陣列基板母板、陣列基板及其制作方法和顯示裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示裝置領(lǐng)域，具體地，涉及一種陣列基板母板、一種通過切割所述陣列基板母板獲得的陣列基板及制作方法和一種包括該陣列基板的顯示裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]為了便于加工并節(jié)約工序，通常先制造一個(gè)大的陣列基板母板，然后再把陣列基板母板切割為多個(gè)陣列基板。
[0003]圖1中所示的是一種陣列基板在陣列基板母板上排列的示意圖，從圖中可以看出，相鄰兩個(gè)陣列基板之間存在一定寬度的空白區(qū)域，切割完畢后，這些空白區(qū)域被丟棄。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于提供一種新的陣列基板母板、一種陣列基板和一種顯示裝置?？梢圆捎昧闱懈畹姆绞角懈钏鲫嚵谢迥赴?，以提高材料利用率。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，作為本發(fā)明的一個(gè)方面，提供一種陣列基板母板，所述陣列基板母板包括多個(gè)陣列區(qū)，每個(gè)所述陣列區(qū)均包括信號(hào)引入?yún)^(qū)、顯示區(qū)和位于所述信號(hào)引入?yún)^(qū)和所述顯示區(qū)之間的封框膠設(shè)置區(qū)，其特征在于，所述陣列基板母板還包括與多個(gè)所述陣列區(qū)一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試走線區(qū)，所述測(cè)試走線區(qū)內(nèi)設(shè)置有多條測(cè)試總線，且多條所述測(cè)試總線位于不同層中，每條所述測(cè)試總線均對(duì)應(yīng)有一組與該測(cè)試總線一體形成的測(cè)試線，所述信號(hào)引入?yún)^(qū)包括與測(cè)試走線區(qū)相鄰的連接區(qū)和與所述封框膠設(shè)置區(qū)相鄰的綁定區(qū)，其中一組所述測(cè)試線穿過所述連接區(qū)到達(dá)所述綁定區(qū)，所述連接區(qū)中與其余組的多條所述測(cè)試線對(duì)應(yīng)的位置分別設(shè)置有連接引線和相應(yīng)的連接部，所述連接部的一端通過第一過孔與相應(yīng)的測(cè)試線電連接，所述連接部的另一端通過第二過孔與相應(yīng)的連接引線電連接，所述連接引線延伸至所述綁定區(qū)。
[0006]優(yōu)選地，所述連接引線與穿過所述連接區(qū)到達(dá)所述綁定區(qū)的一組測(cè)試線同層設(shè)置且材料相同。
[0007]優(yōu)選地，不同層的所述測(cè)試線在所述陣列基板母板的基板上的投影互相交替。
[0008]優(yōu)選地，每個(gè)所述測(cè)試走線區(qū)內(nèi)設(shè)置兩條所述測(cè)試總線，一條所述測(cè)試總線與所述顯示區(qū)的數(shù)據(jù)線同層設(shè)置，另一條所述測(cè)試總線與所述顯示區(qū)的柵線同層設(shè)置。
[0009]優(yōu)選地，與所述數(shù)據(jù)線同層設(shè)置的測(cè)試總線對(duì)應(yīng)的測(cè)試線與奇數(shù)列的數(shù)據(jù)線和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線中的一者電連接，與所述柵線同層設(shè)置的測(cè)試總線對(duì)應(yīng)的測(cè)試線與奇數(shù)列的數(shù)據(jù)線和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線中的另一者電連接。
[0010]優(yōu)選地，所述連接部與透明電極同層設(shè)置，且所述連接部的材料與所述透明電極的材料相同。
[0011]優(yōu)選地，所述陣列基板母板被劃分為多個(gè)切割區(qū)，每個(gè)所述切割區(qū)內(nèi)設(shè)置有一個(gè)所述陣列區(qū)和一個(gè)測(cè)試走線區(qū)，所述測(cè)試走線區(qū)和所述陣列區(qū)的信號(hào)引入?yún)^(qū)分別位于所述陣列區(qū)的顯示區(qū)兩側(cè)，任意相鄰的兩個(gè)所述切割區(qū)之間無間隙。
[0012]作為本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供一種陣列基板，所述陣列基板包括信號(hào)引入?yún)^(qū)、測(cè)試走線區(qū)和顯示區(qū)，所述信號(hào)引入?yún)^(qū)和所述測(cè)試走線區(qū)分別位于所述顯示區(qū)的相對(duì)的兩側(cè)，所述信號(hào)引入?yún)^(qū)和所述顯示區(qū)之間形成有封框膠設(shè)置區(qū)，其特征在于，所述陣列基板包括設(shè)置在所述測(cè)試走線區(qū)的多條測(cè)試總線，且多條所述測(cè)試總線位于不同層中，每條所述測(cè)試總線均對(duì)應(yīng)有一組第一測(cè)試線，每組所述第一測(cè)試線均與和該組第一測(cè)試線對(duì)應(yīng)的測(cè)試總線一體形成，所述信號(hào)引入?yún)^(qū)包括連接區(qū)和位于該連接區(qū)與所述封框膠設(shè)置區(qū)之間的綁定區(qū)，所述信號(hào)引入?yún)^(qū)內(nèi)設(shè)置有多組第二測(cè)試線，不同組的所述第二測(cè)試線位于不同層中，
[0013]其中一組所述第二測(cè)試線穿過所述連接區(qū)到達(dá)所述綁定區(qū)，所述連接區(qū)中與其余組的多條所述測(cè)試線對(duì)應(yīng)的位置分別設(shè)置有連接引線和相應(yīng)的連接部，所述連接部的一端通過第一過孔與相應(yīng)的第二測(cè)試線電連接，所述連接部的另一端通過第二過孔與相應(yīng)的連接引線電連接，所述連接引線延伸至所述綁定區(qū)。
[0014]優(yōu)選地，不同層的所述測(cè)試線在所述陣列基板母板的基板上的投影互相交替。
[0015]優(yōu)選地，每個(gè)所述測(cè)試走線區(qū)內(nèi)設(shè)置兩條所述測(cè)試總線，一條所述測(cè)試總線與所述陣列基板的數(shù)據(jù)線同層設(shè)置，另一條所述測(cè)試總線與所述陣列基板的柵線同層設(shè)置。
[0016]優(yōu)選地，所述連接引線與穿過所述連接區(qū)到達(dá)所述綁定區(qū)的一組第二測(cè)試線同層設(shè)置且材料相同。
[0017]作為本發(fā)明的又一個(gè)方面，提供一種顯示裝置，所述顯示裝置包括陣列基板，其中，所述陣列基板為本發(fā)明所提供的上述陣列基板，所述顯示裝置還包括環(huán)繞所述顯示區(qū)設(shè)置的封框膠，所述封框膠的一部分設(shè)置在所述封框膠設(shè)置區(qū)內(nèi)。
[0018]作為本發(fā)明的還一個(gè)方面，提供一種陣列基板的制備方法，其中，所述制備方法包括:
[0019]形成陣列基板母板，包括:
[0020]提供襯底基板，所述襯底基板被劃分為多個(gè)陣列區(qū)和與多個(gè)所述陣列區(qū)一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試走線區(qū)，所述陣列區(qū)被劃分為信號(hào)引入?yún)^(qū)、顯示區(qū)和位于所述信號(hào)引入?yún)^(qū)與所述顯示區(qū)之間的封框膠設(shè)置區(qū)，所述信號(hào)引入?yún)^(qū)包括與測(cè)試走線區(qū)相鄰的連接區(qū)和與所述封框膠設(shè)置區(qū)相鄰的綁定區(qū)；
[0021]分別形成位于絕緣間隔的不同層中的多個(gè)測(cè)試圖形組，每個(gè)所述測(cè)試圖形組都包括測(cè)試總線和與該測(cè)試總線一體形成的一組測(cè)試線，其中一個(gè)所述測(cè)試圖形組中的一組測(cè)試線穿過所述連接區(qū)到達(dá)所述綁定區(qū)，其他所述測(cè)試圖形組中的測(cè)試線均未到達(dá)所述綁定區(qū)；
[0022]形成包括多條連接引線的圖形，所述連接引線位于所述連接區(qū)中，多條所述連接引線與未到達(dá)所述綁定區(qū)的多條所述測(cè)試線一一對(duì)應(yīng)；
[0023]形成絕緣層，所述絕緣層覆蓋包括多條連接引線的圖形；
[0024]形成貫穿所述絕緣層的多組第一過孔和第二過孔，每條所述連接引線對(duì)應(yīng)于一組第一過孔和第二過孔，所述第一過孔位于相應(yīng)的所述測(cè)試線的上方，所述第二過孔位于相應(yīng)的所述連接引線上方；
[0025 ]形成包括與多個(gè)所述連接引線一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)連接部的圖形；
[0026]將多個(gè)切割區(qū)從所述陣列基板母板上分離，以獲得多個(gè)所述陣列基板，每個(gè)所述切割區(qū)包括一個(gè)所述陣列區(qū)和一個(gè)所述測(cè)試走線區(qū)，所述測(cè)試走線區(qū)和所述陣列區(qū)的信號(hào)引入?yún)^(qū)分別位于所述陣列區(qū)的顯示區(qū)兩側(cè)。
[0027]優(yōu)選地，所述形成包括多條連接引線的圖形的步驟與形成穿過所述連接區(qū)到達(dá)所述綁定區(qū)的測(cè)試圖形組的步驟同步進(jìn)行。
[0028]優(yōu)選地，不同層的所述測(cè)試線在所述陣列基板母板的基板上的投影互相交替。
[0029]優(yōu)選地，所述陣列基板包括兩條測(cè)試總線，所述制備方法還包括:
[0030]形成包括柵線的圖形;和
[0031]形成包括數(shù)據(jù)線的圖形；
[0032]其中，
[0033]包括一條所述測(cè)試總線的測(cè)試圖形組與所述數(shù)據(jù)線在同一構(gòu)圖工藝中形成，包括另一條所述測(cè)試總線的測(cè)試圖形組與所述柵線在同一構(gòu)圖工藝中形成。
[0034]優(yōu)選地，與包括數(shù)據(jù)線的圖形在同一構(gòu)圖工藝中形成的測(cè)試圖形組中的測(cè)試線與奇數(shù)列的數(shù)據(jù)線和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線中的一者電連接，與包括柵線的圖形在同一構(gòu)圖工藝中形成的測(cè)試圖形組中的測(cè)試線與奇數(shù)列的數(shù)據(jù)線和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線中的另一者電連接。
[0035]優(yōu)選地，所述制備方法還包括:
[0036]形成包括透明電極的圖形；其中，形成包括與多個(gè)所述連接引線一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)連接部的圖形的步驟與形成包括透明電極的圖形同步進(jìn)行。
[0037]優(yōu)選地，任意相鄰兩個(gè)所述切割區(qū)之間無間隙。
[0038]優(yōu)選地，形成所述連接引線的步驟與形成穿過所述封框膠設(shè)置區(qū)和所述第一連接區(qū)到達(dá)所述第二連接區(qū)的圖形的步驟同步進(jìn)行。
[0039]在本發(fā)明所提供的陣列基板母板中，同一列相鄰兩個(gè)陣列基板之間沒有設(shè)置切割間隙，為了確保陣列基板的電路完整、避免誤切到顯示區(qū)域中的顯示電路，將同一列中下一行陣列基板的測(cè)試走線區(qū)保留在上一個(gè)陣列基板中，提高了材料利用率。
[0040]切割完成后，獲得多個(gè)獨(dú)立的陣列基板，并且，每個(gè)獨(dú)立的陣列基板都帶有一個(gè)測(cè)試走線區(qū)，在該測(cè)試走線區(qū)中并沒有過孔存在，當(dāng)陣列基板與對(duì)盒基板形成顯示裝置后，封框膠環(huán)繞顯示區(qū)設(shè)置，并且，封框膠的一部分設(shè)置在信號(hào)引入?yún)^(qū)與顯示區(qū)之間的封框膠設(shè)置區(qū)內(nèi)，所有的第一過孔和所有的第二過孔均位于封框膠的外側(cè)，并且距離封框膠比較遠(yuǎn)，因此，外部環(huán)境中的水汽即便通過第一過孔和第二過孔進(jìn)入，也不會(huì)到達(dá)封框膠，從而不會(huì)對(duì)封框膠造成腐蝕，提高了顯示裝置的良率。
【附圖說明】
[0041]附圖是用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的【具體實(shí)施方式】一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中:
[0042]圖1是展示現(xiàn)有的陣列基板母板中，陣列基板的排布