方式的示意圖；
[0043]圖2是本發(fā)明所提供的一種顯示裝置的示意圖；
[0044]圖3是圖2中的測(cè)試走線區(qū)的一部分的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0045 ]圖4是圖3的B-B剖視圖；
[0046]圖5是圖2的信號(hào)引入?yún)^(qū)的示意圖；
[0047]圖6是本發(fā)明所提供的另一種顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0048]圖7是圖3中所示的測(cè)試走線區(qū)的一部分的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0049]圖8是圖6中的刪除區(qū)的示意圖；
[0050]圖9是本發(fā)明所提供的陣列基板母板的示意圖；
[0051 ]圖10是本發(fā)明所提供的陣列基板的示意圖。
[0052]附圖標(biāo)記說明
[0053]100:測(cè)試走線區(qū)110:第一測(cè)試總線
[0054]120:第二測(cè)試總線111、112、121:測(cè)試線
[0055]130、320:連接部131、132:過孔
[0056]200:封框膠300:信號(hào)引入?yún)^(qū)
[0057]301:連接區(qū)302:綁定區(qū)
[0058]310:連接引線321:第一過孔
[0059]322:第二過孔400:顯示區(qū)
[0060]500:封框膠設(shè)置區(qū)
【具體實(shí)施方式】
[0061]以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描述的【具體實(shí)施方式】?jī)H用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。
[0062]為了提高物料的利用率，本發(fā)明提供一種陣列基板母板，在該陣列基板母板上，相鄰兩個(gè)陣列基板沒有間隙，因此，在從陣列基板母板上切割出陣列基板時(shí)，是無廢料的。
[0063]具體地，所述陣列基板母板被包括多個(gè)陣列區(qū)，每個(gè)所述陣列區(qū)均包括信號(hào)引入?yún)^(qū)、顯示區(qū)和位于信號(hào)引入?yún)^(qū)與顯示區(qū)之間的封框膠設(shè)置區(qū)，其中，所述陣列基板母板還包括與多個(gè)所述陣列區(qū)一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試走線區(qū)，測(cè)試走線區(qū)內(nèi)設(shè)置有多條測(cè)試總線，且多條測(cè)試總線位于不同層中，每條測(cè)試總線對(duì)應(yīng)有一組與該測(cè)試總線對(duì)應(yīng)的測(cè)試線，信號(hào)引入?yún)^(qū)包括與測(cè)試走線區(qū)鄰接的連接區(qū)和與封框膠設(shè)置區(qū)鄰接的綁定區(qū)。
[0064]由于同一列相鄰兩個(gè)陣列基板之間沒有設(shè)置切割間隙，為了確保陣列基板的電路完整、避免誤切到顯示區(qū)域中的顯示電路，優(yōu)選地，可以將同一列中下一行陣列基板的測(cè)試走線區(qū)100保留在上一個(gè)陣列基板中。具體地，如圖2中所示，切割完成后，在陣列基板的一側(cè)為測(cè)試走線區(qū)100，在測(cè)試走線區(qū)的內(nèi)側(cè)(S卩，靠近顯示區(qū)域的一側(cè))設(shè)置封框膠200，封框膠200圍繞顯示區(qū)400。所述陣列基板的另一側(cè)為信號(hào)引入(fan-out)區(qū)300。信號(hào)引入?yún)^(qū)300的作用是接收顯示信號(hào)。其中，在將陣列基板從陣列基板母板上分開之前，通過測(cè)試走線區(qū)100為與設(shè)置該測(cè)試走線區(qū)100的陣列基板相鄰的另一個(gè)陣列基板提供測(cè)試信號(hào)。
[0065]圖3中所示的是圖2中所示的顯示裝置中的測(cè)試走線區(qū)的一部分的放大結(jié)構(gòu)示意圖。如圖中所示，所述測(cè)試走線區(qū)包括位于不同層的第一測(cè)試總線110和第二測(cè)試總線120。第一測(cè)試總線110對(duì)應(yīng)一組測(cè)試線111，該組測(cè)試線111與第一測(cè)試總線110位于同一層且一體成型；第二測(cè)試總線120對(duì)應(yīng)一組測(cè)試線112，該組測(cè)試線112與第一測(cè)試總線110位于同一層，如圖3中所示，測(cè)試線112通過連接部130和過孔131、132與第二測(cè)試線120電連接。
[0066]正如上文中所言，由于陣列基板母板上相鄰兩個(gè)陣列基板之間沒有間隔，因此，一個(gè)陣列基板上通常帶有一個(gè)測(cè)試走線區(qū)，在測(cè)試走線區(qū)的內(nèi)側(cè)設(shè)置封框膠200，封框膠200圍繞著顯示區(qū)400。容易理解的是，在顯示裝置中，測(cè)試走線區(qū)100不起作用。如圖3和圖4中所示，測(cè)試線112和連接部130通過過孔131、132與第二測(cè)試總線相連。圖5中所示的是信號(hào)引入?yún)^(qū)的一部分，測(cè)試線111和測(cè)試線112延伸至信號(hào)引入?yún)^(qū)，并且通過連接件與顯示區(qū)的數(shù)據(jù)線相連。
[0067]雖然當(dāng)顯示裝置具有圖2中所示的結(jié)構(gòu)時(shí)，可以實(shí)現(xiàn)陣列基板母板的零切割。但是，在對(duì)圖2中所示的顯示裝置進(jìn)行測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)，一段時(shí)間過后，所述顯示裝置的封框膠出現(xiàn)損傷的概率比較大。
[0068]經(jīng)本申請(qǐng)的發(fā)明人反復(fù)研究發(fā)現(xiàn)了圖2中所示的顯示裝置出現(xiàn)封框膠被腐蝕的原因，下文中將結(jié)合圖4對(duì)該原因進(jìn)行詳細(xì)的介紹。
[0069]通過圖4可以知道，在測(cè)試走線區(qū)中，外部環(huán)境中的水汽很容易進(jìn)入過孔131過孔的底部，并對(duì)過孔底部的測(cè)試線造成腐蝕。由于測(cè)試線為金屬線，而金屬線腐蝕后形成的液體呈堿性，堿性的液體會(huì)腐蝕封框膠，形成氣泡，最終導(dǎo)致產(chǎn)品不良。
[0070]有鑒于此，作為本發(fā)明的一個(gè)方面，如圖9所示，還提供一種陣列基板母板，所述陣列基板母板被包括多個(gè)陣列區(qū)(圖中示出了陣列區(qū)1、陣列區(qū)I1、陣列區(qū)III和陣列區(qū)IV)，每個(gè)所述陣列區(qū)均包括信號(hào)引入?yún)^(qū)300、顯示區(qū)400和位于信號(hào)引入?yún)^(qū)300與顯示區(qū)400之間的封框膠設(shè)置區(qū)500，其中，所述陣列基板母板還包括與多個(gè)所述陣列區(qū)一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試走線區(qū)100，測(cè)試走線區(qū)100內(nèi)設(shè)置有多條測(cè)試總線(圖中示出了第一測(cè)試總線110和第二測(cè)試總線120)，且多條測(cè)試總線位于不同層中，每條測(cè)試總線對(duì)應(yīng)有一組與該測(cè)試總線對(duì)應(yīng)的測(cè)試線(在圖中，第一測(cè)試總線110對(duì)應(yīng)測(cè)試線111，第二測(cè)試總線120對(duì)應(yīng)測(cè)試線121)，信號(hào)引入?yún)^(qū)300包括與測(cè)試走線區(qū)100鄰接的連接區(qū)301和與封框膠設(shè)置區(qū)500鄰接的綁定區(qū)302，其中一組所述測(cè)試線(圖9中的測(cè)試線111)穿過連接區(qū)301到達(dá)綁定區(qū)302，連接區(qū)301中與其余組的多條所述測(cè)試線(圖9中的測(cè)試線121)對(duì)應(yīng)的位置分別設(shè)置有連接引線310和相應(yīng)的連接部320。換言之，其余組的多條測(cè)試線中，每條測(cè)試線對(duì)應(yīng)有一條連接引線310和一個(gè)連接部320。連接部320的一端通過第一過孔321與相應(yīng)的測(cè)試線電連接，連接部320的另一端通過第二過孔322與相應(yīng)的連接引線310電連接，連接引線310延伸至綁定區(qū)302。
[0071]容易理解的是，可以在綁定區(qū)內(nèi)設(shè)置數(shù)據(jù)接入塊(datapad)，數(shù)據(jù)接入塊的具體結(jié)構(gòu)是本領(lǐng)域技術(shù)人員所公知的，這里不再贅述。
[0072]需要解釋的是，為了便于觀察和說明，在圖9中將信號(hào)引入?yún)^(qū)300和測(cè)試走線區(qū)100畫的相對(duì)較大，而將顯示區(qū)400畫的相對(duì)較小，但是，在實(shí)際的陣列基板母板中并不是這樣的，在實(shí)際應(yīng)用中，顯示區(qū)400要大于信號(hào)引入?yún)^(qū)300和測(cè)試走線區(qū)100。
[0073]圖7中示出了測(cè)試走線區(qū)100的一部分，并且，在圖7和圖9中所示的實(shí)施方式中，測(cè)試走線區(qū)包括兩條測(cè)試總線，即，第一測(cè)試總線110和第二測(cè)試總線120，與第一測(cè)試總線110對(duì)應(yīng)的一組測(cè)試線為測(cè)試線111，測(cè)試線111與第一測(cè)試總線110位于同一層，且在同一構(gòu)圖工藝中形成，與第二測(cè)試總線120對(duì)應(yīng)的一組測(cè)試線為測(cè)試線121，測(cè)試線121與第二測(cè)試總線120位于同一層且在同一構(gòu)圖工藝中形成。
[0074]圖8中示出了信號(hào)引入?yún)^(qū)的一部分，如圖中所示，測(cè)試線111延伸穿過連接區(qū)301后到達(dá)綁定區(qū)302;測(cè)試線121至位于連接區(qū)301中，連接區(qū)301中與測(cè)試線121對(duì)應(yīng)的區(qū)域內(nèi)設(shè)置有連接引線310，連接部320的一端通過第一過孔321與測(cè)試線121電連接，連接部320的另一端通過第二過孔322與連接引線310電連接。
[0075]在圖9中所示的所述陣列基板母板中，同一列相鄰兩個(gè)陣列基板之間沒有設(shè)置切割間隙，為了確保陣列基板的電路完整、避免誤切到顯示區(qū)域中的顯示電路，優(yōu)選地，可以將同一列中下一行陣列基板的測(cè)試走線區(qū)100保留在上一個(gè)陣列基板中。沿圖中的橫向切割線C將陣列基板母板分開后，每個(gè)陣列區(qū)的顯示區(qū)的一側(cè)均為在陣列基板母板上與該陣列區(qū)相鄰的一個(gè)陣列區(qū)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試走線區(qū)。切割完成后，獲得多個(gè)獨(dú)立的陣列基板，并且，如圖6中所示，每個(gè)獨(dú)立的陣列基板都帶有一個(gè)測(cè)試走線區(qū)100，在該測(cè)試走線區(qū)100中并沒有過孔存在，當(dāng)陣列基板與對(duì)盒基板形成顯示裝置后，封框膠200環(huán)繞顯示區(qū)400設(shè)置，并且，封框膠200的一部分設(shè)置在信號(hào)引入?yún)^(qū)300與顯示區(qū)400之間的封框膠設(shè)置區(qū)內(nèi)，所有的第一過孔321和所有的第二過孔322均位于封框膠200的外側(cè)，并且距離封框膠比較遠(yuǎn)，因此，外部環(huán)境中的水汽即便通過第一過孔321和第二過孔322進(jìn)入，也不會(huì)到達(dá)封框膠200，從而不會(huì)對(duì)封框膠200造成腐蝕，提高了顯示裝置的良率。
[0076]本領(lǐng)域技術(shù)人員容易理解的是，測(cè)試走線區(qū)內(nèi)所有測(cè)試線與顯示區(qū)內(nèi)所有的數(shù)據(jù)線一一對(duì)應(yīng)，測(cè)試線用于為與其相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線提供測(cè)試信號(hào)。
[0077]為了便于設(shè)置，優(yōu)選地，信號(hào)引入?yún)^(qū)300中的連接引線只與延伸穿過連接區(qū)301到達(dá)綁定區(qū)302的