本發(fā)明屬于光電功能材料技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種工藝簡單、產(chǎn)量高、成本低的柔性錫氧化物光電探測器的制備方法。
背景技術(shù):
錫氧化物由于其在氣敏、光電等領(lǐng)域有著廣泛的應用前景而引起人們極大的研究興趣。但是由于sno和sno2具有較大的能帶寬帶,其在光電領(lǐng)域有所限制。而混合價態(tài)的錫氧化物具有比單價態(tài)sno和sno2更小的能帶寬度,有望實現(xiàn)在可見光下的高的光電響應,例如:sn2o3,sn3o4等。
現(xiàn)有技術(shù)中,改善光電特性的方法有:提高光敏性,提高對不同波長光的響應,提高光響應速率,誘導光響應,改變光電導方向。以上主流的幾種方法雖然在一定程度上提高了半導體的光電性能,但仍然存在諸如步驟繁瑣、所得產(chǎn)物量小、成本昂貴問題,因而也限制了其在工業(yè)領(lǐng)域的應用。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于提供一種柔性錫氧化物光電探測器的制備方法,工藝簡單、產(chǎn)量高、成本低。
實現(xiàn)本發(fā)明目的的技術(shù)解決方案為:
一種柔性錫氧化物光電探測器的制備方法,包括如下步驟:
(10)襯底清洗:將碳紙裁成所需尺寸,用丙酮、無水乙醇、去離子水清洗后超聲清洗;
(20)混合溶液制備:按配比將na3c6h5o7·2h2o粉末、sncl2·2h2o粉末溶于去離子水和無水乙醇中,攪拌均勻,得到混合溶液;
(30)納米片組裝:將碳紙放入盛有混合溶的反應釜中,水熱反應,然后將反應釜取出自然冷卻至室溫;
(40)成品干燥:將碳紙從反應釜取出,用去離子水或無水乙醇超聲清洗,干燥,得到柔性襯底上組裝sn3o4納米片的光電探測器。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,其顯著優(yōu)點為:
1、工藝簡單:采用簡單的水熱法一步合成樣品,工藝簡單;
2、產(chǎn)量高:僅需少量的藥品即可制備大量的樣品,產(chǎn)量高;
3、成本低:制備過程中所涉及的材料價格低廉,生產(chǎn)成本低。
下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明作進一步的詳細描述。
附圖說明
圖1為本發(fā)明柔性錫氧化物光電探測器的制備方法的流程圖。
圖2為實例所制備的柔性襯底上組裝sn3o4納米片的可見光電探測器的x-射線衍射圖。
圖3為實例所制備的柔性襯底上組裝sn3o4納米片的可見光電探測器的掃描電鏡照片圖。
圖4為實例所制備的柔性襯底上組裝sn3o4納米片的可見光電探測器的透射電鏡和選區(qū)電子衍射圖。
圖5為實例所制備的柔性襯底上組裝sn3o4納米片的可見光電探測器的紫外吸收圖
圖6為實例所制備的柔性襯底上組裝sn3o4納米片的可見光電探測器的光電性能圖。
具體實施方式
如圖1所示,本發(fā)明柔性錫氧化物光電探測器的制備方法,包括如下步驟:
(10)襯底清洗:將碳紙裁成所需尺寸,用丙酮、無水乙醇、去離子水清洗后超聲清洗;
所述(10)襯底清洗步驟中,超聲清洗時間為10min。
(20)混合溶液制備:按配比將na3c6h5o7·2h2o粉末、sncl2·2h2o粉末溶于去離子水和無水乙醇中,攪拌均勻,得到混合溶液;
所述(20)混合溶液制備步驟中,混合溶液的配比為:
na3c6h5o7·2h2o粉末,2.94g,
sncl2·2h2o粉末,1.073g,
去離子水,20ml,
無水乙醇,20ml。
所述(20)混合溶液制備步驟中,攪拌時間1小時。
(30)納米片組裝:將碳紙放入盛有混合溶的反應釜中,水熱反應,然后將反應釜取出自然冷卻至室溫;
所述(30)納米片組裝步驟中,水熱反應的溫度為180℃,反應時間12小
(40)成品干燥:將碳紙從反應釜取出,用去離子水或無水乙醇超聲清洗,干燥,得到柔性襯底上組裝sn3o4納米片的光電探測器。
所述((40)成品干燥步驟中,清洗后的碳紙在60℃下干燥12小時。
試驗驗證:
為驗證本發(fā)明方法的有效性,實施例采用d8advance型xrd(cukαradiation,
圖2:本發(fā)明實例所制備的柔性的sn3o4在可見光下的光電探測器的x-射線衍射圖。如圖所示的所有的衍射峰從左到右分別對應于三斜晶系sn3o4的(101),(111),(-210),(-121),(210),(130),(102),(-301),(-1-41)晶面,圖示xrd說明了所制備的樣品中sn3o4的存在。插圖為sn3o4的晶格示意圖。
圖3:本發(fā)明實例所制備的柔性的sn3o4在可見光下的光電探測器的掃描電鏡照片圖。從該圖可知,實例所制備的具有高的光電性能的sn3o4結(jié)構(gòu)具是有大比表面積的納米片狀結(jié)構(gòu),片的厚度大約在30nm左右,此形貌更有利于光電性能的提高。
圖4:本發(fā)明實例所制備的柔性的sn3o4在可見光下的光電探測器的高倍透射電鏡和選區(qū)電子衍射圖。從高倍的透射電鏡和選區(qū)電子衍射可以看出實例所制備的柔性的sn3o4在可見光下的光電探測器由純的sn3o4構(gòu)成。其中0.369nm對應于sn3o4的(101)晶面。
圖5:本發(fā)明實例所制備的柔性襯底上組裝sn3o4納米片的可見光電探測器的紫外吸收圖。從圖中我們可以看到樣品的禁帶邊很窄,其寬度為2.7ev。
圖6:本發(fā)明實例所制備的柔性的sn3o4在可見光下的光電探測器的光電性能圖。光開關(guān)時間為10秒。從圖中我們可以看到,合成的sn3o4可見光電探測器的電流強度隨著光強的增加也隨之增加,光電流強度與光強存在著線性關(guān)系。
根據(jù)上述研究結(jié)果可知:我們制備的柔性的sn3o4在可見光下的光電探測器制備程序簡單,成本低廉,合成量大,在可見光下具備良好的光電響應性能且性能穩(wěn)定,因此可推廣并應用于工業(yè)領(lǐng)域。
因此,從上述實驗步驟、數(shù)據(jù)和圖表分析可以看出,本發(fā)明首次在柔性襯底上組裝了sn3o4納米片的可見光電探測器,并且制備過程簡單,成本低廉,在可見光下具備良好的光電響應性能且性能穩(wěn)定,適于工業(yè)應用。