技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾及其操作方法，屬于芯片測試技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明的測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，包括固定夾和活動夾；固定夾和活動夾通過相互配合的旋轉(zhuǎn)裝置連接，并通過活動夾相對于固定夾的旋轉(zhuǎn)實現(xiàn)兩者之間夾口的寬度調(diào)節(jié)，實現(xiàn)了測試夾夾口可根據(jù)SOT26的尺寸進(jìn)行適應(yīng)性調(diào)節(jié)。本發(fā)明測試夾的操作方法，通過SOT26的壓入→測試→頂出的步驟，利用彈簧控制活動夾的開口及閉合，以彌補(bǔ)SOT26尺寸大小引起的左右偏移從而提高一次性測試的良率，同時加裝了頂桿；活動夾和頂桿的協(xié)同作用，起到了測試時對SOT26的精確定位及防疊料和提高測試良率的目的，相當(dāng)于提高了產(chǎn)能，達(dá)到了一舉雙得的效果。

技術(shù)研發(fā)人員：李國祥;吳靖宇;葉金鋒;蔣節(jié)文;孫超
受保護(hù)的技術(shù)使用者：長電科技（滁州）有限公司
文檔號碼：201611030790
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.16
技術(shù)公布日：2017.01.25