專利名稱：等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在壁掛電視機(jī)或大型監(jiān)視器中使用的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法。
背景技術(shù)：
作為等離子體顯示面板(以下，簡稱為”面板”)代表性的交流面放電型面板，在相對配置的前面板和背面板之間形成有多個放電單元。
前面板在前面玻璃基板上彼此平行地形成有多對由一對掃描電極和維持電極構(gòu)成的顯示電極對，并以覆蓋這些顯示電極對的方式形成有電介質(zhì)層和保護(hù)層。背面板在背面玻璃基板上分別形成有多個平行的數(shù)據(jù)電極、覆蓋它們的電介質(zhì)層，進(jìn)而在該電介質(zhì)層上與數(shù)據(jù)電極平行地形成多個隔壁，在電介質(zhì)層的表面和隔壁的側(cè)面形成有熒光體層。
然后，前面板和背面板被相對配置以使顯示電極對和數(shù)據(jù)電極立體交叉并密封，在內(nèi)部的放電空間封入例如包含分壓比約5％的氙的放電氣體。在這里，在顯示電極對和數(shù)據(jù)電極相對的部分形成有放電單元。在這樣的構(gòu)成的面板中，在各個放電單元內(nèi)通過氣體放電產(chǎn)生紫外線，利用該紫外線使紅色(R)、綠色(G)和藍(lán)色(B)的各色的熒光體激勵發(fā)光，進(jìn)行彩色顯示。
作為驅(qū)動面板的方法，一般使用子場法，即在將1個場期間分割成多個子場的基礎(chǔ)上，通過發(fā)光的子場的組合進(jìn)行灰度等級顯示的方法。
各個子場具有初始化期間、寫入期間和維持期間，在初始化期間內(nèi)發(fā)生初始化放電，并在各個電極上形成隨后的寫入動作所需要的壁電荷。在初始化動作中，存在使初始化放電在所有放電單元中發(fā)生的初始化動作(以下，簡稱為“全單元初始化動作”)和使初始化放電在進(jìn)行了維持放電的放電單元中發(fā)生的初始化動作(以下，簡稱為“選擇初始化動作”)。
在寫入期間內(nèi)，對應(yīng)當(dāng)進(jìn)行顯示的放電單元施加寫入脈沖電壓，使之發(fā)生寫入放電，形成壁電荷(以下，也將該動作稱為“寫入”)。然后，在維持期間內(nèi)，通過對由掃描電極和維持電極構(gòu)成的顯示電極對交替地施加維持脈沖，使維持放電在發(fā)生了寫入放電的放電單元中發(fā)生，并使對應(yīng)的放電單元的熒光體層發(fā)光，使放電單元點(diǎn)亮以進(jìn)行圖像顯示。
在該子場法中，例如，通過在多個子場之中1個子場的初始化期間中，進(jìn)行使所有放電單元放電的全單元初始化動作，在其它子場的初始化期間中對進(jìn)行了維持放電的放電單元選擇性地進(jìn)行初始化放電，可以盡可能減少與灰度等級顯示無關(guān)的發(fā)光，提高對比度比率。
如上所述，面板的圖像顯示面通過以矩陣狀鋪滿的多個放電單元形成，并通過根據(jù)有無寫入控制各個放電單元的點(diǎn)亮/非點(diǎn)亮來顯示圖像。因此，重要的是點(diǎn)亮進(jìn)行了寫入的放電單元，不點(diǎn)亮沒有沒有進(jìn)行寫入的放電單元，如果沒有準(zhǔn)確地進(jìn)行這些動作，則對于圖像顯示產(chǎn)生品質(zhì)劣化。
于是，在特開2005-183367號公報(bào)中公開了用于檢測具有雖然進(jìn)行了寫入但沒有點(diǎn)亮的放電單元的面板的檢查方法。
之所以出現(xiàn)這樣的雖然進(jìn)行了寫入但沒有點(diǎn)亮的放電單元，主要原因是在用于劃分相鄰的放電單元彼此的隔壁上產(chǎn)生了隆起或缺損，通過其間隙帶電粒子從相鄰的放電單元侵入使得壁電荷減少。因此，為了發(fā)現(xiàn)這樣的放電單元，上述的技術(shù)產(chǎn)生效果。
另一方面，對于圖像顯示產(chǎn)生品質(zhì)劣化的其它原因，是存在雖然沒有進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元。但是，采用上述的技術(shù)，不能發(fā)現(xiàn)這樣的放電單元。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供用于檢測具有雖然沒有進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元的面板的面板的點(diǎn)亮檢查方法。
本發(fā)明的面板的點(diǎn)亮檢查方法，在1個場期間內(nèi)設(shè)置多個具有使初始化放電在放電單元中發(fā)生的初始化期間、對放電單元選擇性地施加寫入脈沖電壓以使之發(fā)生寫入放電的寫入期間、和在寫入期間內(nèi)使與亮度權(quán)重對應(yīng)的次數(shù)的維持放電在所選擇的放電單元中發(fā)生的維持期間的子場，驅(qū)動包括多個具有在行方向形成的由掃描電極和維持電極構(gòu)成的顯示電極對和在列方向形成的數(shù)據(jù)電極的放電單元的面板，并組合使放電單元點(diǎn)亮的子場以進(jìn)行灰度等級顯示，其特征在于，在規(guī)定的子場中對檢查對象的放電單元施加寫入脈沖電壓，在至少規(guī)定的子場之后的子場中對檢查對象的放電單元不施加寫入脈沖電壓。通過該方法，可以檢測具有雖然沒有進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元的面板。
此外，本發(fā)明的面板的點(diǎn)亮檢查方法，也可以構(gòu)成為在規(guī)定的子場中對檢查對象的放電單元施加寫入脈沖電壓，從該規(guī)定的子場之后的子場到至少該場的最后的子場對檢查對象的寫入單元不施加寫入脈沖電壓。如果采用該方法，則更容易發(fā)現(xiàn)雖然沒有進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元。
此外，本發(fā)明的面板的點(diǎn)亮檢查方法，也可以構(gòu)成為在規(guī)定的子場和至少該規(guī)定的子場之后的子場中，對與檢查對象的放電單元相鄰的放電單元的至少1個放電單元不施加寫入脈沖電壓。如果采用該方法，則由于放電開始電壓因電介質(zhì)層的缺損等降低，因此可以發(fā)現(xiàn)雖然沒有進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元。
此外，本發(fā)明的面板的點(diǎn)亮檢查方法，也可以構(gòu)成為在規(guī)定的子場和至少該規(guī)定的子場之后的子場中，對與檢查對象的放電單元相鄰的放電單元的至少1個放電單元施加寫入脈沖電壓。如果采用該方法，則由于紫外線因劃分相鄰的放電單元彼此的隔壁的缺損等從相鄰的放電單元泄露，因此可以發(fā)現(xiàn)雖然沒有進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元。
此外，本發(fā)明的面板的點(diǎn)亮檢查方法，也可以構(gòu)成為在規(guī)定的子場隨后的3個子場之中的至少1個子場中，對與檢查對象的放電單元相鄰的放電單元的至少1個放電單元施加寫入脈沖電壓。如果采用該方法，則由于紫外線因劃分相鄰的放電單元彼此的隔壁的缺損等從相鄰的放電單元泄露，因此，可以在殘留有由于初始化放電而產(chǎn)生的帶電粒子(引火粒子(priming particle))的期間檢查雖然沒有進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元的有無。
此外，本發(fā)明的面板的點(diǎn)亮檢查方法，也可以構(gòu)成為在從場內(nèi)的最初的子場到規(guī)定的子場之前的子場之間，設(shè)置至少1個對檢查對象的放電單元和與檢查對象的放電單元相鄰的所有放電單元施加寫入脈沖電壓的子場。如果采用該方法，則由于紫外線從相鄰的放電單元泄露，因此可以更確實(shí)地產(chǎn)生對于檢查雖然沒有進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元的有無有用的帶電粒子。
如果采用本發(fā)明，則可以提供用于檢測具有雖然沒有進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元的面板的面板的點(diǎn)亮檢查方法。


圖1是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的面板的構(gòu)造的分解斜視圖。
圖2是本發(fā)明的實(shí)施方式1的面板的電極排列圖。
圖3是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的面板的圖像顯示面的放電單元的排列的概略圖。
圖4是在本發(fā)明的實(shí)施方式1的面板的各個電極上施加的驅(qū)動電壓波形圖。
圖5是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的子場構(gòu)成的一個例子的圖。
圖6是本發(fā)明的實(shí)施方式1的點(diǎn)亮檢查裝置的電路框圖。
圖7A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖7B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖8A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖8B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖9A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖9B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖10A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖10B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖11A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖11B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖12A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖12B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。
圖13A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖13B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖14A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖14B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖15A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖15B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖16A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖16B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖17A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖17B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖18A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖18B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖19A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖19B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖20A是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
圖20B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。
具體實(shí)施例方式
實(shí)施方式1以下，使用圖面對為了實(shí)施本發(fā)明的實(shí)施方式1的面板的點(diǎn)亮檢查方法而使用的點(diǎn)亮檢查裝置進(jìn)行說明。
圖1是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的面板10的構(gòu)造的分解斜視圖。在玻璃制的前面板21上，形成有多個由掃描電極22和維持電極23構(gòu)成的顯示電極對28。然后，以覆蓋掃描電極22和維持電極23的方式形成電介質(zhì)層24，并在該電介質(zhì)層24上形成有保護(hù)層25。在背面板31上形成有多個數(shù)據(jù)電極32，以覆蓋數(shù)據(jù)電極32的方式形成電介質(zhì)層33，進(jìn)而在其上形成有井字狀的隔壁34。然后，在隔壁34的側(cè)面和電介質(zhì)層33上，設(shè)置有發(fā)出紅色(R)、綠色(G)和藍(lán)色(B)的各色的光的熒光體層35。
這些前面板21和背面板31被相對配置，使得顯示電極對28和數(shù)據(jù)電極32夾著微小的放電空間交叉，并用玻璃粉等封粘劑封粘其外周部。然后，在放電空間封入例如氖和氙的混合氣體作為放電氣體。放電空間通過隔壁34被劃分成多個區(qū)劃，并在顯示電極對28和數(shù)據(jù)電極32交叉的部分形成放電單元。然后，通過這些放電單元放電、發(fā)光顯示圖像。
另外，面板的構(gòu)造并不限于上述的構(gòu)造，例如，也可以是具備條帶狀的隔壁的構(gòu)造。
圖2是本發(fā)明的實(shí)施方式1的面板10的電極排列圖。在面板10上，在行方向排列有長的n條掃描電極SC1～SCn(圖1的掃描電極22)和n條維持電極SU1～SUn(圖1的維持電極23)，在列方向排列有長的m條數(shù)據(jù)電極D1～Dm(圖1的數(shù)據(jù)電極32)。然后，在1對掃描電極SCi(i＝1～n)和維持電極SUi與1個數(shù)據(jù)電極Dj(j＝1～m)交叉的部分形成有放電單元，放電單元在放電空間形成有n×m個。
圖3是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的面板10的圖像顯示面的放電單元的排列的概略圖。如圖面所示，在面板10的圖像顯示面上，以n行m列的矩陣狀鋪滿有設(shè)置了紅色的熒光體層35的放電單元(以下簡寫為“R單元”)13、設(shè)置了綠色的熒光體層35的放電單元(以下簡寫為“G單元”)14和設(shè)置了藍(lán)色的熒光體層35的放電單元(以下簡寫為“B單元”)15。然后，在列方向排列有同色的放電單元，在行方向以R單元13、G單元14和B單元15的方式順序地排列有不同顏色的放電單元。
接著，對用于驅(qū)動面板10的驅(qū)動電壓波形及其動作進(jìn)行說明。等離子體顯示裝置，通過子場法，即，將1個場期間分割成多個子場并對每一個子場控制各個放電單元的發(fā)光·非發(fā)光來進(jìn)行灰度等級顯示。每一個子場都具有初始化期間、寫入期間和維持期間。
在初始化期間內(nèi)發(fā)生初始化放電，并在各個電極上形成隨后的寫入放電所需要的壁電荷。在這時的初始化動作中，有使初始化放電在所有放電單元中發(fā)生的初始化動作(以下簡稱為“全單元初始化動作”)和使初始化放電在進(jìn)行了維持放電的放電單元中發(fā)生的初始化動作(以下簡稱為“選擇初始化動作”)。
在寫入期間內(nèi)，在應(yīng)當(dāng)發(fā)光的放電單元中選擇性地發(fā)生寫入放電以形成壁電荷。然后，在維持期間內(nèi)，對顯示電極對28交替地施加與亮度權(quán)重成比例的個數(shù)的維持脈沖，使維持放電在發(fā)生了寫入放電的放電單元中發(fā)生以使之發(fā)光。將這時的比例常數(shù)稱為亮度倍率。
圖4是對本發(fā)明的實(shí)施方式1的面板10的各個電極施加的驅(qū)動電壓波形圖。在圖4中，示出了進(jìn)行全單元初始化動作的子場和進(jìn)行選擇初始化動作的子場。
首先，對進(jìn)行全單元初始化動作的子場進(jìn)行說明。
在初始化期間前半部，對數(shù)據(jù)電極D1～Dm、維持電極SU1～Sun分別施加電壓0V，對掃描電極SC1～SCn，相對于維持電極SU1～Sun施加從小于等于放電開始電壓的電壓Vi1向著超過放電開始電壓的電壓Vi2緩慢上升的傾斜波形電壓。
在該傾斜波形電壓上升的期間，在掃描電極SC1～SCn和維持電極SU1～Sun、數(shù)據(jù)電極D1～Dm之間分別發(fā)生微弱的初始化放電。然后，在掃描電極SC1～SCn上部累積負(fù)的壁電壓，同時，在數(shù)據(jù)電極D1～Dm上部和維持電極SU1～Sun上部累積正的壁電壓。在這里，所謂電極上部的壁電壓表示由在覆蓋電極的電介質(zhì)層上、保護(hù)層上、熒光體層上等累積的壁電荷產(chǎn)生的電壓。
在初始化期間后半部，對維持電極SU1～Sun施加正的電壓Ve1，對掃描電極SC1～SCn，相對于維持電極SU1～SUn施加從小于等于放電開始電壓的電壓Vi3向著超過放電開始電壓的電壓Vi4緩慢下降的傾斜波形電壓。在該期間，在掃描電極SC1～SCn和維持電極SU1～SUn、數(shù)據(jù)電極D1～Dm之間分別發(fā)生微弱的初始化放電。然后，掃描電極SC1～SCn上部的負(fù)的壁電壓和維持電極SU1～SUn上部的正的壁電壓減弱，數(shù)據(jù)電極D1～Dm上部的正的壁電壓被調(diào)整為適合于寫入動作的值。通過以上步驟，對于所有放電單元進(jìn)行初始化放電的全單元初始化動作結(jié)束。
在隨后的寫入期間內(nèi)，對維持電極SU1～SUn施加電壓Ve2，對掃描電極SC1～SCn施加電壓Vc。
接著，對第1行的掃描電極SC1施加負(fù)的掃描脈沖電壓Va，同時，對數(shù)據(jù)電極D1～Dm之中應(yīng)當(dāng)使第1行發(fā)光的放電單元的數(shù)據(jù)電極Dk(k＝1～m)施加正的寫入脈沖電壓Vd。這時，數(shù)據(jù)電極Dk上和掃描電極SC1上的交叉部的電壓差變成將數(shù)據(jù)電極Dk上的壁電壓和掃描電極SC1上的壁電壓的差加到外部施加電壓的差(Vd-Va)，超過放電開始電壓。然后，在數(shù)據(jù)電極Dk與掃描電極SC1之間以及維持電極SU1與掃描電極SC1之間發(fā)生寫入放電，在掃描電極SC1上累積正的壁電壓，在維持電極SU1上累積負(fù)的壁電壓，在數(shù)據(jù)電極Dk上也累積負(fù)的壁電壓。
這樣，在應(yīng)當(dāng)使第1行發(fā)光的放電單元中發(fā)生寫入放電并進(jìn)行在各個電極上累積壁電壓的寫入動作。另一方面，沒有施加寫入脈沖電壓Vd的數(shù)據(jù)電極D1～Dm和掃描電極SC1的交叉部的電壓由于沒有超過放電開始電壓，因此寫入放電不會發(fā)生。直到到達(dá)第n行的放電單元為止進(jìn)行以上的寫入動作，結(jié)束寫入期間。
在隨后的維持期間內(nèi)，首先對掃描電極SC1～SCn施加正的維持脈沖電壓Vs，同時，對維持電極SU1～SUn施加電壓0V。這樣的話，在發(fā)生了寫入放電的放電單元中，掃描電極SCi上和維持電極SUi上的電壓差變成將掃描電極SCi上的壁電壓和維持電極SUi上的壁電壓的差加到維持脈沖電壓Vs，超過放電開始電壓。
然后，在掃描電極SCi和維持電極SUi之間發(fā)生維持放電，通過這時所產(chǎn)生的紫外線，熒光體層35發(fā)光。然后，在掃描電極SCi上累積負(fù)的壁電壓，在維持電極SUi上累積正的壁電壓。進(jìn)一步地，在數(shù)據(jù)電極Dk上也累積正的壁電壓。在在寫入期間內(nèi)沒有發(fā)生寫入放電的放電單元中，維持放電不發(fā)生，保持在初始化期間結(jié)束時的壁電壓。
隨后，對掃描電極SC1～SCn施加電壓0V，對維持電極SU1～SUn施加維持脈沖電壓Vs。這樣的話，在發(fā)生了維持放電的放電單元中，由于維持電極SUi上和掃描電極SCi上的電壓差超過放電開始電壓，因此，在維持電極SUi與掃描電極SCi之間再次發(fā)生維持放電，在維持電極SUi上累積負(fù)的壁電壓，在掃描電極SCi上累積正的壁電壓。
以下同樣地，通過對掃描電極SC1～SCn和維持電極SU1～Sun交替地施加亮度權(quán)重與亮度倍率相乘的個數(shù)的維持脈沖，并在顯示電極對的電極間應(yīng)用電位差，可以在寫入期間內(nèi)發(fā)生了寫入放電的放電單元中繼續(xù)進(jìn)行維持放電。
然后，在維持期間的最后，在掃描電極SC1～SCn和維持電極SU1～SUn之間應(yīng)用所謂細(xì)寬度脈沖狀的電壓差，殘留數(shù)據(jù)電極Dk上的正的壁電壓不變，消除掃描電極SCi和維持電極SUi上的壁電壓。具體地，一旦將維持電極SU1～SUn返回到電壓0V后，就對掃描電極SC1～SCn施加維持脈沖電壓Vs。這樣的話，在發(fā)生了維持放電的放電單元的維持電極SUi和掃描電極SCi之間發(fā)生維持放電。然后，在該放電結(jié)束之前，即在放電空間內(nèi)充分殘留有由于放電而產(chǎn)生的帶電粒子的期間，對維持電極SU1～SUn施加電壓Ve1。通過這樣，維持電極SUi與掃描電極SCi之間的電壓差減弱到(Vs-Ve1)左右。這樣的話，殘留數(shù)據(jù)電極Dk上的正的壁電荷不變，掃描電極SC1～SCn上和維持電極SU1～SUn上之間的壁電壓減弱到已對各自的電極施加的電壓的差(Vs-Ve1)左右。以下，將該放電稱為“擦除放電”。
如上所述，在對掃描電極SC1～SCn施加了最后的維持放電即用于發(fā)生擦除放電的電壓Vs之后，對維持電極SU1～SUn施加用于緩和顯示電極對的電極間的電位差的電壓Ve1。然后，維持期間的維持動作結(jié)束。
接下來，對進(jìn)行選擇初始化動作的子場的動作進(jìn)行說明。
在選擇初始化期間內(nèi)，對維持電極SU1～SUn施加電壓Ve1和對數(shù)據(jù)電極D1～Dm施加電壓0V不變，對掃描電極SC1～SCn施加從電壓Vi3’向著電壓Vi4緩慢下降的斜坡電壓。
這樣的話，在在前面的子場的維持期間內(nèi)發(fā)生了維持放電的放電單元中，發(fā)生微弱的初始化放電，減弱掃描電極SCi上和維持電極SUi上的壁電壓。此外，對于數(shù)據(jù)電極Dk，由于通過先前的維持放電在數(shù)據(jù)電極Dk上累積了充分的正的壁電壓，因此，該壁電壓的過剩部分被放電，被調(diào)整為適合于寫入動作的壁電壓。
另一方面，對于在前面的子場中沒有發(fā)生維持放電的放電單元，不進(jìn)行放電，而保持前面的子場的初始化期間結(jié)束時的壁電荷不變。如上所述，選擇初始化動作是對在先前的子場的維持期間內(nèi)進(jìn)行了維持動作的放電單元選擇性地進(jìn)行初始化放電的動作。
隨后的寫入期間的動作，由于與進(jìn)行全單元初始化動作的子場的寫入期間的動作相同，因此省略說明。隨后的維持期間的動作除了維持脈沖的個數(shù)以外也相同。
接著，對子場構(gòu)成進(jìn)行說明。
圖5是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的子場的構(gòu)成的一個例子的圖。圖5簡略地示出了子場法的1個場間的驅(qū)動電壓波形，各個子場的驅(qū)動電壓波形與圖4的驅(qū)動電壓波形相同。
在本實(shí)施方式1中，將1個場分割成8個子場(第1SF、第2SF、......、第8SF)，各個子場具有各自(1、2、4、8、16、32、64、128)的亮度權(quán)重。此外，在各個子場的維持期間內(nèi)，對顯示電極對28的每一個施加與各自的子場的亮度權(quán)重對應(yīng)的個數(shù)的維持脈沖。因此，可以通過點(diǎn)亮的子場的組合顯示從0到255的256個灰度等級。然后，子場的每一個是在初始化期間內(nèi)進(jìn)行全單元初始化動作的子場(以下簡稱為“全單元初始化子場”)或者是在初始化期間內(nèi)進(jìn)行選擇初始化動作的子場(以下簡稱為“選擇初始化子場”)，在本實(shí)施方式1中，將第1SF設(shè)定為全單元初始化子場，將第2FS～第8SF設(shè)定為選擇初始化子場。通過這樣，由于在第2FS～第8SF的初始化期間內(nèi)可以僅僅對進(jìn)行了維持放電的放電單元選擇性地進(jìn)行初始化放電，并盡可能減少與灰度等級顯示無關(guān)的發(fā)光，因此，可以提高對比度比率。
但是，本實(shí)施方式1，子場個數(shù)或各個子場的亮度權(quán)重并不限定于上述的值，此外，也可以是根據(jù)面板的規(guī)格等切換子場構(gòu)成的構(gòu)成。
圖6是本發(fā)明的實(shí)施方式1的點(diǎn)亮檢查裝置的電路框圖。點(diǎn)亮檢查裝置具備用于進(jìn)行面板10的點(diǎn)亮檢查的數(shù)據(jù)電極驅(qū)動電路52、掃描電極驅(qū)動電路53、維持電極驅(qū)動電路54、控制用計(jì)算機(jī)51、可編程存儲器57、定時產(chǎn)生電路55和供給各個電路模塊所需的電源的電源電路(未圖示)。然后，在數(shù)據(jù)電極驅(qū)動電路52、掃描電極驅(qū)動電路53和維持電極驅(qū)動電路54上，可以能夠裝卸地連接面板10，可以將結(jié)束了檢查的面板10與未檢查的面板10交換。
本實(shí)施方式1的點(diǎn)亮檢查裝置被構(gòu)成為控制用計(jì)算機(jī)51制成后述的檢查圖案(以下表示為“寫入圖案”)，利用該寫入圖案控制各個驅(qū)動電路以進(jìn)行面板10的點(diǎn)亮檢查。控制用計(jì)算機(jī)51制成的寫入圖案是在寫入期間內(nèi)對數(shù)據(jù)電極D1～Dm施加的寫入脈沖電壓的施加圖案；表示該寫入圖案的信號從控制用計(jì)算機(jī)51傳送到可編程存儲器57，并在可編程存儲器57中存放為可以從定時產(chǎn)生電路55中讀出。
定時產(chǎn)生電路55根據(jù)水平同步信號H、垂直同步信號V和從可編程存儲器57中讀出的檢查圖案，產(chǎn)生控制各個驅(qū)動電路的動作的各種定時信號，供給各自的驅(qū)動電路。
然后，根據(jù)來自定時產(chǎn)生電路55的定時信號，數(shù)據(jù)電極驅(qū)動電路52生成用于驅(qū)動數(shù)據(jù)電極D1～Dm的上述的驅(qū)動電壓波形以分別驅(qū)動各個數(shù)據(jù)電極D1～Dm。掃描電極驅(qū)動電路53生成用于驅(qū)動掃描電極SC1～SCn的上述的驅(qū)動電壓波形以分別驅(qū)動各個掃描電極SC1～SCn。維持電極驅(qū)動電路54生成用于驅(qū)動維持電極SU1～SUn的上述的驅(qū)動電壓波形以分別驅(qū)動各個維持電極SU1～SUn。這樣，進(jìn)行用于對面板10進(jìn)行點(diǎn)亮檢查的驅(qū)動。
在這里，在面板10中，存在異物混入電介質(zhì)層24、33，或者由于在電介質(zhì)層24、33內(nèi)產(chǎn)生的氣泡使層局部性地變薄的情況。這樣的電介質(zhì)層的缺陷，會降低具有該缺陷的放電單元的放電開始電壓，存在在沒有進(jìn)行寫入的放電單元中僅僅由于施加維持脈沖電壓而超過放電開始電壓并使維持放電發(fā)生，從而使放電單元點(diǎn)亮的可能。
于是，這樣的現(xiàn)象在進(jìn)行寫入而使維持放電發(fā)生的子場之后的子場中比較容易發(fā)生。這被認(rèn)為是由于對于在維持期間內(nèi)進(jìn)行了維持動作的放電單元選擇性地進(jìn)行初始化放電的選擇初始化動作，因此放電單元內(nèi)的狀態(tài)變成比較容易發(fā)生放電的狀態(tài)的緣故。進(jìn)一步地，一旦發(fā)生維持放電，在這以后的子場中，繼續(xù)發(fā)生維持放電的可能性也增大。于是，在本實(shí)施方式1中，進(jìn)行用于檢測具有這樣的缺陷的放電單元的面板的點(diǎn)亮檢查。
接著，對進(jìn)行該點(diǎn)亮檢查的方法進(jìn)行說明。
圖7A、圖7B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的一個例子的圖。另外，這里的所謂寫入圖案，是表示在各個子場的寫入期間內(nèi)施加寫入脈沖電壓以進(jìn)行寫入或者不施加寫入脈沖電壓以不進(jìn)行寫入的圖案，在圖面中，“○”表示進(jìn)行寫入，“×”表示不進(jìn)行寫入。此外，對面板10的各個電極施加的驅(qū)動電壓波形與圖4所示的相同。
如圖7A所示，在該寫入圖案中，在偶數(shù)行(在圖面中，用2N、2(N+1)表示，N是自然數(shù))、奇數(shù)行(在圖面中，用2N+1表示)的所有R單元、G單元、B單元中，從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，第4SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入。因此，在正常的放電單元中，如圖7B所示，從第3SF的點(diǎn)亮狀態(tài)切換到第4SF的非點(diǎn)亮狀態(tài)。即，通過檢測在第4SF以后點(diǎn)亮的放電單元，可以檢測非正常的放電單元。
這時，在本實(shí)施方式1中，通過從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，在第4SF中，放電單元變成容易發(fā)生放電的狀態(tài)。進(jìn)一步地，通過從第1SF到第3SF的亮度權(quán)重的合計(jì)相對于峰值亮度低至7/255，并且亮度權(quán)重比從第1SF到第3SF的亮度權(quán)重的合計(jì)大的第4SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入，可以容易地將比周圍明亮地發(fā)光的放電單元檢測為異常點(diǎn)亮的放電單元。
如上所述，在本實(shí)施方式1中，通過在規(guī)定的子場中對檢查對象的放電單元施加寫入脈沖電壓，并在至少該規(guī)定的子場之后的子場中對檢查對象的放電單元不施加寫入脈沖電壓，可以檢測雖然沒有進(jìn)行寫入但發(fā)生維持放電而異常點(diǎn)亮的放電單元。
另外，在本實(shí)施方式1中，雖然說明了從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入、第4SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入的構(gòu)成，但是，本發(fā)明并不限定于任何構(gòu)成。
圖8A、圖8B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的另一個例子的圖。例如，如圖8A所示，也可以從第1SF到第4SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，第5SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入。在這種情況下，由于從第1SF到第3SF的亮度權(quán)重的合計(jì)相對于峰值亮度低至15/255，并且亮度權(quán)重比從第1SF到第4SF的亮度權(quán)重的合計(jì)大的第5SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入，因此，可以容易地將比周圍明亮地發(fā)光的放電單元檢測為異常點(diǎn)亮的放電單元。
圖9A、圖9B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的再一個例子的圖。例如，如圖9A所示，也可以在第1SF中不進(jìn)行寫入，從第2SF到第4SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，第5SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入?；蛘?，如圖9B所示，也可以在第2SF中不進(jìn)行寫入，在第1SF、第3SF和第4SF中進(jìn)行寫入，第5SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入。如上所述，例如，如果是如第1SF、第2SF的亮度權(quán)重小的子場，則在該子場中不進(jìn)行寫入，也可以得到與圖7A、圖7B、圖8A、8B所示的相同的效果。
此外，在本實(shí)施方式1中，說明了在偶數(shù)行、奇數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入、第4SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入的構(gòu)成。但是，并不限定于任何的構(gòu)成，也可以是在特定的行或特定的列或特定的放電單元中檢測異常點(diǎn)亮的放電單元的構(gòu)成。
圖10A、圖10B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的再一個例子的圖。例如，如圖10A所示，也可以在偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中，在從第1SF到第8SF的所有子場中都不進(jìn)行寫入；在奇數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中，從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，第4SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入。在這種情況下，如圖10B所示，在處于奇數(shù)行的R單元、G單元、B單元的各個放電單元中，從第3SF的點(diǎn)亮狀態(tài)切換到第4SF的非點(diǎn)亮狀態(tài)。即，通過檢測在第4SF以后點(diǎn)亮的放電單元，可以進(jìn)行奇數(shù)行的放電單元的點(diǎn)亮檢查。在這種情況下，通過在奇數(shù)行和偶數(shù)行中更換寫入圖案，可以進(jìn)行偶數(shù)行的點(diǎn)亮檢查。
圖11A、圖11B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的再一個例子的圖。例如，如圖11A所示，也可以在偶數(shù)行、奇數(shù)行的所有G單元、B單元中，在從第1SF到第8SF的所有子場中不進(jìn)行寫入；在偶數(shù)行、奇數(shù)行的所有R單元中，從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，第4SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入。在這種情況下，如圖11B所示，在R單元的各個放電單元中，從第3SF的點(diǎn)亮狀態(tài)切換到第4SF的非點(diǎn)亮狀態(tài)。即，通過檢測在第4SF以后點(diǎn)亮的放電單元，可以進(jìn)行R單元的放電單元的點(diǎn)亮檢查。在這種情況下，通過在R單元和B單元或G單元中更換寫入圖案，可以進(jìn)行B單元或G單元的點(diǎn)亮檢查。
圖12A、圖12B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的寫入圖案的再一個例子的圖。例如，如圖12A所示，也可以在偶數(shù)行、奇數(shù)行的所有G單元、B單元和偶數(shù)行的所有R單元中，在從第1SF到第8SF的所有子場中不進(jìn)行寫入；在偶數(shù)行、奇數(shù)行的所有R單元中，從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，第4SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入。在這種情況下，如圖12B所示，在處于奇數(shù)行的R單元中，從第3SF的點(diǎn)亮狀態(tài)切換到第4SF的非點(diǎn)亮狀態(tài)。即，通過檢測在第4SF以后點(diǎn)亮的放電單元，可以進(jìn)行處于奇數(shù)行的R單元的放電單元的點(diǎn)亮檢查。在這種情況下，通過在奇數(shù)行和偶數(shù)行中更換寫入圖案，或者通過在R單元和B單元或G單元中更換寫入圖案，可以進(jìn)行處于偶數(shù)行的R單元或處于奇數(shù)行或偶數(shù)行的B單元或G單元的點(diǎn)亮檢查。
實(shí)施方式2在實(shí)施方式1中，說明了通過在電介質(zhì)層24、33中混入異物或由于在電介質(zhì)層24、33內(nèi)產(chǎn)生的氣泡使層局部地變薄來降低放電單元的放電開始電壓，雖然沒有進(jìn)行寫入，但發(fā)生維持放電，并檢測點(diǎn)亮的放電單元的構(gòu)成。但是，對于不進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元出現(xiàn)的原因，除此之外，還有例如隔壁34的缺損。
例如，如果在隔壁34上產(chǎn)生缺損等使其高度形成得比本來的高度低，則不遮斷由于在相鄰的放電單元中的維持放電產(chǎn)生的紫外線，通過從那里泄露的紫外線激勵熒光體發(fā)光。由于這樣的隔壁34的缺損等發(fā)生的放電單元的異常點(diǎn)亮，利用在實(shí)施方式1中描述的寫入圖案很難檢測。
因此，在本實(shí)施方式2中，對用于檢測由于這樣的隔壁34的缺損等異常點(diǎn)亮的放電單元的寫入圖案進(jìn)行說明。另外，本實(shí)施方式2的面板10的構(gòu)造、對各個電極施加的驅(qū)動電壓波形以及點(diǎn)亮檢查裝置的構(gòu)成等，與實(shí)施方式1所示的相同，因此省略說明。
圖13A、圖13B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的一個例子的圖。如圖13A所示，利用該寫入圖案，在奇數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中，從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，第4SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入；在偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中，從第1SF到第5SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，第6SF以后到第8SF連續(xù)地不進(jìn)行寫入。
因此，如果處于奇數(shù)行的R單元、G單元、B單元的各個放電單元通過正常的隔壁與偶數(shù)行的放電單元進(jìn)行劃分，則如圖13B所示，處于奇數(shù)行的放電單元從第3SF的點(diǎn)亮狀態(tài)切換到第4SF的非點(diǎn)亮狀態(tài)。即通過檢測在第4SF以后點(diǎn)亮的奇數(shù)行的放電單元，可以檢測異常點(diǎn)亮的放電單元。
這時，在本實(shí)施方式2中，通過從本身是處于奇數(shù)行的點(diǎn)亮子場的第1SF到第3SF的亮度權(quán)重的合計(jì)相對于峰值亮度低至7/255，并且在偶數(shù)行中，在亮度權(quán)重比從第1SF到第3SF的亮度權(quán)重的合計(jì)大的第4SF和第5SF中連續(xù)地進(jìn)行寫入，可以容易地將比周圍明亮地發(fā)光的放電單元檢測為異常點(diǎn)亮的放電單元。進(jìn)一步地，通過從第1SF到第3SF使維持放電在所有放電單元中發(fā)生，產(chǎn)生充分的帶電粒子，并在被認(rèn)為殘留有多個該帶電粒子的第4SF和第5SF中使維持放電在與檢查對象的放電單元相鄰的放電單元中發(fā)生，從而提高由于隔壁34的缺損等引起的異常點(diǎn)亮的發(fā)光強(qiáng)度，更容易進(jìn)行檢測。
如上所述，在本實(shí)施方式2中，在規(guī)定的子場中對檢查對象的放電單元施加寫入脈沖電壓，在至少該規(guī)定的子場之后的子場中，對檢查對象的放電單元不施加寫入脈沖電壓。此外，通過對與檢查對象相鄰的放電單元繼續(xù)施加寫入脈沖電壓以使之繼續(xù)進(jìn)行維持放電，熒光體可以通過由于隔壁34的缺損等從相鄰的放電單元泄露的紫外線而發(fā)光，并且可以檢測雖然沒有進(jìn)行寫入但異常點(diǎn)亮的放電單元。
另外，在本實(shí)施方式2中，雖然說明了在奇數(shù)行、偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入、在偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中繼續(xù)在第4SF、第5SF中連續(xù)地進(jìn)行寫入的構(gòu)成，但是，并不限定于任何構(gòu)成。
圖14A、圖14B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的另一個例子的圖。例如，如圖14A所示，也可以在奇數(shù)行、偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中，從第1SF到第4SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，同時在偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中，繼續(xù)在第5SF中進(jìn)行寫入，除此之外則不進(jìn)行寫入。在這種情況下，由于從第1SF到第4SF的亮度權(quán)重的合計(jì)相對于峰值亮度低至15/255，并且在偶數(shù)行中，在亮度權(quán)重比從第1SF到第4SF的亮度權(quán)重的合計(jì)大的第5SF中進(jìn)行寫入，因此，通過檢測在第5SF中點(diǎn)亮的奇數(shù)行的放電單元，可以檢測異常點(diǎn)亮的放電單元。另外，在圖13A、圖13B、圖14A、圖14B所示的寫入圖案中，通過在偶數(shù)行和奇數(shù)行中更換寫入圖案，可以進(jìn)行偶數(shù)行的放電單元的點(diǎn)亮檢查。
圖15A、圖15B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的再一個例子的圖。例如，如圖15A所示，也可以在奇數(shù)行、偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中，從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，同時在奇數(shù)行、偶數(shù)行的G單元、B單元中，繼續(xù)在第4SF、第5SF中連續(xù)地進(jìn)行寫入，除此之外則不進(jìn)行寫入。在這種情況下，如圖15B所示，在R單元的各個放電單元中，從第3SF的點(diǎn)亮狀態(tài)切換到第4SF的非點(diǎn)亮狀態(tài)。即，通過檢測在第4SF、第5SF中點(diǎn)亮的R單元，可以進(jìn)行R單元的放電單元的點(diǎn)亮檢查。在這種情況下，通過在R單元和B單元或G單元中更換寫入圖案，可以進(jìn)行B單元或G單元的點(diǎn)亮檢查。
圖16A、圖16B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的再一個例子的圖。例如，如圖16A所示，也可以在奇數(shù)行、偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中，從第1SF到第4SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，同時在奇數(shù)行、偶數(shù)行的G單元、B單元中，繼續(xù)在第5SF中進(jìn)行寫入，除此之外則不進(jìn)行寫入。在這種情況下，如圖16B所示，在R單元的各個放電單元中，從第4SF的點(diǎn)亮狀態(tài)切換到第5SF的非點(diǎn)亮狀態(tài)。即，通過檢測在第5SF中點(diǎn)亮的R單元，可以進(jìn)行R單元的放電單元的點(diǎn)亮檢查。在這種情況下，通過在R單元和B單元或G單元中更換寫入圖案，可以進(jìn)行B單元或G單元的點(diǎn)亮檢查。
圖17A、圖17B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的再一個例子的圖。例如，如圖17A所示，也可以在奇數(shù)行、偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中，從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，同時在奇數(shù)行、偶數(shù)行的G單元、B單元中，繼續(xù)從第4SF到第6SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，除此之外則不進(jìn)行寫入。在這種情況下，如圖17B所示，在R單元的各個放電單元中，從第3SF的點(diǎn)亮狀態(tài)切換到第4SF的非點(diǎn)亮狀態(tài)。即，通過檢測在從第4SF到第6SF中點(diǎn)亮的R單元，可以進(jìn)行R單元的放電單元的點(diǎn)亮檢查。在這種情況下，通過在R單元和B單元或G單元中更換寫入圖案，可以進(jìn)行B單元或G單元的點(diǎn)亮檢查。
圖18A、圖18B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的再一個例子的圖。例如，如圖18A所示，也可以在奇數(shù)行、偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中，從第1SF到第3SF連續(xù)地進(jìn)行寫入，同時在偶數(shù)行的R單元和奇數(shù)行、偶數(shù)行的G單元、B單元中，繼續(xù)在第4SF、第5SF中連續(xù)地進(jìn)行寫入，除此之外則不進(jìn)行寫入。在這種情況下，如圖18B所示，在處于奇數(shù)行的R單元中，從第3SF的點(diǎn)亮狀態(tài)切換到第4SF的非點(diǎn)亮狀態(tài)。即，通過檢測在第4SF、第5SF中點(diǎn)亮的處于奇數(shù)行的R單元，可以進(jìn)行奇數(shù)行的R單元的點(diǎn)亮檢查。在這種情況下，通過在奇數(shù)行和偶數(shù)行中更換寫入圖案，或者通過在R單元和B單元或G單元中更換寫入圖案，可以進(jìn)行處于偶數(shù)行的R單元和處于奇數(shù)行或偶數(shù)行的B單元或G單元的點(diǎn)亮檢查。
此外，在本實(shí)施方式2中，雖然說明了從場內(nèi)的最初的子場(第1SF)到規(guī)定的子場(圖13A、圖13B、圖15A、圖15B、圖17A、圖17B、圖18A、圖18B的第3SF，圖14A、圖14B、圖16A、圖16B的第4SF)，在奇數(shù)行、偶數(shù)行的所有R單元、G單元、B單元中連續(xù)地進(jìn)行寫入的構(gòu)成，但是，并不限定于任何一種構(gòu)成。在本實(shí)施方式2中，在從場內(nèi)的最初的子場到規(guī)定的子場之前的子場之間可以設(shè)置至少一個對檢查對象的放電單元和與檢查對象的放電單元相鄰的所有放電單元施加寫入脈沖電壓的子場。
圖19A、圖19B和圖20A、圖20B是示出本發(fā)明的實(shí)施方式2的寫入圖案的再一個例子的圖。圖19A、圖19B所示的寫入圖案與圖16A、圖16B所示的寫入圖案大致相同。此外，圖20A、圖20B所示的寫入圖案與圖17A、圖17B所示的寫入圖案大致相同。但是，圖19A、圖19B所示的寫入圖案與圖16A、圖16B所示的寫入圖案的不同點(diǎn)在于在圖19A所示的寫入圖案中，在第1SF的R單元中不進(jìn)行寫入，在圖19B所示的寫入圖案中，在第2SF的R單元中不進(jìn)行寫入。此外，圖20A、圖20B所示的寫入圖案與圖17A、圖17B所示的寫入圖案的不同點(diǎn)在于在圖20A所示的寫入圖案中，在第1SF的G單元、B單元中不進(jìn)行寫入，在圖20B所示的寫入圖案中，在第2SF的G單元、B單元中不進(jìn)行寫入。
如這些圖面所示，在本實(shí)施方式2中，并不是必須對從場內(nèi)的最初的子場到規(guī)定的子場的所有放電單元都連續(xù)地進(jìn)行寫入不可。通過在從場內(nèi)的最初的子場到規(guī)定的子場之前的子場之間設(shè)置至少一個對檢查對象的放電單元和與檢查對象的放電單元相鄰的放電單元施加寫入脈沖電壓的子場，可以產(chǎn)生點(diǎn)亮檢查所需要的帶電粒子。
此外，雖然理想的是在與檢查對象的放電單元相鄰的放電單元中，在規(guī)定的子場之后的子場中進(jìn)行寫入，但是，并不是必須限定于該構(gòu)成不可。如果在從規(guī)定的子場之后開始的3個子場以內(nèi)的至少1個子場中進(jìn)行寫入，則可以實(shí)施本實(shí)施方式2的點(diǎn)亮檢查。
另外，在本發(fā)明的實(shí)施方式2的點(diǎn)亮檢查裝置中，檢查員也可以用目視檢測異常點(diǎn)亮的放電單元。在這種情況下，理想的是使檢查圖案進(jìn)行多個場連續(xù)等以設(shè)置充分的檢查期間，使得可以識別異常點(diǎn)亮的放電單元和正常的放電單元。
或者，也可以是構(gòu)成具備自動識別異常點(diǎn)亮的放電單元和正常的放電單元的CCD照相機(jī)等的識別裝置，與本實(shí)施方式2的點(diǎn)亮檢查裝置組合使用。在該構(gòu)成中，由于可以進(jìn)行高速的識別，因此，也可以例如對1個場設(shè)定1個檢查圖案，并對每一個場更換各種檢查圖案，例如在R單元、G單元、B單元之間的寫入圖案的更換或在偶數(shù)行和奇數(shù)行中寫入圖案的更換等，從而進(jìn)行檢查，可以實(shí)現(xiàn)檢查時間的縮短化。
另外，在本發(fā)明的實(shí)施方式2中，雖然說明了以井字狀形成隔壁34的構(gòu)成，但是，在不具備行方向的隔壁的構(gòu)成的面板中也可以與上述相同地進(jìn)行點(diǎn)亮檢查。
此外，在本發(fā)明的實(shí)施方式2中，雖然說明了使用點(diǎn)亮檢查裝置進(jìn)行面板的點(diǎn)亮檢查的構(gòu)成，但是，通過使用本發(fā)明的點(diǎn)亮檢查方法，即使對于具備各種驅(qū)動電路的等離子體顯示裝置也可以進(jìn)行同樣的點(diǎn)亮檢查。
另外，在本發(fā)明的實(shí)施方式2中，雖然列舉了將第1SF設(shè)為全單元初始化子場、將第2SF～10SF設(shè)為選擇初始化子場的子場構(gòu)成的例子進(jìn)行說明，但是，并不是必須限定于該子場構(gòu)成不可，也可以是例如將所有的子場都設(shè)為選擇初始化子場等其它的子場構(gòu)成。
另外，在本發(fā)明的實(shí)施方式2中使用的具體的各種數(shù)值，只不過是舉出一個例子，理想的是與面板的特性或等離子體顯示器裝置的規(guī)格等相吻合地適當(dāng)設(shè)定成最佳的值。
本發(fā)明的面板的點(diǎn)亮檢查方法，可以檢測具有雖然沒有進(jìn)行寫入但點(diǎn)亮的放電單元的面板，并且作為面板的點(diǎn)亮檢查方法是有用的。
權(quán)利要求
1.一種等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，上述等離子體顯示面板包括多個具有在行方向形成的由掃描電極和維持電極構(gòu)成的顯示電極對以及在列方向形成的數(shù)據(jù)電極的放電單元，上述方法在1個場期間內(nèi)設(shè)置多個具有使初始化放電在上述放電單元中發(fā)生的初始化期間、對上述放電單元選擇性地施加寫入脈沖電壓以使之發(fā)生寫入放電的寫入期間、和在上述寫入期間內(nèi)使與亮度權(quán)重對應(yīng)的次數(shù)的維持放電在所選擇的放電單元中發(fā)生的維持期間的子場，驅(qū)動上述等離子體顯示面板，并組合使上述放電單元點(diǎn)亮的子場以進(jìn)行灰度等級顯示，其中，上述方法包括以下步驟在規(guī)定的子場中對檢查對象的放電單元施加上述寫入脈沖電壓的電壓施加步驟；以及在至少上述規(guī)定的子場之后的子場中對上述檢查對象的放電單元不施加上述寫入脈沖電壓的電壓非施加步驟。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，其特征在于，上述電壓非施加步驟，是從上述規(guī)定的子場之后的子場到至少該場的最后的子場為止對上述檢查對象的放電單元不施加上述寫入脈沖電壓的步驟。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，還包括在規(guī)定的子場和至少上述規(guī)定的子場之后的子場中，對與上述檢查對象的放電單元相鄰的放電單元的至少1個放電單元不施加上述寫入脈沖電壓的步驟。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，還包括在規(guī)定的子場和至少上述規(guī)定的子場之后的子場中，對與上述檢查對象的放電單元相鄰的放電單元的至少1個放電單元不施加上述寫入脈沖電壓的步驟。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，還包括在規(guī)定的子場和至少上述規(guī)定的子場之后的子場中，對與上述檢查對象的放電單元相鄰的放電單元的至少1個放電單元施加上述寫入脈沖電壓的步驟。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，還包括在規(guī)定的子場和至少上述規(guī)定的子場之后的子場中，對與上述檢查對象的放電單元相鄰的放電單元的至少1個放電單元施加上述寫入脈沖電壓的步驟。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，還包括在規(guī)定的子場隨后的3個子場之中的至少1個子場中，對與上述檢查對象的放電單元相鄰的放電單元的至少1個放電單元施加上述寫入脈沖電壓的步驟。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，還包括在規(guī)定的子場隨后的3個子場之中的至少1個子場中，對與上述檢查對象的放電單元相鄰的放電單元的至少1個放電單元施加上述寫入脈沖電壓的步驟。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，其特征在于，在從場內(nèi)的最初的子場到規(guī)定的子場之前的子場之間，設(shè)置至少1個對上述檢查對象的放電單元和與上述檢查對象的放電單元相鄰的所有放電單元施加上述寫入脈沖電壓的子場。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，其特征在于，在從場內(nèi)的最初的子場到規(guī)定的子場之前的子場之間，設(shè)置至少1個對上述檢查對象的放電單元和與上述檢查對象的放電單元相鄰的所有放電單元施加上述寫入脈沖電壓的子場。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，其特征在于，在從場內(nèi)的最初的子場到規(guī)定的子場之前的子場之間，設(shè)置至少1個對上述檢查對象的放電單元和與上述檢查對象的放電單元相鄰的所有放電單元施加上述寫入脈沖電壓的子場。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的等離子體顯示面板的點(diǎn)亮檢查方法，其特征在于，在從場內(nèi)的最初的子場到規(guī)定的子場之前的子場之間，設(shè)置至少1個對上述檢查對象的放電單元和與上述檢查對象的放電單元相鄰的所有放電單元施加上述寫入脈沖電壓的子場。
全文摘要
在1個場期間內(nèi)設(shè)置多個具有使初始化放電在放電單元中發(fā)生的初始化期間、對放電單元選擇性地施加寫入脈沖電壓以使之發(fā)生寫入放電的寫入期間和在寫入期間內(nèi)使與亮度權(quán)重對應(yīng)的次數(shù)的維持放電在所選擇的放電單元中發(fā)生的維持期間的子場，并驅(qū)動包括多個具有在行方向形成的由掃描電極和維持電極構(gòu)成的顯示電極對和在列方向形成的數(shù)據(jù)電極的放電單元的等離子體顯示面板，在規(guī)定的子場中對檢查對象的放電單元施加寫入脈沖電壓，在至少上述規(guī)定的子場之后的子場中對檢查對象的放電單元不施加寫入脈沖電壓。
文檔編號H01J11/38GK101071708SQ20071010747
公開日2007年11月14日 申請日期2007年5月14日 優(yōu)先權(quán)日2006年5月12日
發(fā)明者小林弘太郎, 木村悌一, 橫山潤 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社