形切割不偏移，反之則可判定V形切割偏移。所述V-CUT防偏移孔的直徑為0.8-1.0毫米。所述V-CUT偏移檢驗(yàn)孔與成型線的距離為1-2毫米。采用本方法有利于降低V-CUT檢驗(yàn)難度、提高檢驗(yàn)時(shí)效，可杜絕因V-CUT線未被去除所導(dǎo)致的短路現(xiàn)象,同時(shí)有利于提高V-CUT精度。
文檔編號(hào)B23B35/00GK102721384SQ20121021083
公開日2012年10月10日 申請(qǐng)日期2012年6月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月26日
發(fā)明者周定忠, 陳光宏, 龍亞波 申請(qǐng)人:勝華電子(惠陽(yáng))有限公司