本公開涉及一種包括圓形顯示面板的顯示裝置。

背景技術(shù)：

隨著信息技術(shù)的進步，針對作為用戶與信息之間的連接媒介的顯示裝置的市場已在擴大。因此，使用平面顯示面板的諸如液晶顯示器(LCD)、有機發(fā)光顯示裝置、電泳顯示器(EPD)和等離子體顯示面板(PDP)的顯示裝置已被越來越多地使用。

在上述顯示裝置當(dāng)中，例如，LCD或有機發(fā)光顯示裝置包括顯示面板，該顯示面板包括以矩陣形式被設(shè)置的多個子像素和驅(qū)動該顯示面板的驅(qū)動器。該驅(qū)動器包括向顯示面板提供掃描信號(或選通信號)的掃描驅(qū)動器和向顯示面板提供數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)驅(qū)動器。當(dāng)顯示面板基于從電源單元輸出的功率以及從掃描驅(qū)動器和數(shù)據(jù)驅(qū)動器輸出的掃描信號和數(shù)據(jù)信號發(fā)射光或允許光通過其被發(fā)射時，顯示裝置顯示特定圖像。

近來，便攜式顯示裝置的使用日益增長，并且具體地，可以被穿戴在手腕上的可穿戴顯示裝置正在增長。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

可穿戴顯示裝置也可以基于具有圓形或橢圓形形狀的變形的顯示面板而被實現(xiàn)。盡管變形的顯示面板具有彎曲形狀，但晶體管和信號線被線性地構(gòu)圖。因此，為了有效地減小邊框，需要改進晶體管和信號線的陣列結(jié)構(gòu)。

在一方面，一種顯示裝置可以包括像素陣列、開關(guān)元件和檢測線。在顯示區(qū)域中，外部區(qū)域的至少一部分可以包括彎曲部，并且可以設(shè)置有與數(shù)據(jù)線連接的像素。所述開關(guān)元件可以被設(shè)置在所述顯示區(qū)域以外的邊框區(qū)域中并且響應(yīng)于使能信號，向所述數(shù)據(jù)線提供測試電壓。所述檢測線可以將檢測焊盤部件與所述開關(guān)元件連接，并且可以是沿著所述彎曲部按照階梯形式被設(shè)置的。所述開關(guān)元件可以是沿著所述檢測線被設(shè)置的，并且包括被設(shè)置成在相互垂直的方向上彼此相鄰的第一開關(guān)元件和第二開關(guān)元件。

附圖說明

附圖被包括以提供對本發(fā)明的進一步理解，并且被并入本說明書中且構(gòu)成本說明書的一部分，附圖例示了本發(fā)明的實施方式，并且與本描述一起用來解釋本發(fā)明的原理。在附圖中：

圖1是例示根據(jù)本公開的實施方式的顯示裝置的視圖。

圖2是例示圖1中所例示的像素的示例的視圖。

圖3是例示檢測部件的陣列結(jié)構(gòu)的視圖。

圖4和圖5是例示邊框根據(jù)檢測部件的形狀而改變的視圖。

圖6是例示檢測部件的陣列的示例的平面圖。

圖7是圖6中所例示的檢測開關(guān)元件的等效電路圖。

圖8是沿圖6中的線I-I’截取的截面圖。

具體實施方式

在下文中，將參照附圖詳細(xì)地描述本公開的實施方式。遍及全文，相同的參考標(biāo)號指代相同的元件。在描述本發(fā)明方面，如果對現(xiàn)有已知功能或構(gòu)造的詳細(xì)說明被認(rèn)為不必要地轉(zhuǎn)移了本發(fā)明的要點，則將省略這種說明，但本領(lǐng)域技術(shù)人員將會理解這種說明。

圖1是例示根據(jù)本公開的實施方式的顯示裝置的視圖。

參照圖1，根據(jù)本公開的實施方式的顯示裝置包括顯示面板100和驅(qū)動電路DIC。顯示面板100包括設(shè)置有像素的像素陣列區(qū)域A/A和圍繞像素陣列區(qū)域A/A的邊框BZ。驅(qū)動電路DIC包括時序控制器、數(shù)據(jù)驅(qū)動器和電源單元。

圖2中例示的像素P被形成在顯示面板100的像素陣列區(qū)域A/A中。各個像素P被形成在數(shù)據(jù)線DL與選通線GL彼此相交的區(qū)域中。各個像素P響應(yīng)于通過被連接至選通線GL和數(shù)據(jù)線DL的開關(guān)元件SW提供的掃描信號而進行操作，以利用與數(shù)據(jù)電壓對應(yīng)的亮度表示灰度級。各個像素P的像素電路PC和開關(guān)元件SW可以根據(jù)顯示面板的類型而按照不同的形式來實現(xiàn)。

驅(qū)動電路DIC可以被集成在驅(qū)動IC中以便被附接至邊框BZ。驅(qū)動電路DIC可以包括時序控制器和數(shù)據(jù)驅(qū)動器。時序控制器接收數(shù)字視頻數(shù)據(jù)RGB以及接收諸如垂直同步信號Vsync、水平同步信號Hsync、數(shù)據(jù)使能信號DE、主時鐘CLK等的時序信號。時序控制器向數(shù)據(jù)驅(qū)動器發(fā)送輸入圖像的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，并且控制數(shù)據(jù)驅(qū)動器和選通驅(qū)動器GIP的操作時序。響應(yīng)于從時序控制器提供的數(shù)據(jù)時序控制信號，數(shù)據(jù)驅(qū)動器對視頻數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)進行采樣，并且響應(yīng)于伽馬參考電壓，數(shù)據(jù)驅(qū)動器將視頻數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為模擬數(shù)據(jù)電壓并且輸出轉(zhuǎn)換后的模擬數(shù)據(jù)電壓。電源單元產(chǎn)生要被提供給顯示面板的高電位驅(qū)動電壓VDD和低電位驅(qū)動電壓VSS。基于從外部提供的輸入功率，電源單元產(chǎn)生要被提供給選通驅(qū)動器GIP的選通高電壓VGH和選通低電壓VGL，以及產(chǎn)生要被提供給顯示面板100的電力VDD或VSS。高電位驅(qū)動電壓VDD和低電位驅(qū)動電壓VSS是用于驅(qū)動像素電路PC的電壓。

多路復(fù)用器MUX被設(shè)置在驅(qū)動電路DIC與像素陣列區(qū)域A/A之間，并且向多條數(shù)據(jù)線DL分配從驅(qū)動電路DIC提供的數(shù)據(jù)電壓。

選通驅(qū)動器使用選通時序使能信號來輸出選通脈沖Gout。選通驅(qū)動器包括移位寄存器。該移位寄存器包括彼此相關(guān)連接的級。響應(yīng)于啟動脈沖，這些級開始輸出選通脈沖，并且根據(jù)移位時鐘對輸出進行移位。從這些級依次輸出的輸出信號作為選通脈沖而被提供給選通線。

檢測部件AP用于自動探測檢測(auto probe inspection)處理并且包括向像素陣列區(qū)域A/A提供測試電壓的開關(guān)元件。自動探測檢測處理是一種在安裝驅(qū)動電路之前檢測被設(shè)置在基板上的各種信號線的缺陷等的處理。

圖3是例示檢測部件AP的陣列結(jié)構(gòu)的視圖。

參照圖3，檢測部件AP包括開關(guān)元件AP Tr和檢測線AP_L。檢測線AP_L是按照階梯形式被設(shè)置的，并且開關(guān)元件AP Tr是沿著檢測線AP_L被設(shè)置的。

如圖6所例示，檢測線AP_L包括數(shù)據(jù)引入線TL1、TL2和TL3以及使能信號線EnL1、EnL2和EnL3。檢測線AP_L是沿著像素陣列區(qū)域A/A的彎曲部分按照階梯形式被設(shè)置的。

開關(guān)元件AP Tr是沿著檢測線AP_L來布置的。具體地，由于開關(guān)元件AP Tr被設(shè)置成至少兩行或更多行，因此設(shè)置有開關(guān)元件AP Tr的區(qū)域的邊界是按照階梯形式被設(shè)置的。按照階梯形式進行設(shè)置的開關(guān)元件AP Tr可以減小設(shè)置有檢測部件AP的區(qū)域。將對此進行詳細(xì)描述。

圖4是例示作為比較示例的被設(shè)置在圓形像素陣列中的線性檢測部件的視圖。當(dāng)如圖4中所例示的檢測部件AP按照線性形式被設(shè)置在圓形像素陣列區(qū)域A/A的端部處時，檢測部件AP的相對端部與像素陣列區(qū)域A/A之間的間隔h2大于檢測部件AP的中心與像素陣列區(qū)域A/A之間的間隔h1。即，在圖4中所例示的檢測部件AP的陣列結(jié)構(gòu)中，在檢測部件AP的相對端部處不必要地增大了邊框。

因此，為了減小像素陣列區(qū)域A/A與檢測部件AP的相對端部之間的間隔，將檢測部件AP設(shè)置成對應(yīng)于像素陣列區(qū)域A/A的彎曲形狀可以是有利的。當(dāng)檢測線AP_L按照階梯形式來實現(xiàn)時，檢測線AP_L在水平方向上的長度可能會被垂直部分VA的寬度延長。因此，圖5中所例示的彎曲檢測部件AP在水平方向上的長度l2長于圖4中所例示的線性檢測部件AP在水平方向上的長度l1。

相反，如圖3所例示，在根據(jù)本公開的實施方式的檢測部件AP的陣列結(jié)構(gòu)中，由于至少一對開關(guān)元件AP Tr被設(shè)置成彼此垂直相鄰，所以可以減小設(shè)置有開關(guān)元件AP Tr的水平部HA的長度。因此，可以防止檢測部件AP的水平長度由于檢測線AP_L在垂直部VA中的寬度d而增大。

圖6是例示根據(jù)本公開的實施方式的檢測部件的陣列結(jié)構(gòu)的平面圖，以及圖7是圖6中所例示的開關(guān)元件當(dāng)中的被設(shè)置在垂直方向上的開關(guān)元件的等效電路圖。

參照圖6和圖7，根據(jù)本公開的實施方式的檢測部件AP包括分別被第一使能信號En1至第三使能信號En3操作的第一開關(guān)元件T1至第九開關(guān)元件T9。

第一開關(guān)元件T1包括第一柵極GE1、第一漏極DE1和第一源極SE1，以及第二開關(guān)元件T2包括第一柵極GE1、第一漏極DE1和第二源極SE2。第三開關(guān)元件T3包括第二柵極GE2、第二漏極DE2和第一源極SE1，以及第四開關(guān)元件T4包括第二柵極GE2、第二漏極DE2和第二源極SE2。

第一開關(guān)元件T1與第二開關(guān)元件T2共用第一柵極GE1和第一漏極DE1。第三開關(guān)元件T3與第四開關(guān)元件T4共用第二柵極GE2和第二漏極DE2。而且，第一開關(guān)元件T1與第三開關(guān)元件T3共用第一源極SE1，以及第二開關(guān)元件T2與第四開關(guān)元件T4共用第二源極SE2。

第一源極SE1和第二源極SE2被設(shè)置在相同的垂直軸處。第一源極SE1被連接至第一數(shù)據(jù)線DL1，以及第二源極SE2通過第一鏈路圖案LP1被連接至第五數(shù)據(jù)線DL5。第一柵極GE1被設(shè)置在第一源極SE1的一側(cè)上。第一漏極DE1被設(shè)置成與第一源極SE1相鄰，且它們之間插置有第一柵極GE1。第二柵極GE2被設(shè)置在第一源極SE1的一側(cè)上。第二漏極DE2被設(shè)置成與第二源極SE2相鄰，且它們之間插置有第二柵極GE2。

第一漏極DE1被連接至第一數(shù)據(jù)引入線TL1，以及第一柵極GE1被連接至第二使能信號線EnL2。因此，第一開關(guān)元件T1和第二開關(guān)元件T2響應(yīng)于第二使能信號En2，向第一數(shù)據(jù)線DL1和第五數(shù)據(jù)線DL5提供第一測試電壓Tdata1。

第二漏極DE2被連接至第二數(shù)據(jù)引入線TL2，以及第二柵極GE2被連接至第一使能信號線EnL1。因此，第三開關(guān)元件T3和第四開關(guān)元件T4響應(yīng)于第一使能信號En1，向第一數(shù)據(jù)線DL1和第五數(shù)據(jù)線DL5提供第二測試電壓Tdata2。

第五開關(guān)元件T5包括第三柵極GE3、第三漏極DE3和第三源極SE3，以及第六開關(guān)元件T6包括第三柵極GE3、第三漏極DE3和第四源極SE4。第五開關(guān)元件T5與第六開關(guān)元件T6共用第三柵極GE3和第三漏極DE3。

第三源極SE3和第四源極SE4被設(shè)置在相同的垂直軸處。第三源極被連接至第二數(shù)據(jù)線DL2，以及第四源極通過第二鏈路圖案LP2被連接至第六數(shù)據(jù)線DL6。第三柵極GE3被設(shè)置在第三源極SE3的一側(cè)上。第三漏極DE3被設(shè)置成與第三源極SE3相鄰，且它們之間插置有第三柵極GE3。

第三漏極DE3被連接至第三數(shù)據(jù)引入線TL3，以及第三柵極GE3被連接至第三使能信號線EnL3。因此，第五開關(guān)元件T5和第六開關(guān)元件T6響應(yīng)于第三使能信號En3，向第二數(shù)據(jù)線DL2和第六數(shù)據(jù)線DL6提供第三測試電壓Tdata3。

第七開關(guān)元件T7包括第四柵極GE4、第四漏極DE4和第五源極SE5，以及第八開關(guān)元件T8包括第五柵極GE5、第五漏極DE5和第五源極SE5。第七開關(guān)元件T7與第八開關(guān)元件T8共用第五源極SE5。

第五源極SE5被連接至第三數(shù)據(jù)線DL3。第四柵極GE4和第五柵極GE5被設(shè)置在第五源極SE5的兩側(cè)上。第四漏極DE4被設(shè)置成與第五源極SE5相鄰，且它們之間插置有第四柵極GE4。第五漏極DE5被設(shè)置成與第五源極SE5相鄰，且它們之間插置有第五柵極GE5。

第四漏極DE4被連接至第一數(shù)據(jù)引入線TL1，以及第四柵極GE4被連接至第一使能信號線EnL1。第五漏極DE5被連接至第二數(shù)據(jù)引入線TL2，以及第五柵極GE5被連接至第二使能信號線EnL2。

因此，第七開關(guān)元件T7響應(yīng)于第一使能信號En1，向第三數(shù)據(jù)線DL3提供第一測試電壓Tdata1。第八開關(guān)元件T8響應(yīng)于第二使能信號En2，向第三數(shù)據(jù)線DL3提供第二測試電壓Tdata2。

第九開關(guān)元件T9包括第六柵極GE6、第六漏極DE6和第六源極SE6。第六源極SE6被連接至第四數(shù)據(jù)線DL4。第六柵極GE6被設(shè)置在第六源極SE6的一側(cè)上。第六漏極DE6被設(shè)置成與第六源極SE6相鄰，且它們之間插置有第六柵極GE6。

第六漏極DE6被連接至第三數(shù)據(jù)引入線TL3，以及第六柵極GE6被連接至第三使能信號線EnL3。因此，第九開關(guān)元件T9響應(yīng)于第三使能信號En3，向第四數(shù)據(jù)線DL4提供第三測試電壓Tdata3。

在AP檢測處理期間通過第一數(shù)據(jù)引入線至第三數(shù)據(jù)引入線TL1、TL2和TL3提供給各自的數(shù)據(jù)線DL的測試電壓可以是紅(R)、綠(G)和藍(lán)(B)三原色。例如，第一測試電壓Tdata1可以是紅色測試電壓、第二測試電壓Tdata2可以是綠色測試電壓以及第三測試電壓Tdata3可以是藍(lán)色測試電壓。而且，可以按照時分的方式施加第一使能信號至第三使能信號En1、En2和En3。

在圖6中，由于開關(guān)元件被設(shè)置在第二晶體管T2、第四晶體管T4和第六晶體管T6與像素陣列區(qū)域A/A之間，所以第二源極SE2和第四源極SE4可以不直接地被連接至數(shù)據(jù)線。因此，第二源極SE2和第四源極SE4分別通過第一鏈路圖案LP1和第二鏈路圖案LP2而被連接至數(shù)據(jù)線。第一鏈路圖案LP1和第二鏈路圖案LP2被構(gòu)圖在被絕緣層將其與柵極和漏極分離以防止短路的金屬層上。

圖8是沿著圖6中的線I-I’截取的截面圖。將參照圖8描述設(shè)置有第一鏈路圖案的區(qū)域的截面。

以下，將參照圖6和圖8描述開關(guān)元件的截面結(jié)構(gòu)。圖6和圖8例示了設(shè)置有第二使能信號圖案的區(qū)域，但可以使用相同的材料和方法形成相同的構(gòu)造。在開關(guān)元件的截面結(jié)構(gòu)中將統(tǒng)稱各個組件。例如，雖然圖6和圖8僅例示了第二使能信號圖案，但第一使能信號圖案至第六使能信號圖案將被統(tǒng)稱為“使能信號圖案(MP)”。

緩沖層BUF被形成在基板SUB上，并且半導(dǎo)體有源層ACT被設(shè)置在緩沖層BUF上。半導(dǎo)體有源層ACT可以被形成為覆蓋要設(shè)置柵極GE、源極SE和漏極DE的區(qū)域。柵絕緣層GI被形成為覆蓋緩沖層BUF。

柵極GE被設(shè)置在柵絕緣層GI上。第一層間絕緣層ILD1被形成為覆蓋柵極GE，并且第一鏈路圖案LP1被設(shè)置在第一層間絕緣層ILD1上。第二層間絕緣層ILD2被設(shè)置為覆蓋第一鏈路圖案LP1，并且第一漏極DE1和第二源極SE2被設(shè)置在第二層間絕緣層ILD2上。第二源極SE2通過第一接觸孔CNT1被連接至第一鏈路圖案LP1。

如上所述，在本公開中，由于檢測線AP_L是按照階梯形式進行設(shè)置的并且一些開關(guān)元件AP Tr被垂直地設(shè)置，所以可以減小設(shè)置有檢測部件AP的區(qū)域的邊框BZ。圖6和圖7中所例示的開關(guān)元件的陣列結(jié)構(gòu)表示一種實施方式，但垂直相鄰的開關(guān)元件的數(shù)量和位置不限于附圖中所例示的實施方式。

盡管已參照許多其例示性實施方式描述了實施方式，但應(yīng)理解的是，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以設(shè)計出將落入本公開的原理的范圍內(nèi)的許多其它修改和實施方式。更具體地，在本公開、附圖和所附權(quán)利要求書的范圍內(nèi)，可以對主題組合布置的組成部分和/或布置進行各種變型和修改。除了對組成部分和/或布置進行變型和修改之外，替代使用也將對本領(lǐng)域技術(shù)人員是顯而易見的。