1.一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，包括固定夾(1)，其特征在于，還包括活動夾(2)；所述固定夾(1)和活動夾(2)通過相互配合的旋轉(zhuǎn)裝置連接，并通過活動夾(2)相對于固定夾(1)的旋轉(zhuǎn)實現(xiàn)兩者之間夾口(3)的寬度調(diào)節(jié)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，其特征在于：所述旋轉(zhuǎn)裝置為固定夾(1)、活動夾(2)正對的各自側(cè)面上分別設(shè)置并配合設(shè)置的凸半圓柱(12)、凹半圓柱(22)；所述活動夾(2)通過凹半圓柱(22)掛在固定夾(1)的凸半圓柱(12)上，凹半圓柱(22)以凸半圓柱(12)為軸旋轉(zhuǎn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，其特征在于：所述固定夾(1)呈倒“T”字形狀；所述活動夾(2)掛在固定夾(1)的中部凸臺的一側(cè)，并和固定夾(1)之間留有“L”形旋轉(zhuǎn)間隙(9)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，其特征在于：所述活動夾(2)的下半部分，凹半圓柱(22)的下部設(shè)置有水平方向的彈簧容腔(25)，內(nèi)置水平方向的夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧(23)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，其特征在于：所述固定夾(1)中間內(nèi)部設(shè)置豎直方向的頂桿容腔(15)，頂桿容腔(15)由下至上內(nèi)置互相連接的頂桿彈簧和頂桿(4)；頂桿(4)呈“凸”字形，頂端穿出固定夾(1)的上表面，靠近夾口(3)中間的位置，底部為連接頂桿彈簧的頂桿座(41)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，其特征在于：所述固定夾(1)的上表面設(shè)置固定夾指(11)，所述活動夾(2)的上表面設(shè)置活動夾指(21)，固定夾指槽(14)和活動夾指槽(24)相對設(shè)置，形成中間容納SOT26封裝體(82)的夾口(3)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，其特征在于：固定夾指(11)和活動夾指(21)相對的側(cè)面均為上部向外開的斜面，傾斜角度和SOT26封裝體(82)的形狀一致。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，其特征在于：所述凸半圓柱(12)中間為水平方向的固定銷孔(16)；固定銷(5)呈“T”字形橫插入固定銷孔(16)，頂端固定連接有固定銷帽(52)，尾端穿出固定銷孔(16)后和墊圈(7)緊配連接，所述凹半圓柱(22)的旋轉(zhuǎn)為順時針轉(zhuǎn)0～4°。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，其特征在于：所述固定銷(5)的尾端還穿有固定插孔(51)，固定插孔(51)內(nèi)插入擋桿，再將擋桿固定。
10.一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾的操作方法，其特征在于：步驟為：
步驟一、SOT26的壓入：芯片分選機(jī)的吸嘴將SOT26(8)中部的封裝體(82)吸附后壓入夾口(3)內(nèi)，壓入過程中，活動夾(2)相對于固定夾(1)順時針旋轉(zhuǎn)，夾口(3)的寬度逐漸增大，夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧(23)被逐漸壓縮，直至SOT26封裝體(82)完全壓入測試夾的夾口(3)內(nèi)，芯片分選機(jī)對SOT26保持壓入式固定；
步驟二、SOT26的測試：對SOT26(8)的各個引腳接觸測試片進(jìn)行逐個測試；
步驟三、SOT26的頂出：測試完成后，分選機(jī)吸嘴上升，吸嘴上的SOT26(8)產(chǎn)品在真空及頂桿(4)的上頂作用下，將SOT26(8)頂出，夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧(23)回位，夾口(3)的寬度恢復(fù)初始寬度；芯片分選機(jī)將SOT26轉(zhuǎn)移至下一工序；
步驟四、重復(fù)步驟一至三，測試另外的SOT26(8)。