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一種DFB半導(dǎo)體激光器制備方法及制得的激光器與流程

文檔序號:12066605閱讀:來源:國知局

技術(shù)特征:

1.一種DFB半導(dǎo)體激光器制備方法,其特征在于,包括以下步驟:

步驟S11、制備外延片:外延片采用波導(dǎo)和有源區(qū)結(jié)構(gòu);

步驟S12、制備基片:在外延片表面的光柵層上制備均勻的部分光柵,并對光柵進行掩埋生長;

步驟S13、制備脊型波導(dǎo):對基片進行脊型控制腐蝕,制備多個脊型波導(dǎo)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DFB半導(dǎo)體激光器制備方法,其特征在于,還包括:

步驟S14、制備芯片:將步驟S13制得的樣品依次經(jīng)脊型波導(dǎo)區(qū)域開孔、P面金屬鍍膜、物理研磨減薄、N面金屬鍍膜、合金后進行解離,然后在出光端面和背光端面蒸鍍光學(xué)膜。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的DFB半導(dǎo)體激光器制備方法,其特征在于,步驟S11包括如下步驟:

在N-InP襯底上,通過MOCVD外延生長N-InP緩沖層;

在N-InP緩沖層生長禁帶寬度和折射率漸變的InAlGaAs下波導(dǎo)層;

在InAlGaAs下波導(dǎo)層上生長AlGaInAs多量子阱有源層;

在AlGaInAs多量子阱有源層上生長InAlGaAs上波導(dǎo)層;

在InAlGaAs上波導(dǎo)層上依次生長低摻雜的P-InP過渡層和P-InGaAsP過渡層;

在P-InGaAsP過渡層上生長低摻雜P-InP空間層;

在P-InP空間層上依次生長InGaAsP光柵層和InP保護層,從而完成一次生長。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的DFB半導(dǎo)體激光器制備方法,其特征在于,步驟S12包括以下步驟:

采用部分光柵光刻板,將靠近出光端面和背光端面一段區(qū)域內(nèi)的光刻膠去掉;

采用雙光束全息方法制備均勻光柵,采用攪拌腐蝕方法形成周期均勻光柵;

對光柵表面進行清洗處理;

放入MOCVD外延爐中在光柵表面依次生長InP光柵覆蓋層、P-InP過渡層和P-InGaAsP過渡層和P-InGaAs重?fù)诫s層,從而完成二次生長。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的DFB半導(dǎo)體激光器制備方法,其特征在于,步驟S13包括以下步驟:

采用PECVD沉積SiO2介質(zhì)層,光刻;

采用H2SO4:H2O2:H2O腐蝕液腐蝕基片表面的P-InGaAs重?fù)诫s層和P-InGaAsP過渡層,接著采用H3PO4:HCl腐蝕至InP光柵覆蓋層,形成多個脊型波導(dǎo);

去除表面SiO2介質(zhì)層,再次PECVD沉積SiO2鈍化層。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DFB半導(dǎo)體激光器制備方法,其特征在于,所述多個脊型波導(dǎo)為四個脊型波導(dǎo)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DFB半導(dǎo)體激光器制備方法,其特征在于,對每個脊型波導(dǎo)采用單獨供電的方式進行供電。

8.一種根據(jù)如權(quán)利要求1至7中任一項所述的方法制得的DFB半導(dǎo)體激光器,其特征在于,所述DFB半導(dǎo)體激光器為包含多個激光器的單顆管芯,多個激光器各自的脊型波導(dǎo)相互獨立,每個脊型波導(dǎo)由對應(yīng)的激光器焊盤單獨供電。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的DFB半導(dǎo)體激光器,其特征在于,所述多個脊型波導(dǎo)位于管芯的中間位置。

10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的DFB半導(dǎo)體激光器,其特征在于,所述管芯還包括金屬覆蓋區(qū)域,金屬覆蓋區(qū)域位于脊型波導(dǎo)的上表面。

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