本公開涉及顯示技術領域，尤其涉及一種測試用轉接模塊、終端測試系統(tǒng)、以及終端測試方法。

背景技術：

隨著光學技術和半導體技術的發(fā)展，以液晶顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)和有機發(fā)光二極管顯示器(Organic Light Emitting Diode，OLED)為代表的平板顯示器具有輕薄、能耗低、反應速度快、色純度佳、以及對比度高等特點，在顯示領域占據(jù)了主導地位。

為了保證顯示品質，顯示裝置在出廠前均會通過點屏測試對模組產品的電學性能進行測試，例如通過外接電源對顯示屏外灌3.3V的電壓作為印刷電路板(PCB，Printed Circuit Board)的邏輯輸入電壓VDD，以對顯示效果進行測試。在測試過程中需要保證該邏輯輸入電壓VDD恒定，但當切換顯示畫面時，由于顯示屏端的負載發(fā)生變化，而外接電源電壓為一固定值，因此電流會隨之變化，從而不可避免的造成邏輯輸入電壓VDD的變化。由于該邏輯輸入電壓VDD是外接電源電壓通過轉接板轉換成3.3V供給PCB的，在轉換過程中，轉接板和轉接線必然會損耗一部分電壓，因此真正供給PCB的邏輯輸入電壓VDD會低于3.3V，并且隨著顯示畫面的變化，在越重載的畫面下，轉接板和轉接線上的壓降也就越大，則PCB的邏輯輸入電壓VDD就越小。

現(xiàn)有技術中，每切換一次顯示畫面，都需要通過萬用表連接邏輯輸入電壓VDD測試點，同時手動調節(jié)外接電源的電壓，以使邏輯輸入電壓VDD保持恒定值，這對點屏測試造成了極大的不便。

需要說明的是，在上述背景技術部分公開的信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現(xiàn)有技術的信息。

技術實現(xiàn)要素：

本公開的目的在于提供一種測試用轉接模塊、終端測試系統(tǒng)、以及終端測試方法，進而至少在一定程度上克服由于相關技術的限制和缺陷而導致的一個或者多個問題。

本公開的其他特性和優(yōu)點將通過下面的詳細描述變得顯然，或部分地通過本公開的實踐而習得。

根據(jù)本公開的一個方面，提供一種測試用轉接模塊，包括：

轉接板，具有電壓輸入端和輸出端，且所述電壓輸入端連接至外接電源，所述輸出端連接至待測試終端；

電壓轉換單元，設于所述轉接板上且與所述電壓輸入端相連，用于將所述電壓輸入端接收到的外接電源電壓轉換為測試電壓以提供至所述待測試終端；

反饋單元，連接所述電壓轉換單元，用于將所述測試電壓與參考電壓進行對比以提供反饋數(shù)據(jù)；

補償單元，連接所述反饋單元以及所述轉接板，用于根據(jù)所述反饋數(shù)據(jù)生成補償電壓并施加至所述轉接板，以對所述測試電壓進行補償。

本公開的一種示例性實施例中，所述反饋單元包括：

誤差放大器，其第一輸入端接收所述測試電壓、第二輸入端接收所述參考電壓、輸出端連接所述補償單元。

本公開的一種示例性實施例中，所述補償單元連接所述反饋單元以及所述轉接板的電壓輸入端，用于將生成的所述補償電壓施加至所述電壓輸入端。

本公開的一種示例性實施例中，所述補償單元連接所述反饋單元以及所述轉接板的輸出端，用于將生成的所述補償電壓施加至所述輸出端。

本公開的一種示例性實施例中，所述反饋單元和所述補償單元的功能集成于電壓反饋電路芯片。

本公開的一種示例性實施例中，所述點屏測試用轉接模塊還包括：

采樣單元，連接在所述電壓轉換單元和所述電壓反饋電路芯片之間，用于對所述測試電壓進行采樣并將采樣信號輸入至所述電壓反饋電路芯片。

本公開的一種示例性實施例中，所述采樣單元包括：

第一分壓電阻，其一端連接所述電壓轉換單元、另一端連接所述電壓反饋電路芯片的反饋電壓輸入端；

第二分壓電阻，其一端連接所述第一分壓電阻、另一端接地。

根據(jù)本公開的一個方面，提供一種終端測試系統(tǒng)，包括上述的測試用轉接模塊。

根據(jù)本公開的一個方面，提供一種終端測試方法，用于在終端負載變化時提供穩(wěn)定的測試電壓；所述測試方法包括：

接收外接電源電壓并轉換為測試電壓；

將所述測試電壓與參考電壓進行對比以提供反饋數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述反饋數(shù)據(jù)生成補償電壓以對所述測試電壓進行補償。

本公開的一種示例性實施例中，所述將所述測試電壓與參考電壓進行對比以提供反饋數(shù)據(jù)包括：

將所述測試電壓和所述參考電壓輸入至誤差放大器進行對比并輸出反饋數(shù)據(jù)。

本公開示例性實施方式所提供的測試用轉接模塊、終端測試系統(tǒng)、以及終端測試方法，在傳統(tǒng)轉接板功能的基礎上增加了反饋補償功能，通過將電壓轉換單元生成的測試電壓與參考電壓進行對比以得到一補償電壓，從而實現(xiàn)對測試電壓的補償。這樣一來，在終端測試過程中，可能出現(xiàn)例如顯示畫面切換而造成的終端負載變化，從而引起測試電壓的變化，而本公開利用反饋單元和補償單元的功能對該測試電壓進行補償，可在終端負載變化時例如不同顯示畫面下使該測試電壓保持為同一值，從而避免了手動調節(jié)外接電源電壓，為終端產品的電學分析提供了便捷性。

應當理解的是，以上的一般描述和后文的細節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開。

附圖說明

此處的附圖被并入說明書中并構成本說明書的一部分，示出了符合本公開的實施例，并與說明書一起用于解釋本公開的原理。顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本公開的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1示意性示出本公開示例性實施例中點屏測試系統(tǒng)的架構圖；

圖2示意性示出本公開示例性實施例中點屏測試用轉接模塊的連接關系示意圖一；

圖3示意性示出本公開示例性實施例中點屏測試用轉接模塊的連接關系示意圖二；

圖4示意性示出本公開示例性實施例中點屏測試系統(tǒng)的等效電路圖一；

圖5示意性示出本公開示例性實施例中點屏測試系統(tǒng)的等效電路圖二；

圖6示意性示出本公開示例性實施例中轉接板搭載UC3842芯片的設計原理圖；

圖7示意性示出本公開示例性實施例中所述點屏測試方法的流程圖。

具體實施方式

現(xiàn)在將參考附圖更全面地描述示例實施方式。然而，示例實施方式能夠以多種形式實施，且不應被理解為限于在此闡述的范例；相反，提供這些實施方式使得本公開將更加全面和完整，并將示例實施方式的構思全面地傳達給本領域的技術人員。所描述的特征、結構或特性可以以任何合適的方式結合在一個或更多實施方式中。

此外，附圖僅為本公開的示意性圖解，并非一定是按比例繪制。圖中相同的附圖標記表示相同或類似的部分，因而將省略對它們的重復描述。附圖中所示的一些方框圖是功能實體，不一定必須與物理或邏輯上獨立的實體相對應?？梢圆捎密浖问絹韺崿F(xiàn)這些功能實體，或在一個或多個硬件模塊或集成電路中實現(xiàn)這些功能實體，或在不同網絡和/或處理器裝置和/或微控制器裝置中實現(xiàn)這些功能實體。

本示例實施方式提供一種測試用轉接模塊，可應用于終端測試系統(tǒng)例如點屏測試系統(tǒng)。如圖1所示，在該終端測試系統(tǒng)中，所述轉接模塊的一輸入端連接外接電源10，另一輸入端連接數(shù)據(jù)信號端20，輸出端連接待測試終端例如顯示模組30，用于將外接電源電壓轉換為測試電壓VDD、將數(shù)據(jù)信號轉化為例如顯示畫面信號，并通過轉接線提供給待測試終端例如顯示模組30的PCB301以使顯示屏302顯示各種畫面。

基于此，如圖2和圖3所示，所述轉接模塊可以包括：

轉接板40，具有電壓輸入端、數(shù)據(jù)輸入端、以及輸出端，且所述電壓輸入端連接至外接電源10，所述數(shù)據(jù)輸入端連接至數(shù)據(jù)信號端20，所述輸出端連接至待測試終端例如顯示模組30；

電壓轉換單元401，設于所述轉接板40上且與電壓輸入端相連，用于將電壓輸入端接收到的外接電源電壓轉換為測試電壓VDD以提供至待測試終端例如顯示模組30；

信號轉換單元(圖中未示出)，設于所述轉接板40上且與數(shù)據(jù)輸入端相連，用于將數(shù)據(jù)輸入端接收到的數(shù)據(jù)信號轉換為例如顯示畫面信號；

反饋單元402，連接電壓轉換單元401，用于將測試電壓VDD與參考電壓Vref進行對比以提供反饋數(shù)據(jù)；

補償單元403，連接反饋單元402以及轉接板40，用于根據(jù)反饋數(shù)據(jù)生成補償電壓并施加至轉接板40，以對測試電壓VDD進行補償。

其中，所述測試電壓VDD是指終端測試時轉接模塊實際向待測試終端例如顯示模組30的PCB提供的邏輯輸入電壓，而所述參考電壓Vref是指終端測試時轉接模塊理論上應該向待測試終端例如顯示模組30的PCB提供的邏輯輸入電壓。

需要說明的是：所述電壓轉換單元401、所述信號轉換單元、所述反饋單元402、以及所述補償單元403可以均設置在轉接板40上，即該轉接板40集成了電壓轉換、信號轉換、數(shù)據(jù)反饋、以及數(shù)據(jù)補償?shù)墓δ?；當然，所述反饋單?02和所述補償單元403也可以獨立于轉接板40設置，這里不做具體限定。此外，由于本示例實施方式的核心在于電壓的反饋補償，因此涉及信號轉換單元的部分未作詳盡的說明，其可視為與現(xiàn)有技術相同。

本公開示例性實施方式所提供的測試用轉接模塊，在傳統(tǒng)轉接板功能的基礎上增加了反饋補償功能，通過將電壓轉換單元生成的測試電壓VDD與參考電壓Vref進行對比以得到一補償電壓，從而實現(xiàn)對測試電壓VDD的補償。這樣一來，在終端測試過程中，可能出現(xiàn)例如顯示畫面切換而造成的終端負載變化，從而引起測試電壓VDD的變化，而本公開利用反饋單元和補償單元的功能對該測試電壓VDD進行補償，可在終端負載變化時例如不同顯示畫面下使該測試電壓VDD保持為同一值，從而避免了手動調節(jié)外接電源電壓，為終端產品的電學分析提供了便捷性。

由此可知，本示例實施方式提供的轉接模塊相當于一種電源輔助結構，其可以自動調節(jié)終端產品的邏輯輸入電壓，使其在不同終端負載下保持穩(wěn)定。

本示例實施方式中，如圖4和圖5所示，所述反饋單元402可以包括：誤差放大器，其第一輸入端接收所述測試電壓VDD、第二輸入端接收所述參考電壓Vref、輸出端連接所述補償單元403。這樣一來，通過對比并放大測試電壓VDD與參考電壓Vref的差值，便可得到一精確的反饋數(shù)據(jù)，從而提高補償電壓的精度。

本示例實施方式中，針對所述測試電壓VDD的補償具體可以包括以下兩種方式。

第一種方式：參考圖2和圖4所示，所述補償單元403連接所述反饋單元402以及所述轉接板40的電壓輸入端，用于將生成的所述補償電壓施加至所述電壓輸入端。

這種補償方式是將補償電壓施加在轉接板40的電壓輸入端的，那么補償后的電壓還需要經過轉接板40上的走線以及器件，也就是說還會產生一定的壓降。如此一來，只要反饋單元402接收到的測試電壓VDD與參考電壓Vref不一致，便會不斷地進行對比反饋和電壓補償，直至測試電壓VDD與參考電壓Vref完全相等，方才完成終端負載變化時測試電壓VDD的自動調節(jié)。本示例實施方式充分考慮了轉接板40走線以及器件的阻抗造成的壓降，因此電壓的反饋補償也是經過對轉接板40走線以及器件的阻抗計算后得到的補償值，從而抵消通過轉接板40產生的壓降。

第二種方式：參考圖3和圖5所示，所述補償單元403連接所述反饋單元402以及所述轉接板40的輸出端，用于將生成的所述補償電壓施加至所述輸出端。

這種補償方式是將補償電壓施加在轉接板40的輸出端的，無需考慮轉接板40走線以及器件的阻抗，補償后的電壓直接經過轉接線輸出至待測試終端例如顯示模組30。

基于上述的第二種方式，考慮到簡化轉接板40的改造量，參考圖2和圖3所示，本示例實施方式優(yōu)選將所述反饋單元402和所述補償單元403的功能集成于電壓反饋電路芯片400。這樣一來，不僅可以減小對轉接板40本身的結構改造，同時還可以利用現(xiàn)有的電路芯片來實現(xiàn)電壓反饋補償功能，為本公開的實施提供了便利的條件。

需要說明的是：利用電壓反饋電路芯片400實現(xiàn)轉接模塊的反饋補償功能時，在該電路芯片與轉接板40的其它功能單元之間還需設置相應的外圍連接電路，這里對于所述外圍連接電路不做具體限定，以能夠實現(xiàn)該電路芯片的反饋補償功能為準。

下面結合圖4所示的終端測試系統(tǒng)的等效電路圖，以該終端測試系統(tǒng)為點屏測試系統(tǒng)為例，對本示例實施方式中的測試用轉接模塊進行具體的說明。

其中，V_in為轉接板40電壓輸入端接收到的電壓，RA為轉接板40上的走線及器件的阻抗，RB為顯示屏302及PCB301的阻抗，且該負載RB會隨著終端負載變化即顯示畫面的切換而發(fā)生變化。

在點屏測試過程中，外接電源10向轉接板40提供一電源電壓，且該電源電壓等于理論上應為顯示模組30提供的邏輯輸入電壓，此時轉接板40的電壓輸入端便接收到一電壓V_in，經過轉接板40上的電壓轉換單元401將該電壓V_in轉換為測試電壓VDD以備輸出。在此基礎上，當切換顯示畫面時，顯示屏端的負載RB會發(fā)生變化，則測試電壓VDD也會隨之變化，此時將測試電壓VDD和參考電壓Vref共接在誤差放大器的正負端，且將參考電壓Vref的大小設置為理論上應為顯示模組30提供的邏輯輸入電壓，當測試電壓VDD與參考電壓Vref不一致時，通過誤差放大器將二者的差值放大，并提供一反饋數(shù)據(jù)給補償單元403，補償單元403根據(jù)該反饋數(shù)據(jù)生成一補償電壓施加到轉接板40的電壓輸入端上，經過不斷的誤差放大和反饋補償，最終使得測試電壓VDD與參考電壓Vref相等，從而實現(xiàn)了顯示畫面切換時測試電壓VDD的自動調節(jié)，保證了不同顯示畫面下向顯示模組30提供的邏輯輸入電壓的一致性。

同理，參考圖5所示，當補償電壓施加在轉接板40的輸出端時，測試電壓VDD的轉換、反饋數(shù)據(jù)的提供、以及補償電壓的生成均與上述過程一致，其區(qū)別僅在于補償電壓最終施加的節(jié)點位置，這里不再贅述。

本示例實施方式中，如圖6所示，所述轉接模塊還可以包括：采樣單元405，連接在所述電壓轉換單元401和所述電壓反饋電路芯片400之間，用于對所述測試電壓VDD進行采樣并將采樣信號輸入至所述電壓反饋電路芯片400。其中，所述采樣單元405可以包括：第一分壓電阻R1，其一端連接所述電壓轉換單元401、另一端連接所述電壓反饋電路芯片400的反饋電壓輸入端；第二分壓電阻R2，其一端連接所述第一分壓電阻R1、另一端接地。

需要說明的是：圖6是以轉接板40搭載UC3842芯片為例進行說明的，且在轉接板40搭載該UC3842芯片時還設置有外圍電路。但本實施例還可以搭載其它型號的芯片，只要該芯片具有電路反饋補償功能即可。

具體而言，UC3842芯片采用固定工作頻率，脈沖寬度可控的調制方式。UC3842芯片內部基準電路可產生+5V的基準電壓作為UC3842內部電源，經衰減得到+2.5V電壓作為誤差放大器的基準即參考電壓Vref，接入誤差放大器的正相輸入端；電壓轉換單元401將轉換后的測試電壓VDD經分壓電阻R1和R2分壓后得到電壓采樣信號，并將該采樣信號經過芯片內部的PWM(Pulse Width Modulation，脈沖寬度調制)控制器的電壓反饋輸入端(管腳2)接入誤差放大器的負相輸入端；當采樣電壓小于2.5V時，誤差放大器的正相輸入端和負相輸入端之間的壓差經過放大后生成補償電壓施加至轉接板40的電壓輸入端，經過不斷的反饋補償使得測試電壓VDD上升，并最終穩(wěn)定在設定的電壓值上。

需要說明的是：本實施例采用轉接板40搭載電壓反饋電路芯片的方式，是直接對轉接板的輸出端電壓進行反饋調節(jié)，因此無需計算轉接板40走線以及器件的阻抗。但正因如此，由于參考電壓Vref是芯片內部的設定值，且電壓采樣的分壓電阻也為固定值，因此得到的輸出電壓也只能對應一固定值，本實施例可將其設定為最常用的邏輯輸入電壓3.3V，其局限在于如果需要其它的邏輯電壓輸入值，便需手動更換分壓電阻。

本示例實施方式還提供一種終端測試系統(tǒng)，參考圖1所示，包括上述的測試用轉接模塊。示例的，所述終端測試系統(tǒng)可以為點屏測試系統(tǒng)。其中，所述測試用轉接模塊集成了電壓轉換、數(shù)據(jù)傳輸、以及測試電壓的自動調節(jié)功能。

需要說明的是：所述終端測試系統(tǒng)的具體細節(jié)已經在對應的測試用轉接模塊中進行了詳細的描述，這里不再贅述。

本示例實施方式還提供一種終端測試方法例如點屏測試方法，用于在終端負載變化時例如顯示畫面切換時提供穩(wěn)定的測試電壓；如圖7所示，所述終端測試方法可以包括：

S1、接收外接電源電壓并轉換為測試電壓VDD；

S2、將所述測試電壓VDD與參考電壓Vref進行對比以提供反饋數(shù)據(jù)；

具體而言，反饋單元402將所述測試電壓VDD和所述參考電壓Vref輸入至誤差放大器的正負端以進行對比，并根據(jù)對比結果得到一反饋數(shù)據(jù)輸出至補償單元403。

S3、根據(jù)所述反饋數(shù)據(jù)生成補償電壓以對所述測試電壓進行補償。

具體而言，補償單元403根據(jù)所述反饋數(shù)據(jù)生成補償電壓，并施加至轉接板40的電壓輸入端、或者施加至轉接板40的輸出端，以對所述測試電壓VDD進行補償。

本公開示例性實施方式所提供的終端測試方法，通過將電壓轉換單元生成的測試電壓VDD與參考電壓Vref進行對比以得到一補償電壓，從而實現(xiàn)對測試電壓的補償。這樣一來，在終端測試過程中，可能出現(xiàn)例如顯示畫面的切換而造成的終端負載變化，從而引起測試電壓的變化，而本公開利用反饋補償功能對該測試電壓VDD進行補償，可在終端負載變化時例如不同顯示畫面下使該測試電壓VDD保持為同一值，從而避免了手動調節(jié)外接電源電壓，為終端產品的電學分析提供了便捷性。

應當注意，盡管在上文詳細描述中提及了用于動作執(zhí)行的設備的若干模塊或者單元，但是這種劃分并非強制性的。實際上，根據(jù)本公開的實施方式，上文描述的兩個或更多模塊或者單元的特征和功能可以在一個模塊或者單元中具體化。反之，上文描述的一個模塊或者單元的特征和功能可以進一步劃分為由多個模塊或者單元來具體化。

此外，盡管在附圖中以特定順序描述了本公開中方法的各個步驟，但是，這并非要求或者暗示必須按照該特定順序來執(zhí)行這些步驟，或是必須執(zhí)行全部所示的步驟才能實現(xiàn)期望的結果。附加的或備選的，可以省略某些步驟，將多個步驟合并為一個步驟執(zhí)行，以及/或者將一個步驟分解為多個步驟執(zhí)行等。

通過以上的實施方式的描述，本領域的技術人員易于理解，這里描述的示例實施方式可以通過軟件實現(xiàn)，也可以通過軟件結合必要的硬件的方式來實現(xiàn)。因此，根據(jù)本公開實施方式的技術方案可以以軟件產品的形式體現(xiàn)出來，該軟件產品可以存儲在一個非易失性存儲介質(可以是CD-ROM，U盤，移動硬盤等)中或網絡上，包括若干指令以使得一臺計算設備(可以是個人計算機、服務器、移動終端、或者網絡設備等)執(zhí)行根據(jù)本公開實施方式的方法。

本領域技術人員在考慮說明書及實踐這里公開的發(fā)明后，將容易想到本公開的其它實施方案。本申請旨在涵蓋本公開的任何變型、用途或者適應性變化，這些變型、用途或者適應性變化遵循本公開的一般性原理并包括本公開未公開的本技術領域中的公知常識或慣用技術手段。說明書和實施例僅被視為示例性的，本公開的真正范圍和精神由所附的權利要求指出。