本發(fā)明涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾及其操作方法。

背景技術(shù)：

目前，在半導(dǎo)體集成電路制造工藝中，需要對切割封裝后的成品芯片進(jìn)行進(jìn)一步測試，測試夾具更起到了關(guān)鍵作用。在芯片測試過程中，具體做法是通過芯片分選機的吸嘴將芯片轉(zhuǎn)移至測試夾內(nèi)，測試完畢后，芯片分選機的吸嘴再將芯片轉(zhuǎn)移至下一工序。

SOT是英文Small-outlinetransistor的簡稱，指的是一種晶體管的封裝形式，SOT26是SOT23-6的簡稱，SOT23-6是SOT23中的一種，尾數(shù)6表示6個引腳；原設(shè)備所設(shè)計的測試夾，如圖2所示，夾口(3)的開口尺寸是固定的，而SOT26的長度由于制造工藝水平的局限性，導(dǎo)致其長度不一致，故原設(shè)備設(shè)計的測試夾是按SOT26長度最大尺寸設(shè)計的，這樣就造成了SOT26產(chǎn)品的引腳在接觸測試片時左右偏移，從而引起接觸不良，導(dǎo)致一次測試率下降；而SOT26的引腳是左右對稱設(shè)置，測試時如何保證兩側(cè)引腳和測試片的接觸也是技術(shù)人員需要考慮的技術(shù)問題。

經(jīng)檢索，中國發(fā)明專利申請，公開號：CN105931979A，公開日：2016.09.07，公開了一種旋轉(zhuǎn)下壓型芯片測試夾具，包括支架，所述支架包括帶有水平面的基臺和豎直狀的支撐桿；所述支撐桿上固定有內(nèi)壁帶有螺旋紋的空心柱狀支撐架；還包括外壁帶有螺旋紋的下壓棒；所述支撐架內(nèi)壁的螺旋紋和所述下壓棒外壁的螺旋紋相互匹配；所述下壓棒下部端頭處設(shè)置有上部測試針，所述下壓棒的上部端頭處設(shè)置有手柄；所訴基臺上固定有芯片放置臺，所述芯片放置臺的上表面設(shè)置有芯片定位桿，芯片放置臺還設(shè)置有通孔，通孔中固定有下部測試針。該發(fā)明適用于未封裝芯片的測試，可對芯片進(jìn)行定位和快速測試，而無需將測試引腳焊接在芯片上，對芯片安裝拆卸均快捷方便，適用于大批量的測試。但該發(fā)明申請的水平面的基臺不能調(diào)整大小，只能測試固定規(guī)格的芯片，而且，只適用于未封裝芯片的測試，通用性較差。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

1.發(fā)明要解決的技術(shù)問題

針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的SOT26測試時SOT26引腳在接觸測試片時左右偏移的問題，本發(fā)明提供了一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾及其操作方法。它可以實現(xiàn)測試夾夾口可根據(jù)SOT26的尺寸進(jìn)行適應(yīng)性調(diào)節(jié)，達(dá)到提高測試平均良率的目的。

2.技術(shù)方案

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的技術(shù)方案為：

一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，包括固定夾和活動夾；所述固定夾和活動夾通過相互配合的旋轉(zhuǎn)裝置連接，并通過活動夾相對于固定夾的旋轉(zhuǎn)實現(xiàn)兩者之間夾口的寬度調(diào)節(jié)，實現(xiàn)了測試夾夾口可根據(jù)SOT26的尺寸進(jìn)行適應(yīng)性調(diào)節(jié)，進(jìn)而達(dá)到提高SOT26的測試平均良率的目的。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，旋轉(zhuǎn)裝置為固定夾、活動夾正對的各自側(cè)面上分別設(shè)置并配合設(shè)置的凸半圓柱、凹半圓柱；所述活動夾通過凹半圓柱掛在固定夾的凸半圓柱上，凹半圓柱以凸半圓柱為軸旋轉(zhuǎn)，由于SOT26的整體尺寸較小，無需實現(xiàn)大的寬度調(diào)節(jié)，只要固定夾和活動夾之間保留狹小的縫隙即可實現(xiàn)所需要的夾口的寬度調(diào)節(jié)，因此，凹半圓柱以凸半圓柱為軸旋轉(zhuǎn)，即能實現(xiàn)夾口的寬度的微調(diào)節(jié)。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，所述固定夾呈倒“T”字形狀；所述活動夾掛在固定夾的中部凸臺的一側(cè)，并和固定夾之間留有“L”形旋轉(zhuǎn)間隙，間隙呈“L”形，實現(xiàn)了凹半圓柱以凸半圓柱為軸的小角度旋轉(zhuǎn)。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，所述活動夾的下半部分，凹半圓柱的下部設(shè)置有水平方向的彈簧容腔，內(nèi)置水平方向的夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧。以實現(xiàn)SOT26測試完成后，夾口寬度的復(fù)位，并能夠?qū)崿F(xiàn)測試時夾口對SOT26的夾緊力，以保證SOT26測試時位置的穩(wěn)定性。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，固定夾中部凸臺內(nèi)部設(shè)置豎直方向的頂桿容腔，由下至上內(nèi)置互相連接的頂桿彈簧和頂桿；頂桿呈“凸”字形，頂端穿出固定夾的上表面，靠近夾口中間的位置，底部為連接頂桿彈簧的頂桿座，以確保SOT26產(chǎn)品測試完成后不會卡在測試夾內(nèi)，進(jìn)而減少了副盤的疊料報警幾率。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，固定夾的上表面設(shè)置固定夾指，所述活動夾的上表面設(shè)置活動夾指，固定夾指槽和活動夾指槽相對設(shè)置，可有效避開某些特殊引線框所封裝的SOT產(chǎn)品無引腳的兩端露出的金屬，防止產(chǎn)品與外圍短路，中間容納SOT26封裝體的夾口，使SOT26壓入夾口后，溝槽和夾口協(xié)同作用，防止SOT26測試時左路偏移并能保證SOT26兩側(cè)引腳和測試片的平行，方便測試并提高測試的精準(zhǔn)度。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，固定夾指和活動夾指相對的側(cè)面均為上部向外開的兩種不同角度的斜面，下端傾斜角度和SOT26封裝體的形狀一致，保證了SOT26壓入夾口時緩沖式壓入，避免SOT26封裝體和夾口平面的過硬接觸而相互損傷，并進(jìn)一步保證了壓入后的穩(wěn)定性。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，所述凸半圓柱穿有中空的，水平方向的固定銷孔；固定銷呈“T”字形橫插入固定銷孔，頂端固定連接有固定銷帽，尾端穿出固定銷孔后和墊圈緊配連接，以保證固定夾指槽和活動夾指槽的穩(wěn)定性平行關(guān)系；所述凹半圓柱的旋轉(zhuǎn)為順時針轉(zhuǎn)0～4°，根據(jù)SOT26的大小自動調(diào)整旋轉(zhuǎn)角度，以適應(yīng)不同尺寸的SOT26產(chǎn)品。

進(jìn)一步的技術(shù)方案，所述固定銷的尾端還穿有固定插孔，固定插孔內(nèi)插入擋桿，并粘上膠水，將擋桿固定。以避免墊圈緊配連接松動造成固定夾指槽和活動夾指槽的錯位。

一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾的操作方法，步驟為：

步驟一、SOT26的壓入：芯片分選機的吸嘴將SOT26中部的封裝體吸附后壓入夾口內(nèi)，壓入過程中，活動夾相對于固定夾順時針旋轉(zhuǎn)，夾口的寬度逐漸增大，夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧被逐漸壓縮，直至SOT26封裝體完全壓入測試夾的夾口內(nèi)，芯片分選機對SOT26保持壓入式固定；

步驟二、SOT26的測試：對SOT26的各個引腳接觸測試片進(jìn)行逐個測試；

步驟三、SOT26的頂出：測試完成后，分選機吸嘴上升，吸嘴上的SOT26產(chǎn)品在真空及頂桿的上頂作用下，將SOT26頂出，夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧回位，夾口的寬度恢復(fù)初始寬度；芯片分選機將SOT26轉(zhuǎn)移至下一工序；

步驟四、重復(fù)步驟一至三，測試另外的SOT26。

采用單邊活動夾動作，利用彈簧控制活動夾的開口及閉合，以彌補SOT26尺寸大小引起的左右偏移從而提高一次性測試的良率，同時加裝了頂桿，以防止產(chǎn)品卡在夾口內(nèi)，達(dá)到自動防疊料的目的；活動夾和頂桿的協(xié)同作用，起到了測試時對SOT26雙重保護(hù)和提高測試良率的目的，相當(dāng)于提高了產(chǎn)能，同時基本消除了疊料的隱患，達(dá)到了一舉雙得的效果。

3.有益效果

采用本發(fā)明提供的技術(shù)方案，與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有如下有益效果：

(1)本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，通過活動夾相對于固定夾的旋轉(zhuǎn)實現(xiàn)兩者之間夾口的寬度調(diào)節(jié)，實現(xiàn)了測試夾夾口可根據(jù)SOT26的尺寸進(jìn)行適應(yīng)性調(diào)節(jié)，進(jìn)而達(dá)到提高SOT26的測試平均良率的目的；

(2)本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，由于SOT26的整體尺寸較小(個位數(shù)毫米級)，無需實現(xiàn)大的寬度調(diào)節(jié)，只要固定夾和活動夾之間保留狹小的縫隙即可實現(xiàn)所需要的夾口的寬度調(diào)節(jié)，因此，凹半圓柱以凸半圓柱為軸旋轉(zhuǎn)，即能實現(xiàn)夾口的寬度的微調(diào)節(jié)；

(3)本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，活動夾和固定夾之間間隙呈“L”形，實現(xiàn)了凹半圓柱以凸半圓柱為軸的小角度旋轉(zhuǎn)；

(4)本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧的設(shè)置，實現(xiàn)了SOT26測試完成后夾口寬度的復(fù)位，并能夠?qū)崿F(xiàn)測試時夾口對SOT26的夾緊力，以保證SOT26測試時位置的穩(wěn)定性。；

(5)本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，固定夾內(nèi)置的頂桿，確保了SOT26產(chǎn)品測試完成后不會卡在測試夾內(nèi)，進(jìn)而減少了副盤的疊料報警幾率；

(6)本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，SOT26壓入夾口后，溝槽和夾口協(xié)同作用，防止SOT26測試時左右偏移，以便提高測試的精準(zhǔn)度；溝槽還能用來避開某些特殊的引線框架所封裝的SOT26產(chǎn)品無引腳兩端的露出的金屬點，以便防止產(chǎn)品與測試夾短路；

(7)本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，固定夾指和活動夾指側(cè)面的傾斜角度和SOT26封裝體的形狀一致，保證了SOT26壓入夾口時緩沖式壓入，避免SOT26封裝體和夾口平面的過硬接觸而相互損傷，并進(jìn)一步保證了壓入后的穩(wěn)定性；

(8)本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，固定銷的設(shè)置，能夠保證固定夾指槽和活動夾指槽的穩(wěn)定性平行關(guān)系；凹半圓柱的旋轉(zhuǎn)為順時針轉(zhuǎn)0～4°，根據(jù)SOT26的大小調(diào)整旋轉(zhuǎn)角度；以適應(yīng)不同規(guī)格的SOT26；

(9)本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，固定插孔和擋桿的配合設(shè)置，避免了墊圈緊配連接松動造成固定夾指槽和活動夾指槽的錯位；

(10)本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾的操作方法，采用單邊活動夾動作，利用彈簧控制活動夾的開口及閉合，以彌補SOT26尺寸大小引起的左右偏移，從而提高一次性測試的良率，同時加裝了頂桿，以防止產(chǎn)品卡在夾口內(nèi)，達(dá)到自動防疊料的目的；活動夾和頂桿的協(xié)同作用，起到了測試時對SOT26雙重保護(hù)和提高測試良率的目的，相當(dāng)于提高了產(chǎn)能，同時基本消除了疊料的隱患，達(dá)到了一舉雙得的效果，經(jīng)統(tǒng)計，至少可以提高10％的產(chǎn)能，對于SOT26的數(shù)以億計的批量生產(chǎn)來說，是一種顯著的進(jìn)步。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的一種測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為現(xiàn)有技術(shù)的SOT26測試夾的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為SOT26產(chǎn)品的俯視圖；

圖4為SOT26產(chǎn)品的側(cè)視圖；

圖5為本發(fā)明中的固定夾剖面圖；

圖6為本發(fā)明中的活動夾剖面圖；

圖7為本發(fā)明中的活動夾立體圖；

圖8為本發(fā)明中的固定銷放大后結(jié)構(gòu)示意圖；

圖9為本發(fā)明中的墊圈放大后結(jié)構(gòu)示意圖；

圖10為本發(fā)明中的頂桿結(jié)構(gòu)示意圖。

示意圖中的標(biāo)號說明：1、固定夾；2、活動夾；3、夾口；4、頂桿；5、固定銷；7、墊圈；8、SOT26；9、旋轉(zhuǎn)間隙；11、固定夾指；12、凸半圓柱；14、固定夾指槽；15、頂桿容腔；16、固定銷孔；21、活動夾指；22、凹半圓柱；23、夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧；24、活動夾指槽；25、彈簧容腔；41、頂桿座；51、固定插孔；52、固定銷帽；81、SOT26中間引腳；82、SOT26封裝體。

具體實施方式

為進(jìn)一步了解本發(fā)明的內(nèi)容，結(jié)合附圖對本發(fā)明作詳細(xì)描述。

SOT26產(chǎn)品的形狀如圖3、4所示。

實施例1

本實施例的測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，包括固定夾1和活動夾2；所述固定夾1和活動夾2通過相互配合的旋轉(zhuǎn)裝置連接，如圖5、7所示，旋轉(zhuǎn)裝置為固定夾1、活動夾2正對的各自側(cè)面上分別設(shè)置并配合設(shè)置的凸半圓柱12、凹半圓柱22；所述活動夾2通過凹半圓柱22掛在固定夾1的凸半圓柱12上，凹半圓柱22以凸半圓柱12為軸旋轉(zhuǎn)。實現(xiàn)了測試夾夾口可根據(jù)SOT26的尺寸進(jìn)行適應(yīng)性調(diào)節(jié)，進(jìn)而達(dá)到提高SOT26的測試平均良率的目的。由于SOT26的整體尺寸較小，無需實現(xiàn)大的寬度調(diào)節(jié)，只要固定夾1和活動夾2之間保留狹小的縫隙即可實現(xiàn)所需要的夾口3的寬度調(diào)節(jié)，因此，凹半圓柱22以凸半圓柱12為軸旋轉(zhuǎn)，即能實現(xiàn)夾口3的寬度的微調(diào)節(jié)。

實施例2

本實施例的測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，基本結(jié)構(gòu)同實施例1，不同和改進(jìn)之處在于：如圖1所示，所述固定夾1呈倒“T”字形狀；所述活動夾2掛在固定夾1的中部凸臺的一側(cè)，并和固定夾1之間留有“L”形旋轉(zhuǎn)間隙9，間隙呈“L”形，實現(xiàn)了凹半圓柱22以凸半圓柱12為軸的小角度旋轉(zhuǎn)。如圖6所示，所述活動夾2的下半部分，凹半圓柱22的下部設(shè)置有水平方向的彈簧容腔25，內(nèi)置水平方向的夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧23。以實現(xiàn)SOT26測試完成后，夾口3寬度的復(fù)位，并能夠?qū)崿F(xiàn)測試時夾口3對SOT26的夾緊力，以保證SOT26測試時位置的穩(wěn)定性。

實施例3

本實施例的測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，基本結(jié)構(gòu)同實施例2，不同和改進(jìn)之處在于：如圖5所示，固定夾1中部凸臺內(nèi)部設(shè)置豎直方向的頂桿容腔15，由下至上內(nèi)置互相連接的頂桿彈簧和頂桿4；如圖10所示，頂桿4呈“凸”字形，頂端穿出固定夾1的上表面，靠近夾口3中間的位置，底部為連接頂桿彈簧的頂桿座41，以確保SOT26產(chǎn)品測試完成后不會卡在測試夾內(nèi)，進(jìn)而減少了副盤的疊料報警幾率。固定夾1的上表面設(shè)置固定夾指11，所述活動夾2的上表面設(shè)置活動夾指21，固定夾指槽14和活動夾指槽24相對設(shè)置，可有效避開某些特殊引線框所封裝的SOT產(chǎn)品無引腳的兩端露出的金屬，防止產(chǎn)品與外圍短路，中間容納SOT26封裝體82的夾口3，使SOT26壓入夾口后，溝槽和夾口協(xié)同作用，防止SOT26測試時左右偏移，方便測試并提高測試的精準(zhǔn)度?！癓”形旋轉(zhuǎn)間隙的大小為0.33mm。

本實施例的測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾的操作方法，應(yīng)用規(guī)格為3.0*1.6mm的SOT26，公差在±0.02～±0.2，引腳寬度為0.4mm，步驟為：

步驟一、SOT26的壓入：芯片分選機的吸嘴將SOT26中部的封裝體82吸附后壓入夾口3內(nèi)，壓入過程中，活動夾2相對于固定夾1順時針旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)角度為1.5～3.0°，夾口3的寬度逐漸增大，夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧23被逐漸壓縮，直至SOT26封裝體82完全壓入測試夾的夾口3內(nèi)，芯片分選機對SOT26保持壓入式固定；

步驟二、SOT26的測試：對SOT26的各個引腳接觸測試片進(jìn)行逐個測試；

步驟三、SOT26的頂出：測試完成后，分選機吸嘴上升，產(chǎn)品在真空及頂桿4的上頂作用下，將產(chǎn)品頂出，夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧23回位，夾口3的寬度恢復(fù)初始寬度；芯片分選機將SOT26轉(zhuǎn)移至下一工序；

步驟四、重復(fù)步驟一至三，測試另外的SOT26。

本實施例的測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，采用單邊活動夾動作，利用彈簧控制活動夾的開口及閉合，以彌補SOT26尺寸大小引起的左右偏移從而提高一次性測試的良率，同時加裝了頂桿，以防止產(chǎn)品卡在夾口內(nèi)，達(dá)到自動防疊料的目的；活動夾和頂桿的協(xié)同作用，起到了測試時對SOT26雙重保護(hù)和提高測試良率的目的，相當(dāng)于提高了產(chǎn)能，同時基本消除了疊料的隱患，達(dá)到了一舉雙得的效果。

經(jīng)統(tǒng)計，本實施例的測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，測試良率提高了13％，相當(dāng)于至少可以提高13％的產(chǎn)能。

示例：2016/4/21統(tǒng)計：

實施例4

本實施例的測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，基本結(jié)構(gòu)同實施例3，不同和改進(jìn)之處在于：固定夾指11和活動夾指21相對的側(cè)面均為上部向外開的雙斜面，下斜面為7度，上斜面為30度；傾斜角度和SOT26封裝體82的形狀一致，保證了SOT26壓入夾口時緩沖式壓入，避免SOT26封裝體和夾口平面的過硬接觸而相互損傷，并進(jìn)一步保證了壓入后的穩(wěn)定性。所述凸半圓柱12穿有中空的，水平方向的固定銷孔16，直徑1mm；如圖8、9所示，固定銷5呈“T”字形橫插入固定銷孔16，頂端固定連接有固定銷帽52，尾端穿出固定銷孔16后和墊圈7緊配連接，以保證固定夾指槽14和活動夾指槽24的穩(wěn)定性平行關(guān)系。所述固定銷5的尾端還穿有固定插孔51，固定插孔51內(nèi)插入擋桿，再用膠水粘住，以避免墊圈7緊配連接松動造成固定夾指槽14和活動夾指槽24的錯位?！癓”形旋轉(zhuǎn)間隙的大小為0.23mm。

本實施例的測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾的操作方法，應(yīng)用規(guī)格為3.0*1.6mm的SOT26，公差在±0.01～±0.1，步驟為：

步驟一、SOT26的壓入：芯片分選機的吸嘴將SOT26的SOT26封裝體82吸附后壓入測試夾的夾口3內(nèi)，壓入過程中，活動夾2相對于固定夾1順時針旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)角度為0～1.5°，夾口3的寬度逐漸增大，夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧23被逐漸壓縮，直至SOT26封裝體82完全壓入測試夾的夾口3內(nèi)，芯片分選機對SOT26保持壓入式固定；

步驟二、SOT26的測試：對SOT26的各個引腳接觸測試片進(jìn)行逐個測試；

步驟三、SOT26的頂出：測試完成后，分選機吸嘴上升，吸嘴上的SOT26產(chǎn)品在真空及頂桿4的上頂作用下，將SOT26頂出，夾口寬度調(diào)節(jié)彈簧23回位，夾口3的寬度恢復(fù)初始寬度；芯片分選機將SOT26轉(zhuǎn)移至下一工序；

步驟四、重復(fù)步驟一至三，測試另外的SOT26。

經(jīng)統(tǒng)計，本實施例的測試凹槽可調(diào)式SOT26測試夾，測試良率提高了15％，對于SOT26的數(shù)以億計的批量生產(chǎn)來說，是一種顯著的進(jìn)步。

以上示意性的對本發(fā)明及其實施方式進(jìn)行了描述，該描述沒有限制性，附圖中所示的也只是本發(fā)明的實施方式之一，實際的結(jié)構(gòu)并不局限于此。所以，如果本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員受其啟示，在不脫離本發(fā)明創(chuàng)造宗旨的情況下，不經(jīng)創(chuàng)造性的設(shè)計出與該技術(shù)方案相似的結(jié)構(gòu)方式及實施例，均應(yīng)屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。