此申請要求2014年10月13日遞交到韓國知識產(chǎn)權(quán)局的韓國專利申請No.10-2014-0137770的優(yōu)先權(quán)和權(quán)益，其公開通過引用整體合并于此。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及有機(jī)發(fā)光顯示裝置及其驅(qū)動方法。

背景技術(shù)：

作為下一代顯示裝置日益突顯的有機(jī)發(fā)光顯示裝置配備有自發(fā)光元件，因此可提供各種益處，諸如快速響應(yīng)速度、高發(fā)光效率、高亮度和寬視角。有機(jī)發(fā)光顯示裝置包括作為自發(fā)光元件的有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)。OLED包括陽極、陰極以及被形成在陽極與陰極之間的有機(jī)化合物層。有機(jī)化合物層包括空穴注入層(HIL)、空穴傳輸層(HTL)、發(fā)射層(EML)、電子傳輸層(ETL)和電子注入層(EIL)。響應(yīng)于被施加到陽極和陰極的驅(qū)動電壓，通過HTL傳輸?shù)目昭ê屯ㄟ^ETL傳輸?shù)碾娮涌梢员灰苿拥紼ML，并可形成激子。結(jié)果，EML可以產(chǎn)生可見光。

有機(jī)發(fā)光顯示裝置可能隨時間劣化，并且可能降低其顯示亮度。有機(jī)發(fā)光顯示裝置劣化的程度受輸入圖像的亮度影響。已經(jīng)顯示許多明亮圖像的有機(jī)發(fā)光顯示裝置劣化得比已經(jīng)顯示較少明亮圖像的有機(jī)發(fā)光顯示裝置更嚴(yán)重。也就是說，有機(jī)發(fā)光顯示裝置中的OLED的劣化程度可能因區(qū)域的不同而不同。因此，已經(jīng)提出其中將檢測晶體管加到每個像素的方法。根據(jù)檢測電壓的驅(qū)動晶體管的驅(qū)動信息被讀出，待被供應(yīng)到每個像素的數(shù)據(jù)電壓基于該驅(qū)動信息被補(bǔ)償。

驅(qū)動信息通常可以經(jīng)由數(shù)據(jù)線被讀出，讀出電路單元可以被并入到數(shù)據(jù)驅(qū)動集成電路(IC)中。隨著有機(jī)發(fā)光顯示裝置的分辨率增加，所需的數(shù)據(jù)驅(qū)動IC的數(shù)量也可增加，其結(jié)果是，可能變得更難以在有限的空間中布置由于并入讀出電路單元而造成尺寸增加的每個數(shù)據(jù)驅(qū)動器IC。另外，由于驅(qū)動信息可經(jīng)由數(shù)據(jù)線被讀出，因此數(shù)據(jù)線的電容可能會增加，其結(jié)果是，由數(shù)據(jù)驅(qū)動IC產(chǎn)生的熱量也可能增加。另外，由于從源電極向漏電極可能形成泄漏路徑，因此可能難以精確地進(jìn)行檢測。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的示例性實施例提供了一種有機(jī)發(fā)光顯示裝置，其能夠使用不同于數(shù)據(jù)線的路徑精確地測量每個像素的驅(qū)動信息。

本發(fā)明的示例性實施例還提供了一種有機(jī)發(fā)光顯示裝置的驅(qū)動方法，該驅(qū)動方法能夠不同于數(shù)據(jù)線的路徑精確地測量每個像素的驅(qū)動信息。

然而，本發(fā)明的示例性實施例并不限于在本文中提出的實施例。通過參考下面給出的本發(fā)明的詳細(xì)描述，本發(fā)明的上述和其它示例性實施例對于本發(fā)明所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說將變得更加顯而易見。

根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，提供了一種有機(jī)發(fā)光顯示裝置。該有機(jī)發(fā)光顯示裝置包括：包括被連接到掃描線的柵電極、被連接到數(shù)據(jù)線的第一電極和被連接到第一節(jié)點的第二電極的第一晶體管；包括被連接到所述第一節(jié)點的柵電極、被連接到第一電源電壓的第一電極和被連接到第二節(jié)點的第二電極的第二晶體管；包括被連接到檢測控制線的柵電極、被連接到所述掃描線的第一電極和被連接到所述第二節(jié)點的第二電極的第三晶體管；以及包括被連接到所述第二節(jié)點的陽極和被連接到第二電源電壓的陰極的有機(jī)發(fā)光元件。

所述數(shù)據(jù)線和所述檢測控制線可以在第一方向上彼此平行地延伸。

所述有機(jī)發(fā)光顯示裝置可以進(jìn)一步包括被配置為向所述掃描線供應(yīng)掃描信號的掃描驅(qū)動器。

所述有機(jī)發(fā)光顯示裝置可以進(jìn)一步包括掃描驅(qū)動器，所述掃描驅(qū)動器可以包括：被配置為生成所述掃描信號的移位寄存器；被配置為測量所述第二晶體管的驅(qū)動信息的檢測器；被配置為連接所述移位寄存器和所述掃描線的第一開關(guān)；以及被配置為連接所述檢測器和所述掃描線的第二開關(guān)。

所述有機(jī)發(fā)光顯示裝置可以進(jìn)一步包括被配置為利用由所述檢測器測量的所述第二晶體管的驅(qū)動信息補(bǔ)償輸入圖像信號的控制器。

所述有機(jī)發(fā)光顯示裝置可以進(jìn)一步包括被配置為向所述檢測控制線供應(yīng)檢測控制信號的檢測控制器。

所述檢測控制器可以位于第一基板的布置所述第一晶體管的第一側(cè)，所述掃描驅(qū)動器可以位于所述第一基板的第二側(cè)。

所述第一基板的所述第一側(cè)和所述第二側(cè)可以彼此垂直。

所述掃描驅(qū)動器和所述檢測控制器可以位于第一基板的布置所述第一晶體管的第一側(cè)。

被供應(yīng)到所述第一晶體管的掃描信號的柵極導(dǎo)通電壓的脈沖寬度可以不同于被供應(yīng)到所述第三晶體管的檢測控制信號的柵極導(dǎo)通電壓的脈沖寬度。

所述第一晶體管的溝道寬度對溝道長度之比可以不同于所述第三晶體管的溝道寬度對溝道長度之比。

所述有機(jī)發(fā)光顯示裝置可以包括多個像素，每一個像素包括所述第一晶體管、所述第二晶體管和所述有機(jī)發(fā)光元件，并且其中所述多個像素中的一些均進(jìn)一步包括所述第三晶體管。

根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，一種有機(jī)發(fā)光顯示裝置包括：多個像素，每個像素包括：有機(jī)發(fā)光元件；被配置為驅(qū)動所述有機(jī)發(fā)光元件的驅(qū)動晶體管；被配置為控制所述驅(qū)動晶體管的控制晶體管；以及檢測晶體管；并且所述有機(jī)發(fā)光顯示裝置包括被配置為供應(yīng)導(dǎo)通所述控制晶體管的掃描信號的掃描驅(qū)動器；以及被配置為供應(yīng)導(dǎo)通所述檢測晶體管的檢測控制信號的檢測控制器，其中響應(yīng)于經(jīng)由導(dǎo)通的所述控制晶體管的第一端子供應(yīng)的檢測電壓，在所述驅(qū)動晶體管的溝道中生成驅(qū)動電流，并且所述掃描驅(qū)動器包括經(jīng)由導(dǎo)通的檢測晶體管測量所述驅(qū)動電流的檢測器。

所述檢測控制器可以位于第一基板的形成所述多個像素的第一側(cè)，所述掃描驅(qū)動器可以位于所述第一基板的第二側(cè)。

所述掃描信號的柵極導(dǎo)通電壓的脈沖寬度可以不同于所述檢測控制信號的柵極導(dǎo)通電壓的脈沖寬度。

所述有機(jī)發(fā)光顯示裝置可以進(jìn)一步包括被配置為利用由所述檢測器測量的所述驅(qū)動晶體管的所述驅(qū)動電流補(bǔ)償輸入圖像信號的控制器。

根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，一種用于驅(qū)動有機(jī)發(fā)光顯示裝置的方法，該有機(jī)發(fā)光顯示裝置包括多個像素，每個像素包括有機(jī)發(fā)光元件、用于驅(qū)動所述有機(jī)發(fā)光元件的驅(qū)動晶體管、用于控制所述驅(qū)動晶體管的控制晶體管、和檢測晶體管，以及用于導(dǎo)通所述控制晶體管的掃描驅(qū)動器，該驅(qū)動方法包括：經(jīng)由所述控制晶體管向所述驅(qū)動晶體管的柵極端子施加檢測電壓；以及測量根據(jù)所述檢測電壓在所述驅(qū)動晶體管的溝道中生成的驅(qū)動電流，其中所述掃描驅(qū)動器包括用于測量所述驅(qū)動電流的檢測器，并且所述檢測器經(jīng)由導(dǎo)通的所述檢測晶體管測量所述驅(qū)動電流。

所述檢測控制器可以位于第一基板的形成所述多個像素的第一側(cè)，所述掃描驅(qū)動器可以位于所述第一基板的第二側(cè)。

被供應(yīng)到所述控制晶體管的掃描信號的柵極導(dǎo)通電壓的脈沖寬度可以不同于被供應(yīng)到所述檢測晶體管的檢測控制信號的柵極導(dǎo)通電壓的脈沖寬度。

有機(jī)發(fā)光顯示裝置的所述驅(qū)動方法可以進(jìn)一步包括利用所測量的驅(qū)動電流補(bǔ)償輸 入圖像信號。

根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，由于驅(qū)動信息經(jīng)由掃描線檢測，因此可以基本上防止(例如防止)數(shù)據(jù)線的電容的任何增加，并且數(shù)據(jù)驅(qū)動器更易于配置。

此外，由于驅(qū)動信息經(jīng)由掃描線檢測，因此不產(chǎn)生泄漏路徑，其結(jié)果是，可以提供精確的測量數(shù)據(jù)。

從下面的詳細(xì)描述、附圖、權(quán)利要求和它們的等同物，本發(fā)明的其它特征和示例性實施例將是顯而易見的。

附圖說明

圖1是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的有機(jī)發(fā)光顯示裝置的框圖。

圖2是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的像素的示例的電路圖。

圖3是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的檢測模式的時序圖。

圖4是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的掃描驅(qū)動器的框圖。

圖5是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的第一掃描信號電路部的框圖。

圖6是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的控制器的框圖。

圖7是示出了根據(jù)本發(fā)明另一示例性實施例的有機(jī)發(fā)光顯示裝置的電路圖。

具體實施方式

通過參考下面對本發(fā)明的示例性實施例的詳細(xì)描述和附圖，本發(fā)明的實施例的方面和特征以及實現(xiàn)該方面和特征的方法可以更易于理解。然而，本發(fā)明可以以許多不同的形式體現(xiàn)，不應(yīng)當(dāng)被認(rèn)為限于本文所提出的實施例。相反，提供這些實施例是為了使得公開充分和完整，向本領(lǐng)域技術(shù)人員充分地傳達(dá)本發(fā)明的概念，并且本發(fā)明僅僅由所附權(quán)利要求來限定。因此，在本發(fā)明的一些實施例中，為了不讓沒有必要的細(xì)節(jié)使得對本發(fā)明的實施例的描述晦澀，不示出公知的結(jié)構(gòu)和裝置。在全文中，相同的附圖標(biāo)記指代相同的元件。在圖中，層和區(qū)域的厚度為了清楚被夸大。

本文使用的術(shù)語僅用于描述特定的實施例，并不旨在限制本發(fā)明。如本文所用，單數(shù)形式的“一個”旨在也包括復(fù)數(shù)形式，除非上下文另有明確說明。將進(jìn)一步理解的是，當(dāng)在申請文件中使用時，術(shù)語“包括”和“包含”表明存在所陳述的特征、整數(shù)、步驟、操作、元件和/或組件，但不排除存在或添加一個或多個其它特征、整數(shù)、步驟、操作、元件、組件和/或它們的組。

將理解的是，當(dāng)一元件或?qū)颖环Q為在另一元件或?qū)印吧稀薄ⅰ氨宦?lián)接到”、“被連接到”或“鄰近”另一元件或?qū)訒r，其可以直接在另一元件或?qū)由?、被直接?lián)接到、被直接連接到或緊鄰另一元件或?qū)?，或者可以存在中間元件或中間層。可替代地，當(dāng)一元件被稱為“直接在”另一元件或?qū)印吧稀?、“被直接?lián)接到”、“被直接連接到”或“緊鄰”另一元件或?qū)訒r，不存在中間元件或中間層。如本文所用，術(shù)語“和/或”包括相關(guān)聯(lián)的所列項目的一個或多個的任意和所有組合。

為便于描述，諸如“之下”、“下方”、“下”、“上方”、“上”等的空間相對術(shù)語在本文中被用來描述如圖中所示的一個元件或特征相對于另一個(些)元件或特征的關(guān)系。將理解的是，除了圖中描述的方位之外，這些空間相對術(shù)語意在還包含裝置在使用或操作中的不同方位。另外，當(dāng)描述本發(fā)明的實施例時，使用“可以”是指“本發(fā)明的一個或多個實施例”。

如本文所用，術(shù)語“基本上”、“大約”和類似術(shù)語被用作近似的術(shù)語，而不是程度的術(shù)語，意在考慮到本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將意識到的測量或計算的值中的固有公差。

如本文所用，術(shù)語“使用”和“被用來”可以被認(rèn)為分別與“利用”和“被利用來”同義。

將理解的是，雖然術(shù)語“第一”、“第二”、“第三”等可在本文中用來描述各種元件、組件、區(qū)域、層和/或部分，但是這些元件、組件、區(qū)域、層和/或部分不應(yīng)該受這些術(shù)語的限制。這些術(shù)語僅用來區(qū)分一個元件、組件、區(qū)域、層或部分與另一個元件、組件、區(qū)域、層或部分。因此，下面討論的第一元件、組件、區(qū)域、層或部分可以被稱為第二元件、組件、區(qū)域、層或部分，而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。

將參考作為本發(fā)明的理想示意圖的平面圖和/或剖視圖來描述本文中描述的本發(fā)明的實施例。因此，示例性的圖可以取決于制造技術(shù)和/或公差來修改。因而本發(fā)明的實施例不限于在圖中顯示的實施例，而是包括在制造工藝的基礎(chǔ)上形成的結(jié)構(gòu)的變化。因而，圖中例示的區(qū)域具有示意性質(zhì)，圖中示出的區(qū)域的形狀例示元件的區(qū)域的特定形狀，而不是限制本發(fā)明的方面。

在下文中將參考附圖描述本發(fā)明的示例性實施例。

圖1是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的有機(jī)發(fā)光顯示裝置的框圖，圖2是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的像素的示例的電路圖。

參考圖1和圖2，有機(jī)發(fā)光顯示裝置10包括顯示面板110、控制單元120(例如控制器120)、數(shù)據(jù)驅(qū)動單元130(例如數(shù)據(jù)驅(qū)動器130)、掃描驅(qū)動單元140 (例如掃描驅(qū)動器140)和檢測控制單元150(例如檢測控制器150)。

顯示面板110可以是圖像區(qū)域。顯示面板110可以包括多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)、橫跨多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)的多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)、以及各自被連接(例如聯(lián)接、電聯(lián)接或電連接)到多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)中的一條和多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)中的一條的多個像素PX，其中n和m是相互不同的自然數(shù)。多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)可以橫跨多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)。也就是，多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)可以在第一方向d1上延伸，多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)可以在橫跨第一方向d1的第二方向d2上延伸。第一方向d1可以是列方向，第二方向d2可以是行方向。多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)可以包括沿著第一方向d1順序布置的第一至第n掃描線SL1至SLn。多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)可以包括沿第二方向d2順序布置的第一至第m數(shù)據(jù)線DL1至DLm。

多個像素PX可以被布置成矩陣形式。多個像素PX中的每一個可以被連接到多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)中的一條和多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)中的一條。像素PX中的每一個響應(yīng)于經(jīng)由被連接到其上的多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)中的一條提供到其上的多個掃描信號(S1，S2，...，Sn)中的一個，可經(jīng)由被連接到其上的多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)中的一條接收多個數(shù)據(jù)電壓(D1，D2，...，Dm)中的一個。也就是說，多個掃描信號(S1，S2，...，Sn)可以被分別提供給多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)，多個數(shù)據(jù)電壓(D1，D2，...，Dm)可以被分別提供給多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)。第一方向d1可以是列方向，第二方向d2可以是行方向。像素PX中的每一個可以經(jīng)由第一電力線(未示出)被提供第一電源電壓ELVDD，并且可經(jīng)由第二電力線(未示出)被提供第二電源電壓ELVSS。第一電源電壓ELVDD和第二電源電壓ELVSS可以由電源(未示出)提供。

顯示面板110還可以包括與多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)在相同或基本相同的方向上延伸的多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELm)。多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELm)可以包括沿第二方向d2順序布置的第一至第m檢測控制線SEL1至SELm。第一數(shù)據(jù)線DL1和第一檢測控制線SEL1可以被連接到同一列像素，其余的多條數(shù)據(jù)線(DL2，DL3，...，DLm)和其余的多條檢測控制線(SEL2，SEL3，...，SELm)可以被連接到相同列像素。多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)和柵極線(例如多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELm))可以提供用于導(dǎo)通包括在多個像素PX的每一個中的不同晶體管的信號。顯示面板 110可以通過在單個基板上布置多個像素PX、多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)、多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)和多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELm)而形成。多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)、多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)和多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELm)可以被形成為彼此絕緣。

控制器120可以接收控制信號CS和圖像信號R.G.B。圖像信號R.G.B可以包括多個像素PX的亮度信息。該亮度信息可以包括預(yù)定數(shù)量的灰度級，例如，1024、256或64個灰度級?？刂菩盘朇S可以包括垂直同步信號Vsync、水平同步信號Hsync、數(shù)據(jù)使能信號DE和時鐘信號CLK?？刂破?20可以根據(jù)圖像信號R.G.B以及控制信號CS生成第一至第三驅(qū)動控制信號CONT1至CONT3和圖像數(shù)據(jù)DATA?？刂破?20可通過根據(jù)垂直同步信號Vsync以幀為單位分割圖像信號R.G.B以及根據(jù)水平同步信號Hsync以掃描線(多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn))為單位分割圖像信號R.G.B，來生成圖像數(shù)據(jù)DATA?？刂破?20可補(bǔ)償圖像數(shù)據(jù)DATA，并可以將補(bǔ)償后的圖像數(shù)據(jù)DATA1與第一驅(qū)動控制信號CONT1一起傳送到數(shù)據(jù)驅(qū)動器130?？刂破?20可以將第二驅(qū)動控制信號CONT2傳送到掃描驅(qū)動器140，并可以將第三驅(qū)動控制信號CONT3傳送到檢測控制器150。

掃描驅(qū)動器140可以被連接到顯示面板110的多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)，并且可以根據(jù)第二驅(qū)動控制信號CONT2生成多個掃描信號(S1，S2，...，Sn)。掃描驅(qū)動器140可以將柵極導(dǎo)通電壓的多個掃描信號(S1，S2，...，Sn)分別順序施加到多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)。

數(shù)據(jù)驅(qū)動器130可被連接到顯示面板110的多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)。數(shù)據(jù)驅(qū)動器130可以根據(jù)第一驅(qū)動控制信號CONT1采樣并保持輸入到其內(nèi)的補(bǔ)償后的圖像數(shù)據(jù)DATA1，并且可以將補(bǔ)償后的圖像數(shù)據(jù)DATA1轉(zhuǎn)換為模擬電壓，由此生成多個數(shù)據(jù)電壓(D1，D2，...，Dm)。數(shù)據(jù)驅(qū)動器130可以將多個數(shù)據(jù)電壓(D1，D2，...，Dm)分別傳送到多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)。顯示面板110的各個像素PX可以通過柵極導(dǎo)通電壓的多個掃描信號(S1，S2，...，Sn)中的一個導(dǎo)通，并且可以被提供以多個數(shù)據(jù)電壓(D1，D2，...，Dm)中的一個。

檢測控制器150可以根據(jù)第三驅(qū)動控制信號CONT3被激活。第三驅(qū)動控制信號CONT3可以是用于控制檢測模式的激活或失活的信號。當(dāng)用于整個有機(jī)發(fā)光顯示裝置10的電源被接通或關(guān)斷時，檢測模式可被激活。也就是說，檢測模式可在有機(jī)發(fā)光顯示裝置10被接通或關(guān)斷的待機(jī)時段期間被激活，但本發(fā)明不限于此。例如，檢測模式可在有機(jī)發(fā)光顯示裝置10的操作時段以規(guī)則的時間間隔被激活或者由用戶設(shè)置激活。

檢測控制器150可以根據(jù)第三驅(qū)動控制信號CONT3生成具有電平(例如預(yù)定電平)的檢測電壓Vref，并可以將檢測電壓Vref供應(yīng)給多個像素PX。檢測電壓Vref可以以灰度級(例如預(yù)定灰度級)驅(qū)動被包括在像素PX中的每一個的有機(jī)發(fā)光元件EL。檢測控制器150可以將檢測電壓Vref提供到多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)。也就是說，檢測電壓Vref可以經(jīng)由多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)被提供給像素PX中的每一個。當(dāng)檢測控制器150提供檢測電壓Vref時，從其輸出多個數(shù)據(jù)電壓(D1，D2，...，Dm)的互連與多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)可以彼此斷開。此外，檢測控制器150可以根據(jù)第三驅(qū)動控制信號CONT3確定多個檢測控制信號(SE1，SE2，...，SEm)的電平，并且可以將多個檢測控制信號(SE1，SE2，...，SEm)分別提供到多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELm)。檢測控制器150可以順序?qū)⒍鄠€檢測控制信號(SE1，SE2，...，SEm)分別提供到被連接到檢測控制器150的多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELm)。檢測控制器150可以被配置為提供檢測電壓Vref和多個檢測控制信號(SE1，SE2，...，SEm)，但本發(fā)明不限于此。例如，檢測電壓Vref和多個檢測控制信號(SE1，SE2，...，SEm)可以由兩個不同的、獨立的單元或控制器供應(yīng)。

圖2示出了被包括在顯示面板110中的多個像素PX中的一個像素的電路。例如，圖2示出了被連接到第i掃描線SLi和第j數(shù)據(jù)線DLj的像素PXij的結(jié)構(gòu)，但是多個像素PX的結(jié)構(gòu)并不限于圖2中所提出的結(jié)構(gòu)。

參考圖2，像素PXij可以包括第一晶體管T1、第二晶體管T2、第三晶體管T3、第一電容器C1和有機(jī)發(fā)光元件EL。

第一晶體管T1可以包括被連接到第i掃描線SLi的柵電極、被連接到第j數(shù)據(jù)線DLj的第一電極、以及被連接到第一節(jié)點N1的第二電極。第一晶體管T1可以通過被施加到第i掃描線SLi的柵極導(dǎo)通電壓的第i掃描信號Si導(dǎo)通，并且可以將被施加到第j數(shù)據(jù)線DLj的第j數(shù)據(jù)電壓Dj傳送到第一節(jié)點N1。第一晶體管T1可以是向驅(qū)動晶體管選擇性地提供第j數(shù)據(jù)電壓Dj的開關(guān)晶體管。第一晶體管T1可以是n溝道場效應(yīng)晶體管(FET)。也就是說，第一晶體管T1可以通過高電平電壓的掃描信號導(dǎo)通，并且可以通過低電平電壓的掃描信號截止。

第二晶體管T2可以包括被連接到第一節(jié)點N1的柵電極、被連接到第一電源電壓ELVDD的第一電極、以及被連接到第二節(jié)點N2的第二電極。也就是說，第二晶體管T2的柵電極可以被連接到第一晶體管T1的第二電極。第一電容器C1可以被布置在第一節(jié)點N1與第一電源電壓ELVDD之間?？梢砸詮牡谝痪w管T1提供到第一電容器C1的數(shù)據(jù)電壓對第一電容器C1進(jìn)行充電，對第一電容器C1 進(jìn)行充電的數(shù)據(jù)電壓可被提供到第二晶體管T2的柵電極。有機(jī)發(fā)光元件EL的陽極可以被連接到第二節(jié)點N2。第二晶體管T2可以是驅(qū)動晶體管，并且可以根據(jù)第一節(jié)點N1的電壓控制從第一電源電壓ELVDD施加到有機(jī)發(fā)光元件EL的驅(qū)動電流。

第三晶體管T3可以包括被連接到第j檢測控制線SELj的柵電極、被連接到第i掃描線SLi的第一電極、以及被連接到第二節(jié)點N2的第二電極。第三晶體管T3可通過被施加到第j檢測控制線SELj的第j檢測控制信號SEj導(dǎo)通。第三晶體管T3可以是檢測晶體管。例如，第三晶體管T3可以檢測關(guān)于第二晶體管T2的驅(qū)動特性(即驅(qū)動電流或驅(qū)動電壓)的信息。當(dāng)檢測模式被激活時，具有電平(例如預(yù)定電平)的檢測電壓Vref可被施加到第二晶體管T2的柵電極，并且由于檢測電壓Vref，可以在第二晶體管T2的溝道中生成具有幅度(例如預(yù)定幅度)的驅(qū)動電流。響應(yīng)于檢測模式被激活，第三晶體管T3可以被導(dǎo)通，因此，驅(qū)動電流可以從第三晶體管T3的第二電極流向第一電極。第三晶體管T3的第一電極可以被連接到第i掃描線SLi，像素PXij的驅(qū)動信息可以經(jīng)由第i掃描線SLi讀出，這將在后面進(jìn)一步詳細(xì)描述。

有機(jī)發(fā)光元件EL可以包括被連接到第二節(jié)點N2的陽極、被連接到第二電源電壓ELVSS的陰極、以及有機(jī)發(fā)光層(未示出)。有機(jī)發(fā)光層可以發(fā)射光的三原色(即紅、綠和藍(lán))中的一種的光。期望的顏色可通過光的三原色的空間或時間總和被顯示。有機(jī)發(fā)光層可以包括對應(yīng)于每種顏色的小分子有機(jī)材料或高分子有機(jī)材料。對應(yīng)于每種顏色的有機(jī)材料可以根據(jù)流入有機(jī)發(fā)光層中的電流的量產(chǎn)生并發(fā)射光。

圖3是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的檢測模式的時序圖，圖4是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的掃描驅(qū)動器的框圖，圖5是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的第一掃描信號電路部的框圖，圖6是示出了根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的控制器的框圖。

參考圖3至圖6，檢測模式可包括第一時段T1和第二時段T2。當(dāng)整個有機(jī)發(fā)光顯示裝置10的電力被關(guān)斷或接通時，檢測模式可被激活。也就是說，檢測模式可在有機(jī)發(fā)光顯示裝置10被接通或關(guān)斷時的待機(jī)時段期間被激活，但本發(fā)明不限于此。例如，在有機(jī)發(fā)光顯示裝置10的操作期間，檢測模式可以以規(guī)則的時間間隔被激活或由用戶設(shè)置激活。

第一時段T1可以是用于施加檢測電壓Vref的時段，第二時段T2可以是用于根據(jù)檢測電壓Vref檢測驅(qū)動電壓的時段。第二電源電壓ELVSS可在第一時段T1 和第二時段T2期間被保持為高電平電壓。第二電源電壓ELVSS的高電平電壓可以與第一電源電壓ELVDD的高電平電壓相同或基本相同。也就是說，在檢測模式期間，第二電源電壓ELVSS可被保持為高電平電壓，因此可以基本上防止(例如防止)驅(qū)動電流流入有機(jī)發(fā)光元件EL。響應(yīng)于有機(jī)發(fā)光顯示裝置10從檢測模式被切換到正常操作模式，第二電源電壓ELVSS可以被切換為低電平電壓。

掃描驅(qū)動器140可以順序地供應(yīng)多個掃描信號(S1，S2，...，Sn)，因此可以順序地導(dǎo)通多個像素PX的第一晶體管T1。也就是說，多個掃描信號(S1，S2，...，Sn)中的每一個可作為柵極導(dǎo)通電壓被施加，因此可以導(dǎo)通多個像素PX的第一晶體管T1。每個掃描信號(S1，S2，...，Sn)的柵極導(dǎo)通電壓可以是高電平電壓。掃描驅(qū)動器140可以包括分別輸出多個掃描信號(S1，S2，...，Sn)的多個掃描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)。多個掃描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)可以通過從它們各自的前一掃描信號電路輸出的掃描信號被啟用，以生成掃描信號，并且可以將所生成的掃描信號輸出到它們各自的掃描線以及它們各自的后一掃描信號電路。也就是說，多個掃描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)可以順序地生成并輸出掃描信號。多個掃描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)可以被連接為分別對應(yīng)于多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)。因此，掃描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)可沿列方向布置。

掃描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)中的每一個可以包括移位寄存器141、檢測部分142(例如檢測器142)、第一開關(guān)SW1和第二開關(guān)SW2。移位寄存器141可以是生成掃描信號的電路。檢測器142可以是在第二時段T2期間經(jīng)由掃描線讀出像素PX的驅(qū)動信息的電路。第一開關(guān)SW1可控制移位寄存器141與掃描線之間的連接，第二開關(guān)SW2可控制檢測器142與掃描線之間的連接。由于在第一時段T1期間，掃描信號需要被供應(yīng)給掃描線，因此高電平“導(dǎo)通”信號可以被施加到第一開關(guān)SW1，低電平“截止”信號可以被施加到第二開關(guān)SW2。

檢測控制器150可以在第一時段T1期間提供檢測電壓Vref到多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)中的每一條。當(dāng)多個像素PX的第一晶體管T1通過多個掃描信號(S1，S2，...，Sn)導(dǎo)通時，可以將經(jīng)由這些第一晶體管T1各自的第一電極被供應(yīng)到這些第一晶體管T1上的檢測電壓Vref傳送到被連接到這些第一晶體管T1各自的第二電極的第一電容器C1?？梢砸詸z測電壓Vref對第一電容器C1進(jìn)行充電。由第一電源電壓ELVDD和檢測電壓Vref形成的電壓可以是能夠驅(qū)動多個像素PX的第二晶體管T2的電壓，其結(jié)果是，可以在多個像素PX的第二晶體管T2的溝道中生成驅(qū)動電流。

第二時段T2可以是用于檢測驅(qū)動電流的時段。為此，多個像素PX的作為檢測晶體管的第三晶體管T3可以被導(dǎo)通。也就是說，在第二時段T2的一部分(例如預(yù)定部分)期間，檢測控制信號SE可以作為高電平電壓被順序提供，因此可以導(dǎo)通多個像素PX的第三晶體管T3。檢測控制器150可以包括用于分別生成多個檢測控制信號(SE1，SE2，...，SEm)的多個移位寄存器(未示出)。多個移位寄存器可以被分別連接到與多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)平行地延伸的多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELm)。多個移位寄存器可以沿行方向并排布置，并且可以沿行方向分別順序地提供多個檢測控制信號(SE1，SE2，...，SEm)。

檢測控制器150可以被布置在構(gòu)成顯示面板110的基板的一側(cè)上。例如，檢測控制器150可以被布置在基板的形成多個像素PX的第一晶體管T1的第一側(cè)上。檢測控制器150的多個移位寄存器可以以芯片上玻璃(COG)的方式被安裝在基板上，以沿著基板的第一側(cè)布置。掃描驅(qū)動器140的多個移位寄存器可以被安裝在基板上，以沿著基板的第二側(cè)布置。基板的第一側(cè)和第二側(cè)可以彼此垂直，但本發(fā)明不限于此。

例如，在本發(fā)明的可替代示例性實施例中，檢測控制器150和掃描驅(qū)動器140可以沿顯示面板110的一對平行側(cè)安裝。例如，檢測控制器150和掃描驅(qū)動器140可以被分別布置在顯示面板110的左側(cè)和右側(cè)。在本發(fā)明的這一示例性實施例中，檢測控制器150可以被連接到橫跨多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELm)的多條延伸線(未示出)。

在本發(fā)明的另一可替代示例性實施例中，檢測控制器150和掃描驅(qū)動器140可以沿著顯示面板110的同一側(cè)布置。在本發(fā)明的這一示例性實施例中，檢測控制器150可以被連接到分別橫跨多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELm)的多條延伸線(未示出)。

多個像素PX中的每一個還可以包括用于連接多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELM)中的一條和對應(yīng)的第三晶體管T3的柵電極的延長線L。對應(yīng)的第三晶體管T3可以通過被提供到其上的檢測控制信號導(dǎo)通。驅(qū)動電流可以經(jīng)由對應(yīng)的第三晶體管T3流向掃描線。高電平“導(dǎo)通”信號可以被施加到對應(yīng)的第二開關(guān)SW2。也就是說，多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)可以被分別連接到多個掃描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)的檢測器142。多個掃描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)的檢測器142可以測量驅(qū)動電流的電平?？商娲?，多個掃描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)的檢測器142可以將驅(qū)動電流連接到電流吸收器(未示出)，并且可以測量所得的電壓變化。也就是說，多個掃 描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)的檢測器142可以根據(jù)具有電平(例如預(yù)定電平)的檢測電壓Vref測量多個像素PX的驅(qū)動晶體管T2的驅(qū)動信息。多個掃描信號電路(140_1，140_2，...，140_n)的每個檢測器142可以包括用于將測量的模擬電壓轉(zhuǎn)換成數(shù)字值的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)。由多個像素PX中的每一個生成的數(shù)字值可以被映射到存儲器(未示出)，并且可以作為檢測數(shù)據(jù)SD被提供給控制器120。

也就是說，有機(jī)發(fā)光顯示裝置10可經(jīng)由多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)讀出檢測數(shù)據(jù)SD，而不是經(jīng)由多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2...，DLm)或檢測線(未示出)讀出檢測數(shù)據(jù)SD。因此，在多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)中不會產(chǎn)生額外的電容。另外，由于檢測控制器150通過被并入到具有相對簡單結(jié)構(gòu)的掃描驅(qū)動器140中而不是被并入到具有復(fù)雜結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)驅(qū)動集成電路(IC)中來安裝，因此可便于高分辨率的數(shù)據(jù)驅(qū)動IC的設(shè)計。另外，由于多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)被連接到多個像素PX的第一晶體管T1的柵電極，因此相比于多個像素PX的第一晶體管T1的第一電極被連接到其上的多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)，可以減少或最小化泄漏路徑。因此，可以讀出精確的測量數(shù)據(jù)。

檢測控制信號SE的柵極導(dǎo)通電壓的脈沖寬度P2可以不同于掃描信號S的柵極導(dǎo)通電壓的脈沖寬度P1。例如，檢測控制信號SE的柵極導(dǎo)通電壓的脈沖寬度P2可以大于掃描信號S的柵極導(dǎo)通電壓的脈沖寬度P1。也就是說，為了更精確的檢測，多個像素PX的第三晶體管T3相比多個像素PX的第一晶體管T1可以被導(dǎo)通更長的時間段。多個像素PX的第三晶體管T3可以具有與多個像素PX的第一晶體管T1不同的溝道寬度(W)對溝道長度(L)之比，也就是說，具有不同的寬度對長度(W/L)比。多個像素PX的第三晶體管T3的W/L比可以大于多個像素PX的第一晶體管T1的W/L比。例如，多個像素PX的第三晶體管T3可以被形成為具有大的溝道寬度W，可以有效地發(fā)送即使是低的電流到多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)。例如，多個像素PX的第三晶體管T3的W/L比可以被設(shè)置為比多個像素PX的第一晶體管T1的W/L比大兩到三倍。

控制器120可以使用檢測數(shù)據(jù)SD補(bǔ)償圖像數(shù)據(jù)DATA，因此可以生成補(bǔ)償后的圖像數(shù)據(jù)DATA1。控制器120可以包括用于生成第一至第三驅(qū)動信號CONT1至CONT3的信號處理器121、用于通過處理圖像信號R.G.B生成圖像數(shù)據(jù)DATA的圖像處理器122、以及用于補(bǔ)償圖像數(shù)據(jù)DATA的圖像補(bǔ)償器123。圖像補(bǔ)償器123可以基于由檢測控制器150提供的檢測數(shù)據(jù)SD與由圖像處理器122提供的圖像數(shù)據(jù)DATA，生成補(bǔ)償后的圖像數(shù)據(jù)DATA1。補(bǔ)償后的圖像數(shù)據(jù)DATA1可以 是通過針對多個像素PX的驅(qū)動晶體管T2之間的特征偏差和多個像素PX的有機(jī)發(fā)光元件EL之間的劣化程度偏差對圖像數(shù)據(jù)DATA進(jìn)行補(bǔ)償?shù)玫降臄?shù)據(jù)。由于有機(jī)發(fā)光顯示裝置10通過使用多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)精確地讀出檢測數(shù)據(jù)SD，基于檢測數(shù)據(jù)SD生成補(bǔ)償后的圖像數(shù)據(jù)DATA1，并基于補(bǔ)償后的圖像數(shù)據(jù)DATA1顯示圖像，因此有機(jī)發(fā)光顯示裝置10可提供提高了的顯示質(zhì)量。

在下文中將描述根據(jù)本發(fā)明另一示例性實施例的有機(jī)發(fā)光顯示裝置。

圖7是示出了根據(jù)本發(fā)明另一示例性實施例的有機(jī)發(fā)光顯示裝置的電路圖。在圖1至圖7中，相同的附圖標(biāo)記指代相同的元件，因此其詳細(xì)描述可被省略。

參考圖7，根據(jù)本發(fā)明另一示例性實施例的有機(jī)發(fā)光顯示裝置可包括被布置成矩陣的多個像素PX。第一晶體管T1、第二晶體管T2和有機(jī)發(fā)光元件EL可以被形成在多個像素PX中的每一個中。第三晶體管T3可以被形成在多個像素PX中的一些中。圖7示出了包括被連接到同一數(shù)據(jù)線的第一、第二和第三像素PX1、PX2和PX3的像素列。第一、第二和第三像素PX1、PX2和PX3中的每一個包括第一晶體管T1、第二晶體管T2和有機(jī)發(fā)光元件EL，而作為檢測晶體管的第三晶體管T3可以僅被提供在第二像素PX2中。彼此相鄰的像素可能顯示類似灰度級的圖像，因此可能以類似的速度劣化。因此，從一些像素測量的檢測數(shù)據(jù)可直接適用于其它相鄰像素的劣化的補(bǔ)償。例如，從第二像素PX2測量的檢測數(shù)據(jù)可以被用作用于補(bǔ)償?shù)谝缓偷谌袼豍X1和PX3的數(shù)據(jù)。在圖7的示例性實施例中，可以由多個像素PX限定一個或多個像素組，檢測晶體管可以被形成在每個像素組中的一個像素中。因此，在提供補(bǔ)償數(shù)據(jù)的相同或基本相同的效果的同時，可以減少或最小化通過形成補(bǔ)償晶體管所導(dǎo)致的任何成本和在掃描線中可能形成的任何電容。

在下文中將描述根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的有機(jī)發(fā)光顯示裝置的驅(qū)動方法。該驅(qū)動方法包括施加檢測電壓(S110)的步驟和測量驅(qū)動電流(S120)的步驟。

該有機(jī)發(fā)光顯示裝置包括多個像素PX，像素PX中的每一個包括有機(jī)發(fā)光元件EL、用于驅(qū)動有機(jī)發(fā)光元件EL的驅(qū)動晶體管T2、用于控制驅(qū)動晶體管T2的控制晶體管T1、以及檢測晶體管T3。該有機(jī)發(fā)光顯示裝置還包括用于導(dǎo)通多個像素PX的控制晶體管T1的掃描驅(qū)動器140。該有機(jī)發(fā)光顯示裝置可以是圖1至圖7中的有機(jī)發(fā)光顯示裝置，因此其詳細(xì)描述可以被省略。在下文中將參考圖1至圖7描述該驅(qū)動方法。

施加檢測電壓(S110)。

施加檢測電壓(S110)的步驟可以在檢測模式的第一時段T1。也就是說，檢 測控制器150可以根據(jù)第三驅(qū)動控制信號CONT3被激活。第三驅(qū)動控制信號CONT3可以是用于控制檢測模式的激活或失活的信號。檢測控制器150可以根據(jù)第三驅(qū)動控制信號CONT3生成具有電平(例如預(yù)定電平)的檢測電壓Vref，并且可以將檢測電壓Vref供應(yīng)給多個像素PX。檢測電壓Vref可以以灰度級(例如預(yù)定灰度級)驅(qū)動被包括在每個像素PX中的有機(jī)發(fā)光元件EL。檢測控制器150可以將檢測電壓Vref提供到多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)。也就是說，檢測電壓Vref可以經(jīng)由多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)被提供給像素PX中的每一個。

當(dāng)檢測控制器150提供檢測電壓Vref時，從其輸出多個數(shù)據(jù)電壓(D1，D2，...，Dm)的互連與多條數(shù)據(jù)線(DL1，DL2，...，DLm)可被彼此斷開。為了將檢測電壓Vref傳送到多個像素PX的驅(qū)動晶體管T2的柵電極，多個像素PX的控制晶體管T1中的每一個可以通過掃描信號導(dǎo)通。當(dāng)多個像素PX的控制晶體管T1通過多個掃描信號(S1，S2，...，Sn)導(dǎo)通時，可以將經(jīng)由這些控制晶體管T1各自的第一電極被供應(yīng)到這些控制晶體管T1上的檢測電壓Vref傳送到被連接到這些控制晶體管T1各自的第二電極的第一電容器C1。

可以以檢測電壓Vref對第一電容器C1進(jìn)行充電。由第一電源電壓ELVDD和檢測電壓Vref形成的電壓可以是能夠驅(qū)動多個像素PX的第二晶體管T2的電壓，其結(jié)果是，可以在多個像素PX的第二晶體管T2的溝道中生成驅(qū)動電流。

此后，可測量根據(jù)檢測電壓得到的驅(qū)動電流(S120)。

也就是說，測量驅(qū)動電流(S120)的步驟可以在檢測模式的第二時段T2。為了測量驅(qū)動電流，多個像素PX的作為檢測晶體管的第三晶體管T3中的每一個可以通過檢測控制信號導(dǎo)通。檢測控制器150可以分別順序地提供多個檢測控制信號(SE1，SE2，...，SEn)到被連接到其上的多條檢測控制線(SEL1，SEL2，...，SELn)。多個像素PX的第三晶體管T3中的每一個可具有被連接到第二晶體管T2的驅(qū)動電流在其上流動的第二電極的第一電極、以及被連接到多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)中的一條的第二電極。也就是說，掃描驅(qū)動器140可包括用于測量驅(qū)動電流的檢測器。該檢測器可以經(jīng)由導(dǎo)通的檢測晶體管T3測量驅(qū)動電流。多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)中的每一條可被連接到掃描驅(qū)動器140的移位寄存器，因此可以在S110中被供應(yīng)掃描信號。多條掃描線(SL1，SL2，...，SLn)中的每一條可以連接到掃描驅(qū)動器140的檢測器，因此可以在S120中將驅(qū)動電流傳送到掃描驅(qū)動器140的檢測器。

在根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的驅(qū)動方法中，使用具有降低或最小化的泄露路 徑的掃描線讀出檢測數(shù)據(jù)，因此可以提供精確的測量數(shù)據(jù)。此外，可以減少由來自數(shù)據(jù)線的電容增加所導(dǎo)致的任何負(fù)擔(dān)，可便于高分辨率的數(shù)據(jù)驅(qū)動IC的設(shè)計。

根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的驅(qū)動方法的其余部分基本上等同于圖1至圖7的有機(jī)發(fā)光顯示裝置的對應(yīng)描述，因此其進(jìn)一步的描述將被省略。

雖然已經(jīng)參考本發(fā)明的示例性實施例具體示出和描述了本發(fā)明，但本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解，可以在不脫離由下述權(quán)利要求及其等同方案限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下在本文中進(jìn)行各種改變。本發(fā)明的示例性實施例應(yīng)被認(rèn)為是描述意義，而不是為了限制的目的。