石墨烯摻雜材料及其制備方法、電極、像素結(jié)構(gòu)、顯示裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種石墨烯摻雜材料及其制備方法、電 極、像素結(jié)構(gòu)、顯示裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 柔性顯示已經(jīng)成為顯示領(lǐng)域的發(fā)展方向,尤其是穿戴設(shè)備日漸洶涌的發(fā)展趨勢, 現(xiàn)有技術(shù)通常采用透明導(dǎo)電材料ITO、IZO等作為像素電極,然而這些金屬氧化物的機(jī)械強(qiáng) 度和柔韌性決定了其不能很好的應(yīng)用于柔性顯示產(chǎn)品。
[0003] 現(xiàn)有技術(shù)中提出采用單層石墨烯替代ITO作為像素電極,雖然單層石墨烯能夠滿 足柔性特性,但其方塊電阻較大,通常單層石墨烯方塊電阻較高,達(dá)到120 D / □以上,不能 滿足像素電極對低電阻值的要求。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004] 本發(fā)明的目的是解決現(xiàn)有技術(shù)存在的單層石墨烯方阻較高的問題;提供一種方阻 低的石墨烯摻雜材料。
[0005] 解決本發(fā)明技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種石墨烯摻雜材料,所述石墨烯摻雜 材料包括至少一層石墨烯層和至少一層摻雜層。
[0006] 優(yōu)選的,所述的摻雜層包括BaF2、MgF2、FeCl#的任意一種或幾種。
[0007] 優(yōu)選的,所述摻雜層的總厚度為6_35nm。
[0008] 優(yōu)選的,所述石墨烯層包括1-5層。
[0009] 優(yōu)選的,所述摻雜層包括1-4層。
[0010] 優(yōu)選的,所述摻雜層和所述石墨烯層間隔分布。
[0011] 本發(fā)明還提供一種石墨烯摻雜材料的制備方法,包括真空蒸鍍的步驟:
[0012] 將待摻雜材料置于真空蒸鍍裝置內(nèi);
[0013] 將所述待摻雜基片置于蒸鍍腔室中,對所述待摻雜材料進(jìn)行加熱,將待摻雜材料 蒸鍍于待摻雜基片。
[0014] 優(yōu)選的,所述真空蒸鍍是在300-400°C下,真空度大于等于1(T4托的條件下進(jìn)行 的。
[0015] 本發(fā)明還提供一種電極,所述電極包括上述的石墨烯摻雜材料。
[0016] 本發(fā)明還提供一種像素結(jié)構(gòu),包括像素電極和/或公共電極,其特征在于,所述像 素電極和/或所述公共電極包括上述的電極。
[0017] 本發(fā)明還提供一種顯示裝置,包括如權(quán)利要求上述的像素結(jié)構(gòu)。
[0018] 發(fā)明的石墨烯摻雜材料及其制備方法、電極、像素結(jié)構(gòu)、顯示裝置由于對石墨烯層 進(jìn)行摻雜,形成的石墨烯摻雜材料使得摻雜材料與石墨烯進(jìn)行鍵接、提高載流子的傳輸速 率,降低了石墨烯摻雜材料的方阻。
【附圖說明】
[0019] 圖1為本發(fā)明實施例4中石墨烯摻雜材料的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0020] 圖2為本發(fā)明實施例12中ADS像素結(jié)構(gòu)示意圖;
[0021] 圖3為本發(fā)明實施例12中石墨烯摻雜像素電極的構(gòu)圖工藝流程圖;
[0022] 其中,1.襯底;2.柵極;3.公共電極;4.柵線;5.柵極絕緣層;6.有源層;7.絕緣 層;8.鈍化層;9.源漏極;10.像素電極;11.石墨稀層;12.摻雜層;13.光刻膠;14.模板。
【具體實施方式】
[0023] 為使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案,下面結(jié)合附圖和具體實施方 式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。
[0024] 對比例
[0025] 本對比例提供一種石墨烯導(dǎo)電層的由單層石墨烯層形成,對該石墨烯導(dǎo)電層進(jìn)行 方阻測試和透過率進(jìn)行測試,其結(jié)果見表1。
[0026] 其中,透過率通過分光光度計在300-1600nm范圍內(nèi)對導(dǎo)電層進(jìn)行光學(xué)透過率進(jìn) 行測試;
[0027] 方阻測試采用RTS-9型四探針測試儀,測試導(dǎo)電層的室溫方阻。
[0028] 實施例1 :
[0029] 本實施例提供一種石墨烯摻雜材料,所述石墨烯摻雜材料包括1層石墨烯和1層 摻雜層;摻雜層為FeCl^#雜層;FeCl 3摻雜層的厚度為6nm。
[0030] 上述石墨烯摻雜材料的制備方法如下:
[0031] 1)將待摻雜材料置于蒸鍍機(jī)內(nèi)的坩堝內(nèi);
[0032] 2)將待摻雜基片置于蒸鍍腔室,通過設(shè)計于外部的熱源對坩堝進(jìn)行加熱進(jìn)行蒸 鍍;
[0033] 3)通過控制加熱源電流的大小來控制蒸鍍速率,直至蒸鍍預(yù)定的厚度。
[0034]上述的蒸鍍裝置可以對待蒸鍍物質(zhì)進(jìn)行獨立控制,將蒸鍍溫度控制在300-400°C, 真空度大于等于1〇_4托,通過控制電流的大小控制蒸鍍速率,蒸鍍到預(yù)定厚度時停止蒸鍍。
[0035] 對該石墨烯摻雜材料進(jìn)行方阻測試和透過率測試,其結(jié)果見表1。
[0036] 實施例2 :
[0037] 本實施例提供一種石墨烯摻雜材料,所述石墨烯摻雜材料包括1層石墨烯層和1 層摻雜層;摻雜層為MgF;^#雜層;MgF 2摻雜層的厚度為8nm。
[0038] 上述摻雜層的制備方法與實施例1中的方法類似,在此不再--贅述。
[0039] 對該石墨烯摻雜材料進(jìn)行方阻測試和透過率測試,其結(jié)果見表1。
[0040] 實施例3 :
[0041] 本實施例提供一種石墨烯摻雜材料,所述石墨烯摻雜材料包括一 1層石墨烯層和 1層摻雜層;摻雜層為雜層;BaF 2摻雜層的厚度為10nm。
[0042] 上述摻雜層的制備方法與實施例1中的方法類似,在此不再--贅述。
[0043] 對該石墨烯摻雜材料進(jìn)行方阻測試和透過率測試,其結(jié)果見表1。
[0044] 實施例4 :
[0045] 本實施例提供一種石墨烯摻雜材料,所述石墨烯摻雜材料包括3層石墨烯層和2 層摻雜層;
[0046] 摻雜層分別為MgIy#雜層和FeCl 3摻雜層,其中,MgFd#雜層的厚度為6nm,F(xiàn)eCl 3 摻雜層的厚度為6nm。
[0047] 如圖1所不,石墨條慘雜材料的各層的排布順序依次為:石墨條層、1\^2慘雜層、 石墨稀層、FeCl 3摻雜層、石墨稀層。
[0048] 應(yīng)當(dāng)理解的是,上述各層的排列也可是其它順序,只要能實現(xiàn)摻雜材料與石墨烯 之間的鍵接、提高載流子的傳輸速率即可。
[0049] 上述摻雜層的制備方法與實施例1中的方法類似,在此不再--贅述。
[0050] 對該石墨烯摻雜材料進(jìn)行方阻測試和透過率測試,其結(jié)果見表1。
[0051] 實施例5:
[0052] 本實施例提供一種石墨烯摻雜材料,所述石墨烯摻雜材料包括3層石墨烯層和2 層摻雜層;摻雜層為BaF 2摻雜層,其中,雜層的厚度為10nm。
[0053] 石墨稀摻雜材料的各層的排布順序依次為:石墨稀層、BaF2摻雜層、石墨稀層、 BaF 2摻雜層、石墨稀層。
[0054] 應(yīng)當(dāng)理解的是,上述各層的排列也可是其它順序,只要能實現(xiàn)摻雜材料與石墨烯 之間的鍵接、提高載流子的傳輸速率即可。
[0055] 上述摻雜層的制備方法與實施例1中的方法類似,在此不再--贅述。
[0056] 對該石墨烯摻雜材料進(jìn)行方阻測試和透過率測試,其結(jié)果見表1。
[0057] 實施例6 :
[0058] 本實施例提供一種石墨烯摻雜材料,所述石墨烯摻雜材料包括4層石墨烯層和2 層摻雜層;
[0059] 摻雜層分別為MgF;^#雜層和FeCl 3摻雜層;其中,MgFj#雜層的厚度為6nm,F(xiàn)eCl 3 摻雜層的厚度為6nm。
[0060] 石墨稀摻雜材料的各層的排布順序依次為:石墨稀層、MgF2摻雜層、石墨稀層、 FeCl 3摻雜層、石墨稀層、石墨稀層。
[0061] 應(yīng)當(dāng)理解的是,上述各層的排列也可是其它順序,只要能實現(xiàn)摻雜材料與石墨烯 之間的鍵接、提高載流子的傳輸速率即可。
[0062] 上述摻雜層的制備方法與實施例1中的方法類似,在此不再--贅述。
[0063] 對該石墨烯摻雜材料進(jìn)行方阻測試和透過率測試,其結(jié)果見表1。
[0064] 實施例7 :
[0065] 本實施例提供一種石墨烯摻雜材料,所述石墨烯摻雜材料包括4層石墨烯層和3 層摻雜層;摻雜層為FeCl^#雜層;其中,F(xiàn)eCl 3摻雜層的厚度為6nm。
[0066] 石墨稀摻雜材料的各層的排布順序依次為:石墨稀層、FeCl3摻雜層、石墨稀層、 FeCl 3摻雜層、石墨稀層、FeCl 3摻雜層、石墨稀層。
[0067] 應(yīng)當(dāng)理解的是,上述各層的排列也可是其它順序,只要能實現(xiàn)摻雜材料與石墨烯 之間的鍵接、提高載流子的傳輸速率即可。
[0068] 上述摻雜層的制備方法與實施例1中的方法類似,在此不再--贅述。
[0069] 對該石墨烯摻雜材料進(jìn)行方阻測試和透過率測試,其結(jié)果見表1。
[0070] 實施例8 :
[0071] 本實施例提